JPH0442811Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0442811Y2 JPH0442811Y2 JP1985033085U JP3308585U JPH0442811Y2 JP H0442811 Y2 JPH0442811 Y2 JP H0442811Y2 JP 1985033085 U JP1985033085 U JP 1985033085U JP 3308585 U JP3308585 U JP 3308585U JP H0442811 Y2 JPH0442811 Y2 JP H0442811Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- axis
- adjustment
- light
- light receiving
- optical axis
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Focusing (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(考案の技術分野)
本考案は、三角測距法を用いた自動焦点検出装
置を備えたカメラの、受光検出部の調整装置に関
する。
置を備えたカメラの、受光検出部の調整装置に関
する。
(考案の背景)
第3図に示すように、三角測距法による自動焦
点検出装置を備えたカメラにおいて、特に自らが
測距の為の赤外光等を投光し、被写体からの反射
光を検出する、いわゆるアクテイブタイプの測距
装置では、受光素子の位置調整を次のような手順
で行うことが通常であつた。
点検出装置を備えたカメラにおいて、特に自らが
測距の為の赤外光等を投光し、被写体からの反射
光を検出する、いわゆるアクテイブタイプの測距
装置では、受光素子の位置調整を次のような手順
で行うことが通常であつた。
まず、投光ビームの光軸αを撮影レンズの光軸
と一致、あるいは平行に調整する。
と一致、あるいは平行に調整する。
次に、投光ビームが被写体に当り反射された受
光ビームの光軸Pと、受光レンズの光軸βとの挾
角〓が所定の値で交錯する様に、受光素子の光軸
Sを調整する。
光ビームの光軸Pと、受光レンズの光軸βとの挾
角〓が所定の値で交錯する様に、受光素子の光軸
Sを調整する。
この調整は、光軸S、光軸α、光軸βおよび光
軸αと光軸βとを結ぶ基線長とを含むような平面
をx軸の平面とし、光軸Sを含むようにして前記
x軸平面と直交するような平面をy軸の平面と
し、各々の平面上において光軸Sを調整すること
により、距離lを決定し角度γが所定の値を得る
ようにしている。
軸αと光軸βとを結ぶ基線長とを含むような平面
をx軸の平面とし、光軸Sを含むようにして前記
x軸平面と直交するような平面をy軸の平面と
し、各々の平面上において光軸Sを調整すること
により、距離lを決定し角度γが所定の値を得る
ようにしている。
しかしながら、この調整精度はその後の測距性
能を大きく左右するものであることから、当然の
如くに高い精度が要求され、特にx軸上における
受光部レンズの光軸βと受光素子の光軸Sとの距
離lの調整は、1/100mm単位の精度を要求されて
いる。
能を大きく左右するものであることから、当然の
如くに高い精度が要求され、特にx軸上における
受光部レンズの光軸βと受光素子の光軸Sとの距
離lの調整は、1/100mm単位の精度を要求されて
いる。
従来この調整には、ビス等のスクリユーによつ
て押し出し、引き込みを行うものであつたが、こ
の場合、調整方法とドライバによりビスを押しつ
ける方向と同一方向であるために、ネジ山同士の
片寄りが起つてしまい、ドライバによる押力が無
くなると誤差を生じるという不都合があつた。
て押し出し、引き込みを行うものであつたが、こ
の場合、調整方法とドライバによりビスを押しつ
ける方向と同一方向であるために、ネジ山同士の
片寄りが起つてしまい、ドライバによる押力が無
くなると誤差を生じるという不都合があつた。
さらに、x軸方向の調整の場合、部品精度や組
立精度からくる誤差が大きくなり易く、調整可能
範囲は広く、且つ精度は高いものといつた相反す
る要求が出され、この点も従来の調整方法の抱え
る不都合な点であつた。
立精度からくる誤差が大きくなり易く、調整可能
範囲は広く、且つ精度は高いものといつた相反す
る要求が出され、この点も従来の調整方法の抱え
る不都合な点であつた。
(考案の目的)
本考案は上述の不都合な点に鑑み、ビスの締め
つけ方向を実際の調整方向とは異なるようにし、
さらに広い調整可能範囲と、細かい調整精度を得
られるよう、特に基線長方向の調整には粗と微の
調整が可能であるようにした、自動測距装置の調
整装置を提供するものである。
つけ方向を実際の調整方向とは異なるようにし、
さらに広い調整可能範囲と、細かい調整精度を得
られるよう、特に基線長方向の調整には粗と微の
調整が可能であるようにした、自動測距装置の調
整装置を提供するものである。
(考案の構成)
本考案の上述した目的は、x軸とy軸方向との
複数個の調整枠の一方の調整枠に受光素子を設け
るようにし、各々を別個に調整を可能とし、特に
微細な調整を要求される基線長方向においては、
粗と微の2つの調整精度を有する偏心軸をもつた
調整手段を有するようにしたことによつて達成さ
れるもので、その詳細については後述する実施例
により明らかとなる。
複数個の調整枠の一方の調整枠に受光素子を設け
るようにし、各々を別個に調整を可能とし、特に
微細な調整を要求される基線長方向においては、
粗と微の2つの調整精度を有する偏心軸をもつた
調整手段を有するようにしたことによつて達成さ
れるもので、その詳細については後述する実施例
により明らかとなる。
(考案の詳細な説明)
以下、本考案の一実施例について、図面を参照
しながら説明する。
しながら説明する。
第1図は、本考案の一実施例を示す概略斜視図
で、第2図は本考案の基本を示した概略構成図で
ある。
で、第2図は本考案の基本を示した概略構成図で
ある。
1はシヤーシで、図示しないカメラ本体に取り
付けることが可能であつて、測距装置の基本とな
る。
付けることが可能であつて、測距装置の基本とな
る。
2はx軸調整枠で、基線長の方向をx軸とし、
シヤーシ1とは後述する調整軸、回動軸により回
動可能に取り付けられる。
シヤーシ1とは後述する調整軸、回動軸により回
動可能に取り付けられる。
3はy軸調整枠で、基線長方向と直交するy軸
方向に、後述する回動軸によりx軸調整枠2へと
回動・調整可能に軸支されている。
方向に、後述する回動軸によりx軸調整枠2へと
回動・調整可能に軸支されている。
4はレンズで、被写体からの反射光を効率的に
集光する。
集光する。
5はレンズ枠で、内周にレンズ4を保持してい
るとともに、外側においてはx軸調整枠2へと固
定されている。
るとともに、外側においてはx軸調整枠2へと固
定されている。
6は受光素子で、y軸調整枠3に取り付けられ
ていて、レンズ4により集光された被写体からの
反射光を受け、図示しない回路へと電気信号を送
る。
ていて、レンズ4により集光された被写体からの
反射光を受け、図示しない回路へと電気信号を送
る。
7はx軸微調整偏心軸で、粗調整時においてx
軸調整枠2の回動中心となるとともに、x軸調整
枠2をシヤーシ1へと取り付けている。
軸調整枠2の回動中心となるとともに、x軸調整
枠2をシヤーシ1へと取り付けている。
8はx軸粗調整軸で、この軸を回転させるとx
軸調整枠2に設けられている長穴と嵌合している
ので、x軸微調整偏心軸7を回転の中心としてx
軸調整枠2が回動し、変位量の大きな調整を可能
とする。
軸調整枠2に設けられている長穴と嵌合している
ので、x軸微調整偏心軸7を回転の中心としてx
軸調整枠2が回動し、変位量の大きな調整を可能
とする。
9はアオリ止めで、x軸調整枠2に設けられて
いる長穴を通して、シヤーシ1とx軸調整枠2と
をx軸バネ座金13を介して圧着している。
いる長穴を通して、シヤーシ1とx軸調整枠2と
をx軸バネ座金13を介して圧着している。
10はy軸回動軸で、y軸調整枠3とx軸調整
枠2とをy軸バネ座金14を介して圧着するとと
もに、y軸調整枠3の回動時にはその回動中心と
なる。
枠2とをy軸バネ座金14を介して圧着するとと
もに、y軸調整枠3の回動時にはその回動中心と
なる。
11はy軸調整偏心軸で、y軸調整枠3とx軸
調整枠2とを、y軸バネ座金15を介し、y軸調
整枠3に設けられている長穴を通して圧着してい
る。
調整枠2とを、y軸バネ座金15を介し、y軸調
整枠3に設けられている長穴を通して圧着してい
る。
12はx軸バネ座で、x軸微調整偏心軸7とx
軸粗調整軸8とを各々貫通させるとともに、位置
決めをするための2つの穴が設けられている。
軸粗調整軸8とを各々貫通させるとともに、位置
決めをするための2つの穴が設けられている。
次に、調整手順を述べる。
まず、撮影レンズの光軸と投光ビームの光軸と
を一致させ、これを光軸αとする。(撮影レンズ
の光軸と投光ビームの発光器の光軸とが異なる光
軸を持つ自動焦点検出装置の場合は、互いの光軸
が平行になるように調整する。) 次に受光素子の調整である、基線長と直交する
y軸方向の調整Yを行なう。
を一致させ、これを光軸αとする。(撮影レンズ
の光軸と投光ビームの発光器の光軸とが異なる光
軸を持つ自動焦点検出装置の場合は、互いの光軸
が平行になるように調整する。) 次に受光素子の調整である、基線長と直交する
y軸方向の調整Yを行なう。
y軸偏心軸11を回転させると、y軸偏心軸1
1はy軸調整枠3に設けられている長穴と嵌合し
ているので、y軸調整枠3はy軸回転軸10を中
心として回転し、図面上において上下方向の調整
Yが行なわれる。
1はy軸調整枠3に設けられている長穴と嵌合し
ているので、y軸調整枠3はy軸回転軸10を中
心として回転し、図面上において上下方向の調整
Yが行なわれる。
この場合の調整Yは、被写体により反射された
投光ビームの光軸pを受光素子6への集光を促す
ことが主点であり、基線長の調整Xに比して精度
は粗となつていても構わない。
投光ビームの光軸pを受光素子6への集光を促す
ことが主点であり、基線長の調整Xに比して精度
は粗となつていても構わない。
基線長と方向を同じくするx軸方向の調整X
は、まずx軸粗調整偏心軸8を回転することから
始まる。
は、まずx軸粗調整偏心軸8を回転することから
始まる。
x軸粗調整偏心軸8を回転することにより、x
軸調整枠2は、図面上の上面に設けられた長穴が
x軸粗調整軸8と嵌合しているので、x軸方向に
x軸微調整偏心軸7を中心として回転移動する。
軸調整枠2は、図面上の上面に設けられた長穴が
x軸粗調整軸8と嵌合しているので、x軸方向に
x軸微調整偏心軸7を中心として回転移動する。
この粗調整は、その軸7と8を結ぶ線上にレン
ズ−回動軸(中心)−粗調整軸の順序に位置して
いるため、x軸調整枠2の回動により得られる変
位量は比較的に大きく、従つて受光素子6の移動
量も大きくなるので、組立後であつて調整前の誤
差が大きい場合に有効な調整となる。
ズ−回動軸(中心)−粗調整軸の順序に位置して
いるため、x軸調整枠2の回動により得られる変
位量は比較的に大きく、従つて受光素子6の移動
量も大きくなるので、組立後であつて調整前の誤
差が大きい場合に有効な調整となる。
逆に、調整前の誤差が極く小さい場合には省略
可能であることは勿論である。
可能であることは勿論である。
x軸方向の調整Xは、三角測距法を採る自動焦
点検出装置において、基線長と同一であるととも
に角度〓を決定する調整であることから、その調
整は該装置の測距精度を大きく左右することにな
るので、粗調整の後に1/100mm単位の誤差を防止
するための微調整を、粗調整に続いてさらに行な
うことになる。
点検出装置において、基線長と同一であるととも
に角度〓を決定する調整であることから、その調
整は該装置の測距精度を大きく左右することにな
るので、粗調整の後に1/100mm単位の誤差を防止
するための微調整を、粗調整に続いてさらに行な
うことになる。
この微調整は、x軸微調整軸7を回動すること
により行なわれる。
により行なわれる。
x軸調整枠2は、微調整時にx軸粗調整軸8を
中心として回動することになり、この微調整時に
あつてレンズ4も基線長上において変位すること
になるが、微調整偏心軸7がレンズ4の主点に近
い位置にあるため、その変位量は最小限に抑える
ことが可能であり、その変位の測距精度に与える
影響は、基線長lの変位であり、角度〓、距離f
が一定であるならば実質上問題とならないもので
ある。
中心として回動することになり、この微調整時に
あつてレンズ4も基線長上において変位すること
になるが、微調整偏心軸7がレンズ4の主点に近
い位置にあるため、その変位量は最小限に抑える
ことが可能であり、その変位の測距精度に与える
影響は、基線長lの変位であり、角度〓、距離f
が一定であるならば実質上問題とならないもので
ある。
(考案の効果)
上述の通り、本考案を実施することにより、三
角測距方法を採る自動焦点調節装置を備えるカメ
ラにおいて、アクテイブ方式、パツシブ方式の区
別にとらわれず、基線方向の粗・微調整が可能と
なり、従来調整の困難であつた微細な調整を行な
い易くすることが可能となり、また従来位置決め
後にドライバの押力が断たれるとズレが生じると
いつた不都合も解消されるという効果のある調整
装置が得られる。
角測距方法を採る自動焦点調節装置を備えるカメ
ラにおいて、アクテイブ方式、パツシブ方式の区
別にとらわれず、基線方向の粗・微調整が可能と
なり、従来調整の困難であつた微細な調整を行な
い易くすることが可能となり、また従来位置決め
後にドライバの押力が断たれるとズレが生じると
いつた不都合も解消されるという効果のある調整
装置が得られる。
第1図は本考案の一実施例を示す斜視図で、第
2図は本考案の基本を示した概略図で、第3図は
三角測距法の基本構成図。 1……シヤーシ、2……x軸調整枠、3……y
軸調整枠、4……集光レンズ、5……レンズ枠、
6……受光素子、7……x軸微調整偏心軸、8…
…x軸粗調整偏心軸、9……アオリ止め、10…
…y軸回動軸、11……y軸調整偏心軸、12…
…x軸バネ座、13……x軸バネ座金、14……
y軸バネ座金、15……y軸バネ座。
2図は本考案の基本を示した概略図で、第3図は
三角測距法の基本構成図。 1……シヤーシ、2……x軸調整枠、3……y
軸調整枠、4……集光レンズ、5……レンズ枠、
6……受光素子、7……x軸微調整偏心軸、8…
…x軸粗調整偏心軸、9……アオリ止め、10…
…y軸回動軸、11……y軸調整偏心軸、12…
…x軸バネ座、13……x軸バネ座金、14……
y軸バネ座金、15……y軸バネ座。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 三角測距法により被写体までの距離を計測す
る自動焦点調節装置を備えたカメラにおいて、 光源とレンズとを備えていて被写体に対して
投光する投光装置と、 被写体が反射する該投光装置からの光を受け
て集光するレンズと、該レンズにより集光され
た光を受けて光電変換出力を発生する受光素子
とを備えた受光装置と、 前記投光装置の光軸、前記受光装置の光軸お
よび投光装置の光軸と受光装置の光軸とを結ぶ
基線長を含むような1つの平面に対して直交す
る回転軸を有するとともに、各々一方に比して
大もしくは小の異なる変位量を得るように偏心
されていて各々もつ調整方向が前記回転軸の方
向と直交するようになされた2つの調整軸を有
していて、前記投光装置もしくは前記受光装置
を前記1つの平面上において変位可能に保持す
る調整手段を有する第1の保持部材と、 前記第1の保持部材上に配設されていて、前
記受光装置に備えられた受光素子もしくは前記
投光装置の有する光源を、前記受光素子の光軸
を含むようにして前記1つの平面と直交するよ
うな他の平面上において、変位可能に保持する
調整手段を有する第2の保持部材と から構成された調整装置。 (2) 前記2つの調整軸のうち、小さな変位量を有
する調整軸の回動中心を、前記レンズの主点に
近接させた位置に配置したことを特徴とした実
用新案登録請求の範囲第1項記載の調整装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985033085U JPH0442811Y2 (ja) | 1985-03-08 | 1985-03-08 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985033085U JPH0442811Y2 (ja) | 1985-03-08 | 1985-03-08 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61150317U JPS61150317U (ja) | 1986-09-17 |
| JPH0442811Y2 true JPH0442811Y2 (ja) | 1992-10-09 |
Family
ID=30535200
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1985033085U Expired JPH0442811Y2 (ja) | 1985-03-08 | 1985-03-08 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0442811Y2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59101236U (ja) * | 1982-12-13 | 1984-07-07 | チノン株式会社 | 測距装置 |
-
1985
- 1985-03-08 JP JP1985033085U patent/JPH0442811Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61150317U (ja) | 1986-09-17 |
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