JPH04370768A - ポゴピン及びｌｓｉ試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はＬＳＩテスタ（試験装置
）のポゴピンに関する。近年、ＬＳＩテスタには高信頼
性が要求されている。そのため、ＬＳＩテスタと被測定
デバイスとの間で信号を伝達するポゴピンの信頼性を高
める必要がある。

【０００２】

【従来の技術】従来のＬＳＩテスタのポゴピンを図５に
示す。ポゴピン１の円筒状をなす固定電極筒２は底面部
に絶縁部材３を備え、図示しないＬＳＩテスタのテスト
ヘッドに固定されている。固定電極筒２には被測定デバ
イスを装着したパフォーマンスボード２４に当接する円
柱状の可動電極ピン４が出入り可能に収容されている。 可動電極ピン４の外端には尖鋭部４ａが形成され、この
尖鋭部４ａにより可動電極ピン４とパフォーマンスボー
ド２４との滑りが防止されるようになっている。

【０００３】又、可動電極ピン４の下半部には細径部５
が設けられるとともに、細径部５の下部には可動電極ピ
ン４と同径の係止部６が設けられている。そして、この
係止部６と固定電極筒２の円柱面の所定位置に形成され
た円環状をなすかしめ部７との係合により可動電極ピン
４の抜け出しが防止されるようになっている。係止部６
の下面は斜状の案内面８となっており、同案内面８に当
接する支持球９と固定電極筒２底面の絶縁部材３との間
には可動電極ピン４を常時突出方向に付勢するためのコ
イルばね１０が介装されている。

【０００４】そして、図５（ａ）に示す状態においてポ
ゴピン１にパフォーマンスボード２４が圧接されると、
図５（ｂ）に示すように可動電極ピン４がコイルばね１
０に抗して没入方向に移動する。このとき、案内面８と
支持球９との摺動によって係止部６が固定電極筒２の円
柱面側に移動され、可動電極ピン４が傾斜する。このた
め、係止部６が点Ｐで固定電極筒２の内面に接触し、固
定電極筒２、可動電極ピン４及びパフォーマンスボード
２４の電極端子が電気的に接続される。

【０００５】これにより、ＬＳＩテスタと被測定デバイ
スとの間でポゴピン１を介してテストパターン信号及び
動作信号等の信号が伝達される。そして、試験が終了し
てパフォーマンスボード２４が除去されると、コイルば
ね１０によって可動電極ピン４が突出方向に移動され、
ポゴピン１は図５（ａ）に示す状態に復帰する。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のポゴピン１では金属で形成された可動電極ピン４自
体が傾斜した状態で係止部６が固定電極筒２の内面に接
触するため、点Ｐの接触面積は非常に小さく、接触不良
をおこすおそれがあり、試験結果の信頼性が低下すると
いう問題点があった。

【０００７】本発明は上記問題点を解決するためになさ
れたものであって、ポゴピンの導電性を向上して信頼性
の高い試験結果を得ることを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
、第１発明は、固定電極筒内に出入り可能に収容された
可動電極ピンと、可動電極ピンを常時突出方向に付勢す
る付勢手段とを備え、可動電極ピンが付勢手段に抗して
没入方向に押圧された状態で固定電極筒と可動電極ピン
との電気的接続をとるようにしたポゴピンにおいて、可
動電極ピンの押圧状態における可動電極ピンと固定電極
筒との電気的接続部分に導電性ゴムを設けている。

【０００９】又、第２発明は、固定電極筒内に出入り可
能に収容された可動電極ピンと、可動電極ピンを常時突
出方向に付勢する付勢手段とを備えたポゴピンにおいて
、可動電極ピンの外端部に導電性ゴムを設けている。 更に、第３発明は、テストパターン信号を発生させるテ
スタ本体と、テスタ本体が発生したテストパターン信号
を被測定デバイスを装着した試験用実装ボードに供給す
るテストヘッドとを備えたＬＳＩ試験装置において、テ
ストヘッドにはテストパターン信号を試験用実装ボード
に供給するための請求項１又は請求項２に記載のポゴピ
ンを設けている。

【００１０】

【作用】第１発明によれば、可動電極ピンが押圧される
と、導電性ゴム自体が圧接力により変形して可動電極ピ
ンと固定電極筒との電気的接続部分の面積が増加し、可
動電極ピンと固定電極筒との電気的接続が良好となる。 又、第２発明によれば、ポゴピンに試験用実装ボードが
圧接されると、導電性ゴムが圧接力により変形して可動
電極ピンと導電性ゴム、及び導電性ゴムと試験用実装ボ
ードとの接触面積が増加し、可動電極ピンと試験用実装
ボードとの電気的接続が良好となる。

【００１１】更に、第３発明によれば、テストヘッドと
試験用実装ボードとの電気的接続が良好となって信号の
伝達が向上し、ＬＳＩ試験の信頼性が向上される。

【００１２】

【実施例】

［第１実施例］以下、本発明を具体化した一実施例のポ
ゴピンを図１，図２に従って説明する。尚、説明の便宜
上、図５と同様の構成については同一の符号を付して説
明を一部省略する。

【００１３】図２はＬＳＩテスタ２０を示し、ＬＳＩテ
スタ２０はテスタ本体２１と、その一側に設けられたテ
ストヘッド２２とを備えて構成されている。テストヘッ
ド２２の上面には多数のポゴピン１１が設けられ、これ
らのポゴピン１１はテストヘッド２２と被測定デバイス
２３を装着した試験用実装ボードとしてのパフォーマン
スボード２４との間でテストパターン信号、動作信号及
び電源等の信号を伝達する。

【００１４】そして、本実施例におけるポゴピン１１は
、図１に示すように、可動電極ピン４の係止部６の下面
と固定電極筒２底面の絶縁部材３との間には付勢手段と
しての円柱状をなす導電性ゴム１２が介装されており、
この導電性ゴム１２の弾性力により可動電極ピン４は常
時、突出方向に付勢されている。さて、図１（ａ）に示
す状態においてポゴピン１１にパフォーマンスボード２
４が圧接されると、図１（ｂ）に示すように可動電極ピ
ン４が導電性ゴム１２の弾性力に抗して没入方向に移動
する。このため、導電性ゴム１２が例えばＳ字状に弾性
変形し、導電性ゴム１２が接触面Ｆ１，Ｆ２で固定電極
筒２の内面に接触する。そして、導電性ゴム１２は固定
電極筒２の内面に接触した後も圧接力により変形するた
め、接触面Ｆ１，Ｆ２の面積は増加する。これにより、
固定電極筒２，可動電極ピン４及びパフォーマンスボー
ド２４の電極端子が電気的に接続される。

【００１５】この状態において、ＬＳＩテスタ２０と被
測定デバイス２３との間でポゴピン１１を介してテスト
パターン信号及び動作信号等の信号が伝達され、試験が
行われる。そして、試験が終了してパフォーマンスボー
ド２４が除去されると、導電性ゴム１２によって可動電
極ピン４が突出方向に移動され、ポゴピン１１は図１（
ａ）に示す状態に復帰される。

【００１６】このように、本実施例では可動電極ピン４
の係止部６の下面と固定電極筒２底面の絶縁部材３との
間に付勢手段としての円柱状をなす導電性ゴム１２を介
装したので、試験時において弾性変形した導電性ゴム１
２と固定電極筒２との接触面Ｆ１，Ｆ２の面積が増加し
、可動電極ピン４と固定電極筒２との電気的接続が良好
になり、信頼性の高い試験結果を得ることできる。

【００１７】［第２実施例］次に、本発明の別例のポゴ
ピンを図３に従って説明する。図３に示すように、本実
施例におけるポゴピン１３では、可動電極ピン４の係止
部６の下面と固定電極筒２底面の絶縁部材３との間に介
装した付勢手段としての導電性ゴム１４の中央部にスリ
ット１５が形成されており、他の構成は図１と同様とな
っている。

【００１８】さて、図３（ａ）に示す状態においてポゴ
ピン１３にパフォーマンスボード２４が圧接され、図３
（ｂ）に示すように可動電極ピン４が導電性ゴム１４の
弾性力に抗して没入方向に移動すると、スリット１５が
拡がるように導電性ゴム１４が弾性変形し、導電性ゴム
１４が接触面Ｆ３，Ｆ４で固定電極筒２の内面に接触す
る。

【００１９】そして、導電性ゴム１４は固定電極筒２の
内面に接触した後も圧接力により変形し、接触面Ｆ３，
Ｆ４の面積が増加するため、第１実施例と同様に可動電
極ピン４と固定電極筒２との電気的接続が良好になり、
信頼性の高い試験結果を得ることができる。［第３実施
例］次に、本発明の別例のポゴピンを図４に従って説明
する。

【００２０】図４に示すように、本実施例におけるポゴ
ピン１６は、図１に示したポゴピン１１における可動電
極ピン４の外端部に球状をなす導電性ゴム１７が設けら
れている。従って、図４（ａ）に示す状態においてポゴ
ピン１６にパフォーマンスボード２４が圧接されると、
図４（ｂ）に示すように導電性ゴム１２の弾性変形によ
る固定電極筒２の内面との接触面Ｆ１，Ｆ２の面積が増
加し、又、導電性ゴム１７の弾性変形によるパフォーマ
ンスボード２４の電極端子との接触面Ｆ５の面積が増加
するとともに、導電性ゴム１７により可動電極ピン４と
パフォーマンスボード２４との滑りが確実に防止される
。

【００２１】これにより、可動電極ピン４と固定電極筒
２との電気的接続、及び可動電極ピン４とフォーマンス
ボード２４の電極端子との電気的接続が良好になり、よ
り信頼性の高い試験結果を得ることができる。尚、本発
明は上記各実施例に限定されず、例えば、図３に示すポ
ゴピン１３において可動電極ピン４の外端部に導電性ゴ
ム１７を設けてもよい。

【００２２】又、上記各実施例では付勢手段を導電性ゴ
ム１２，１４としたが、これを押圧力が作用すると例え
ばＳ字状に変形して固定電極筒２の内周面に接触する金
属製のコイルばねとしてもよい。この場合、可動電極ピ
ン４の没入量の増加に伴ってコイルばねは固定電極筒２
の内周面に接触する巻数が増加し、可動電極ピン４と固
定電極筒２との電気的接続が良好になる。従って、高周
波数のテストパターン信号を印加するポゴピンではこの
コイルばねがインダクタンスを持つことも考えられるが
、電源等を印加するポゴピンに使用しても十分な効果を
得ることができる。

【００２３】

【発明の効果】以上詳述したように第１発明によれば、
可動電極ピンと固定電極筒との電気的接続が良好となり
、ポゴピンの導電性が向上して信頼性の高い試験結果を
得ることができる。又、第２発明によれば、可動電極ピ
ンと試験用実装ボードとの電気的接続が良好となり、ポ
ゴピンの導電性が向上して第１発明と同様に信頼性の高
い試験結果を得ることができる。

【００２４】更に、第３発明によれば、テストヘッドと
試験用実装ボードとの電気的接続が良好となって信号の
伝達が向上し、ＬＳＩ試験の信頼性を向上することがで
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】一実施例のポゴピンを示す断面図であり、（ａ
）は試験前後の状態を示し、（ｂ）は試験時の状態を示
す。

【図２】ＬＳＩテスタの概略を示す正面図である。

【図３】別例のポゴピンを示す断面図であり、（ａ）は
試験前後の状態を示し、（ｂ）は試験時の状態を示す。

【図４】別例のポゴピンを示す断面図であり、（ａ）は
試験前後の状態を示し、（ｂ）は試験時の状態を示す。

【図５】従来のポゴピンを示す断面図であり、（ａ）は
試験前後の状態を示し、（ｂ）は試験時の状態を示す。

【符号の説明】

２　　固定電極筒 ４　　可動電極ピン １１，１３，１６　　ポゴピン １２，１４　　付勢手段としての導電性ゴム１７　　導
電性ゴム ２０　　ＬＳＩテスタ ２１　　テスタ本体 ２２　　テストヘッド ２３　　被測定デバイス

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　固定電極筒（２）内に出入り可能に収
   容された可動電極ピン（４）と、可動電極ピン（４）を
   常時突出方向に付勢する付勢手段（１２，１４）とを備
   え、前記可動電極ピン（４）が付勢手段（１２，１４）
   に抗して没入方向に押圧された状態で固定電極筒（２）
   と可動電極ピン（４）との電気的接続をとるようにした
   ポゴピンにおいて、可動電極ピン（４）の押圧状態にお
   ける可動電極ピン（４）と固定電極筒（２）との電気的
   接続部分に導電性ゴム（１２，１４）を設けたことを特
   徴とするポゴピン。
2. 【請求項２】　　固定電極筒（２）内に出入り可能に収
   容された可動電極ピン（４）と、可動電極ピン（４）を
   常時突出方向に付勢する付勢手段（１２，１４）とを備
   えたポゴピンにおいて、可動電極ピン（４）の外端部に
   導電性ゴム（１７）を設けたことを特徴とするポゴピン
   。
3. 【請求項３】　　テストパターン信号を発生させるテス
   タ本体（２１）と、テスタ本体（２１）が発生したテス
   トパターン信号を被測定デバイス（２３）を装着した試
   験用実装ボード（２４）に供給するテストヘッド（２２
   ）とを備えたＬＳＩ試験装置において、テストヘッド（
   ２２）にはテストパターン信号を試験用実装ボード（２
   ４）に供給するための請求項１又は請求項２に記載のポ
   ゴピンを設けたことを特徴とするＬＳＩ試験装置。