JPH04366594A - 薄膜白色elパネル - Google Patents
薄膜白色elパネルInfo
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- JPH04366594A JPH04366594A JP3140469A JP14046991A JPH04366594A JP H04366594 A JPH04366594 A JP H04366594A JP 3140469 A JP3140469 A JP 3140469A JP 14046991 A JP14046991 A JP 14046991A JP H04366594 A JPH04366594 A JP H04366594A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、画像表示に使用される
薄膜白色ELパネルに関するものである。
薄膜白色ELパネルに関するものである。
【0002】
【従来の技術】ELディスプレイは、超薄型、完全固体
、自発光型、高視認性、高信頼性等のメリットを有する
フラットディスプレイである。白色EL、カラーELの
ための発光膜の母体材料として例えばCaS,SrS,
BaSを用いたELの研究が近年盛んになりつつある。
、自発光型、高視認性、高信頼性等のメリットを有する
フラットディスプレイである。白色EL、カラーELの
ための発光膜の母体材料として例えばCaS,SrS,
BaSを用いたELの研究が近年盛んになりつつある。
【0003】従来、アルカリ土類金属の硫化物を用いた
薄膜白色ELパネルとしては図2及び図3に示されたも
のが知られている。図2は、このようなアルカリ土類金
属の硫化物を発光母体材料として用いたELの一般的な
構造を示す図である。図2に示すELの構造は、発光膜
の両側を絶縁膜で挟んだ構造をしており、一般に二重絶
縁構造と呼ばれる。EL薄膜は、ガラス基板11上に透
明電極12、第一層絶縁膜13、ZnS膜14、発光膜
15、ZnS膜16、第二層絶縁膜17、背面電極18
の順に構成される。
薄膜白色ELパネルとしては図2及び図3に示されたも
のが知られている。図2は、このようなアルカリ土類金
属の硫化物を発光母体材料として用いたELの一般的な
構造を示す図である。図2に示すELの構造は、発光膜
の両側を絶縁膜で挟んだ構造をしており、一般に二重絶
縁構造と呼ばれる。EL薄膜は、ガラス基板11上に透
明電極12、第一層絶縁膜13、ZnS膜14、発光膜
15、ZnS膜16、第二層絶縁膜17、背面電極18
の順に構成される。
【0004】ガラス基板上の透明電極12はストライプ
状に形成され、材料としてはITO(Indium
Tin Oxide)などが用いられる。第一層絶縁
膜13、第二層絶縁膜17はSiO2 ,Si3 N4
あるいはTa2 O5 などが用いられる。これらの
絶縁膜の性能を極力引き出すために複合絶縁膜にするこ
ともある。
状に形成され、材料としてはITO(Indium
Tin Oxide)などが用いられる。第一層絶縁
膜13、第二層絶縁膜17はSiO2 ,Si3 N4
あるいはTa2 O5 などが用いられる。これらの
絶縁膜の性能を極力引き出すために複合絶縁膜にするこ
ともある。
【0005】続いて、第一層絶縁膜13及び第二層絶縁
膜17と発光膜15の間にZnS膜14、16を設ける
。このZnS膜14、16は電荷注入の機能を果たすこ
とにより、輝度が向上する層として挿入した膜である。 発光膜15は、CaS,SrS,BaSなどの母体材料
に、0.01〜数mol%程度の希土類を発光中心材料
として混合したものである。白色発光のELパネルの場
合には、母体材料SrSにCe,Euの発光中心と、電
荷補償材料としてKを添加したSrS:Ce,Eu,K
が用いられる。発光膜15はスパッタ法や、電子線蒸着
法などの真空成膜法により形成される。
膜17と発光膜15の間にZnS膜14、16を設ける
。このZnS膜14、16は電荷注入の機能を果たすこ
とにより、輝度が向上する層として挿入した膜である。 発光膜15は、CaS,SrS,BaSなどの母体材料
に、0.01〜数mol%程度の希土類を発光中心材料
として混合したものである。白色発光のELパネルの場
合には、母体材料SrSにCe,Euの発光中心と、電
荷補償材料としてKを添加したSrS:Ce,Eu,K
が用いられる。発光膜15はスパッタ法や、電子線蒸着
法などの真空成膜法により形成される。
【0006】背面電極18は、透明電極12と直交する
方向にストライプ状に形成され、アルミニュームの金属
電極が用いられる。白色EL発光は透明電極12と背面
電極16に、200V程度の交流電圧を印加することに
より、これらの電極交差した部分から生じ、ガラス基板
11を通して観測される。図3は、第一層絶縁膜23及
び第二層絶縁膜27を各々複合絶縁膜にしたELの構造
を示すもので、その他の構成は図2に示された層構成と
同じである。すなわち、EL薄膜は、ガラス基板21上
に透明電極22、第一層絶縁膜23(23a、23b)
、ZnS膜24、発光膜25、ZnS膜26、第二層絶
縁膜27(27a、27b)、背面電極28の順に構成
される。
方向にストライプ状に形成され、アルミニュームの金属
電極が用いられる。白色EL発光は透明電極12と背面
電極16に、200V程度の交流電圧を印加することに
より、これらの電極交差した部分から生じ、ガラス基板
11を通して観測される。図3は、第一層絶縁膜23及
び第二層絶縁膜27を各々複合絶縁膜にしたELの構造
を示すもので、その他の構成は図2に示された層構成と
同じである。すなわち、EL薄膜は、ガラス基板21上
に透明電極22、第一層絶縁膜23(23a、23b)
、ZnS膜24、発光膜25、ZnS膜26、第二層絶
縁膜27(27a、27b)、背面電極28の順に構成
される。
【0007】図3のELにおいて、第一層絶縁膜23中
の、23aをSiO2 など、23bをTa2 O5
又はSi3 N4 などにより形成し、これと対照的に
なるように第二層絶縁膜27において、27aをSiO
2 など、27bをTa2 O5 又はSi3 N4
などにより形成されている。このようなEL素子、特に
図3に示した複合絶縁膜を用いた素子により、現在(1
KHZ 駆動)730cd/m2 程度の輝度が得られ
る。
の、23aをSiO2 など、23bをTa2 O5
又はSi3 N4 などにより形成し、これと対照的に
なるように第二層絶縁膜27において、27aをSiO
2 など、27bをTa2 O5 又はSi3 N4
などにより形成されている。このようなEL素子、特に
図3に示した複合絶縁膜を用いた素子により、現在(1
KHZ 駆動)730cd/m2 程度の輝度が得られ
る。
【0008】次に、下記に用いる用語である、ドライバ
ー、及びL40について、内容を理解し易くするために
簡単に説明する。白色ELパネルをマトリクス駆動する
とき、一般に使われているドライバーにおいては、ドラ
イバーの駆動電圧は80V以下という制限があり、多く
は40Vが採用されている。そして、EL素子について
の発光輝度はL40で評価する方法が用いられる。L4
0とは輝度1cd/m2 のところの発光開始電圧に対
して、プラス40Vした電圧での輝度として定義されて
いる。そして、現在L40が高い値を示す白色EL素子
が望まれている。
ー、及びL40について、内容を理解し易くするために
簡単に説明する。白色ELパネルをマトリクス駆動する
とき、一般に使われているドライバーにおいては、ドラ
イバーの駆動電圧は80V以下という制限があり、多く
は40Vが採用されている。そして、EL素子について
の発光輝度はL40で評価する方法が用いられる。L4
0とは輝度1cd/m2 のところの発光開始電圧に対
して、プラス40Vした電圧での輝度として定義されて
いる。そして、現在L40が高い値を示す白色EL素子
が望まれている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】ところで、図3に示し
たSi3 N4 素子あるいはTa2 O5 素子の輝
度の印加電圧依存性を図4に示す。図4から分かるよう
に、1KHZ 正弦波で駆動したとき、最大輝度はTa
2 O5 素子の方がSi3 N4 素子より高く、最
高輝度730cd/m2 が得られている。また、L4
0はTa2 O5 素子では255cd/m2 である
。
たSi3 N4 素子あるいはTa2 O5 素子の輝
度の印加電圧依存性を図4に示す。図4から分かるよう
に、1KHZ 正弦波で駆動したとき、最大輝度はTa
2 O5 素子の方がSi3 N4 素子より高く、最
高輝度730cd/m2 が得られている。また、L4
0はTa2 O5 素子では255cd/m2 である
。
【0010】一方、Si3 N4 素子は、L40が4
50cd/m2 であり、Ta2 O5 素子より高く
、Ta2 O5 素子の1.8倍の輝度が得られている
が、最大輝度は絶縁耐圧が低いため500cd/m2
しか得られていない。また、Si3 N4 素子は、絶
縁耐圧が十分ではないため、EL素子の破壊の原因とな
る。これらが白色ELディスプレイを実用化するのに問
題となる。
50cd/m2 であり、Ta2 O5 素子より高く
、Ta2 O5 素子の1.8倍の輝度が得られている
が、最大輝度は絶縁耐圧が低いため500cd/m2
しか得られていない。また、Si3 N4 素子は、絶
縁耐圧が十分ではないため、EL素子の破壊の原因とな
る。これらが白色ELディスプレイを実用化するのに問
題となる。
【0011】また、Ta2 O5 素子は、絶縁耐圧が
高いため、高輝度が得られるが、ドライバーの駆動電圧
の制限によってせっかく得られた高輝度が使えない。以
上の理由により、白色ELディスプレイを実用化するの
に、絶縁耐圧が高く、かつL40の高い絶縁膜を開発す
ることが必要である。そこで本発明は、アルカリ土類金
属の硫化物を発光母体材料として用いた白色EL素子の
高輝度化及び絶縁耐圧が向上することを目的とする。
高いため、高輝度が得られるが、ドライバーの駆動電圧
の制限によってせっかく得られた高輝度が使えない。以
上の理由により、白色ELディスプレイを実用化するの
に、絶縁耐圧が高く、かつL40の高い絶縁膜を開発す
ることが必要である。そこで本発明は、アルカリ土類金
属の硫化物を発光母体材料として用いた白色EL素子の
高輝度化及び絶縁耐圧が向上することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに、本発明は、アルカリ土類金属の硫化物を発光膜と
する薄膜白色ELパネルにおいて、絶縁膜を、SiO2
膜、絶縁耐圧の高いTa2 O5 膜、及びL40の
高いSi3 N4 膜からなる三種の膜をすべて含む膜
とし、絶縁膜と発光膜との間にZnS膜を設けたことを
特徴とする薄膜白色ELパネルとするものである。
めに、本発明は、アルカリ土類金属の硫化物を発光膜と
する薄膜白色ELパネルにおいて、絶縁膜を、SiO2
膜、絶縁耐圧の高いTa2 O5 膜、及びL40の
高いSi3 N4 膜からなる三種の膜をすべて含む膜
とし、絶縁膜と発光膜との間にZnS膜を設けたことを
特徴とする薄膜白色ELパネルとするものである。
【0013】また、本発明は、上記薄膜白色ELパネル
の構成において、さらに、絶縁膜、ZnS膜、発光膜か
らなる膜構成を、SiO2 膜/Ta2 O5 膜/S
i3 N4 膜/ZnS膜/発光膜/ZnS膜/Si3
N4 膜/Ta2 O5 膜/SiO2 膜の順番の
膜構成とするものである。さらにまた、本発明は、上記
薄膜白色ELパネルの構成において、絶縁膜、ZnS膜
、発光膜からなる膜構成を、SiO2 膜/Ta2 O
5 膜とSi3 N4 膜の多層膜/ZnS膜/発光膜
/ZnS膜/Si3 N4 膜とTa2 O5 膜の多
層膜/SiO2 膜の順番の膜構成であり、且つ、Zn
SとSi3 N4 が接触する膜構成とするものである
。
の構成において、さらに、絶縁膜、ZnS膜、発光膜か
らなる膜構成を、SiO2 膜/Ta2 O5 膜/S
i3 N4 膜/ZnS膜/発光膜/ZnS膜/Si3
N4 膜/Ta2 O5 膜/SiO2 膜の順番の
膜構成とするものである。さらにまた、本発明は、上記
薄膜白色ELパネルの構成において、絶縁膜、ZnS膜
、発光膜からなる膜構成を、SiO2 膜/Ta2 O
5 膜とSi3 N4 膜の多層膜/ZnS膜/発光膜
/ZnS膜/Si3 N4 膜とTa2 O5 膜の多
層膜/SiO2 膜の順番の膜構成であり、且つ、Zn
SとSi3 N4 が接触する膜構成とするものである
。
【0014】
【作用】本発明において、絶縁膜を、SiO2 膜、絶
縁耐圧の高いTa2 O5 膜、及びL40の高いSi
3 N4 膜からなる三種の膜をすべて含む膜とするこ
とにより、SiO2 膜が緻密かつ基板表面に強い付着
力を示し、また、絶縁耐圧の高いTa2 O5 は絶縁
膜として安定ではなく、酸素が発光膜へ拡散し、輝度低
下の原因となるが、L40の高いSi3 N4 膜と組
み合わせることにより、Si3 N4 が酸素に対する
バッファー層としての役割も果たして発光膜を保護し、
さらに、これらの絶縁膜の組み合わせにより、本発明の
薄膜白色ELパネルの高輝度を生かすと同時に絶縁耐圧
も改善するものである。
縁耐圧の高いTa2 O5 膜、及びL40の高いSi
3 N4 膜からなる三種の膜をすべて含む膜とするこ
とにより、SiO2 膜が緻密かつ基板表面に強い付着
力を示し、また、絶縁耐圧の高いTa2 O5 は絶縁
膜として安定ではなく、酸素が発光膜へ拡散し、輝度低
下の原因となるが、L40の高いSi3 N4 膜と組
み合わせることにより、Si3 N4 が酸素に対する
バッファー層としての役割も果たして発光膜を保護し、
さらに、これらの絶縁膜の組み合わせにより、本発明の
薄膜白色ELパネルの高輝度を生かすと同時に絶縁耐圧
も改善するものである。
【0015】更に発光膜とSi3 N4 との間にZn
S層を介在させることにより、薄膜白色ELパネルの輝
度がさらに向上するものである。
S層を介在させることにより、薄膜白色ELパネルの輝
度がさらに向上するものである。
【0016】
【実施例1】図1は、本発明の実施例の薄膜白色ELパ
ネルの断面図を示す。図1に基づいて本実施例を説明す
る。ガラス基板1上に、透明電極2を形成したのち、第
一層絶縁膜として絶縁膜3を形成した。この絶縁膜3は
、三種類の絶縁膜3a、3b、3cをこの順に積層した
複合絶縁膜である。透明電極2側の絶縁膜3aとして透
明電極2とガラス基板1に対して付着力の強いSiO2
を用いて、膜厚を80nmに形成し、その上に絶縁膜
3bとして絶縁耐圧の高いTa2 O5 を膜厚150
nmに形成し、更にその上に絶縁膜3cとしてL40の
高いSi3 N4 を膜厚80nmに形成した。前記S
iO2 とSi3 N4膜はスパッタリング法で形成し
、Ta2 O5 は電子ビーム蒸着法で形成した。
ネルの断面図を示す。図1に基づいて本実施例を説明す
る。ガラス基板1上に、透明電極2を形成したのち、第
一層絶縁膜として絶縁膜3を形成した。この絶縁膜3は
、三種類の絶縁膜3a、3b、3cをこの順に積層した
複合絶縁膜である。透明電極2側の絶縁膜3aとして透
明電極2とガラス基板1に対して付着力の強いSiO2
を用いて、膜厚を80nmに形成し、その上に絶縁膜
3bとして絶縁耐圧の高いTa2 O5 を膜厚150
nmに形成し、更にその上に絶縁膜3cとしてL40の
高いSi3 N4 を膜厚80nmに形成した。前記S
iO2 とSi3 N4膜はスパッタリング法で形成し
、Ta2 O5 は電子ビーム蒸着法で形成した。
【0017】続いて、絶縁膜3c上にバッファー層とし
てZnS膜4を形成する。更にこの上に発光膜5を電子
線蒸着法により成膜した。該発光膜5は、白色発光のS
rS:Ce,Eu,Kとして構成した。即ち、SrSを
母体材料とし、その中にCe,Eu,Kを添加成分とし
て混合した粉末を加圧成型したペレットを蒸着材料とし
て用いた。前記Ceは青緑の発光中心として希土類化合
物CeClの形で0.1mol%、前記Euは赤の発光
中心として希土類化合物EuSを0.03mol%、前
記Kは電荷補償材料KとしてKClの形で0.1mol
%の割合で用いた。
てZnS膜4を形成する。更にこの上に発光膜5を電子
線蒸着法により成膜した。該発光膜5は、白色発光のS
rS:Ce,Eu,Kとして構成した。即ち、SrSを
母体材料とし、その中にCe,Eu,Kを添加成分とし
て混合した粉末を加圧成型したペレットを蒸着材料とし
て用いた。前記Ceは青緑の発光中心として希土類化合
物CeClの形で0.1mol%、前記Euは赤の発光
中心として希土類化合物EuSを0.03mol%、前
記Kは電荷補償材料KとしてKClの形で0.1mol
%の割合で用いた。
【0018】この発光膜5上にZnS膜6を形成した。
続いて、このZnS膜6上に第二層絶縁膜7を形成する
が、第二層絶縁膜7は、第一層絶縁膜3の三種類絶縁膜
3a,3b,3cとの膜構成が発光膜5に対して対称と
なるように形成した。すなわち、発光膜5側に絶縁膜7
cとしてSi3 N4 を膜厚80nmで形成し、その
上に絶縁膜7bとしてTa2 O5を膜厚150nmで
形成した。そして、背面電極8側に絶縁膜7aとしてS
iO2 を膜厚80nmで形成した。
が、第二層絶縁膜7は、第一層絶縁膜3の三種類絶縁膜
3a,3b,3cとの膜構成が発光膜5に対して対称と
なるように形成した。すなわち、発光膜5側に絶縁膜7
cとしてSi3 N4 を膜厚80nmで形成し、その
上に絶縁膜7bとしてTa2 O5を膜厚150nmで
形成した。そして、背面電極8側に絶縁膜7aとしてS
iO2 を膜厚80nmで形成した。
【0019】さらに、絶縁膜7a上に、例えばAlなど
の金属からなる背面電極8を形成した。上記のようにし
て形成された薄膜白色ELパネルは、そのEL発光が、
透明交差した部分から生じ、ガラス基板1を通して観測
された。
の金属からなる背面電極8を形成した。上記のようにし
て形成された薄膜白色ELパネルは、そのEL発光が、
透明交差した部分から生じ、ガラス基板1を通して観測
された。
【0020】
【実施例2】図5は、本発明の別の実施例の薄膜白色E
Lパネルの一部断面図を示す。本実施例の薄膜白色EL
パネルは、前記実施例1の薄膜白色ELパネルと第一層
絶縁膜と第二層絶縁膜の構成においてのみ異なっている
だけであり、その他の構成、例えば、薄膜の膜厚及び成
膜法はまったく同じであるので、本実施例では第一層絶
縁膜と第二層絶縁膜の構成を主として説明する。
Lパネルの一部断面図を示す。本実施例の薄膜白色EL
パネルは、前記実施例1の薄膜白色ELパネルと第一層
絶縁膜と第二層絶縁膜の構成においてのみ異なっている
だけであり、その他の構成、例えば、薄膜の膜厚及び成
膜法はまったく同じであるので、本実施例では第一層絶
縁膜と第二層絶縁膜の構成を主として説明する。
【0021】図5に基づいて本実施例を説明する。ガラ
ス基板51上に透明電極52を形成したのち、第一層絶
縁膜53を形成する。この第一層絶縁膜53は、三種類
の絶縁膜、即ち、SiO2 、Si3 N4 及びTa
2 O5 を用い、そのうちSi3 N4 とTa2
O5 を多層積層したものである。透明電極52側の絶
縁膜53aは実施例1と同じ絶縁膜材料のSiO2 を
用い、膜厚80nmに形成した。その上に絶縁膜53−
1bとして絶縁耐圧の高いTa2 O5 を膜厚100
nmに形成した。その上に絶縁膜53−1cとしてL4
0の高いSi3 N4 を膜厚50nmに形成した。続
いて、絶縁膜53−2bとしてTa2 O5 を膜厚1
00nmに、また、絶縁膜53−2cとしてSi3 N
4 を膜厚50nmに形成した。更に、絶縁膜53−3
bとしてTa2 O5 を膜厚100nmに、また、絶
縁膜53−3cとしてSi3 N4 を膜厚50nmに
形成した。以上のようにして、第一層絶縁膜53は、S
iO2 層上にTa2 O5 層とSi3 N4 層と
を交互に3回づつ積層して形成し、第一層絶縁膜53と
しては3種類の絶縁膜を計7層形成した。
ス基板51上に透明電極52を形成したのち、第一層絶
縁膜53を形成する。この第一層絶縁膜53は、三種類
の絶縁膜、即ち、SiO2 、Si3 N4 及びTa
2 O5 を用い、そのうちSi3 N4 とTa2
O5 を多層積層したものである。透明電極52側の絶
縁膜53aは実施例1と同じ絶縁膜材料のSiO2 を
用い、膜厚80nmに形成した。その上に絶縁膜53−
1bとして絶縁耐圧の高いTa2 O5 を膜厚100
nmに形成した。その上に絶縁膜53−1cとしてL4
0の高いSi3 N4 を膜厚50nmに形成した。続
いて、絶縁膜53−2bとしてTa2 O5 を膜厚1
00nmに、また、絶縁膜53−2cとしてSi3 N
4 を膜厚50nmに形成した。更に、絶縁膜53−3
bとしてTa2 O5 を膜厚100nmに、また、絶
縁膜53−3cとしてSi3 N4 を膜厚50nmに
形成した。以上のようにして、第一層絶縁膜53は、S
iO2 層上にTa2 O5 層とSi3 N4 層と
を交互に3回づつ積層して形成し、第一層絶縁膜53と
しては3種類の絶縁膜を計7層形成した。
【0022】続いて、ZnS膜54、発光膜55、Zn
S膜56を実施例1と同じ材料を用い、また、同じ膜形
成法を用いて形成した。更に、第二層絶縁膜57を、第
一層絶縁膜53の三種類の絶縁膜を用い、第一層絶縁膜
53を構成している絶縁膜53a、53−1c、53−
2b、53−2c、53−3b、53−3cからなる膜
構成と、発光膜55に対して対称となるよう同じように
形成した。すなわち、発光膜55側に絶縁膜57−3c
としてSi3 N4 を膜厚50nmに形成し、その上
に絶縁膜57−3bとしてTa2 O5 を膜厚100
nmに形成した。続いて、絶縁膜57−2cとしてSi
3 N4 を膜厚50nmに形成し、その上に絶縁膜5
7−2bとしてTa2 O5 を膜厚100nmに形成
した。更に絶縁膜57−1cとしてSi3 N4 を膜
厚50nmに形成し、その上に絶縁膜57−1bとして
Ta2 O5 を膜厚100nmに形成した。以上のよ
うにして、第二層絶縁膜57は、発光膜55上にSi3
N4 層とTa2 O5 層とを交互に3回づつ積層
して形成し、第二層絶縁膜57としては3種類の絶縁膜
を計7層形成した。
S膜56を実施例1と同じ材料を用い、また、同じ膜形
成法を用いて形成した。更に、第二層絶縁膜57を、第
一層絶縁膜53の三種類の絶縁膜を用い、第一層絶縁膜
53を構成している絶縁膜53a、53−1c、53−
2b、53−2c、53−3b、53−3cからなる膜
構成と、発光膜55に対して対称となるよう同じように
形成した。すなわち、発光膜55側に絶縁膜57−3c
としてSi3 N4 を膜厚50nmに形成し、その上
に絶縁膜57−3bとしてTa2 O5 を膜厚100
nmに形成した。続いて、絶縁膜57−2cとしてSi
3 N4 を膜厚50nmに形成し、その上に絶縁膜5
7−2bとしてTa2 O5 を膜厚100nmに形成
した。更に絶縁膜57−1cとしてSi3 N4 を膜
厚50nmに形成し、その上に絶縁膜57−1bとして
Ta2 O5 を膜厚100nmに形成した。以上のよ
うにして、第二層絶縁膜57は、発光膜55上にSi3
N4 層とTa2 O5 層とを交互に3回づつ積層
して形成し、第二層絶縁膜57としては3種類の絶縁膜
を計7層形成した。
【0023】最後に、背面電極58側に絶縁膜57aと
してSiO2 を80nmに形成した。上記のようにし
て形成された薄膜白色ELパネルは、そのEL発光が、
透明交差した部分から生じ、ガラス基板51を通して観
測された。以上の実施例1、実施例2の薄膜白色ELパ
ネルで使用したSi3 N4 素子あるいはTa2 O
5 素子の輝度の印加電圧依存性を図6に示す。横軸に
印加電圧(V)を縦軸に輝度(L)をとったL−V特性
であり、従来の図2に示した薄膜白色EL素子とを比較
したものである。実施例1及び実施例2の薄膜白色EL
パネルを1KHZ の正弦波で駆動したとき、各々の薄
膜白色ELパネルの最大輝度はいずれも1000cd/
m2 以上であり、絶縁耐圧の改善により、従来のSi
3 N4 素子の約2倍の輝度が得られた。そしてL4
0も500cd/m2 程度であり、従来のTa2 O
5 素子の約2倍の輝度が得られた。また、Ta2 O
5 とSi3 N4 との絶縁多層膜を用いた場合、更
に高耐圧が得られた。
してSiO2 を80nmに形成した。上記のようにし
て形成された薄膜白色ELパネルは、そのEL発光が、
透明交差した部分から生じ、ガラス基板51を通して観
測された。以上の実施例1、実施例2の薄膜白色ELパ
ネルで使用したSi3 N4 素子あるいはTa2 O
5 素子の輝度の印加電圧依存性を図6に示す。横軸に
印加電圧(V)を縦軸に輝度(L)をとったL−V特性
であり、従来の図2に示した薄膜白色EL素子とを比較
したものである。実施例1及び実施例2の薄膜白色EL
パネルを1KHZ の正弦波で駆動したとき、各々の薄
膜白色ELパネルの最大輝度はいずれも1000cd/
m2 以上であり、絶縁耐圧の改善により、従来のSi
3 N4 素子の約2倍の輝度が得られた。そしてL4
0も500cd/m2 程度であり、従来のTa2 O
5 素子の約2倍の輝度が得られた。また、Ta2 O
5 とSi3 N4 との絶縁多層膜を用いた場合、更
に高耐圧が得られた。
【0024】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、アルカリ土類金属の硫化物を発光材料とするEL
素子において、SiO2 絶縁膜の他に絶縁耐圧の高い
Ta2 O5 とL40の高いSi3 N4 を含む積
層絶縁膜、ZnS膜などを同時に用いることによって、
実用化できる白色EL素子の高輝度が達成でき、更に、
絶縁耐圧の改善も達成できる。
れば、アルカリ土類金属の硫化物を発光材料とするEL
素子において、SiO2 絶縁膜の他に絶縁耐圧の高い
Ta2 O5 とL40の高いSi3 N4 を含む積
層絶縁膜、ZnS膜などを同時に用いることによって、
実用化できる白色EL素子の高輝度が達成でき、更に、
絶縁耐圧の改善も達成できる。
【0025】特にSi3 N4 とTa2 O5との多
層膜化によって、更に耐圧が向上する。また、発光膜に
近い側に絶縁膜としてSi3 N4 膜を用いることに
より、SiO2 膜、Ta2 O5 膜などから発生す
る酸素が発光膜に侵入する害を避けることができる。ま
た、発光膜とSi3 N4 との間にZnS層を入れる
ことにより輝度が向上する。これはZnSがSi3 N
4 絶縁膜と接したときのみ発光膜への有効な電荷注入
効果を持つためである。
層膜化によって、更に耐圧が向上する。また、発光膜に
近い側に絶縁膜としてSi3 N4 膜を用いることに
より、SiO2 膜、Ta2 O5 膜などから発生す
る酸素が発光膜に侵入する害を避けることができる。ま
た、発光膜とSi3 N4 との間にZnS層を入れる
ことにより輝度が向上する。これはZnSがSi3 N
4 絶縁膜と接したときのみ発光膜への有効な電荷注入
効果を持つためである。
【図1】本発明の実施例による薄膜白色ELパネルの構
造を示す一部断面図である。
造を示す一部断面図である。
【図2】従来のアルカリ土類金属の硫化物を用いた薄膜
白色ELパネルの構造を示す一部断面図である。
白色ELパネルの構造を示す一部断面図である。
【図3】従来のアルカリ土類金属の硫化物を用いた別の
薄膜白色ELパネルの構造を示す一部断面図である。
薄膜白色ELパネルの構造を示す一部断面図である。
【図4】図3に示したSi3 N4 素子あるいはTa
2O5 素子の輝度の印加電圧依存性を示すグラフであ
る。
2O5 素子の輝度の印加電圧依存性を示すグラフであ
る。
【図5】本発明の別の実施例の薄膜白色ELパネルの構
造を示す一部断面図である。
造を示す一部断面図である。
【図6】本発明の実施例で使用したSi3 N4 素子
あるいはTa2 O5 素子の輝度の印加電圧依存性を
示すグラフである。
あるいはTa2 O5 素子の輝度の印加電圧依存性を
示すグラフである。
1,51 ガラス基板
2,52 透明電極
3,53 絶縁膜
4,54 ZnS膜
5,55 発光膜
6,56 ZnS膜
7,57 絶縁膜
8,58 背面電極
Claims (3)
- 【請求項1】 アルカリ土類金属の硫化物を発光膜と
する薄膜白色ELパネルにおいて、絶縁膜を、SiO2
膜、絶縁耐圧の高いTa2 O5 膜、及びL40の
高いSi3 N4 膜からなる三種の膜をすべて含む膜
とし、絶縁膜と発光膜との間にZnS膜を設けたことを
特徴とする薄膜白色ELパネル。 - 【請求項2】 絶縁膜、ZnS膜、発光膜からなる膜
構成が、SiO2 膜/Ta2 O5 膜/Si3 N
4 膜/ZnS膜/発光膜/ZnS膜/Si3 N4
膜/Ta2 O5 膜/SiO2 膜の順番の膜構成で
あることを特徴とする請求項1記載の薄膜白色ELパネ
ル。 - 【請求項3】 絶縁膜、ZnS膜、発光膜からなる膜
構成が、SiO2 膜/Ta2 O5 膜とSi3 N
4 膜の多層膜/ZnS膜/発光膜/ZnS膜/Si3
N4 膜とTa2 O5 膜の多層膜/SiO2 膜
の順番の膜構成であり、且つ、ZnSとはSi3 N4
が接触することを特徴とする請求項1記載の薄膜白色
ELパネル。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3140469A JPH04366594A (ja) | 1991-06-12 | 1991-06-12 | 薄膜白色elパネル |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3140469A JPH04366594A (ja) | 1991-06-12 | 1991-06-12 | 薄膜白色elパネル |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04366594A true JPH04366594A (ja) | 1992-12-18 |
Family
ID=15269326
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3140469A Withdrawn JPH04366594A (ja) | 1991-06-12 | 1991-06-12 | 薄膜白色elパネル |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04366594A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018010926A (ja) * | 2016-07-12 | 2018-01-18 | 日亜化学工業株式会社 | 光反射膜及び発光素子 |
-
1991
- 1991-06-12 JP JP3140469A patent/JPH04366594A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018010926A (ja) * | 2016-07-12 | 2018-01-18 | 日亜化学工業株式会社 | 光反射膜及び発光素子 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980903 |