JPH04363327A - ポリシラン - Google Patents

ポリシラン

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JPH04363327A
JPH04363327A JP3278028A JP27802891A JPH04363327A JP H04363327 A JPH04363327 A JP H04363327A JP 3278028 A JP3278028 A JP 3278028A JP 27802891 A JP27802891 A JP 27802891A JP H04363327 A JPH04363327 A JP H04363327A
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義彦 中野
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Shuji Hayase
修二 早瀬
Akira Yoshizumi
善積 章
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伸次 村井
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    • G03F7/075Silicon-containing compounds
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    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G77/00Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule
    • C08G77/60Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule in which all the silicon atoms are connected by linkages other than oxygen atoms
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
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    • C08L83/00Compositions of macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon only; Compositions of derivatives of such polymers
    • C08L83/16Compositions of macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon only; Compositions of derivatives of such polymers in which all the silicon atoms are connected by linkages other than oxygen atoms

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、二次元または三次元構
造の硬化物を形成することが可能なポリシランおよびポ
リシラン組成物に関する。
【0002】
【従来の技術】ポリシランは、例えば、セラミックス用
プレカーサ、導電性材料、フォトコンダクタ材料、半導
体材料、非線形光学材料等の分野における応用が進めら
れており、興味深い物質となっている。
【0003】従来より検討されているポリシランは、一
般的に、Si−Si構造の主鎖に対して、側鎖にアルキ
ル基、フェニル基等の疎水基を有するものである。一方
、側鎖に極性基を有するポリシランの開示は少ないが、
マクロモレキュール(Macro−molecule)
 ,22(1989) 293頁、同21(1988)
,304頁、特開平第1−311102号公報等に開示
されたものが知られている。これらのうち、側鎖に極性
基を有するポリシランは、有機溶媒に対する親和性が優
れており、該溶媒に分離せずに溶解することが可能であ
る。このため、側鎖に極性基をするポリシランは回転塗
布法により薄膜化されるなど、上記各種の材料としての
成形が容易になされ得る。
【0004】しかしながら、上述したようなポリシラン
は、実質的に一次元構造であり、薄膜等に成形された状
態では、基板との密着性や強度が低い等の欠点があり、
また、一般的にガラス転移点(Tg)が低いため耐熱性
が不充分であることや、耐摩耗性に劣る等、実用的には
問題が多い。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記問題点
に鑑みてなされたもので、その課題とするところは、有
機溶媒との親和性が高く、容易に薄膜化等の成形が可能
で、またその成形状態では高い基板との密着性、機械的
強度、および耐熱性を示すポリシラン、またはポリシラ
ン組成物を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明のポリシランは、
下記化3に示す反復単位(1)を有する。
【0007】
【化3】 但し、R1 ,R2 ,Xは、夫々以下のものを示す。 R1 :水素、炭素数 1〜24の置換もしくは非置換
アルキル基、または炭素数 6〜24の置換もしくは非
置換アリール基。
【0008】R2 :炭素数 1〜24の置換もしくは
非置換アルキレン基、炭素数 6〜24の置換もしくは
非置換アリーレン基、または炭素数 7〜24の置換も
しくは非置換アラルキレン基。 X:光照射または加熱によって架橋する反応性基を有す
る1価の有機基。また、本発明のポリシラン組成物は、
下記化4に示す反復単位(2)を有するポリシランと、
架橋剤とを含有する。
【0009】
【化4】 但し、R3 〜R9 は、夫々以下のものを示す。 R3 :水素、炭素数 1〜24の置換もしくは非置換
アルキル基、または炭素数 6〜24の置換もしくは非
置換アリール基。 R4 :炭素数 0〜24の置換もしくは非置換アルキ
レン基、または炭素数 6〜24の置換もしくは非置換
アリーレン基。
【0010】R5 〜R9 :水素、水酸基、炭素数 
1〜24の置換もしくは非置換アルキル基、または炭素
数 6〜24の置換もしくは非置換アリール基。これら
は、同一であっても異なっていてもよく、少なくとも一
つは水酸基である。以下、本発明の詳細を説明する。
【0011】本発明の反復単位(1)を有するポリシラ
ンには、少なくとも一方の側鎖に光照射または加熱によ
って架橋する反応性基を有する有機基が存在する。この
反応性基とは、光、熱、放射線等で反応可能な基であり
、例えば、エポキシ、ビニル、アクリロイル(アクリル
)、メタクリロイル(メタクリル)、アセチル、マレイ
ミド、その他の不飽和基が挙げられる。当該有機基を側
鎖に含む反復単位(1)を有するポリシランは、下記化
5に示す反復単位(1´)を有する側鎖に水酸基が導入
されたポリシランと、前記反応性基を有する化合物との
脱ハロゲン化水素反応、開環反応等によって容易に得ら
れる。
【0012】
【化5】 式中、R1 およびR2 は(1)と同義。
【0013】上述したように反復単位(1)を有するポ
リシランを合成する場合、一般的には、側鎖に未反応の
水酸基が残存する。即ち、本発明の反復単位(1)を有
するポリシランは、反復単位(1´)を含む共重合体で
ある場合が多い。この共重合体において、前記反復単位
(1´)は、好ましくは、全ポリマー中で 5〜99%
存在してもよく、この量はポリシランの用途に応じて適
宜設定される好ましい。更に、本発明の反復単位(1)
を有するポリシランは、他の構造を有するポリシランと
の共重合体であってもよい。
【0014】前記反復単位(1)を有するポリシランは
、通常、一方の側鎖において前記反応性基を含む親水基
を有し、他方の側鎖において、非置換または例えばフッ
素により置換されたアルキル基、アリール基等の疎水基
を有する。また、両方の側鎖に前記反応性基を含む親水
基を有してもよい。
【0015】本発明の反復単位(1)を有するポリシラ
ンであって、特に上述したような共重合体であるポリシ
ランの具体例(PSi−1)〜(PSi−24)を下記
化6〜化11に示す。
【0016】
【化6】
【0017】
【化7】
【0018】
【化8】
【0019】
【化9】
【0020】
【化10】
【0021】
【化11】 式中、m,n,lは共重合体構造の組成比である。
【0022】また、本発明のポリシラン組成物において
、反復単位(2)を有するポリシランは、側鎖にフェノ
ール性水酸基を有する点で特徴的である。該ポリシラン
を構成する反復単位(2)の具体例(PSi−25)〜
(PSi−32)を下記化12に示す。
【0023】
【化12】
【0024】前記反復単位(2)を有するポリシランを
架橋させる架橋剤には、フェノール性水酸基と反応する
多官能性の化合物、またはフェノール核に求電子的に反
応する求電子剤が使用され得る。
【0025】前記フェノール性水酸基と反応する多官能
性の化合物には、例えば、多官能性のエポキシ樹脂、イ
ソシアネート化合物、酸無水物等が使用され得る。具体
的には、「新エポキシ樹脂」(垣内弘編,昭晃堂)に記
載の環式脂肪族エポキシ樹脂(51頁に記載)、グリシ
ジルエステル系樹脂(59〜61頁に記載)、グリシジ
ルアミン系樹脂(74〜76頁に記載)、複素環式エポ
キシ樹脂、(ヒダントイン型エポキシ樹脂(87頁に記
載)、トリグリシジルイソシアヌレート(91頁に記載
)等)、その他の特殊なエポキシ樹脂(97〜98頁に
記載)、イソシアネート化合物(153頁に記載)、芳
香族酸無水物(192〜202 頁に記載)等の化合物
が挙げられる。
【0026】この場合、前記フェノール性水酸基と反応
する多官能性の化合物は、前記反復単位(2)を有する
ポリシランにおける側鎖のフェノール性水酸基と反応し
、該ポリシランを架橋することによって、二次元または
三次元構造のポリシラン硬化薄膜を形成させる。ここで
当該架橋反応に寄与する多官能性の化合物は、前記反復
単位(1)を有するポリシランの側鎖に存在する反応性
基と同様の有機基を含む場合がある。即ち、反復単位(
1)を有するポリシランではその側鎖に導入されてポリ
シラン硬化薄膜の架橋反応に寄与する反応性基が、前記
反復単位(2)を有するポリシランを含有する組成物に
おいて架橋剤として上述した多官能性の化合物が使用さ
れる場合では、該架橋剤中に存在していると考えられる
。従って、前記反復単位(1)を有するポリシラン、特
にR2 がアリーレン基であるポリシランを使用して形
成されるポリシラン硬化薄膜、および前記反復単位(2
)を有するポリシランと架橋剤として上記多官能性の化
合物とを含有する組成物を使用して形成されるポリシラ
ン硬化薄膜は、同様の二次元または三次元構造を有する
と推定される。
【0027】一方、前記フェノール核に求電子的に反応
する求電子剤には、例えば、アルデヒド化合物や、=N
−CH2 −OH等の官能基を分子中に2個以上有する
メチロール化合物等が使用され得る。当該アルデヒド化
合物としては、具体的には、ホルムアルデヒド、アセト
アルデヒド、プロピオンアルデヒド、ブチルアルデヒド
等が挙げられる。また、当該メチロール化合物としては
、具体的には、下記化13に示す化合物等が挙げられる
【0028】
【化13】
【0029】これら求電子剤を、新実験化学講座第19
号, 299〜304 頁に記載の方法に従って、前記
反復単位(2)を有するポリシランと反応させることに
より、該ポリマー鎖を架橋させ、三次元構造を有するポ
リシラン硬化薄膜を形成することができる。即ち、前記
反復単位(2)を有するポリシランおよび求電子剤を、
水等の溶媒および触媒と共に一定時間還流加熱し、減圧
下において水を留去して、三次元構造を有するポリシラ
ン硬化薄膜を得る。
【0030】この場合、前記求電子剤は、前記反復単位
(2)を有するポリシランの側鎖に存在するフェノール
核において、水酸基に対するオルト位またはパラ位に求
電子的に結合し、該ポリシランを架橋する。例えば、前
記求電子剤としてホルムアルデヒドを使用すれば、前記
フェノール核における水酸基に対するオルト位またはパ
ラ位に該ホルムアルデヒドのカルボニウムカチオンが付
加してメチロールが生成し、次いで、活性中間体として
ベンジルカチオンを経由して、フェノール核間にメチレ
ン結合が生成し、前記ポリシランが架橋される。
【0031】本発明のポリシラン組成物では、架橋剤で
ある前記フェノール性水酸基と反応する多官能性の化合
物、または前記フェノール核に求電子的に反応する求電
子剤の添加量は、前記反復単位(2)を有するポリシラ
ンにおけるフェノール核に対して、0.01〜2 当量
であることが好ましい。これは、その下限未満であると
架橋の効果が充分に得られず、また上限を超えると、形
成されるポリシラン硬化薄膜の物性が逆に低下するため
である。
【0032】本発明のポリシランおよびポリシラン組成
物は、一般的には、有機溶媒に溶解して、基板上で薄膜
化した後、硬化させることが可能である。例えば実用上
では、まず前記反復単位(1)を有するポリシラン、ま
たは前記反復単位(2)を有するポリシランと架橋剤と
を含有するポリシラン組成物、および必要に応じて触媒
等を適切な溶媒に溶解させた溶液を、回転塗布法等のプ
ロセスに従って各種の基板上に塗布し薄膜化する。更に
、これに光照射、加熱等の処理を施す。このとき、前記
反復単位(1)を有するポリシランでは、側鎖に存在す
る反応性基によって前記ポリシランの主鎖間の架橋反応
が進行し、二次元または三次元構造を有するポリシラン
硬化薄膜が形成される。一方、前記反復単位(2)を有
するポリシランでは、架橋剤によって前記ポリシランの
主鎖間の架橋反応が進行し、二次元または三次元構造を
有するポリシラン硬化薄膜が形成される。また、ポリシ
ランの架橋密度が低い場合は、例えば有機溶媒中におい
てポリシランを架橋させて二次元または三次元構造を有
するポリシランを予め生成した後、通常の薄膜形成プロ
セスに従って基板上に薄膜化することもできる。この他
、更に一部のポリシランを予め有機溶媒中で架橋させた
後、これを含む溶液を基板上に塗布し、得られた塗膜中
でポリシランの架橋を進行させて、所望の二次元または
三次元構造を有するポリシラン薄膜を形成してもよい。
【0033】尚、以上ではポリシラン硬化薄膜を形成す
る場合について説明したが、本発明のポリシランおよび
ポリシラン組成物では、薄膜以外の成形体として二次元
または三次元構造を有するポリシラン硬化物を得ること
もできる。
【0034】更に、本発明のポリシランおよびポリシラ
ン組成物は、夫々を有機溶媒に溶解させ、該溶液を使用
し、LB(ラングミュア −ブロジェット)法によって
基板上に薄膜化させることも可能である。
【0035】詳述すると、まず、前記反復単位(1)を
有するポリシラン、または前記反復単位(2)を有する
ポリシランと架橋剤とを含有するポリシラン組成物を有
機溶媒に溶解し、得られた溶液を水面上に滴下する。こ
のとき、各ポリシランは、親水基(反復単位(1)にお
けるX側、反復単位(2)におけるR5 〜R9 側)
が水面に接し、一方、疎水基(反復単位(1)における
R1 側、反復単位(2)におけるR3 側)が水面か
ら遠ざかるような配向をとるため、安定した単分子膜が
形成される。
【0036】次に、該単分子膜を所定の表面圧に圧縮し
、膜面積を制御して該表面圧を一定に保ちながら、予め
疎水化処理等を施した基板を膜面に対して垂直な方向に
浸漬し、その後引き上げる。この際、基板の浸漬時もし
くは引き上げ時、またはその両方において、基板上に前
記単分子膜が転写され、ポリシラン薄膜が得られる。 更に、このような基板を浸漬する操作を複数回行うこと
により、基板上にポリシランの層状累積膜を形成するこ
とができる。
【0037】特に、本発明のポリシランおよびポリシラ
ン組成物では、上述したようなLB法を適用することに
より、膜厚方向の規則性に優れたポリシラン積層膜が得
られる。更に、特定の炭素数からなる側鎖を有するポリ
シランを用いることによって、前記LB膜形成プロセス
における基板の浸漬方向に分子が配向したポリシラン積
層膜を得ることができる。
【0038】この後、以上のように形成されるポリシラ
ン積層膜に、更に光照射、加熱等の処理を施すことによ
って、規則性を損なうことなく二次元または三次元構造
を有するポリシラン硬化薄膜を得ることができる。
【0039】この他、上記LB法によって、本発明のポ
リシランまたはポリシラン組成物による薄膜と、他の有
機または無機薄膜とを相互に積層させた薄膜を形成する
こともできる。尚、前記製膜操作は、一般的なLB膜形
成装置を用いて行うことができる。
【0040】
【作用】本発明のポリシランおよびポリシラン組成物は
、基板上における硬化薄膜等の成形状態で、上述したよ
うな架橋反応により形成される二次元または三次元構造
を有し、優れた基板との密着性、機械的強度、および耐
熱性を示す。またその形成は、前記反復単位(1)を有
するポリシラン、または前記反復単位(2)を有するポ
リシランを含有する組成物を使用し、通常の薄膜形成等
のプロセスに従って行われ得る。該ポリシランは、エス
テル結合、フェノール性水酸基等によって極性を示し有
機溶媒に溶解するため、本発明のポリシランおよびポリ
シラン組成物を使用した場合、上記硬化薄膜形成等のプ
ロセスが極めて容易である。
【0041】
【実施例】以下、本発明の実施例を説明する。尚、これ
ら実施例は、本発明の理解を容易にする目的で記載され
るものであり、本発明を限定するものではない。尚、実
施例の記載において、略号で記した化合物を後掲の化1
4〜化20に示す。 実施例1
【0042】メタ(i−プロペニル)フェノール 13
5gおよびt−ブチルジメチルシリルクロライド 16
0gを脱水エーテル 500gに溶解させ、更にトリエ
チルアミン 101gを滴下した。 3時間還流した後
、生成した塩を濾取し、濾液を濃縮して蒸留し(G−1
)を得た。続いて、(G−1) 248g、(S−1)
 157g、および塩化白金酸5gを、 150℃で 
3時間反応させた後、蒸留して化合物(M−1)を得た
【0043】次に、金属ナトリウム 5.0gをトルエ
ン 100ml中に分散させ、これに、化合物(M−1
)40.5gを65℃においてトルエン 100mlに
溶解させた溶液を滴下し、 4時間反応させ(M−1)
をポリマー化した。反応終了後、未反応のナトリウムお
よび塩化ナトリウム等の不溶物を濾別し、濾液を減圧下
で濃縮した。この濃縮液をメタノール中に注ぎポリマー
を精製した。
【0044】得られたポリマー10gをTHF(テトラ
ヒドロフラン) 500mlに溶解させ、これにn−(
C4 H9 )4 NF 1MTHF溶液54ccを加
え、室温で10分間反応させることによって、t−ブチ
ルジメチルシリル基を分解させた。この反応溶液を塩酸
の希薄水溶液で洗浄し、分離したTHF層を濃縮した。 生成物をトルエン中に滴下し、反復単位(P−1)を有
するポリシラン(平均分子量 120,000)を得た
【0045】次に、反復単位(P−1)を有するポリシ
ラン2.32gをTHF 100mlに溶解させ、これ
にトリエチルアミン0.1 gおよび(F−1)0.0
9gをTHF 100mlに溶解させた溶液を室温で滴
下した。滴下終了後、ポリマーを充分に水洗することに
より、本発明の反復単位(1)を有するポリシラン(P
C−1)を得た。
【0046】精製されたポリシラン(PC−1) 2g
および触媒としてベンゾフェノン0.01gをエチルセ
ロソルブアセテート10mlに溶解させ、この溶液をス
ピナーによってシリコンウェハ上に塗布して、薄膜(膜
厚2.0μm)を形成した。次いで、該薄膜に対して露
光量10mJ/cm2 で光照射を行い、ポリシラン主
鎖を切断することなく、側鎖のアクリロイル(アクリル
)基を反応させて、三次元構造の硬化薄膜を得た。
【0047】前記ウェハ上に形成された三次元構造のポ
リシラン硬化薄膜について、ゴバン目テスト(基板上の
薄膜の一定面積(正方形)を10×10のマス目に区切
り、その上にセロハンテープを粘着させて一定の力で剥
離する)による接着性試験を行ったところ、全く剥離が
なく、良好な基板との密着性を示した。
【0048】また、前記ポリシラン(PC−1)30m
gをシクロヘキサノン 1リットルに溶解させ、該溶液
を水面上に展開して単分子膜を形成した。続いて、シリ
コンウェハ基板を水面(単分子膜面)に対して、垂直方
向に浸漬させた後水面上に引上げた。この操作を繰り返
すことによって、即ちLB法によるプロセスによって、
基板上に(PC−1)の単分子膜が12層積層された薄
膜を形成した。
【0049】前記LB法により基板上に形成されたポリ
シラン薄膜では、基板の引上げ方向(薄膜の引上げ方向
)にモーメントを有する波長 335nmの偏光UV吸
収は、基板の引上げ方向に垂直なモーメントを有する同
様の偏光UV吸収に比べて大きかった。この結果、当該
ポリシラン薄膜においてポリシランの主鎖は、LB法に
よる基板の引上げ方向に配向していることが示唆される
【0050】一方、前記LB法により基板上に形成され
たポリシラン薄膜に対して、高圧水銀ランプによる紫外
線照射(露光量10mJ/cm2)を行い、ポリシラン
を架橋させて三次元構造の硬化薄膜を得た。このポリシ
ラン硬化薄膜でも、基板の引上げ方向にモーメントを有
する波長 335nmの偏光UV吸収は、基板の引上げ
方向に垂直なモーメントを有する同様の偏光UV吸収に
比べて大きかった。従って、当該ポリシラン薄膜におい
てポリシランの主鎖は、架橋後においてもLB法による
基板の引上げ方向に配向していることが示唆される。 実施例2
【0051】実施例1で合成された反復単位(P−1)
を有するポリシラン2.32gをTHF100mlに溶
解させ、これに、トリエチルアミン 0.2gおよび(
F−2)0.20gをTHF 100mlに溶解させた
溶液を室温で滴下した。 滴下終了後、ポリマーを充分に水洗することにより、本
発明の反復単位(1)を有するポリシラン(PC−2)
を得た。
【0052】精製されたポリシラン(PC−2) 2g
および触媒としてベンゾフェノン0.01gをエチルセ
ロソルブアセテート10mlに溶解させ、この溶液をス
ピナーによってシリコンウェハ上に塗布して、薄膜(膜
厚2.0μm)を形成した。次いで、該薄膜に対して露
光量20mJ/cm2 で光照射を行い、ポリシラン主
鎖を切断することなく、側鎖のメタクリロイル(メタク
リル)基を反応させて三次元構造の硬化薄膜を得た。
【0053】前記ウェハ上に形成された三次元構造のポ
リシラン硬化薄膜について、実施例1と同様にゴバン目
テストによる接着性試験を行ったところ、全く剥離がな
く、良好な基板との密着性を示した。尚、比較の為、露
光前(光照射前)のポリシラン薄膜に対して上記同様の
接着性試験を行ったところ、全て基板より剥離してしま
った。
【0054】また、前記ポリシラン(PC−2)30m
gおよびチオキサントン 0.5mgをシクロヘキサノ
ン 1リットルに溶解させ、該溶液を水面上に展開して
単分子膜を形成した。続いて、実施例1と同様の方法、
即ちLB法によるプロセスによって、シリコンウェハ基
板上に(PC−2)の単分子膜が15層積層された薄膜
を形成した。このLB法により基板上に形成されたポリ
シラン薄膜は、その表面をSEMにより観察したところ
膜の欠陥もなく、ほぼ均一に製膜されていた。
【0055】前記LB法により基板上に形成されたポリ
シラン薄膜では、基板の引上げ方向(薄膜の引上げ方向
)にモーメントを有する波長 335nmの偏光UV吸
収は、基板の引上げ方向に垂直なモーメントを有する同
様の偏光UV吸収に比べて大きかった。この結果、当該
ポリシラン薄膜においてポリシランの主鎖は、LB法に
よる基板の引上げ方向に配向していることが示唆される
【0056】一方、前記LB法により基板上に形成され
たポリシラン薄膜に対して、高圧水銀ランプによる紫外
線照射(露光量10mJ/cm2)を行い、ポリシラン
を架橋させて、三次元構造の硬化薄膜を得た。このポリ
シラン硬化薄膜においても、基板の引上げ方向にモーメ
ントを有する波長 335nmの偏光UV吸収は、基板
の引上げ方向に垂直なモーメントを有する同様の偏光U
V吸収に比べて大きかった。従って、当該ポリシラン薄
膜においてポリシランの主鎖は、架橋後においてもLB
法による基板の引上げ方向に配向していることが示唆さ
れる。 実施例3
【0057】m−ブロモフェノール(G−2) 171
gおよびt−ブチルジメチルシリルクロライド 160
gを脱水エーテル 500gに溶解させ、更にトリエチ
ルアミン 101gを滴下した。 3時間還流した後、
生成した塩を濾取し、濾液を濃縮して蒸留し(G−3)
を得た。続いて、(G−3) 285g、Mg24gか
ら合成されたグリニヤ試薬(エーテル中)を(S−2)
220 gに滴下し、滴下終了後 4時間還流させた。 生成した塩を濾取し、濾液を濃縮して濃縮物を減圧下で
蒸留し化合物(M−2)を得た。
【0058】次に、金属ナトリウム 5.0gをトルエ
ン 100ml中に分散させ、これに、化合物(M−2
)39.0gを65℃においてトルエン 100mlに
溶解させた溶液を滴下し、 4時間反応させ(M−2)
をポリマー化した。反応終了後、未反応のナトリウムお
よび塩化ナトリウム等の不溶物を濾別し、濾液を減圧下
で濃縮した。この濃縮液をメタノール中に注ぎポリマー
を精製した。
【0059】得られたポリマー10gをTHF 500
mlに溶解させ、これにn−(C4 H9 )4 NF
 1MTHF溶液55ccを加え、室温で10分間反応
させることによって、t−ブチルジメチルシリル基を分
解させた。この反応溶液を塩酸の希薄水溶液で洗浄し、
分離したTHF層を濃縮した。生成物をトルエン中に滴
下し、反復単位(P−2)を有するポリシラン(平均分
子量 150,000)を得た。
【0060】次に、反復単位(P−2)を有するポリシ
ラン2.32gをTHF 100mlに溶解させ、これ
にトリエチルアミン 0.1gおよび(F−3)0.1
7gをTHF 100mlに溶解させた溶液を室温で滴
下した。滴下終了後、ポリマーを充分に水洗することに
より、本発明の反復単位(1)を有するポリシラン(P
C−3)を得た。
【0061】精製されたポリシラン(PC−3) 2g
をエチルセロソルブアセテート10mlに溶解させ、こ
の溶液をスピナーによってシリコンウェハ上に塗布して
、薄膜(膜厚 2.0μm)を形成した。次いで、該薄
膜に対して露光量20mJ/cm2 で光照射を行い、
ポリシラン主鎖を切断することなく、側鎖のシンアモイ
ル基を反応させて、三次元構造の硬化薄膜を得た。
【0062】前記ウェハ上に形成された三次元構造のポ
リシラン硬化薄膜について、実施例1と同様にゴバン目
テストによる接着性試験を行ったところ、全く剥離がな
く、良好な基板との密着性を示した。このポリシラン硬
化薄膜は、均一であり、アセトンによりふいてもはげ落
ちることはなく、更にFの鉛筆で擦ったところ傷が発生
することはなかった。尚、比較の為、露光前(光照射前
)のポリシラン薄膜を多種の硬度の鉛筆で擦ったところ
5Bの鉛筆で傷が発生し、強度に劣ることが確認された
【0063】また、前記ポリシラン(PC−3)30m
gをシクロヘキサノン 1リットルに溶解させ、該溶液
を水面上に展開して単分子膜を形成した。続いて、実施
例1と同様の方法、即ちLB法によるプロセスによって
、シリコンウェハ基板上に(PC−3)の単分子膜が積
層された薄膜(膜厚2000オングストローム)を形成
した。このLB法により基板上に形成されたポリシラン
薄膜は、その表面をSEMにより観察したところ膜の欠
陥もなく、ほぼ均一に製膜されていた。
【0064】前記LB法により基板上に形成されたポリ
シラン薄膜では、基板の引上げ方向にモーメントを有す
る波長 340nmの偏光UV吸収は、基板の引上げ方
向に垂直なモーメントを有する同様の偏光UV吸収に比
べて大きかった。この結果、当該ポリシラン薄膜におい
てポリシランの主鎖は、LB法による基板の引上げ方向
に配向していることが示唆される。
【0065】一方、前記LB法により基板上に形成され
たポリシラン薄膜に対して、高圧水銀ランプによる紫外
線照射(露光量10mJ/cm2)を行い、ポリシラン
を架橋させて、三次元構造の硬化薄膜を得た。このポリ
シラン硬化薄膜でも、基板の引上げ方向にモーメントを
有する波長 340nmの偏光UV吸収は、基板の引上
げ方向に垂直なモーメントを有する同様の偏光UV吸収
に比べて大きかった。従って、当該ポリシラン薄膜にお
いてポリシランの主鎖は、架橋後においてもLB法によ
る基板の引上げ方向に配向していることが示唆される。
【0066】また、上記ポリシラン硬化薄膜について、
3次の非線形感受率を測定したところ、LB法による基
板の引上げ方向では 2×10−11 esu 、当該
方向に対して垂直な方向では 5×10−13 esu
 の値をそれぞれ示し、このポリシラン硬化薄膜では、
非線形光学特性に異方性があることが確認された。 実施例4
【0067】実施例3で得られた(G−3) 285g
、Mg24gから合成されたグリニヤ試薬(エーテル中
)を(S−3)192 gに滴下し、滴下終了後 4時
間還流させた。生成した塩を濾取し、濾液を濃縮して濃
縮物を減圧下で蒸留し化合物(M−3)を得た。
【0068】次に、金属ナトリウム 5.0gをトルエ
ン 100ml中に分散させ、これに、化合物(M−3
)36.0gを加え、 4時間反応させ(M−3)をポ
リマー化した。反応終了後、未反応のナトリウムおよび
塩化ナトリウム等の不溶物を濾別し、濾液を減圧下で濃
縮した。この濃縮液をメタノール中に注ぎポリマーを精
製した。
【0069】得られたポリマー 1gをTHF 200
mlに溶解させ、これにn−(C4 H9 )4 NF
 1MTHF溶液 5ccを加え、室温で10分間反応
させることによって、t−ブチルジメチルシリル基を分
解させた。この反応溶液を塩酸の希薄水溶液で洗浄し、
反復単位(P−3)を有するポリシラン(平均分子量 
250,000)を得た。
【0070】次に、反復単位(P−3)を有するポリシ
ラン2.32gをTHF 100mlに溶解させ、これ
にトリエチルアミン 0.1gおよび(F−4)0.1
6gをTHF 100mlに溶解させた溶液を室温で滴
下した。滴下終了後、ポリマーを充分に水洗することに
より、本発明の反復単位(1)を有するポリシラン(P
C−4)を得た。
【0071】精製されたポリシラン(PC−4) 2g
および触媒として(PH−1)0.01gをエチルセロ
ソルブアセテート10mlに溶解させ、この溶液をスピ
ナーによってシリコンウェハ上に塗布して、薄膜(膜厚
 2.0μm)を形成した。次いで、該薄膜に対して露
光量20mJ/cm2 で光照射を行い、ポリシラン主
鎖を切断することなく、側鎖のエポキシ基を反応させて
、三次元構造の硬化薄膜を得た。
【0072】前記ウェハ上に形成された三次元構造のポ
リシラン硬化薄膜について、実施例1と同様にゴバン目
テストによる接着性試験を行ったところ、全く剥離がな
く、良好な基板との密着性を示した。このポリシラン硬
化薄膜は、均一であり、アセトンによりふいてもはげ落
ちることはなく、更にFの鉛筆で擦ったところ傷が発生
しなかった。尚、比較の為、露光前(光照射前)のポリ
シラン薄膜を多種の硬度の鉛筆で擦ったところ5Bの鉛
筆で傷が発生し強度に劣ることが確認された。 実施例5
【0073】p−ブロモフェノール 171gおよびt
−ブチルジメチルシリルクロライド 160gを脱水エ
ーテル 500gに溶解させ、更にトリエチルアミン 
101gを滴下した。  3時間還流した後、生成した塩を濾取し、濾液を濃縮
して蒸留し(G−4)を得た。続いて、(G−4) 2
85g、Mg24gから合成されたグリニヤ試薬(エー
テル中)を(S−4)381 gに滴下し、滴下終了後
 4時間還流させた。生成した塩を濾取し、濾液を濃縮
して濃縮物を減圧下で蒸留し化合物(M−4)を得た。
【0074】次に、金属ナトリウム 5.0gをトルエ
ン 100ml中に分散させ、これに、化合物(M−4
)39.0gを65℃においてトルエン 100mlに
溶解させた溶液を滴下し、 4時間反応させ(M−4)
をポリマー化した。反応終了後、未反応のナトリウムお
よび塩化ナトリウム等の不溶物を濾別し、濾液を減圧下
で濃縮した。この濃縮液をメタノール中に注ぎポリマー
を精製した。
【0075】得られたポリマー10gをTHF 500
mlに溶解させ、これにn−(C4 H9 )4 NF
 1MTHF溶液54ccを加え、室温で10分間反応
させることによって、t−ブチルジメチルシリル基を分
解させた。この反応溶液を塩酸の希薄水溶液で洗浄し、
分離したTHF層を濃縮した。生成物をトルエン中に滴
下し、反復単位(P−4)を有するポリシラン(平均分
子量15,000)を得た。
【0076】次に、反復単位(P−4)を有するポリシ
ラン3.79gをTHF 100mlに溶解させ、これ
にトリエチルアミン 0.2gおよび(F−2)0.2
 gをTHF 100mlに溶解させた溶液を室温で滴
下した。滴下終了後、ポリマーを充分に水洗することに
より、本発明の反復単位(1)を有するポリシラン(P
C−5)を得た。
【0077】精製されたポリシラン(PC−5)30m
gおよび触媒としてベンゾインエチルエーテル 0.1
mgをシクロヘキサノン 1リットルに溶解させ、該溶
液を水面上に展開して単分子膜を形成した。続いて、実
施例1と同様の方法、即ちLB法によるプロセスによっ
て、シリコンウェハ基板上に(PC−5)の単分子膜が
積層された薄膜(膜厚 200オングストローム)を形
成した。このLB法により基板上に形成されたポリシラ
ン薄膜は、その表面をSEMにより観察したところ膜の
欠陥もなく、ほぼ均一に製膜されていた。
【0078】前記LB法により基板上に形成されたポリ
シラン薄膜に対して、高圧水銀ランプによる紫外線照射
(露光量10mJ/cm2 )を行い、ポリシランを架
橋させて、三次元構造の硬化薄膜を得た。このポリシラ
ン硬化薄膜では、基板の引上げ方向にモーメントを有す
る波長 303nmの偏光UV吸収は、基板の引上げ方
向に垂直なモーメントを有する同様の偏光UV吸収に比
べて大きかった。従って、当該ポリシラン硬化薄膜にお
いてポリシランの主鎖は、LB法による基板の引上げ方
向に配向していることが示唆される。
【0079】また、上記ポリシラン硬化薄膜について、
3次の非線形感受率を測定したところ、LB法による基
板の引上げ方向では 2×10−11 esu 、当該
方向に対して垂直な方向では 5×10−13 esu
 の値をそれぞれ示し、このポリシラン硬化薄膜では、
非線形光学特性に異方性があることが確認された。
【0080】更に、前記ポリシラン硬化薄膜の間に液晶
物質を封入したところ、これらが配向することが確認さ
れた。即ち、本発明のポリシランは、液晶配向膜として
好適な材料であることが示唆される。 実施例6
【0081】6−ブロモ1−ヘキサノール 181gお
よびt−ブチルジメチルシリルクロライド 160gを
脱水エーテル 500gに溶解させ、更にトリエチルア
ミン 101gを滴下した。3時間還流した後、生成し
た塩を濾取し、濾液を濃縮して蒸留し(G−5)を得た
。続いて、(G−5) 295g、Mg24gから合成
されたグリニヤ試薬(エーテル中)を(S−2)220
 gに滴下し、滴下終了後 4時間還流させた。生成し
た塩を濾取し、濾液を濃縮して濃縮物を減圧下で蒸留し
化合物(M−5)を得た。
【0082】次に、金属ナトリウム 5.0gをトルエ
ン 100ml中に分散させ、これに、化合物(M−5
)28.6gを65℃においてトルエン 100mlに
溶解させた溶液を滴下し、 4時間反応させ(M−5)
をポリマー化した。反応終了後、未反応のナトリウムお
よび塩化ナトリウム等の不溶物を濾別し、濾液を減圧下
で濃縮した。この濃縮液をメタノール中に注ぎポリマー
を精製した。
【0083】得られたポリマー10gをTHF 500
mlに溶解させ、これにn−(C4 H9 )4 NF
 1モル溶液54ccを加え、室温で10分間反応させ
ることによって、t−ブチルジメチルシリル基を分解さ
せた。この反応溶液を塩酸の希薄水溶液で洗浄し、分離
したTHF層を濃縮した。生成物をトルエン中に滴下し
、反復単位(P−5)を有するポリシラン(平均分子量
12,000)を得た。
【0084】次に、反復単位(P−5)を有するポリシ
ラン1.13gをTHF 100mlに溶解させ、これ
にトリエチルアミン 0.2gおよび(F−2)0.2
 gをTHF 100mlに溶解させた溶液を室温で滴
下した。滴下終了後、ポリシランを充分に水洗すること
により、本発明の反復単位(1)を有するポリシラン(
PC−6)を得た。
【0085】精製されたポリシラン(PC−6)30m
gおよび触媒としてベンゾインエチルエーテル 0.1
mgをシクロヘキサノン 1リットルに溶解させ、該溶
液を水面上に展開して単分子膜を形成した。続いて、実
施例1と同様の方法、即ちLB法によるプロセスによっ
て、シリコンウェハ基板上に(PC−6)の単分子膜が
積層された薄膜(膜厚 150オングストローム)を形
成した。このLB法により基板上に形成されたポリシラ
ン薄膜は、その表面をSEMにより観察したところ膜の
欠陥もなく、ほぼ均一に製膜されていた。
【0086】前記LB法により基板上に形成されたポリ
シラン薄膜に対して、高圧水銀ランプによる紫外線照射
(露光量10mJ/cm2 )を行い、ポリシランを架
橋させて、三次元構造の硬化薄膜を得た。このポリシラ
ン硬化薄膜において、基板の引上げ方向にモーメントを
有する波長 335nmの偏光UV吸収は、基板の引上
げ方向に垂直なモーメントを有する同様の偏光UV吸収
に比べて大きかった。従って、当該ポリシラン薄膜にお
いてポリシランの主鎖は、LB法による基板の引上げ方
向に配向していることが示唆される。
【0087】更に、前記ポリシラン硬化薄膜の間に液晶
物質を封入したところ、これらが配向することが確認さ
れた。即ち、本発明のポリシランは、液晶配向膜として
好適な材料であることが示唆される。 実施例7
【0088】金属ナトリウム 3.5gをトルエン 1
00ml中に分散させ、これに、化合物(M−6)32
.1gを 100℃においてトルエン 100mlに溶
解させた溶液を滴下し、 110℃で 1時間反応させ
た。反応終了後、未反応のナトリウム、および塩化ナト
リウム等を濾別し、濾液を減圧下で濃縮した。この濃縮
液にメタノール 200mlを加え、1時間攪拌した後
、生じた不溶物を濾別し、更にこの濾液を減圧下で濃縮
し、トルエン中に注いだ。次いで、このような生成物の
精製のための操作を2度同様に繰り返し、本発明のポリ
シラン組成物に含有される反復単位(2)を有するポリ
シランに相当する、反復単位(P−6)を有するポリシ
ラン(平均分子量 200,000)を得た。
【0089】次に、該反復単位(P−6)を有するポリ
シラン 2.4gをメタノール50mlに溶解させ、こ
れに触媒として水酸化バリウム 0.5gと、架橋剤と
してホルマリン(37wt%ホルムアルデヒド水溶液)
12gとを加え、室温で 2時間反応させた。反応終了
後、生成物を水中に沈殿させることによって精製した。 この精製物 1gをアセテートセロソルブ 5mlに溶
解させ、スピナーによってシリコンウェハ上に塗布して
、薄膜(膜厚 1.5μm)を形成した。次いで、該薄
膜を 150℃で10分間ベークすることによりポリシ
ランを架橋させ、三次元構造の硬化薄膜を得た。
【0090】該ポリシラン硬化薄膜は、アセトン、テト
ラヒドロフラン(THF)等の有機溶媒に不溶で、充分
に架橋されていることを示した。また、前記ウェハ上に
形成されたポリシラン硬化薄膜について、実施例1と同
様にゴバン目テストによる接着性試験を行ったところ、
全く剥離がなく、良好な基板との密着性を示した。更に
、前記ポリシランの硬化薄膜の状態でのTgを測定した
ところ、約 120℃と高い値を示し、当該硬化薄膜の
耐熱性が充分であることが判った。
【0091】一方、比較のために、前記反復単位(P−
6)を有するポリシランにより薄膜を形成し、架橋させ
ずに上記同様の接着性試験を行ったところ、全て剥離し
、基板との密着性に劣ることが確認された。 実施例8
【0092】実施例7で合成された反復単位(P−6)
を有するポリシラン 1gと、架橋剤としてメチロール
化合物(N−1)0.3gとを、アセテートセロソルブ
 5mlに溶解させ、この溶液をスピナーによってシリ
コンウェハ上に塗布して、薄膜(膜厚 0.7μm)を
形成した。次に、該薄膜を 120℃で10分間ベーク
することによりポリシランを架橋させ、三次元構造の硬
化薄膜を得た。
【0093】該三次元構造のポリシラン硬化薄膜は、ア
セトンに不溶で、充分に架橋されていることを示した。 また、実施例1と同様にゴバン目テストによる接着性試
験を行ったところ、全く剥離がなく、良好な基板との密
着性を示した。更に、Tgを測定したところ、約 13
0℃と高い値を示し、当該硬化薄膜の耐熱性が充分であ
ることが判った。 実施例9
【0094】金属ナトリウム 3.5gをトルエン 1
00ml中に分散させ、これに、化合物(M−7)34
gを 100℃においてトルエン 100mlに溶解さ
せた溶液を滴下し、 110℃で1時間反応させた。反
応終了後、未反応のナトリウム、および塩化ナトリウム
等を濾別し、濾液を減圧下で濃縮した。この生成物を、
実施例7と同様にメタノールを用いて精製した。更に、
該生成物 1gをTHF 100mlに溶解し、これに
メタンスルホン酸 0.5gと、水 2gとを加え、室
温において 1時間反応させた。こうして、本発明のポ
リシラン組成物に含有される反復単位(2)を有するポ
リシランに相当する、反復単位(P−7)を有するポリ
シラン(平均分子量9,000)を生成し、水中に沈殿
させることによって精製した。
【0095】次に、該反復単位(P−7)を有するポリ
マー 1gと、触媒としてトリス(アセチルアセトナト
)アルミニウム0.05gと、架橋剤としてエポキシ樹
脂(E−1)とを、エチルアセテートセロソルブ 5m
lに溶解させた。この溶液をスピナーによってシリコン
ウェハ上に塗布して、薄膜(膜厚 2.5μm)を形成
した。次に、該薄膜を 100℃で 5分間ベークする
ことによりポリシランを架橋させ、三次元構造の硬化薄
膜を得た。
【0096】該三次元構造のポリシラン硬化薄膜は、均
一で、アセトンに不溶であり、充分に架橋されているこ
とを示した。また、このポリシラン硬化薄膜をFの鉛筆
で擦ったところ傷がつくことはなく、充分な強度を有し
ていることが確認された。 実施例10
【0097】実施例9の反復単位(P−7)を有するポ
リシラン 1gと、架橋剤としてイソシアネート化合物
(I−1)0.3gとを、アセテートセロソルブ 5m
lに溶解させ、この溶液をスピナーによってシリコンウ
ェハ上に塗布して、薄膜(膜厚 1μm)を形成した。 次に、該薄膜を 100℃で 5分間ベークすることに
よりポリシランを架橋させ、三次元構造のポリシラン硬
化薄膜を得た。
【0098】該三次元構造のポリシラン硬化薄膜は、均
一で、アセトンに不溶であり、充分に架橋されているこ
とを示した。また、このポリシラン硬化薄膜をFの鉛筆
で擦ったところ、傷がつくことがなく、該三次元構造の
ポリシラン硬化薄膜は充分な強度を有していることが確
認された。
【0099】一方、比較のために、前記反復単位(P−
7)を有するポリシランよりなる薄膜を形成し、架橋さ
せずに5Bの鉛筆で擦ったところ傷が発生し、強度に劣
ることが確認された。
【0100】
【化14】
【0101】
【化15】
【0102】
【化16】
【0103】
【化17】
【0104】
【化18】
【0105】
【化19】
【0106】
【化20】
【0107】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明のポリシラ
ンおよびポリシラン組成物は、有機溶媒との親和性が高
く、薄膜化等の成形が容易であり、また基板との密着性
、機械的強度、および耐熱性を有する三次元構造の硬化
薄膜を形成することができる。更に、本発明によれば、
LB法によって、優れた均一性、規則性、異方性、およ
び硬化された際の性能を有するポリシラン薄膜を、特に
膜厚 0.1μm以下のレベルで形成することも可能で
ある。
【0108】従って、本発明のポリシランおよびポリシ
ラン組成物は、電子写真感光体における電荷輸送層、非
線形光学材料、導電材料、絶縁膜、圧電材料、焦電材料
、液晶配向膜等に応用が可能であり、その工業的価値は
極めて大きい。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  下記化1に示す反復単位(1)を有す
    るポリシラン。 【化1】 但し、R1 ,R2 ,Xは、夫々以下のものを示す。 R1 :水素、炭素数 1〜24の置換もしくは非置換
    アルキル基、または炭素数 6〜24の置換もしくは非
    置換アリール基。 R2 :炭素数 1〜24の置換もしくは非置換アルキ
    レン基、炭素数 6〜24の置換もしくは非置換アリー
    レン基、または炭素数 7〜24の置換もしくは非置換
    アラルキレン基。 X:光照射または加熱によって架橋する反応性基を有す
    る1価の有機基。
  2. 【請求項2】  下記化2に示す反復単位(2)を有す
    るポリシランと、架橋剤とを含有するポリシラン組成物
    。 【化2】 但し、R3 〜R9 は、夫々以下のものを示す。 R3 :水素、炭素数 1〜24の置換もしくは非置換
    アルキル基、または炭素数 6〜24の置換もしくは非
    置換アリール基。 R4 :炭素数 0〜24の置換もしくは非置換アルキ
    レン基、または炭素数 6〜24の置換もしくは非置換
    アリーレン基。 R5 〜R9 :水素、水酸基、炭素数 1〜24の置
    換もしくは非置換アルキル基、または炭素数 6〜24
    の置換もしくは非置換アリール基。これらは、同一であ
    っても異なっていてもよく、少なくとも一つは水酸基で
    ある。
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