JPH0435343U - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0435343U
JPH0435343U JP7684190U JP7684190U JPH0435343U JP H0435343 U JPH0435343 U JP H0435343U JP 7684190 U JP7684190 U JP 7684190U JP 7684190 U JP7684190 U JP 7684190U JP H0435343 U JPH0435343 U JP H0435343U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
electron beam
scanning
image
optical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7684190U
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP7684190U priority Critical patent/JPH0435343U/ja
Publication of JPH0435343U publication Critical patent/JPH0435343U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例を示す構成概略図、
第2図は各光学顕微鏡の観察領域を示す図、第3
図は傾斜した試料を光学顕微鏡で観察する状態を
説明するための図である。 1……試料室、2……試料、3……試料移動機
構、4……カラム、5……電子銃、6……集束レ
ンズ、7……対物レンズ、8……対物レンズの磁
極片、9……走査信号発生装置、10……偏向コ
イル、11……2次電子検出器、12……増幅器
、13,19……陰極線管、14,15……光学
顕微鏡、16,17……テレビカメラ、18……
切換スイツチ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 試料上を電子線で二次元的に走査し、該走査に
    伴つて試料より得られる情報信号を検出し、この
    検出信号を表示装置に導入して該試料の像を表示
    する装置において、前記試料を収容する試料室内
    に前記試料の光学像を観察するための2つの光学
    顕微鏡を前記電子線光軸を挾んで対称に設置した
    ことを特徴とする走査電子顕微鏡。
JP7684190U 1990-07-19 1990-07-19 Pending JPH0435343U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7684190U JPH0435343U (ja) 1990-07-19 1990-07-19

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7684190U JPH0435343U (ja) 1990-07-19 1990-07-19

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0435343U true JPH0435343U (ja) 1992-03-24

Family

ID=31618670

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7684190U Pending JPH0435343U (ja) 1990-07-19 1990-07-19

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0435343U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999040606A1 (fr) * 1998-02-06 1999-08-12 Hamamatsu Photonics K.K. Tube a rayons x, generateur de rayons x, et systeme d'analyse

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999040606A1 (fr) * 1998-02-06 1999-08-12 Hamamatsu Photonics K.K. Tube a rayons x, generateur de rayons x, et systeme d'analyse

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4983832A (en) Scanning electron microscope
US4460827A (en) Scanning electron microscope or similar equipment with tiltable microscope column
US6815678B2 (en) Raster electron microscope
JPH0244103B2 (ja)
JPH0435343U (ja)
JPS6127856B2 (ja)
JP3351647B2 (ja) 走査電子顕微鏡
JP4129088B2 (ja) 走査透過電子顕微鏡
US4121100A (en) Electron microscope
JP2003100247A (ja) 荷電粒子ビーム装置
JPH08136815A (ja) 共焦点走査型光学顕微鏡
JPS61272714A (ja) 走査型光学顕微鏡
JP2957610B2 (ja) 走査形電子顕微鏡
JPS6314374Y2 (ja)
JPH09190793A (ja) 走査電子顕微鏡
JPH0431728Y2 (ja)
JPS6328518Y2 (ja)
JP2000156192A (ja) 走査電子顕微鏡
JPS58920Y2 (ja) 走査電子顕微鏡
JPS62133658A (ja) 電子顕微鏡のエネルギ−アナライザ−装置
JPH05258700A (ja) 走査像観察方法および走査電子顕微鏡
JP2692726B2 (ja) ハイブリッドビーム描画装置
JPH09129169A (ja) 走査型電子顕微鏡
JPH0425803Y2 (ja)
JPS6065966U (ja) 走査電子顕微鏡