JPH04324658A - 真空吸着式ウエハ保持装置 - Google Patents

真空吸着式ウエハ保持装置

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JPH04324658A
JPH04324658A JP3094377A JP9437791A JPH04324658A JP H04324658 A JPH04324658 A JP H04324658A JP 3094377 A JP3094377 A JP 3094377A JP 9437791 A JP9437791 A JP 9437791A JP H04324658 A JPH04324658 A JP H04324658A
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JP
Japan
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wafer
vacuum suction
contact
main structure
holding device
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Pending
Application number
JP3094377A
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English (en)
Inventor
Eiji Sakamoto
英治 坂本
Ryuichi Ebinuma
隆一 海老沼
Shinichi Hara
真一 原
Koji Marumo
丸茂 光司
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、真空吸着によりウエハ
の裏面を吸着して保持する真空吸着式ウエハ保持装置、
特には半導体装置を製造するための行程で利用される半
導体製造装置用の真空吸着式ウエハ保持装置に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】半導体製造装置において、マスクの半導
体装置用パターンを半導体ウエハに転写する際のウエハ
保持装置としては、例えば、特公平1−14703号公
報に示されるような、真空吸着によりウエハの裏面を吸
着して保持する真空吸着式ウエハ保持装置がよく用いら
れている。
【0003】一般に、ウエハ保持装置でウエハを保持し
たとき、ウエハ保持装置とウエハの間の接触面の接触熱
抵抗が大きいと、マスクのパターンをウエハに転写する
際の露光エネルギーにより発生した熱が、ウエハからウ
エハ保持装置に逃げていかないため、ウエハの温度上昇
および熱変形を招きパターン転写精度が悪化する。
【0004】特に、真空吸着式ウエハ保持装置の場合に
は、ウエハ保持装置とウエハとの間の接触面以外の空間
に気体がほとんど存在しないため、ウエハの温度上昇に
よるパターン転写精度の悪化が顕著となる。
【0005】また、マスクとウエハが数十ミクロン隔て
て配置された状態で、マスクパターンをウエハに転写す
る所謂プロキシミティー方式による露光装置に、真空吸
着式ウエハ保持装置を用いる場合には、前述の接触熱抵
抗が大きいと、ウエハの温度上昇によりマスクの温度も
上昇し、マスクにも熱歪が生じるため、パターン転写精
度が悪化する。
【0006】従って、従来の真空吸着式ウエハ保持装置
においては、接触熱抵抗を小さくし且つ吸着後のウエハ
の平坦度を確保するために、主構造部材上に設けられる
ウエハ吸着面を平面仕上げすると共に、主構造部材自体
は吸着後のウエハの反りを平面矯正するために弾性率の
大きい材質で構成するのが一般的であった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
従来例では、ウエハ接触面が平面仕上げされているにも
かかわらず、該接触面には微少な凹凸やうねりが存在し
、且つウエハの裏面にも微少な凹凸やうねりが存在する
ため、ウエハの裏面を真空吸着させたときの実際の接触
面積は見かけの面積に比べ非常に小さくなるので、接触
熱抵抗が大きくなり、パターン転写精度の悪化を完全に
防止することが困難であった。
【0008】本発明の目的は、接触熱抵抗を小さくした
真空吸着式ウエハ保持装置を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述した目的
を達成するために、真空吸着式ウエハ保持装置において
、ウエハ及び主構造部材より弾性率の小さい物質からな
る弾性部材をウエハ吸着面に分散配置している。また、
より好ましくは、ウエハの非吸着時、弾性部材はウエハ
吸着面に設けられているウエハ支持用突起部よりウエハ
側に僅かに突出するようにしている。
【0010】本発明の真空吸着式ウエハ保持装置では、
真空吸着されたウエハは弾性部材に接触して保持される
が、弾性部材はウエハよりも小さい弾性率の材質ででき
ているため、ウエハの裏面に微少な凹凸やうねりがあっ
ても、斯かる凹凸やうねりに応じてその接触面が変形す
るので、接触面における接触熱抵抗を小さくすることが
できる。
【0011】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
【0012】図1,2は、それぞれ本発明の真空吸着式
ウエハ保持装置の第1の実施例を示す概略構成図、図3
,4はウエハ吸着前後の突起部2と弾性部材3との関係
を示す概略構成図である。
【0013】本実施例の真空吸着式ウエハ保持装置は、
吸着されるウエハ5(図3参照)の反りを矯正するため
、例えば、ステンレス、セラミクス等の弾性率が大きい
材質で構成された主構造部材1を有している。主構造部
材1の周囲には外周壁1aが一体的に設けられていると
共に、主構造部材1のウエハ5と対向する面(以下対向
面)には、主構造部材1と一体的に対称性よく設けられ
ている高さの等しいピン形状を有する複数(12個)の
突起部2が設けられている。
【0014】突起部2のそれぞれには、突起部2を囲ん
で高さの等しい弾性部材3が設けられ、更に主構造部材
1には前記対向面の中心部と不図示の真空発生源とを接
続する真空吸引孔4が設けられている。
【0015】弾性部材3は、主構造部材1及びウエハ5
よりも、弾性率が小さい物質で形成されている。弾性率
が小さい物質としては、例えば、ポリプロピレン、ポリ
エステル、ナイロン、シリコンゴム等の合成樹脂や合成
ゴムが適している。更に、インジウム等の塑性変形し易
い金属も、その弾性領域内では使用することが可能であ
る。
【0016】また、図3に示すように、弾性部材3の高
さD+d[mm]は、突起部2の高さD[mm]よりも
d[mm]だけ高くなるように、即ち弾性部材3の先端
が突起部2の先端よりd[mm]だけ突出するように設
定されている。突起部2と弾性部材3のそれぞれは、吸
着後にウエハ5が接触する面(接触面)が平面仕上げさ
れている。
【0017】次に、本実施例のウエハ吸着動作について
、図3,4を用いて説明する。
【0018】ウエハ5の吸着動作を開始する前に、図3
に示すようなウエハ5と弾性部材3の接触面が接触する
位置まで、ウエハ5は不図示の搬送ハンドにより搬送さ
れてくる。その後、真空吸着孔4を不図示の真空発生源
に連通させて、ウエハ5の裏面の真空吸着を開始する。 このとき、ウエハ5の表面側の空間の雰囲気圧力(例え
ば大気圧)をT[Torr]とすると、主構造部材1、
主構造部材1の外周壁1a、及びウエハ5で囲まれる空
間に存在する気体は、該空間内の圧力(吸引圧力)が、
例えば「0」等のt[Torr]になるまで前記真空発
生源により引かれるので、ウエハ5の表面と裏面とには
、圧力差(T−t)[Torr]が生じる。従って、こ
の時、ウエハ5には、ウエハ保持装置のウエハ吸着面積
をSwとすると、
【0019】
【外1】 の吸引力が加わる。
【0020】一方、上記の吸引力によりウエハ5が主構
造部材1の対向面に向かって吸引されると、ウエハ5の
変位量分だけ弾性部材3が縮むため、弾性部材3の反発
力が前記変位量に比例してウエハ5の裏面に加えられる
。従って、弾性部材3の高さD+d[mm]と突起部2
の高さD[mm]との高さの差d(>0)[mm]だけ
ウエハ5を変位させた時の反発力Fは、弾性部材3のヤ
ング率をE[Pa]、弾性部材3全体とウエハ5との接
触面積をSeとすると、
【0021】
【外2】 となるため、ウエハ5の裏面を反発力Fに抗して突起部
2の接触面に当接させるためには、前記高さの差d[m
m]が次式を満たしていればよい。
【0022】
【外3】 また、ウエハ吸着面積Swと接触面積Seとの間には、
性部材3が縮むための空間を確保すために、次式の関係
がある。
【0023】
【外4】 従って、760・E・Se>(T−t)・105 ・S
wの場合には、上記した(3) 式は以下の(5) 式
のように変形されるので、差dが、(4) 式の条件か
つ(5)式の条件を満たすように設定されていれば、吸
着動作は支障なく実行される。
【0024】
【外5】 また、760・E・Se≦(T−t)×105  の場
合には、(4) 式の条件を満たすように差dが設定さ
れていれば、吸着動作は支障なく実行される。
【0025】以上のようにして吸着動作が終了すると、
ウエハ5の裏面は、突起部2及び弾性部材3の接触面と
接触した状態で、真空吸着されて保持される。ここで、
突起部2の接触面は平面仕上げされているにもかかわら
ず、微小な凹凸やうねりを持ち、且つ前記ウエハ5の裏
面にも微小な凹凸やうねりがあるため、突起部2の接触
面の接触熱抵抗を従来のものよりも小さくすることはで
きない。しかし、弾性部材3はウエハ5よりも小さい弾
性率の材質でできているため、ウエハ5の裏面に微小な
凹凸やうねりがあっても、該凹凸やうねりに応じてその
接触面が変形するので、該接触面における接触熱抵抗を
小さくすることができる。
【0026】このことを確認するため、主構造部材1を
ステンレス、弾性部材3をシリコンゴムで構成し、主構
造部材1の高さDを1[mm]、弾性部材3の高さD+
dを1.05[mm](高さの差d=0.05[mm]
)として本実施例の真空吸着式ウエハ保持装置を試作し
、比較的平面度のよいウエハ5を吸着させたあとの接触
熱抵抗R1 を測定したところ、 R1 =1×10−3       [K・m2 /W
]であった。また、前記弾性部材3をもたない従来の構
成のものを同様にして試作しその接触熱抵抗R2 を測
定したところ、 R2 =1×10−2       [K・m2 /W
]であった。従って、本実施例のものは、従来のものに
比べて接触熱抵抗を1/10にすることができるため、
ウエハ5の温度上昇も1/10に抑えることができ、パ
ターン転写精度の向上が図られる。
【0027】なお、本実施例に用いた突起部2の形状は
、図1に示すように円柱のピン形状のものであるが、こ
れに限るものではなく、たとえば角柱のピン形状であっ
てもよい。
【0028】図5,6は本発明の真空吸着式ウエハ保持
装置の第2の実施例を示す概略構成図である。
【0029】本実施例の真空吸着式ウエハ保持装置は、
主構造部材11のウエハ5と対向する面(対向面)に一
体的に設けられている突起部12aが同心円状に2本設
けられ、2本の突起部12aを接続する4本の突起部1
2bが第3図(A)の45°斜め方向に対称性よく設け
られ、また、外側の同心円状の突起部12aと外周壁1
1aとを接続する4本の突起部12cが同図上下左右に
対称性よく設けられている点と、2本の突起部12aと
外周壁11aとで仕切られた主構造部材11の対向面に
、円環の一部を切った形状をもつ8個の弾性部材13が
対称性よく設けられ、また対向面の中心部には円形の弾
性部材13が設けられている点と、及び真空吸引孔1が
主構造部材11の対向面に対称性よく分岐されている点
が、第1図に示したものと異なる。
【0030】前述した第1の実施例に用いたウエハ5よ
り平面度の悪いウエハ5の矯正を行なうために、本実施
例では、差dを、
【0031】
【外6】 の範囲内になるようにすることで、ウエハ5の裏面を突
起部12の接触面に確実に当接させることができる。
【0032】また、平面度10[μm]/□30[mm
]、厚さ0.6[mm]、φ150[mm]のSiウエ
ハは、差圧100[Torr]以上で平面矯正できるこ
とが実験によって確かめられている。従って、差圧が1
00[Torr]以上でウエハ5の平面矯正ができると
すると、弾性部材13があって、なお且つ突起部12に
100[Torr]以上の力でウエハ5を突き当てるた
めには、上述の(3) 式が、
【0033】
【外7】 と書き換えられる。従って、この場合には、この(3’
)式を変形して求められる以下の(7) 式の条件を満
たすように、差dを決定すれば、
【0034】
【外8】 差圧が100[Torr]以上の雰囲気で、ウエハ5の
裏面を突起部12の接触面に弾性部材13の反発力Fに
抗して確実に当接させることができる。
【0035】従って、一般に差圧T’[Torr]でウ
エハ5の充分な平面矯正ができるならば、T>T’の雰
囲気で、
【0036】
【外9】 を満たすように差dを決定すれば、ウエハ5の裏面を突
起部12の接触面に確実に当接させることができ、且つ
ウエハ5の充分な平面矯正をすることができる。なお、
(6) 〜(8) 式の条件があてはめられるのは、第
2の実施例だけに限られるもではない。
【0037】従って、本実施例においても、真空吸着後
のウエハ5を保持する弾性部材13の接触面の接触熱抵
抗は小さいので、パターン転写精度の向上が図れる。
【0038】以上の説明において、突起部と弾性部材と
は、主構造部材の対向面に対称性よく設けられていたが
、非対称に設けられていてもよい。ただし、ウエハは一
般に円板状の形状を有するため、前記弾性部材は対称性
よく設けた方が、吸着後の前記ウエハの平坦度を精度よ
く保ことができる。また、突起部は主構造部材と一体的
に設けられているが、別体であってもよい。
【0039】
【発明の効果】上述の如く、本発明によれば、ウエハ及
び主構造部材より弾性率の小さい物質からなる弾性部材
がウエハ吸着面に分散して設けられていることにより、
真空吸着されたウエハの裏面に微小な凹凸やうねりがあ
っても、該凹凸やうねりに応じて接触面が変形するので
、接触面における接触熱抵抗を小さくすることができ、
パターン転写精度の向上が図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の真空吸着式ウエハ保持装置の第1実施
例を示す概略構成図である。
【図2】図1のA−A’線に沿う断面図である。
【図3】ウエハ吸着前の突起部と弾性部材の関係を示す
説明図である。
【図4】ウエハ吸着後の突起部と弾性部材の関係を示す
説明図である。
【図5】本発明の真空吸着式ウエハ保持装置の第2実施
例を示す概略構成図である。
【図6】図5のA−A’線に沿う断面図である。
【符号の説明】
1,11  主構造部材 1a,11a  外周壁 2,12  突起部 3,13  弾性部材 4,14  真空吸引孔 5  ウエハ d  高さの差

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  ウエハ及び主構造部材より弾性率の小
    さい物質からなる弾性部材を、ウエハ吸着面に分散配置
    したことを特徴とする真空吸着式ウエハ保持装置。
  2. 【請求項2】  前記ウエハの非吸着時、前記弾性部材
    は前記ウエハ吸着面に設けられているウエハ支持用突起
    部より前記ウエハ側に僅かに突出していることを特徴と
    する請求項1の真空吸着式ウエハ保持装置。
JP3094377A 1990-05-07 1991-04-24 真空吸着式ウエハ保持装置 Pending JPH04324658A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3094377A JPH04324658A (ja) 1991-04-24 1991-04-24 真空吸着式ウエハ保持装置
DE69133413T DE69133413D1 (de) 1990-05-07 1991-05-03 Substratträger des Vakuumtyps
EP91304027A EP0456426B1 (en) 1990-05-07 1991-05-03 Vacuum type wafer holder
US08/231,785 US5374829A (en) 1990-05-07 1994-04-25 Vacuum chuck

Applications Claiming Priority (1)

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JP3094377A JPH04324658A (ja) 1991-04-24 1991-04-24 真空吸着式ウエハ保持装置

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ID=14108631

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030055427A (ko) * 2001-12-26 2003-07-04 한맥전자 (주) 인쇄회로기판용 진공흡착판
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Legal Events

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A02 Decision of refusal

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Effective date: 20010227