JPH0429003B2 - - Google Patents
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- JPH0429003B2 JPH0429003B2 JP57167727A JP16772782A JPH0429003B2 JP H0429003 B2 JPH0429003 B2 JP H0429003B2 JP 57167727 A JP57167727 A JP 57167727A JP 16772782 A JP16772782 A JP 16772782A JP H0429003 B2 JPH0429003 B2 JP H0429003B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/08—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters
- G01B11/10—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters of objects while moving
- G01B11/105—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters of objects while moving using photoelectric detection means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/024—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Treatment Of Fiber Materials (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明の分野
この発明は、光エレクトロニクス式糸走査手段
およびこれに接続された信号評価回路により糸の
横方向寸法を測定するための装置に関するもので
ある。
およびこれに接続された信号評価回路により糸の
横方向寸法を測定するための装置に関するもので
ある。
こゝで使用する用語“糸”とは、織物の糸状で
エンドレスな組織、或は例えば単繊維、ヤーン
（紡績糸）、ガラス・フアイバ、導線などのような
他の組織を総称するものとする。
エンドレスな組織、或は例えば単繊維、ヤーン
（紡績糸）、ガラス・フアイバ、導線などのような
他の組織を総称するものとする。
従来技術
米国特許第4294545号明細書には、光電センサ
のアレイにより動いている糸状組織の横寸法を連
続測定するための方法および装置が述べられてい
る。アレイの信号状態を連続サイクルで走査する
ことによつて直列デジタル走査信号が発生され
る。この特別な測定方法により、グランド信号が
除かれると共にこのグランド信号への影響（すな
わち糸が動いている光測定区域の不規則な汚染に
よる影響）も除かれる。なお、グランド信号と
は、測定区域に糸がない時に存在する走査信号で
ある。
のアレイにより動いている糸状組織の横寸法を連
続測定するための方法および装置が述べられてい
る。アレイの信号状態を連続サイクルで走査する
ことによつて直列デジタル走査信号が発生され
る。この特別な測定方法により、グランド信号が
除かれると共にこのグランド信号への影響（すな
わち糸が動いている光測定区域の不規則な汚染に
よる影響）も除かれる。なお、グランド信号と
は、測定区域に糸がない時に存在する走査信号で
ある。
この発明の開示
この発明の主な目的は、測定装置の遅い変動や
長時間の変動などのあらゆる変動が補償され従つ
て無効にされる新しく改良した測定装置を提供す
ることである。
長時間の変動などのあらゆる変動が補償され従つ
て無効にされる新しく改良した測定装置を提供す
ることである。
この発明のもつと特殊な目的は、光源から発す
る光ないし光ビームの強度低下、測定区域のよご
れのバラツキ、アレイのセンサおよびこれに通常
接続されている増幅器の感度低下を補償すること
である。
る光ないし光ビームの強度低下、測定区域のよご
れのバラツキ、アレイのセンサおよびこれに通常
接続されている増幅器の感度低下を補償すること
である。
この発明の以下の説明中には、光電センサの直
線アレイによつて供給されたデジタル信号を直列
処理することおよび測定装置が出力信号を発生し
ている時に測定装置中の諸変動の影響を抑圧する
ための手段が開示されている。
線アレイによつて供給されたデジタル信号を直列
処理することおよび測定装置が出力信号を発生し
ている時に測定装置中の諸変動の影響を抑圧する
ための手段が開示されている。
この発明および上述した目的以外の目的は、添
付図面についての以下の詳しい説明からもつと明
らかになるだろう。
付図面についての以下の詳しい説明からもつと明
らかになるだろう。
この発明の第１実施例
第１図に示すように、この発明に係る測定装置
の第１実施例は、光エレクトロニクス式糸走査手
段１〜３およびこれに接続された信号評価回路４
〜９から成る。糸走査手段は、発散する光または
ビーム状の光を発する光源１と、クロツクすなわ
ちタイマ２と、ホトダイオードまたは電荷結合光
電素子のような半導体光電センサの直線アレイ３
とを備える。光源１と直線アレイ３の両端との間
の破線は、糸Ｆの断面が表わされる測定区域Ｍを
限る。
の第１実施例は、光エレクトロニクス式糸走査手
段１〜３およびこれに接続された信号評価回路４
〜９から成る。糸走査手段は、発散する光または
ビーム状の光を発する光源１と、クロツクすなわ
ちタイマ２と、ホトダイオードまたは電荷結合光
電素子のような半導体光電センサの直線アレイ３
とを備える。光源１と直線アレイ３の両端との間
の破線は、糸Ｆの断面が表わされる測定区域Ｍを
限る。
直線アレイ３は多数例えば256個の光電センサ
から成る。クロツク２は走査サイクル毎に例えば
256個のクロツク・パルスを発生して直線アレイ
３を周期的に走査する。第２図ａの波形２Ａは
256個のうちの９個のクロツク・パルスを表わす。
から成る。クロツク２は走査サイクル毎に例えば
256個のクロツク・パルスを発生して直線アレイ
３を周期的に走査する。第２図ａの波形２Ａは
256個のうちの９個のクロツク・パルスを表わす。
信号評価回路は、測定チヤネル４〜７，９と、
積分器８から成る制御回路とを備える。アナロ
グ・ヤーン・クリアラ１０，１１は測定チヤネル
４〜７，９へ接続されている。
積分器８から成る制御回路とを備える。アナロ
グ・ヤーン・クリアラ１０，１１は測定チヤネル
４〜７，９へ接続されている。
測定チヤネルは、直列接続の増幅器４、制御可
能な応答性を有するパルス・リミツタ例えばシユ
ミツト・トリガ５、第１の入力端子Ａおよび第２
の否定入力端子Ｂを持つアンド・ゲート６、電子
カウンタ７並びにデジタル／アナログ（Ｄ／Ａ）
変換器９を備える。
能な応答性を有するパルス・リミツタ例えばシユ
ミツト・トリガ５、第１の入力端子Ａおよび第２
の否定入力端子Ｂを持つアンド・ゲート６、電子
カウンタ７並びにデジタル／アナログ（Ｄ／Ａ）
変換器９を備える。
シユミツト・トリガ５はその応答性を制御する
ための制御入力端子Ｃ５が設けられている。シユ
ミツト・トリガ５の出力端子はアンド・ゲート６
の第２の否定入力端子Ｂへ接続されており、その
第１の入力端子Ａはクロツク２へ接続されてい
る。積分器８はシユミツト・トリガ５と並列に増
幅器４の出力端子へ接続されており、その出力端
子はシユミツト・トリガ５の制御入力端子Ｃ５へ
接続されている。
ための制御入力端子Ｃ５が設けられている。シユ
ミツト・トリガ５の出力端子はアンド・ゲート６
の第２の否定入力端子Ｂへ接続されており、その
第１の入力端子Ａはクロツク２へ接続されてい
る。積分器８はシユミツト・トリガ５と並列に増
幅器４の出力端子へ接続されており、その出力端
子はシユミツト・トリガ５の制御入力端子Ｃ５へ
接続されている。
Ｄ／Ａ変換器９へは、アナログ操作ヤーン・ク
リアラの電子回路１０およびヤーン・サーバ１１
が直列に接続される。電子回路１０およびヤー
ン・サーバ１１は当業者には周知の種々の態様で
都合良く構成されることができるので、こゝでは
詳しく例示しない。
リアラの電子回路１０およびヤーン・サーバ１１
が直列に接続される。電子回路１０およびヤー
ン・サーバ１１は当業者には周知の種々の態様で
都合良く構成されることができるので、こゝでは
詳しく例示しない。
第１図に示した測定装置の動作モードを第２図
ａ，ｂ，ｃ，ｄについて説明する。上述したよう
に、クロツク２は各走査サイクル中一連のクロツ
ク・パルス（その波形は第２図ａの２Ａで表わさ
れる）を発生する。測定区域Ｍに糸がなくよごれ
もない時は、振幅が事実上等しい同様なパレス列
が直接アレイ３および増幅器４の出力端子に現わ
れる。
ａ，ｂ，ｃ，ｄについて説明する。上述したよう
に、クロツク２は各走査サイクル中一連のクロツ
ク・パルス（その波形は第２図ａの２Ａで表わさ
れる）を発生する。測定区域Ｍに糸がなくよごれ
もない時は、振幅が事実上等しい同様なパレス列
が直接アレイ３および増幅器４の出力端子に現わ
れる。
第２図ｂの波形は、振幅が違う一連のセンサ・
パルス４Ａを示し、測定区域Ｍに糸がある場合に
直接アレイ３および増幅器４の出力端子に現われ
る。振幅が大きい各パルスは照射された光電セン
サを示し、逆に振幅が小さいパルスは照射されな
かつた光電センサ（その数はこゝでは例えば３個
である）を示す。破線Ｓはシユミツト・トリガ５
の応答性すなわち閾値を表わす。
パルス４Ａを示し、測定区域Ｍに糸がある場合に
直接アレイ３および増幅器４の出力端子に現われ
る。振幅が大きい各パルスは照射された光電セン
サを示し、逆に振幅が小さいパルスは照射されな
かつた光電センサ（その数はこゝでは例えば３個
である）を示す。破線Ｓはシユミツト・トリガ５
の応答性すなわち閾値を表わす。
第２図ｃの波形５Ａはシユミツト・トリガ５の
出力を表わす。こゝで、一定振幅の出力パルスは
センサ・パルス４Ａのうちの、閾値Ｓを超える大
きな振幅のパルスに相当するが、センサ・パルス
４Ａの小さな振幅の各パルスは抑圧される。
出力を表わす。こゝで、一定振幅の出力パルスは
センサ・パルス４Ａのうちの、閾値Ｓを超える大
きな振幅のパルスに相当するが、センサ・パルス
４Ａの小さな振幅の各パルスは抑圧される。
アンド・ゲート６は、照射されなかつた光電セ
ンサすなわちセンサ・パルス４Ａのうちの振幅が
小さい３個のパルスを表わす出力信号を供給す
る。この３個と云う数は電子カウンタ７で計数さ
れ、そのデジタル出力がＤ／Ａ変換器９でアナロ
グ信号に変換され、その値は糸Ｆの直径を表わ
す。このアナログ信号はヤーン・クリアラの電子
回路１０中で当業者には周知の仕方で更に処理さ
れる。ヤーン・サーバ１１は、第２図に示された
出力信号６Ａすなわちカウンタ７の出力が或るプ
リセツト閾値を超える時だけ動作する。
ンサすなわちセンサ・パルス４Ａのうちの振幅が
小さい３個のパルスを表わす出力信号を供給す
る。この３個と云う数は電子カウンタ７で計数さ
れ、そのデジタル出力がＤ／Ａ変換器９でアナロ
グ信号に変換され、その値は糸Ｆの直径を表わ
す。このアナログ信号はヤーン・クリアラの電子
回路１０中で当業者には周知の仕方で更に処理さ
れる。ヤーン・サーバ１１は、第２図に示された
出力信号６Ａすなわちカウンタ７の出力が或るプ
リセツト閾値を超える時だけ動作する。
積分器８は、多数の次々の走査サイクルに亘つ
て増幅器４が供給したパルスの振幅の算術平均を
とるように構成されることが望ましい。一般的に
かつ測定装置の種々の用途で、そのような走査サ
イクルの数は信頼できる平均値を得るためには少
なくとも10にすべきである。
て増幅器４が供給したパルスの振幅の算術平均を
とるように構成されることが望ましい。一般的に
かつ測定装置の種々の用途で、そのような走査サ
イクルの数は信頼できる平均値を得るためには少
なくとも10にすべきである。
従つて、積分器８はセンサ・パルスひいては増
幅器４の出力から、全てのセンサ・パルス４Ａの
振幅の平均信号を形成する。これは、平均信号が
測定区域Ｍに挿入された糸の直径および最終的に
測定区域Ｍにあるよごれに基づくことを意味す
る。つまり、平均信号はよごれが増し、糸の直径
が大きくなるにつれて小さくなる。
幅器４の出力から、全てのセンサ・パルス４Ａの
振幅の平均信号を形成する。これは、平均信号が
測定区域Ｍに挿入された糸の直径および最終的に
測定区域Ｍにあるよごれに基づくことを意味す
る。つまり、平均信号はよごれが増し、糸の直径
が大きくなるにつれて小さくなる。
平均信号は、制御入力端子Ｓ５を通してシユミ
ツト・トリガ５へその閾値Ｓを制御するように働
く。その結果、閾値Ｓの値は直線アレイ３に当る
光または光ビームに同期して、すなわち比例して
制御される。従つて、よごれが増えたために光が
少なくなると、積分器８はシユミツト・トリガ５
の閾値Ｓを下げることにより、換言すればその応
答性を増大することにより、光の減少を補償す
る。これは、シユミツト・トリガ５の応答性が直
線アレイ３の平均された出力すなわち長時間平均
信号の値に逆比例して制御されることを意味す
る。
ツト・トリガ５へその閾値Ｓを制御するように働
く。その結果、閾値Ｓの値は直線アレイ３に当る
光または光ビームに同期して、すなわち比例して
制御される。従つて、よごれが増えたために光が
少なくなると、積分器８はシユミツト・トリガ５
の閾値Ｓを下げることにより、換言すればその応
答性を増大することにより、光の減少を補償す
る。これは、シユミツト・トリガ５の応答性が直
線アレイ３の平均された出力すなわち長時間平均
信号の値に逆比例して制御されることを意味す
る。
自動ヤーン巻取機にヤーン・クリアラ１０〜１
１と一緒に測定装置１〜９を使用する時に、積分
器８の時定数は糸Ｆの直径の普通のバラツキが調
整プロセスすなわち制御プロセスに事実上影響し
ないような寸法にされるべきである。この場合、
時定数の適切な値は走査周期の持続時間よりかな
り長くて良い。
１と一緒に測定装置１〜９を使用する時に、積分
器８の時定数は糸Ｆの直径の普通のバラツキが調
整プロセスすなわち制御プロセスに事実上影響し
ないような寸法にされるべきである。この場合、
時定数の適切な値は走査周期の持続時間よりかな
り長くて良い。
第３図は第１図の構成に使用できるような積分
器８の一例を詳しく示し、この積分器８は演算増
幅器OPを有し、その出力端子がコンデンサC1を
介してその反転入力端子へ接続されている。入力
抵抗R1は、コンデンサC1および増幅度または利
得ｖと共に、積分器８の時定数τ＝ｖ・R1・C1
を定める。コンデンサC1と並列に接続されてい
る抵抗R2は、高い値を持ち演算増幅器OPが飽和
状態にドライブされるのを妨げる。
器８の一例を詳しく示し、この積分器８は演算増
幅器OPを有し、その出力端子がコンデンサC1を
介してその反転入力端子へ接続されている。入力
抵抗R1は、コンデンサC1および増幅度または利
得ｖと共に、積分器８の時定数τ＝ｖ・R1・C1
を定める。コンデンサC1と並列に接続されてい
る抵抗R2は、高い値を持ち演算増幅器OPが飽和
状態にドライブされるのを妨げる。
この発明の第２実施例
第４図は測定装置の第２実施例を示し、同等部
品は同一符号で表わす。なお、機能が変更された
部品には同一符号に添字を付けた。
品は同一符号で表わす。なお、機能が変更された
部品には同一符号に添字を付けた。
光エレクトロニクス式糸走査手段１〜３は第１
図に示したものと同じである。
図に示したものと同じである。
制御可能な増幅度ないし利得を持つ増幅器４−
１は直接アレイ３へ接続されている。増幅器４−
１の出力端子と制御入力端子C4との間には、大
きな時定数を持つ低域フイルタ８−１および演算
増幅器８−２の直列接続から成る帰還回路が接続
されている。低域フイルタ８−１の代りに、第１
図に示したような積分器８を設けても良い。
１は直接アレイ３へ接続されている。増幅器４−
１の出力端子と制御入力端子C4との間には、大
きな時定数を持つ低域フイルタ８−１および演算
増幅器８−２の直列接続から成る帰還回路が接続
されている。低域フイルタ８−１の代りに、第１
図に示したような積分器８を設けても良い。
第１図の積分器８が順方向調整回路すなわち直
接制御回路として働くのに対し、帰還回路８−
１，８−２は制御可能な増幅器４−１に作用する
逆方向調整回路すなわち間接制御回路として働
く。シユミツト・トリガ５−１は、その閾値Ｓが
一定レベルに設定され、またその入力端子が制御
可能な増幅器４−１の出力端子へ接続されてい
る。
接制御回路として働くのに対し、帰還回路８−
１，８−２は制御可能な増幅器４−１に作用する
逆方向調整回路すなわち間接制御回路として働
く。シユミツト・トリガ５−１は、その閾値Ｓが
一定レベルに設定され、またその入力端子が制御
可能な増幅器４−１の出力端子へ接続されてい
る。
低域フイルタ８−１の出力端子は演算増幅器８
−２の反転入力端子へ接続されている。その上、
シユミツト・トリガ５−１の閾値出力端子すなわ
ち制御出力端子Ｓ５と演算増幅器８−２の非反転
入力端子との間には別な増幅器８−３が接続され
ている。閾値出力端子Ｓ５はシユミツト・トリガ
５−１の閾値を表わす電圧を供給する。この電圧
は増幅器８−３中で例えば２倍に増幅される。従
つて、演算増幅器８−２は低域フイルタ８−１の
出力信号がシユミツト・トリガ５−１の２倍の閾
値を超える時に応答して、制御可能な増幅器４−
１の増幅度ないし利得を低下させる。
−２の反転入力端子へ接続されている。その上、
シユミツト・トリガ５−１の閾値出力端子すなわ
ち制御出力端子Ｓ５と演算増幅器８−２の非反転
入力端子との間には別な増幅器８−３が接続され
ている。閾値出力端子Ｓ５はシユミツト・トリガ
５−１の閾値を表わす電圧を供給する。この電圧
は増幅器８−３中で例えば２倍に増幅される。従
つて、演算増幅器８−２は低域フイルタ８−１の
出力信号がシユミツト・トリガ５−１の２倍の閾
値を超える時に応答して、制御可能な増幅器４−
１の増幅度ないし利得を低下させる。
アンド・ゲート６および電子カウンタ７は第１
図と同じに接続されているが、ヤーン・クリアラ
のデジタル電子回路１０−１が設けられて電子カ
ウンタ７の出力端子へ接続されている。
図と同じに接続されているが、ヤーン・クリアラ
のデジタル電子回路１０−１が設けられて電子カ
ウンタ７の出力端子へ接続されている。
第２図ｂに示したパルス波形は、その波形４Ａ
が適切に解釈される時に、第４図に示した回路の
動作モードを説明するためにも利用されることが
できる。第４図について上述したように、シユミ
ツト・トリガ５−１の閾値Ｓは一定レベルに設定
され、増幅されたセンサ・パルス４Ａの振幅は低
域フイルタ８−１および演算増幅器８−２によつ
て制御される。
が適切に解釈される時に、第４図に示した回路の
動作モードを説明するためにも利用されることが
できる。第４図について上述したように、シユミ
ツト・トリガ５−１の閾値Ｓは一定レベルに設定
され、増幅されたセンサ・パルス４Ａの振幅は低
域フイルタ８−１および演算増幅器８−２によつ
て制御される。
帰還回路（その各々はそれぞれ積分器８、低域
フイルタ８−１から成る）の作用は下記のとおり
である。すなわち、増幅器４または制御可能な増
幅器４−１の出力信号が低い繰返数で、すなわち
長時間かゝる速度で減少すると、シユミツト・ト
リガ５または５−１の閾値Ｓに対して、増幅器４
または４−１によつて供給されたパルスの平均化
された振幅の比例値は変らない。従つて、光電セ
ンサのちり、よごれまたは経時変化のせいで直線
アレイ３の応答性がたとえ減少しても、振幅の小
さいパルスと振幅の大きいパルスとを確実に区別
できる。
フイルタ８−１から成る）の作用は下記のとおり
である。すなわち、増幅器４または制御可能な増
幅器４−１の出力信号が低い繰返数で、すなわち
長時間かゝる速度で減少すると、シユミツト・ト
リガ５または５−１の閾値Ｓに対して、増幅器４
または４−１によつて供給されたパルスの平均化
された振幅の比例値は変らない。従つて、光電セ
ンサのちり、よごれまたは経時変化のせいで直線
アレイ３の応答性がたとえ減少しても、振幅の小
さいパルスと振幅の大きいパルスとを確実に区別
できる。
この発明の望ましい実施例を図示して説明した
が、この発明はこれらに限定されず、特許請求の
範囲に記載された範囲内で種々の実施例を作れる
ことが理解できるだろう。
が、この発明はこれらに限定されず、特許請求の
範囲に記載された範囲内で種々の実施例を作れる
ことが理解できるだろう。
第１図はこの発明の第１実施例を示すブロツク
図、第２図ａ，ｂ，ｃ，ｄは第１図の測定装置の
動作モードを例示するために測定装置中で発生さ
れたパルスを示す波形図、第３図は第１図中の積
分器の回路略図、第４図は第２実施例を示すブロ
ツク図である。 １は光源、２はクロツク、３は光電センサのア
レイ、４は増幅器、４−１は制御可能な増幅器、
Ｃ４は制御可能な増幅器の制御入力端子、５はシ
ユミツト・トリガ、Ｃ５はシユミツト・トリガの
制御入力端子、Ｓ５はシユミツト・トリガの制御
出力端子、８は積分器、８−１は低域フイルタ、
８−２は演算増幅器、６はナンド・ゲート、Ａは
アンド・ゲートの第１の入力端子、Ｂはアンド・
ゲートの第２の入力端子である。
図、第２図ａ，ｂ，ｃ，ｄは第１図の測定装置の
動作モードを例示するために測定装置中で発生さ
れたパルスを示す波形図、第３図は第１図中の積
分器の回路略図、第４図は第２実施例を示すブロ
ツク図である。 １は光源、２はクロツク、３は光電センサのア
レイ、４は増幅器、４−１は制御可能な増幅器、
Ｃ４は制御可能な増幅器の制御入力端子、５はシ
ユミツト・トリガ、Ｃ５はシユミツト・トリガの
制御入力端子、Ｓ５はシユミツト・トリガの制御
出力端子、８は積分器、８−１は低域フイルタ、
８−２は演算増幅器、６はナンド・ゲート、Ａは
アンド・ゲートの第１の入力端子、Ｂはアンド・
ゲートの第２の入力端子である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 光エレクトロニクス式糸走査手段およびこれ
に接続された信号評価回路で糸の横寸法を測定す
る装置であり、 前記光エレクトロニクス式糸走査手段は、 前記糸を照射するための光源と、 この光源から発しかつ前記糸で変調された光を
受ける光電センサのアレイと、 このアレイを走査するために次々の走査サイク
ル中パルス列を発生するクロツクと、 を備え、 前記信号評価回路は、 前記アレイへ動作時に接続される増幅手段と、 この増幅手段へ接続された信号入力端子と制御
端子とを持つ信号リミツタ手段と、 前記増幅手段と前記制御端子の間に接続された
信号積分手段と、 前記クロツクへ接続された第１の入力端子およ
び前記信号リミツタ手段へ接続された第２の入力
端子を持つ論理手段と、 を備えることを特徴とする糸の横寸法を測定する
装置。 ２ 信号積分手段は、少なくとも10走査サイクル
の期間光電センサのアレイによつて供給されたパ
ルスの振幅を平均するように構成される特許請求
の範囲第１項記載の測定装置。 ３ 論理手段は、第１の肯定入力端子および第２
の否定入力端子を持つアンド・ゲートである特許
請求の範囲第１項記載の測定装置。 ４ 増幅手段は一定の増幅値に調節され、信号リ
ミツタ手段はその応答性を制御するための制御端
子を持つシユミツト・トリガであり、そして信号
積分手段は前記増幅手段と前記制御端子の間に接
続される特許請求の範囲第１項記載の測定装置。 ５ 光エレクトロニクス式糸走査手段およびこれ
に接続された信号評価回路で糸の横寸法を測定す
る装置であり、 前記光エレクトロニクス式糸走査手段は、 前記糸を照射するための光源と、 この光源から発しかつ前記糸で変調された光を
受ける光電センサのアレイと、 このアレイを走査するために次々の走査サイク
ル中パルス列を発生するクロツクと、 を備え、 前記信号評価回路は、 前記アレイへ動作時に接続される増幅手段と、 この増幅手段へ接続された信号入力端子と制御
端子とを持つ信号リミツタ手段と、 前記増幅手段と前記制御端子の間に接続された
信号積分手段と、 前記クロツクへ接続された第１の入力端子およ
び前記信号リミツタ手段へ接続された第２の入力
端子を持つ論理手段と、 を備えさらに前記増幅手段は制御可能な増幅器で
あり、この増幅器はその信号入力端子が光電セン
サのアレイへ接続されかつその増幅器を制御する
ための制御入力端子を持ち、そして信号リミツタ
手段はシユミツト・トリガであり、このシユミツ
ト・トリガはその応答性が一定値に調節されかつ
前記制御可能な増幅器の制御入力端子へ動作時に
接続される制御出力端子を持ち、さらに前記信号
積分手段は低域フイルタおよび演算増幅器から成
り、この演算増幅器はその反転入力端子が前記低
域フイルタへ接続され、その非反転入力端子がシ
ユミツト・トリガの制御出力端子へ接続されそし
てその出力端子が制御可能な増幅器の制御入力端
子へ接続されていることを特徴とする糸の横寸法
を測定する装置。 ６ 信号積分手段は、少なくとも10走査サイクル
の期間光電センサのアレイによつて供給されたパ
ルスの振幅を平均するように構成される特許請求
の範囲第５項記載の測定装置。 ７ 論理手段は、第１の肯定入力端子および第２
の否定入力端子を持つアンド・ゲートである特許
請求の範囲第５項記載の測定装置。 ８ 増幅手段は一定の増幅値に調節され、信号リ
ミツタ手段はその応答性を制御するための制御端
子を持つシユミツト・トリガであり、そして信号
積分手段は前記増幅手段と前記制御端子の間に接
続される特許請求の範囲第５項記載の測定装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CH6290/810 | 1981-09-30 | ||
| CH629081A CH655571B (ja) | 1981-09-30 | 1981-09-30 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58131501A JPS58131501A (ja) | 1983-08-05 |
| JPH0429003B2 true JPH0429003B2 (ja) | 1992-05-15 |
Family
ID=4307224
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57167727A Granted JPS58131501A (ja) | 1981-09-30 | 1982-09-28 | 糸の横寸法を測定する装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4511253A (ja) |
| JP (1) | JPS58131501A (ja) |
| CH (1) | CH655571B (ja) |
| DE (1) | DE3234330A1 (ja) |
| FR (1) | FR2513754B1 (ja) |
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- 1982-09-10 US US06/417,190 patent/US4511253A/en not_active Expired - Fee Related
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