JPH04287344A - 静電チャックの接合構造 - Google Patents

静電チャックの接合構造

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JPH04287344A
JPH04287344A JP3076850A JP7685091A JPH04287344A JP H04287344 A JPH04287344 A JP H04287344A JP 3076850 A JP3076850 A JP 3076850A JP 7685091 A JP7685091 A JP 7685091A JP H04287344 A JPH04287344 A JP H04287344A
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JP
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electrostatic chuck
base member
chuck member
ceramic
bonding
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JP3076850A
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Masaki Ushio
雅樹 牛尾
Koichi Nagasaki
浩一 長崎
Hitoshi Atari
仁 阿多利
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Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体の製造装置等に
おいて、シリコンウェハ等の固定、矯正、搬送を行うた
めに用いられるセラミック製静電チャックの接合構造に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より静電チャックは、金属材からな
るベース部材上に静電チャック部材を固定して使用して
いた。例えば、図4に示す様に、静電チャック部材10
をベース材20上に載置し、その周囲にクランプ部材3
0をボルト31で固定するメカニカルクランプ構造が用
いられていた。また、この他に静電チャック部材10を
直接ボルトで固定するネジ止め構造、あるいは有機性接
着剤、ガラスなどを用いて接合する構造等が用いられて
いた。上記ベース部材20は、静電チャック部材10を
支持するとともに、発生した熱を逃がす働きをなすもの
であり、アルミニウム、タングステン、ステンレスなど
の金属が一般的に用いられていた。
【0003】また、近年セラミックスを用いた静電チャ
ック部材が広く使用されるようになってきたが、セラミ
ックス製静電チャック部材の場合、機械的靱性に劣るた
め、厚みが薄くなるに従って、メカニカルクランプ、ネ
ジ止め等の機械的な取付が困難となっていた。
【0004】そのため、セラミック製静電チャック部材
の場合は、有機性接着剤またはガラスを用いて静電チャ
ック部材とベース部材を接合する構造が一般的であった
。例えば、アミン系、エポキシ系等の有機性接着剤を用
いた接合構造は、簡便であり、半導体製造プロセスに於
て汚染源となるアルカリ金属、重金属を含まないと言う
利点があるため、一般に広く使用されていた。また、ガ
ラスを用いた接合構造は、高精度でしかも高剛性なセラ
ミック製静電チャックを得ることができた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記有機性
接着剤あるいはガラスを用いた接合構造では、−100
〜200℃の広い温度域で使用する場合、金属からなる
ベース部材とセラミック製静電チャック部材との熱膨張
率の差が大きいことから、セラミック製静電チャック部
材表面に歪、割れが生じるという問題点があった。その
ため、例えばドライエッチング装置用のベース部材とし
て一般的なアルミニウム等への接合は不可能であり、ベ
ース部材として、セラミック製静電チャック部材に熱膨
張率の極めて近い材料を使用しなければならないという
不都合があった。
【0006】さらに製造上の問題として、例えばベース
部材にアルミニウムを用いた場合、ガラス接合で一般的
な、重金属を含まないガラスペーストの融点は650℃
以上であるため、アルミニウムの融点を越えてしまう可
能性があり、ベース部材の変形、反り等の問題が発生し
、静電チャック部材表面の平坦度などが悪くなるという
問題が生じていた。
【0007】
【課題を解決するための手段】そこで本発明は、セラミ
ック製静電チャック部材をベース部材に固定する際に、
有機溶剤で溶解したペースト状のシリコーン樹脂を用い
て接合したものである。
【0008】
【作用】本発明によれば、伸び率が大きく、耐熱性のあ
るシリコーン樹脂を用いてセラミック製静電チャック部
材とベース部材とを接合することにより、両者の熱膨張
差を緩和し、かつ平面度を高くできることから、静電チ
ャックの精度、信頼性を高くでき、使用可能温度も広く
なる。
【0009】
【実施例】以下本発明の実施例を図によって説明する。 図1、図2に本発明の静電チャックの接合構造を示す。 静電チャック部材1は、アルミナ(Al2 O3 )、
チタン酸カルシウム(CaTiO3 )、チタン酸バリ
ウム(BaTiO3 )などのセラミックスからなり、
内部電極1aを埋設したものである。そして、この静電
チャック部材1を、アルミニウムなどの金属からなるベ
ース部材2に載置し、両者の間にシリコーン樹脂からな
る接合剤3を介在させて接合してある。
【0010】そして、上記静電チャック部材1の内部電
極1aと、半導体ウェハWとの間に電圧4を印加するこ
とによって、静電チャック部材1上に半導体ウェハWを
吸着させることができる(単極型)。また、図示してい
ないが、静電チャック部材1中に複数の内部電極1aを
埋設しておいて、これらの内部電極間に電圧を印加する
ことによって、半導体ウェハWを吸着することもできる
(双極型)。
【0011】また、上記接合剤3として使用するシリコ
ーン樹脂とは、シロキサン結合(Si−O−Si)を有
する半無機、半有機的結合のケイ素化合物重合体のこと
であり、たとえば下記化1、化2の化学式で表すことが
できる。
【0012】
【化1】
【0013】
【化2】
【0014】このような、シリコーン樹脂は耐熱性、弾
性に優れているが、本発明では特に耐熱温度200℃以
上、伸び率80%以上のシリコーン樹脂を用いる。ここ
で、伸び率とは、シリコーン樹脂のテストピースの両端
より引っ張り荷重を加えた時の、破断するまでの伸び率
のことである。このように、伸び率が大きいシリコーン
樹脂を接合剤3として用いることにより、静電チャック
部材1とベース部材2との熱膨張差を吸収しやすくなり
、熱膨張差の大きい材質同士を接合することができる。
【0015】さらに、上記シリコーン樹脂からなる接合
剤3の厚みは、5〜40μm程度、好ましくは10〜1
5μmとしてある。これは、厚みが5μmより小さいと
ベース部材2表面のうねりのために静電チャック部材1
との間に隙間ができてしまい、一方厚みが40μmより
大きいと、静電チャック部材1の熱をベース部材2へ逃
がしにくくなるとともに、静電チャック部材1の取付精
度が悪くなるためである。
【0016】また、上記シリコーン樹脂自体は熱伝導性
がやや低いが、上記のように厚みが小さいため、静電チ
ャック部材1からベース部材2への熱伝導を良くするこ
とができる。さらに、シリコーン樹脂中にウェハ汚染に
影響のない範囲で金属あるいは金属酸化物(Al、Si
O2 等)を混入させることにより、熱伝導性を向上さ
せることもできる。
【0017】さらに、以上の実施例では、ベース部材2
として金属材を用いたものを示したが、これに限らずセ
ラミックスを用いることもできる。例えば、窒化アルミ
ニウム(熱伝導率150〜200W/m・K)、炭化珪
素(熱伝導率60W/m・K)、BeOを含む炭化珪素
(熱伝導率260W/m・K)などの熱伝導率が高いも
のを用いれば、静電チャック部材1の熱を逃がすことが
でき、同時に剛性に優れ、かつ寸法精度を高められるた
め、静電チャック部材1の表面の平坦度などを優れたも
のとできる。
【0018】次に、本発明の接合構造を得るための製造
工程図を図3に示す。基本的な接合方法は、接合剤3と
してシリコーン樹脂をトルエン、アセトンなどの有機溶
剤で溶解してペースト状とし、ベース部材2の表面又は
静電チャック部材1の裏面のいずれかに塗布した後、双
方を密着させ、その後常温にて乾燥する工程からなる。 この接合方法において信頼性を向上させるためには、接
合剤3の塗布方法と乾燥方法が重要である。
【0019】まず、接合剤3の塗布方法であるが、塗布
厚みが均一である方が接合強度を強く、かつ静電チャッ
クの取付精度を良くすることができ、また厚みが薄い方
が熱伝導性も良くなる。したがって望ましい方法の一つ
としてスクリーン印刷法が挙げられる。例えば、100
〜300メッシュのスクリーンを介してベース部材2の
表面または、静電チャック部材1の裏面のいずれかに、
スクリーン印刷により厚み5〜40μmとなるように接
合剤3を塗布する。このとき、スクリーンのメッシュサ
イズは用いる接合剤3の種類、望む塗布厚みにより、最
適なものを選べばよい。
【0020】次に乾燥に関しては、接合面と接合剤3の
密着性を向上させるために50〜100g/cm2 の
圧力をかけて、1〜2日間で乾燥させる。これは、50
g/cm2 より低荷重では密着性が不十分であり、一
方100g/cm2 より高荷重ではセラミック製の静
電チャック部材1が破損する可能性があるためである。
【0021】以上のような製造工程とすることにより、
静電チャック部材1表面の平坦度を5μm以下、ベース
部材3裏面と静電チャック部材1表面との平行度を5μ
m以下と、極めて高精度の接合構造とすることができる
。また、静電チャック部材1とベース部材2との接合強
度は、20kg/cm2 以上となり、使用上問題はな
かった。
【0022】次に、本発明実施例として、上記の方法で
接合したセラミック製静電チャックを用意し、比較例と
して、ガラスで接合したものを用意し、それぞれドライ
エッチング装置に用いた。
【0023】ドライエッチング装置用静電チャックは使
用温度−100〜100℃の範囲で使用される。その加
工プロセスにより、半導体ウェハが加熱される熱を外部
へ逃がす必要があるため、静電チャック部材を固定する
ベース部材にはアルミニウムなどの高熱伝導性の金属を
用いた。一方、静電チャック部材を構成するセラミック
スとして、チタン酸カルシウム(CaTiO3 )を用
いた。このとき、セラミック製静電チャック部材の熱膨
張率が10.4×10−6/℃に対して、ベース部材で
あるアルミニウムの熱膨張率は23×10−6/℃と差
が大きいため、比較例では使用中にセラミックス部分に
割れが発生した。これに対し本発明実施例では、シリコ
ーン樹脂からなる接合剤が両者の熱膨張率の差を吸収す
るため、割れなどが発生することはなく、使用上問題は
なかった。
【0024】
【発明の効果】叙上のように本発明によれば、セラミッ
ク製静電チャック部材とベース部材をシリコーン樹脂を
用いて接合したことによって、シリコーン樹脂は耐熱性
に優れ、互いの熱膨張差を吸収できることから、熱膨張
率に大きな差のあるベース部材とセラミック製静電チャ
ック部材との接合が可能となり、また広い温度範囲で有
効に使用することができる。そのため、特に−100〜
100℃の温度範囲で使用されるドライエッチング装置
に、好適に使用できる静電チャックの接合構造を提供で
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の静電チャックの接合構造を示す斜視図
である。
【図2】図1中のX−X線断面図である。
【図3】本発明の静電チャックの接合構造を製造するた
めの工程図である。
【図4】従来のメカニカルクランプによる静電チャック
の接合構造を示す斜視図である。
【符号の説明】 1・・・製電チャック部材 2・・・ベース部材 3・・・接合剤

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】セラミック製静電チャック部材とベース部
    材を、シリコーン樹脂で接合したことを特徴とする静電
    チャックの接合構造。
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