JPH04285863A - 電圧測定方法及び該方法による電圧測定装置 - Google Patents
電圧測定方法及び該方法による電圧測定装置Info
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- JPH04285863A JPH04285863A JP4947191A JP4947191A JPH04285863A JP H04285863 A JPH04285863 A JP H04285863A JP 4947191 A JP4947191 A JP 4947191A JP 4947191 A JP4947191 A JP 4947191A JP H04285863 A JPH04285863 A JP H04285863A
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- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 22
- 238000013139 quantization Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- HODRFAVLXIFVTR-RKDXNWHRSA-N tevenel Chemical compound NS(=O)(=O)C1=CC=C([C@@H](O)[C@@H](CO)NC(=O)C(Cl)Cl)C=C1 HODRFAVLXIFVTR-RKDXNWHRSA-N 0.000 description 1
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電圧測定方法及び該方法
による電圧測定装置に関し、更に詳しくは広いレンジの
被測定電圧を高精度で測定する電圧測定方法及び該方法
による電圧測定装置に関する。
による電圧測定装置に関し、更に詳しくは広いレンジの
被測定電圧を高精度で測定する電圧測定方法及び該方法
による電圧測定装置に関する。
【０００２】近年、電子機器は高感度化、高機能化する
中で、使用される電源電圧も＋１２Ｖ、＋５Ｖ、−１２
Ｖ、−４８Ｖ等と広いレンジにわたり、かつこれらの電
圧変動率を±１％〜±２％以内に保つという高精度が要
求される場合も少なくない。そこで、かかる広いレンジ
の電圧を一定の高精度で測定する電圧測定方法及び該方
法による電圧測定装置の提供が要望される。
中で、使用される電源電圧も＋１２Ｖ、＋５Ｖ、−１２
Ｖ、−４８Ｖ等と広いレンジにわたり、かつこれらの電
圧変動率を±１％〜±２％以内に保つという高精度が要
求される場合も少なくない。そこで、かかる広いレンジ
の電圧を一定の高精度で測定する電圧測定方法及び該方
法による電圧測定装置の提供が要望される。
【０００３】
【従来の技術】図４は従来の電圧測定装置を示すブロッ
ク図で、図において１１，１２は演算増幅回路（ＡＭＰ
）、１３はアナログスイッチ、１４はＡ／Ｄ変換回路（
Ａ／Ｄ）、１５はＣＰＵである。
ク図で、図において１１，１２は演算増幅回路（ＡＭＰ
）、１３はアナログスイッチ、１４はＡ／Ｄ変換回路（
Ａ／Ｄ）、１５はＣＰＵである。
【０００４】ＣＰＵ１５は、アナログスイッチ１３を順
次切り替えて、被測定電圧＋１２Ｖ，＋５Ｖ，−１２Ｖ
，−４８ＶのラインをＡ／Ｄ変換回路１４に接続し、そ
のＡ／Ｄ変換出力を読み取る。
次切り替えて、被測定電圧＋１２Ｖ，＋５Ｖ，−１２Ｖ
，−４８ＶのラインをＡ／Ｄ変換回路１４に接続し、そ
のＡ／Ｄ変換出力を読み取る。
【０００５】ところで、一般に、このようなＡ／Ｄ変換
回路１４の入力レンジには限りがあるので、例えばこれ
を０Ｖ〜＋５Ｖとすると、これに伴って各被測定電圧か
らの入力レベルも０Ｖ〜＋５Ｖのレンジに納まるように
変換しなくてはならない。そこで、従来は、例えば＋１
２Ｖを＋４Ｖに抵抗分圧し、＋５Ｖはそのままとし、ま
た−１２Ｖは＋４Ｖに分圧反転増幅し、そして−４８Ｖ
は＋４．８Ｖに分圧反転増幅していた。
回路１４の入力レンジには限りがあるので、例えばこれ
を０Ｖ〜＋５Ｖとすると、これに伴って各被測定電圧か
らの入力レベルも０Ｖ〜＋５Ｖのレンジに納まるように
変換しなくてはならない。そこで、従来は、例えば＋１
２Ｖを＋４Ｖに抵抗分圧し、＋５Ｖはそのままとし、ま
た−１２Ｖは＋４Ｖに分圧反転増幅し、そして−４８Ｖ
は＋４．８Ｖに分圧反転増幅していた。
【０００６】しかし、このような分圧を行うと、＋５Ｖ
のようにこれを直接Ａ／Ｄ変換する場合に比べて、＋１
２Ｖ，−１２Ｖの測定（量子化）精度は１／３、また−
４８Ｖの測定精度は１／１０に落ちてしまうから、広い
レンジの電圧を一定の高精度で測定することはできなか
った。
のようにこれを直接Ａ／Ｄ変換する場合に比べて、＋１
２Ｖ，−１２Ｖの測定（量子化）精度は１／３、また−
４８Ｖの測定精度は１／１０に落ちてしまうから、広い
レンジの電圧を一定の高精度で測定することはできなか
った。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上記のように従来の電
圧測定装置では、被測定電圧をＡ／Ｄ変換回路の入力レ
ンジに合うまで抵抗分圧又は分圧反転増幅しているので
、広いレンジの電圧を一定の高精度で測定することはで
きなかった。
圧測定装置では、被測定電圧をＡ／Ｄ変換回路の入力レ
ンジに合うまで抵抗分圧又は分圧反転増幅しているので
、広いレンジの電圧を一定の高精度で測定することはで
きなかった。
【０００８】本発明の目的は、広いレンジの電圧を一定
の高精度で測定できる電圧測定方法及び該方法による電
圧測定装置を提供することにある。
の高精度で測定できる電圧測定方法及び該方法による電
圧測定装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記の課題は図１の構成
により解決される。即ち、本発明の電圧測定装置は、基
準電圧Ｖｒｅｆ を発生する基準電圧源１と、被測定電
圧Ｖｉ と基準電圧Ｖｒｅｆ との差電圧△Ｖｄ を求
める演算回路２と、前記差電圧△Ｖｄ をＡ／Ｄ変換し
てデジタル差電圧ＤＶｄ を出力するＡ／Ｄ変換回路３
と、前記デジタル差電圧ＤＶｄ に対して前記基準電圧
Ｖｒｅｆ に対応する既知のデジタル基準電圧ＤＶｒｅ
ｆ を加算する加算回路４とを備える。
により解決される。即ち、本発明の電圧測定装置は、基
準電圧Ｖｒｅｆ を発生する基準電圧源１と、被測定電
圧Ｖｉ と基準電圧Ｖｒｅｆ との差電圧△Ｖｄ を求
める演算回路２と、前記差電圧△Ｖｄ をＡ／Ｄ変換し
てデジタル差電圧ＤＶｄ を出力するＡ／Ｄ変換回路３
と、前記デジタル差電圧ＤＶｄ に対して前記基準電圧
Ｖｒｅｆ に対応する既知のデジタル基準電圧ＤＶｒｅ
ｆ を加算する加算回路４とを備える。
【００１０】
【作用】基準電圧源１は基準電圧Ｖｒｅｆ として例え
ば＋１２．００Ｖを発生している。一方、被測定電圧Ｖ
ｉ としては例えば＋１２．１０Ｖが入力する。これに
より演算回路２は被測定電圧＋１２．１０Ｖと基準電圧
＋１２．００Ｖとの差電圧＋０．１０Ｖを出力し、Ａ／
Ｄ変換回路３はこの差電圧＋０．１０Ｖを所定の量子化
ステップ幅でＡ／Ｄ変換する。今、Ａ／Ｄ変換回路３の
量子化ステップ幅が０．０１Ｖであるとすると、上記差
電圧＋０．１０ＶをＡ／Ｄ変換したデジタル差電圧は＋
１０になる。そして、加算回路４はこのデジタル差電圧
＋１０に対して前記基準電圧＋１２．００Ｖに対応する
既知のデジタル基準電圧ＤＶｒｅｆ を加算する。この
デジタル基準電圧ＤＶｒｅｆ は、予め、基準電圧ＤＶ
ｒｅｆ の公称値＋１２．００Ｖを量子化ステップ幅０
．０１Ｖで割って求めておいた値であり、かかる値はど
のような基準電圧に対しても一義的に定めることができ
る。この例では、デジタル基準電圧は＋１２００である
。従つて、加算回路４はデジタル差電圧＋１０に対して
デジタル基準電圧＋１２００を加えることになり、これ
により測定電圧ＤＶｉ として＋１２１０を出力する。 そこで、これに単位を与えると、測定電圧は＋１２．１
０Ｖである。しかも、このうち差電圧＋０．１０Ｖの部
分は如何なる分圧も分圧反転増幅も受けていないのであ
るから、この測定電圧＋１２．１０Ｖは極めて高精度で
あると共に、どのような被測定電圧Ｖｉ に対しても同
一の測定精度を保てる。
ば＋１２．００Ｖを発生している。一方、被測定電圧Ｖ
ｉ としては例えば＋１２．１０Ｖが入力する。これに
より演算回路２は被測定電圧＋１２．１０Ｖと基準電圧
＋１２．００Ｖとの差電圧＋０．１０Ｖを出力し、Ａ／
Ｄ変換回路３はこの差電圧＋０．１０Ｖを所定の量子化
ステップ幅でＡ／Ｄ変換する。今、Ａ／Ｄ変換回路３の
量子化ステップ幅が０．０１Ｖであるとすると、上記差
電圧＋０．１０ＶをＡ／Ｄ変換したデジタル差電圧は＋
１０になる。そして、加算回路４はこのデジタル差電圧
＋１０に対して前記基準電圧＋１２．００Ｖに対応する
既知のデジタル基準電圧ＤＶｒｅｆ を加算する。この
デジタル基準電圧ＤＶｒｅｆ は、予め、基準電圧ＤＶ
ｒｅｆ の公称値＋１２．００Ｖを量子化ステップ幅０
．０１Ｖで割って求めておいた値であり、かかる値はど
のような基準電圧に対しても一義的に定めることができ
る。この例では、デジタル基準電圧は＋１２００である
。従つて、加算回路４はデジタル差電圧＋１０に対して
デジタル基準電圧＋１２００を加えることになり、これ
により測定電圧ＤＶｉ として＋１２１０を出力する。 そこで、これに単位を与えると、測定電圧は＋１２．１
０Ｖである。しかも、このうち差電圧＋０．１０Ｖの部
分は如何なる分圧も分圧反転増幅も受けていないのであ
るから、この測定電圧＋１２．１０Ｖは極めて高精度で
あると共に、どのような被測定電圧Ｖｉ に対しても同
一の測定精度を保てる。
【００１１】
【実施例】以下、添付図面に従つて本発明による実施例
を詳細に説明する。図２は実施例の電圧測定装置のブロ
ック図で、図において、２１は本装置の主制御を行うＣ
ＰＵ、２２はＣＰＵ２１が実行する図３の制御プログラ
ムを記憶しているＲＯＭ、２３はデジタル測定電圧ＤＶ
ｉ を表示する表示部（ＤＩＳＰ）、２４はＣＰＵ２１
の共通バス、２５は基準電圧源、２６はラッチデコーダ
（ＬＤＥＣ）、２７，２８はアナログスイッチ、２９は
作動増幅回路、３０，３１は演算増幅回路（ＡＭＰ）、
３２は差電圧△Ｖｄ の正負を判別するコンパレータ（
ＣＯＭＰ）、３３はアナログスイッチ、３４はＡ／Ｄ変
換回路（Ａ／Ｄ）である。
を詳細に説明する。図２は実施例の電圧測定装置のブロ
ック図で、図において、２１は本装置の主制御を行うＣ
ＰＵ、２２はＣＰＵ２１が実行する図３の制御プログラ
ムを記憶しているＲＯＭ、２３はデジタル測定電圧ＤＶ
ｉ を表示する表示部（ＤＩＳＰ）、２４はＣＰＵ２１
の共通バス、２５は基準電圧源、２６はラッチデコーダ
（ＬＤＥＣ）、２７，２８はアナログスイッチ、２９は
作動増幅回路、３０，３１は演算増幅回路（ＡＭＰ）、
３２は差電圧△Ｖｄ の正負を判別するコンパレータ（
ＣＯＭＰ）、３３はアナログスイッチ、３４はＡ／Ｄ変
換回路（Ａ／Ｄ）である。
【００１２】なお、Ａ／Ｄ変換回路３４の量子化ステッ
プ幅は０．０１Ｖとし、これに従い、ＲＯＭ２２は各基
準電圧＋１２．００Ｖ，＋５．００Ｖ，−１２．００Ｖ
及び−４８．００Ｖに各対応するデジタル基準電圧とし
て夫々＋１２００，＋５００，−１２００及び−４８０
０のデータを記憶している。
プ幅は０．０１Ｖとし、これに従い、ＲＯＭ２２は各基
準電圧＋１２．００Ｖ，＋５．００Ｖ，−１２．００Ｖ
及び−４８．００Ｖに各対応するデジタル基準電圧とし
て夫々＋１２００，＋５００，−１２００及び−４８０
０のデータを記憶している。
【００１３】図３は実施例の電圧測定制御のフローチャ
ートで、測定開始によりこの処理に入力する。ステップ
Ｓ１では基準電圧Ｖｒｅｆ 及び被測定電圧Ｖｉ のチ
ャネルの選択に使用するカウンタＣをリセットし、ステ
ップＳ２ではカウンタＣの内容をラッチデコーダ２６に
セットする。これにより、最初は基準電圧Ｖｒｅｆ ＝
＋１２．００Ｖ及び被測定電圧Ｖｉ ＝＋１２Ｖが差動
増幅回路２９に入力する。
ートで、測定開始によりこの処理に入力する。ステップ
Ｓ１では基準電圧Ｖｒｅｆ 及び被測定電圧Ｖｉ のチ
ャネルの選択に使用するカウンタＣをリセットし、ステ
ップＳ２ではカウンタＣの内容をラッチデコーダ２６に
セットする。これにより、最初は基準電圧Ｖｒｅｆ ＝
＋１２．００Ｖ及び被測定電圧Ｖｉ ＝＋１２Ｖが差動
増幅回路２９に入力する。
【００１４】図２において、今、例えばＶｉ ＝１２．
００Ｖであるとすると、ＡＭＰ３０の出力は＋０．００
Ｖ、ＡＭＰ３１の出力は−０．００Ｖになり、かつコン
パレータ３２の符号出力Ｓは正（ＬＯＷレベル）になる
。これにより、アナログスイッチ３３はＡＭＰ３０から
の差電圧△Ｖｄ ＝＋０．００ＶをＡ／Ｄ変換回路３４
に入力し、Ａ／Ｄ変換回路３４はデジタル差電圧ＤＶｄ
＝０を出力する。
００Ｖであるとすると、ＡＭＰ３０の出力は＋０．００
Ｖ、ＡＭＰ３１の出力は−０．００Ｖになり、かつコン
パレータ３２の符号出力Ｓは正（ＬＯＷレベル）になる
。これにより、アナログスイッチ３３はＡＭＰ３０から
の差電圧△Ｖｄ ＝＋０．００ＶをＡ／Ｄ変換回路３４
に入力し、Ａ／Ｄ変換回路３４はデジタル差電圧ＤＶｄ
＝０を出力する。
【００１５】また、例えばＶｉ ＝１２．５０Ｖである
とすると、ＡＭＰ３０の出力は＋０．５０Ｖ、ＡＭＰ３
１の出力は−０．５０Ｖになり、かつコンパレータ３２
の符号出力Ｓは正（ＬＯＷレベル）になる。これにより
、アナログスイッチ３３はＡＭＰ３０からの差電圧△Ｖ
ｄ ＝＋０．５０ＶをＡ／Ｄ変換回路３４に入力し、Ａ
／Ｄ変換回路３４はデジタル差電圧ＤＶｄ＝５０を出力
する。
とすると、ＡＭＰ３０の出力は＋０．５０Ｖ、ＡＭＰ３
１の出力は−０．５０Ｖになり、かつコンパレータ３２
の符号出力Ｓは正（ＬＯＷレベル）になる。これにより
、アナログスイッチ３３はＡＭＰ３０からの差電圧△Ｖ
ｄ ＝＋０．５０ＶをＡ／Ｄ変換回路３４に入力し、Ａ
／Ｄ変換回路３４はデジタル差電圧ＤＶｄ＝５０を出力
する。
【００１６】更にまた、例えばＶｉ ＝１１．５０Ｖで
あるとすると、ＡＭＰ３０の出力は−０．５０Ｖ、ＡＭ
Ｐ３１の出力は＋０．５０Ｖになり、かつコンパレータ
３２の符号出力Ｓは負（ＨＩＧＨレベル）になる。これ
によりアナログスイッチ３３はＡＭＰ３１からの差電圧
△Ｖｄ ＝＋０．５０ＶをＡ／Ｄ変換回路３４に入力し
、Ａ／Ｄ変換回路３４はデジタル差電圧ＤＶｄ ＝５０
を出力する。
あるとすると、ＡＭＰ３０の出力は−０．５０Ｖ、ＡＭ
Ｐ３１の出力は＋０．５０Ｖになり、かつコンパレータ
３２の符号出力Ｓは負（ＨＩＧＨレベル）になる。これ
によりアナログスイッチ３３はＡＭＰ３１からの差電圧
△Ｖｄ ＝＋０．５０ＶをＡ／Ｄ変換回路３４に入力し
、Ａ／Ｄ変換回路３４はデジタル差電圧ＤＶｄ ＝５０
を出力する。
【００１７】図３に戻り、ステップＳ３ではコンパレー
タ３２の符号出力（Ｓ）及びＡ／Ｄ変換回路３４のデジ
タル差電圧ＤＶｄ を読み込む。ステップＳ４ではＲＯ
Ｍ２２から基準電圧Ｖｒｅｆ （Ｃ）に対応するデジタ
ル基準電圧ＤＶｒｅｆ （Ｃ）を読み出して、測定電圧
ＤＶｉ （Ｃ）＝ＤＶｒｅｆ （Ｃ）＋（Ｓ）ＤＶｄ
の演算を行い、結果を測定電圧レジスタＤＶｉ （Ｃ）
にストアする。
タ３２の符号出力（Ｓ）及びＡ／Ｄ変換回路３４のデジ
タル差電圧ＤＶｄ を読み込む。ステップＳ４ではＲＯ
Ｍ２２から基準電圧Ｖｒｅｆ （Ｃ）に対応するデジタ
ル基準電圧ＤＶｒｅｆ （Ｃ）を読み出して、測定電圧
ＤＶｉ （Ｃ）＝ＤＶｒｅｆ （Ｃ）＋（Ｓ）ＤＶｄ
の演算を行い、結果を測定電圧レジスタＤＶｉ （Ｃ）
にストアする。
【００１８】これを具体的に示すと、上記のＶｉ ＝＋
１２．００Ｖの場合は、ＤＶｉ （０）＝（＋１２００
）＋（＋０）＝＋１２００となり、またＶｉ ＝＋１２
．５０Ｖの場合は、ＤＶｉ （０）＝（＋１２００）＋
（＋５０）＝＋１２５０となり、更にまたＶｉ ＝＋１
１．５０Ｖの場合は、ＤＶｉ （０）＝（＋１２００）
＋（−５０）＝＋１１５０となり、これを測定電圧レジ
スタＤＶｉ （０）にストアする。
１２．００Ｖの場合は、ＤＶｉ （０）＝（＋１２００
）＋（＋０）＝＋１２００となり、またＶｉ ＝＋１２
．５０Ｖの場合は、ＤＶｉ （０）＝（＋１２００）＋
（＋５０）＝＋１２５０となり、更にまたＶｉ ＝＋１
１．５０Ｖの場合は、ＤＶｉ （０）＝（＋１２００）
＋（−５０）＝＋１１５０となり、これを測定電圧レジ
スタＤＶｉ （０）にストアする。
【００１９】ステップＳ５ではＤＶｉ （Ｃ）の内容に
小数点及びボルトの単位Ｖ等を付して表示部２３に表示
する。表示の態様は、「＋１２．００Ｖ」、「＋１２．
５０Ｖ」又は「＋１１．５０Ｖ」である。ステップＳ６
ではＣ＝３か否かを判別し、Ｃ＝３でない場合は次の電
圧（＋５Ｖ）を測定するためにステップＳ７でカウンタ
Ｃに＋１し、ステップＳ２に戻る。またＣ＝３の場合は
測定処理を終了する。
小数点及びボルトの単位Ｖ等を付して表示部２３に表示
する。表示の態様は、「＋１２．００Ｖ」、「＋１２．
５０Ｖ」又は「＋１１．５０Ｖ」である。ステップＳ６
ではＣ＝３か否かを判別し、Ｃ＝３でない場合は次の電
圧（＋５Ｖ）を測定するためにステップＳ７でカウンタ
Ｃに＋１し、ステップＳ２に戻る。またＣ＝３の場合は
測定処理を終了する。
【００２０】なお、上記実施例ではＡ／Ｄ変換回路３４
の入力レンジを５Ｖ、量子化ステップ幅を０．０１Ｖと
したが、例えば入力レンジを０．５Ｖ、量子化ステップ
幅を０．００１Ｖとすれば、測定精度は格段に向上する
と共に、どのような被測定電圧に対しても同一の測定精
度を保てる。
の入力レンジを５Ｖ、量子化ステップ幅を０．０１Ｖと
したが、例えば入力レンジを０．５Ｖ、量子化ステップ
幅を０．００１Ｖとすれば、測定精度は格段に向上する
と共に、どのような被測定電圧に対しても同一の測定精
度を保てる。
【００２１】また、例えばＡ／Ｄ変換回路３４の入力レ
ンジを１Ｖ、量子化ステップ幅を０．０１Ｖとすれば、
このようなＡ／Ｄ変換回路は安価に購入できるから、高
精度な電圧測定装置を安価に提供できる。
ンジを１Ｖ、量子化ステップ幅を０．０１Ｖとすれば、
このようなＡ／Ｄ変換回路は安価に購入できるから、高
精度な電圧測定装置を安価に提供できる。
【００２２】
【発明の効果】以上述べた如く本発明によれば、被測定
電圧Ｖｉ と基準電圧Ｖｒｅｆ との差電圧△Ｖｄ を
Ａ／Ｄ変換するので、広いレンジの被測定電圧に対して
量子化誤差を一定にできると共に、高精度の電圧測定が
行える。
電圧Ｖｉ と基準電圧Ｖｒｅｆ との差電圧△Ｖｄ を
Ａ／Ｄ変換するので、広いレンジの被測定電圧に対して
量子化誤差を一定にできると共に、高精度の電圧測定が
行える。
【図１】図１は本発明の原理的構成図である。
【図２】図２は実施例の電圧測定装置のブロック図であ
る。
る。
【図３】図３は実施例の電圧測定制御のフローチャート
である。
である。
【図４】図４は従来の電圧測定装置を示すブロック図で
ある。
ある。
１ 基準電圧源
２ 演算回路
３ Ａ／Ｄ変換回路
４ 加算回路
Ｖｉ 被測定電圧
Ｖｒｅｆ 基準電圧
△Ｖｄ 差電圧
ＤＶｄ デジタル差電圧
ＤＶｒｅｆ デジタル基準電圧
ＤＶｉ デジタル測定電圧
Claims (2)
- 【請求項１】 被測定電圧（Ｖｉ ）と基準電圧（Ｖ
ｒｅｆ ）との差電圧（△Ｖｄ ）を求めると共に、こ
れをＡ／Ｄ変換したデジタル差電圧（ＤＶｄ ）に対し
て、前記基準電圧（Ｖｒｅｆ ）に対応する既知のデジ
タル基準電圧（ＤＶｒｅｆ ）を加算することによりデ
ジタル測定電圧（ＤＶｉ ）を得ることを特徴とする電
圧測定方法。 - 【請求項２】 基準電圧（Ｖｒｅｆ ）を発生する基
準電圧源（１）と、被測定電圧（Ｖｉ ）と基準電圧（
Ｖｒｅｆ ）との差電圧（△Ｖｄ ）を求める演算回路
（２）と、前記差電圧（△Ｖｄ ）をＡ／Ｄ変換してデ
ジタル差電圧（ＤＶｄ ）を出力するＡ／Ｄ変換回路（
３）と、前記デジタル差電圧（ＤＶｄ ）に対して前記
基準電圧（Ｖｒｅｆ ）に対応する既知のデジタル基準
電圧（ＤＶｒｅｆ ）を加算する加算回路（４）とを備
えることを特徴とする電圧測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4947191A JPH04285863A (ja) | 1991-03-14 | 1991-03-14 | 電圧測定方法及び該方法による電圧測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4947191A JPH04285863A (ja) | 1991-03-14 | 1991-03-14 | 電圧測定方法及び該方法による電圧測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04285863A true JPH04285863A (ja) | 1992-10-09 |
Family
ID=12832064
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4947191A Withdrawn JPH04285863A (ja) | 1991-03-14 | 1991-03-14 | 電圧測定方法及び該方法による電圧測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04285863A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013195157A (ja) * | 2012-03-16 | 2013-09-30 | Lapis Semiconductor Co Ltd | 半導体回路、電池監視システム、診断プログラム、及び診断方法 |
| JP2021043007A (ja) * | 2019-09-09 | 2021-03-18 | Tdk株式会社 | 電磁攪拌器、及び反射箱 |
-
1991
- 1991-03-14 JP JP4947191A patent/JPH04285863A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013195157A (ja) * | 2012-03-16 | 2013-09-30 | Lapis Semiconductor Co Ltd | 半導体回路、電池監視システム、診断プログラム、及び診断方法 |
| JP2016192894A (ja) * | 2012-03-16 | 2016-11-10 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | 半導体装置 |
| JP2021043007A (ja) * | 2019-09-09 | 2021-03-18 | Tdk株式会社 | 電磁攪拌器、及び反射箱 |
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