JPH04268773A - 赤外線センサおよびその製造方法 - Google Patents

赤外線センサおよびその製造方法

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JPH04268773A
JPH04268773A JP3030175A JP3017591A JPH04268773A JP H04268773 A JPH04268773 A JP H04268773A JP 3030175 A JP3030175 A JP 3030175A JP 3017591 A JP3017591 A JP 3017591A JP H04268773 A JPH04268773 A JP H04268773A
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JP
Japan
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infrared
infrared sensor
detection
detection section
substrate
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Pending
Application number
JP3030175A
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English (en)
Inventor
Koichi Aizawa
浩一 相澤
Hitoshi Kanekawa
仁士 金川
Keiji Kakinote
柿手 啓治
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Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、赤外線吸収に伴う温
度上昇により赤外線検出を行うタイプの赤外線センサお
よびその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】物体や人体から放射される赤外線の検出
に用いられる赤外線センサには、半導体材料の光電効果
を利用する量子型センサや赤外線吸収による温度上昇を
利用する熱変換型センサがある。量子型の赤外線センサ
は、高感度ではあるものの原理的に低温で動作させる必
要があることなどから、特別の用途に限られる。
【0003】従来、図5に示すような熱変換型の赤外線
センサ50がある。この赤外線センサ50は、赤外線吸
収に伴う温度上昇により赤外線の検出を行う薄型の検出
部52を備えている。検出部52はシリコン板材を用い
た検出側基板51の堀込62位置に熱絶縁された状態で
支持されている。この薄型の検出部52は以下のように
構成されている。検出側基板51の堀込62に裏面を臨
ませている絶縁層部分61aがある。検出側基板51の
表面には薄い絶縁層(酸化膜や窒化膜)61が形成され
ていて、この絶縁層61の一部裏側に堀込62が形成さ
れることにより絶縁層部分61a裏側が空間に臨む状態
が現出しているのである。そして、この絶縁層部分61
a上に、下電極層65、感温抵抗層66、上電極層67
および赤外線吸収層68の各薄膜がこの順で積層形成さ
れ、赤外線センシング用の薄型の検出部52となってい
る。
【0004】一方、赤外線センサ50は赤外線入射側に
シリコン板材を用いたフィルタ55を備えている。検出
部52の表面はフィルタ55の裏面の堀込69に臨んで
いる。この赤外線センサ50における赤外線検出動作は
以下の通りである。フィルタ55を透過し検出部52に
入射した赤外線は赤外線吸収層68で吸収され熱に変わ
る。この吸収熱が感温抵抗層66の温度を上昇させる。 感温抵抗層66は温度の上昇に伴いその抵抗値が変わる
ため、この抵抗変化を捉えることにより赤外線の検出が
できるのである。
【0005】赤外線センサ50は、シリコン板材等の半
導体基板と酸化膜、窒化膜、半導体薄膜、金属薄膜等の
薄膜で形成することが可能であって、小型化が図りやす
く、また、半導体微細加工技術を利用しての大量生産が
可能であって、低コスト化が図りやすくて、さらに、半
導体基板に信号処理用電子回路を併設して集積化するこ
とも可能であるため、非常に有用なセンサであると言え
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記の
熱変換型の赤外線センサ50は、感度や応答速度が十分
とは言えないという問題がある。検出部52の熱容量を
下げられれば感度や応答速度が向上する。赤外線吸収層
68の厚みをより薄くすれば検出部52の熱容量を下げ
ることは可能ではある。しかし、赤外線吸収層68の厚
みを薄くすると赤外線吸収量が減り、吸収熱量も減って
、その分、感度や応答速度は落ちる。そのため、熱容量
の低減による感度・応答速度の増加分は、赤外線吸収量
の低減による感度・応答速度の低下分で帳消にされ、実
際には感度や応答速度を向上させられない。
【0007】この発明は、熱変換型の赤外線センサにお
いて感度や応答速度を向上させることを第1の課題とし
、このような赤外線センサを容易に製造することのでき
る方法を提供することを第2の課題とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】前記第1の課題を解決す
るため、請求項1記載の発明にかかる赤外線センサは、
赤外線吸収に伴う温度上昇により赤外線の検出を行う薄
型の検出部を備えるとともに、この検出部からみて赤外
線入射側とは反対側に赤外線反射面を備え、赤外線反射
面で反射した赤外線も前記検出部に入射する構成となっ
ている。
【0009】そして、前記第2の課題を解決するため、
請求項2記載の発明にかかる赤外線センサの製造方法で
は、請求項1記載の発明にかかる有用な赤外線センサを
得るにあたり、検出部設置位置に穴を有し、この穴のと
ころに基板本体と熱絶縁された状態で検出部を備えてな
る検出側基板を準備するとともに、赤外線反射面を表面
に備えた反射側基板を準備し、前記両基板を検出部と赤
外線反射面を対面させておいて接合一体化するようにし
ている。
【0010】以下、この発明を、図面を参照しながら詳
しく説明する。図1は、この発明にかかる赤外線センサ
の要部構成例をあらわす。赤外線センサ1は、赤外線セ
ンシング用の薄型の検出部11を備えるとともに、この
検出部11の裏面側(赤外線入射側とは反対側)に所定
距離隔てて赤外線反射面21を備え、検出部11を透過
した入射赤外線Lは赤外線反射面21で反射して検出部
11に再び入射する。
【0011】検出部11は検出側基板2に設けられ、赤
外線反射面21は反射側基板3に設けられ、両基板2、
3は接合層4により接合されている。薄型の検出部11
は、下記のように、薄膜積層体からなる。検出側基板2
の穴15に裏面を臨ませている(電気的)絶縁層部分1
3aがある。検出側基板2の表面には薄い絶縁層(酸化
膜や窒化膜)13が形成されていて、この絶縁層13の
裏側一部域にわたって穴15が基板裏面から堀り込み形
成されることにより絶縁層部分13a裏側が空間に臨む
状態が現出しているのである。そして、この絶縁層部分
13a上に、下電極層17、感温抵抗層18および上電
極層19の各薄膜がこの順で積層形成され、赤外線セン
シング用の薄型の検出部11が出来ている。
【0012】絶縁層部分13aの周囲には部分的にスリ
ット14が形成され他の部分と切り離されている。図1
では、絶縁層部分13aが絶縁層13の他部分から完全
に切り離されているかのようにみえるが、スリット14
のあるところで切れているだけで、図示外部分で繋がっ
ていて絶縁層部分13aは検出側基板2に支持された状
態になっている。
【0013】検出部11は絶縁層13部分のみで基板と
繋がることで基板本体12に対する熱絶縁が確保されて
いる。スリット14は熱絶縁性をより高める働きをして
いる。一方、検出部11の表面・裏面の熱絶縁は、両面
ともが空間に臨むことで確保されている。そのため、赤
外線の吸収熱が検出部11から逃げ難く赤外線吸収が有
効に検出部11の温度上昇となってあらわれる。
【0014】薄型の検出部11では上下電極層17、1
9が赤外線吸収機能を有しているため、格別、赤外線吸
収層を設けていない。赤外線吸収機能を有する電極層と
してはニッケルクロム層が例示される。一対の電極は、
感温抵抗層の表裏面に分かれて設けられる上下対向構造
に限らず、感温抵抗層の表裏面の一方の面だけで入り組
み対抗するように両電極が設けられる所謂クシ型の平面
対向構造であってもよい。
【0015】感温抵抗層18は温度変化に対して抵抗値
が変化する。感温抵抗層18としてはアモルファスシリ
コン層、炭化ケイ素等のサーミスタ材料層が例示される
。感温抵抗体層および電極が同じ材料(例えば、白金)
で形成されているようであってもよい。この場合は、赤
外線吸収層を設ける必要がある。検出部11は、焦電効
果材料層を備えることにより温度変化を捉えるというも
のであってもよいし、ひとつの層が赤外線の吸収と温度
上昇の把握の両機能を兼ね備える構成であってもよい。
【0016】反射側基板3の赤外線反射面としては、基
板3の表面に蒸着形成されたアルミニウム薄膜表面等が
例示される。赤外線センサ1は入射側にフィルタを備え
てはいないが、検出側基板2の赤外線入射側に、例えば
、図5に示すフィルタ55を備えているようであっても
よい。
【0017】この赤外線センサ1における赤外線検出動
作は以下の通りである。赤外線Lは検出部11に入り上
下電極層17、19で一部は吸収されて熱に変わる。吸
収されずに検出部11を通り抜けた赤外線も赤外線反射
面21で反射され再び検出部11に入り上下電極層17
、19で吸収され熱に変わる。吸収熱は検出部11の感
温抵抗層18の温度を上昇させる。感温抵抗層18は温
度が上昇した分だけ抵抗値が変わるため、この抵抗変化
を捉えることにより赤外線が検出できる。
【0018】赤外線センサ1は、請求項2記載の発明の
方法により容易に製造することができる。まず、赤外線
センシング用の検出部11が設けられた図1に示す検出
側基板2を作製する。これは、図5に示す従来の赤外線
センサの場合に準じて作ることができるので容易である
。一方、赤外線反射面21が設けられた図1に示す反射
側基板3を別途作製する。これも、基板3表面にアルミ
ニウム薄膜を蒸着形成する程度のことであるから、やは
り容易である。次に、作製した検出側基板2と反射側基
板3を、検出部11と赤外線反射面21を対面させた状
態で接合一体化することでセンサが得られる。2枚の基
板2、3を位置合わせして接着剤等で接合する程度であ
るから別段難しいことはなく容易に赤外線センサが製造
できる。薄型の検出部があっても基板に支持されている
ため製造工程での損傷するようなこともない。接合は接
着剤以外で行われてもよい。
【0019】
【作用】請求項1記載の発明の赤外線センサは、検出部
が薄片であるため、熱容量が小さく温度上昇し易くて基
本的に高感度・高応答性である。しかも、検出部を透過
した赤外線が赤外線反射面で反射して再び検出部に再入
射するため、赤外線吸収率が従来よりも高くなっており
、そのため、感度や応答性が向上する。
【0020】この発明の赤外線センサは、前述のように
、シリコン板材等の半導体基板と酸化膜、窒化膜、半導
体薄膜、金属薄膜等の薄膜で形成することが可能であっ
て、小型化が図りやすく、また、半導体微細加工技術を
利用しての大量生産も可能であって、低コスト化が図り
やすい。請求項2記載の発明の赤外線センサの製造方法
によれば、上記有用な請求項1の赤外線センサを容易に
得ることができる。
【0021】
【実施例】以下、請求項2記載の発明の一例方法により
、図1に示す赤外線センサを得る場合を、図面を参照し
ながら詳しく説明する。まず、赤外線センシング用の薄
型の検出部11が設けられた検出側基板2を、以下のよ
うにして作製する。
【0022】図2(a)にみるように、例えば、プラズ
マCVD法により、検出側基板2用で(100)面を有
するシリコン単結晶ウエハの表面側に絶縁層13である
厚み5000Åの窒化ケイ素膜を形成するとともに裏面
側に厚み1000Åの窒化ケイ素膜30を形成する。両
窒化ケイ素膜の形成後、図2(b)にみるように、裏面
側の窒化ケイ素膜の穴形成域部分にフォトリソグラフィ
技術を用いて窓31を開け、ついで、表面側の窒化ケイ
素膜の上に下電極層17、感温抵抗層18および上電極
層19を形成する。
【0023】窓30を開けるには裏面側の窒化ケイ素膜
に対して、例えばプラズマエッチング法による選択エッ
チングを行う。下電極層17は、例えば、厚み1000
Åのニッケルクロム薄膜を蒸着しパターン化することに
より形成する。パターン化には、例えば、硝酸セリウム
アンモニウムと酢酸を用いる湿式エッチング法による選
択エッチングを使う。
【0024】感温抵抗層18は、例えば、厚み2000
Åのアモルファスシリコン薄膜をプラズマCVD法で形
成しフォトリソグラフィ技術を用いてパターン化するこ
とにより形成する。パターン化には、例えば、イオンビ
ームエッチング法による選択エッチングを使う。上電極
層19は、例えば、厚み1000Åのニッケルクロム薄
膜を蒸着しフォトリソグラフィ技術を用いてパターン化
することにより形成する。パターン化には、例えば、イ
オンビームエッチング法による選択エッチングを使う。
【0025】ついで、図2(c)にみるように、表面側
に厚み1μmの窒化ケイ素保護膜33をプラズマCVD
法で堆積しておいて、スリット形成域の保護膜33およ
び絶縁層13用窒化ケイ素膜を、例えば、プラズマエッ
チング法等により選択的に除き窓開けした後、水酸化カ
リウム水溶液等の異方性エッチング液を用いて、シリコ
ンウエハをエッチングすることにより、スリット14お
よび台形状穴15を形成し薄型の検出部11を作り込む
。最後に、表面側に残る窒化ケイ素保護膜33および裏
面側に残る窒化ケイ素膜30を除去すれば、図2(d)
にみるように、検出側基板2が得られる。
【0026】完成した検出側基板2は、検出部設置位置
に穴15を有し、この穴のところに基板本体12と熱絶
縁された状態で検出部11を備えている。一方、赤外線
反射面21が設けられた反射側基板3を以下のようにし
て別途作製する。図3(a)にみるように、反射側基板
3用のシリコン板片面に接合用低融点ガラス組成物薄膜
40をRFスパッタリング法にて堆積した後、図3(b
)にみるように、この薄膜40の接合域以外の部分をフ
ォトリソグラフィ技術を用いて除去する。
【0027】ついで、図3(c)にみるように、厚み5
000Åのアルミニウム薄膜を蒸着形成しパターン化す
ることにより、赤外線反射面21を作れば、反射側基板
3が得られる。最後に、上記のようにして得た検出側基
板2および反射側基板3を接合一体化する。すなわち、
図4にみるように、検出部11の裏面と赤外線反射面2
1が対面するように位置合わせして重ね合わせておいて
、検出側基板2が+で反射側基板3が−となるように電
圧をかけて電界印加すれば、両基板2、3が接合一体化
し、図1の赤外線センサ1が完成する。
【0028】この発明は、上記実施例に限らない。請求
項1記載の赤外線センサは、請求項2記載の方法以外の
方法で製造してもよい。検出側基板3はシリコンウエハ
で出来ているから、信号処理回路用等の半導体素子も併
設し集積化すれば、より有用なものとなる。
【0029】
【発明の効果】以上に述べたように、請求項1記載の赤
外線センサは、薄型の検出部を備えた小型化や低コスト
化の図り易い感度・応答性に優れる基本構造を有するの
に加えて、透過した赤外線も再び検出部に入射し赤外線
の吸収率が高くて感度・応答性が非常によくなっている
ため、実用性が非常に高い。
【0030】請求項2記載の発明にかかる製造方法によ
れば、上記有用な請求項1の赤外線センサを容易に製造
することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】請求項1記載の赤外線センサの要部構成例をあ
らわす概略断面図である。
【図2】請求項2記載の赤外線センサの製造方法におけ
る検出側基板を作成するときの様子をあらわす概略断面
図である。
【図3】請求項2記載の赤外線センサの製造方法におけ
る反射側基板を作成するときの様子をあらわす概略断面
図である。
【図4】請求項2記載の赤外線センサの製造方法におけ
る検出側基板と反射側基板を接合一体化するときの様子
をあらわす概略断面図である。
【図5】従来の赤外線センサの要部構成をあらわす概略
断面図である。
【符合の説明】
1  赤外線センサ 2  検出側基板 3  反射側基板 11  薄型の検出部 21  赤外線反射面

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  赤外線吸収に伴う温度上昇により赤外
    線の検出を行う薄型の検出部を備えるとともに、この検
    出部からみて赤外線入射側とは反対側に赤外線反射面を
    備え、赤外線反射面で反射した赤外線も前記検出部に入
    射するようになっている赤外線センサ。
  2. 【請求項2】  請求項1記載の赤外線センサの製造方
    法であって、検出部設置位置に穴を有し、この穴のとこ
    ろに基板本体と熱絶縁された状態で検出部を備えてなる
    検出側基板と、赤外線反射面を表面に備えた反射側基板
    とを準備し、前記両基板を検出部と赤外線反射面を対面
    させた状態で接合一体化するようにすることを特徴とす
    る赤外線センサの製造方法。
JP3030175A 1991-02-25 1991-02-25 赤外線センサおよびその製造方法 Pending JPH04268773A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007503586A (ja) * 2003-05-13 2007-02-22 ハイマン・センサー・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング 改善された放射活用を備えた赤外線センサー

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007503586A (ja) * 2003-05-13 2007-02-22 ハイマン・センサー・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング 改善された放射活用を備えた赤外線センサー
JP4685019B2 (ja) * 2003-05-13 2011-05-18 ハイマン・センサー・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング 改善された放射活用を備えた赤外線センサー

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