JPH0196548A - センサ素子 - Google Patents

センサ素子

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JPH0196548A
JPH0196548A JP25304587A JP25304587A JPH0196548A JP H0196548 A JPH0196548 A JP H0196548A JP 25304587 A JP25304587 A JP 25304587A JP 25304587 A JP25304587 A JP 25304587A JP H0196548 A JPH0196548 A JP H0196548A
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film
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Kazutaka Uda
和孝 宇田
Takashi Sugihara
孝志 杉原
Hiroki Tabuchi
宏樹 田渕
Yasuhiko Inami
井波 靖彦
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、基板上に橋梁(ブリッジ)状9片持ち梁(カ
ンチレバー)状あるいはダイアフラム状に形成された下
部絶縁保護膜、下部導電性薄膜。
サーミスタ薄膜、上部導電性薄膜、上部絶縁保護膜から
なる複合膜に対して、周囲からの水蒸気。
ガス、赤外線、流体あるいは酵素反応によってもたらさ
れる熱の出入シによって生じるサーミスタ薄膜の温度変
化をインピーダンス変化として検知するセンサ素子に関
する。
〈従来技術とその問題点〉 従来例としてサーミスタビード11を極細の白金導線1
2で両側から悪果した構造の絶対湿度センサを第6図に
示す。湿度の検出原理は以下のようである。電流によっ
て自己発熱しているサーミスタビード!lに水蒸気が触
れると乾燥空気との熱伝導度の差によってサーミスタビ
ード11の放熱状態に変化が生じる。従ってサーミスタ
ビード11の温度が変化してそのインピーダンスが変化
することによって絶対湿度が検知される。このときのイ
ンピーダンス変化は概して小さくまた周囲温度の影響を
大きく受けるので実使用時には、第6図に示すように同
じ温度特性を有するサーミスタビード11を別に乾燥空
気を含んだ缶13に密封して温度補償が行なわれる。(
センサ側の缶14には流速の影響を抑えつつ水蒸気が出
入シできるように小孔が穿設されている。)従来の絶対
湿度センサの製造過程においては、温度特性の揃った一
対のサーミスタビード11を選別する工程や、缶封止な
ど溶接によるアッセンブリーを行なう必要がるシ、コス
ト高の要因となっていた。またサーミスタビード11は
直径がQ、5mm程度あるが、さらに小型化を図るなど
して感湿応答速度をよシ高める必要があった。
〈発明の目的〉 本発明は、Ge、Sit SiCなどのような比抵抗値
の高いサーミスタ薄膜を、いずれか一方に一対の電極を
有する上下の導電性薄膜で狭むことによりセンサ素子の
インピーダンスの低減を図シ、通常のサンドイッチ型電
極で問題の生じ易い段差カバ一部分をなくすことを目的
としている。また基板上に順次積層された下部絶縁保護
膜、下部導電性薄膜、サーミスタ薄膜、上部導電性薄膜
、上部絶縁保護膜からなる複合膜を、その直下の基板を
部分的にエツチングすることによシ橋梁(ブリッジ)状
9片持ち梁(カンチレバー)状、ダイアスラム状に成形
して発熱部分の熱容量を小さくすることによシ高速応答
性と低消費電力化をすすめること及び複合膜の形成から
遮蔽体の接合封止まで、ウェーハ単位の一貫したバッチ
プロセスによって多量に均一な素子を製造することによ
シ、素子選別を不要としコストダウンを図ることを目的
とする。
〈実施例〉 本発明の1実施例であるブリッジ型センサ素子を第1図
に示す製造方法に従って説明する。シリコンの基板l上
に熱酸化法やスパッタ法によるs io2またはCVD
法によるSi3N4からなる下部絶縁保護膜2を形成す
る。また後の工程に行なう基板1のエツチングに対する
マスクとして基板lの裏面にも5iOzやSi3N4か
らなる耐エツチング性膜2′を形成する必要がある。そ
の際、熱酸化法によるとシリコン基板1の両面に同時に
絶縁保護膜が形成され得るのでコストの点で有利である
次にTi、Crなどの酸化物との密着性が良好な材料を
用いて下部導電性薄膜3を蒸着する(第1図(a) )
 o更にサーミスタ薄膜4としてGe、 S i、 S
iC。
Co−Mn複合酸化物等のNTCサーミスタ材料または
BAT i03  等のPTCサーミスタ材料を蒸着法
、スパッタ法またはCVD法によって成膜する。
次にサーミスタ薄膜4の発熱部分からの熱の伝熱放散を
抑えるために、熱伝導率の小さい材料であるTi等を用
いて一対の電極を含む上部導電性薄膜5を形成する(第
1図(b))。更に図示していないが、電極のリード線
引き出し部分(パッド)にはAuを蒸着しておく。次に
、パッシベーション膜として5iOzやS i 3N4
からなる上部絶縁保護膜6をスパッタ法やCVD法によ
り形成し続いて上部絶縁保護膜6のパッド部7をエツチ
ングで除去する。その後、下部絶縁保護膜2.下部導電
゛性薄膜3.サーミスタ薄膜4.上部導電性薄膜5.上
部絶縁保護膜6からなる複合膜の全熱部直下の基板lを
部分的に異方性エツチングすることによシ発熱部分の熱
容量が小さくなシ、高速応答性が得られ且つ熱量が基板
lへ容易に放散しないので低消費電力化が図られる(第
1図(C))。シリコンのエッチャントにはE pw(
エチレンジアミン、ピロカテコール、水の混合液)やK
OH水溶液が使われる。またサーミスタ薄膜材料によっ
ては、製造プロセスの都合上第2図に示すように下部導
電性薄膜3が一対の電極を成す構造が望ましい場合が(
d、) ある。このとき、第2図+″歩に示すようにサーミスタ
薄膜4が上部導電性薄膜5の下だけにあってもよい。以
上述べたような電極構造は、サーミスタ薄膜が上下の導
電性薄膜に狭まれたいわゆるサンドイッチ型である。通
常のサンドイッチ型電極は第7図に示すように、上部導
電性薄@5がサーミスタ薄膜4の段差をカバーする必要
があり、サーミスタ薄膜4が厚い場合充分にカバーされ
にくいことや、製造プロセスが面倒であるという問題を
有していた。本実施例(よる電極構造では、サーミスタ
薄膜4内の電流経路が同じ膜厚の通常型電極のそれの2
倍になるが、サーミスタ薄膜4の段差をカバーする必要
がなく、またエツチングによる導電性薄膜の形成が可能
である。
このような複合膜は同一基板上に2つ以上並設されてお
り、上下の導電性薄膜で狭まれた部分のサーミスタ薄膜
4が通電によって100″C〜200″Cに自己発熱す
る。第3図は本実施例のセ/す素子の構造断面図(パッ
ド部は図示せず)であり、別のシリコンウェーハにハー
フエツチングによって凹陥部を2つ以上設け、一方にエ
ツチングよって小さい貫通孔が形成された遮蔽体8が、
低融点ガラスや樹脂接着剤を用いて複合膜が載置されて
いる基板1の上面に接合される。第1の複合膜9は流速
の影響を受けないように、小さい貫通孔を通して外界に
露呈されていて、例えば空気中の湿度変化によシ複合膜
の熱の放散状態が変わシ、サーミスタ薄膜のインピーダ
ンスが変化する。それに対して第2の複合膜10は、基
板lと遮蔽体8間の乾燥空気中に気密封止され、外界の
湿度変化の影響を受けない。また周囲温度が変動したと
き、第1の複合膜のサーミスタ薄膜のインピーダンスは
変化するが、第2の複合膜のサーミスタ薄膜のそれも同
様に変化するので、温度補償が行なわれ、外界の湿度を
正確に検知することが可能である。
この場合従来例のように缶によって封止するよシも本実
施例のように小型の遮蔽体8を用いた方が、素子全体の
熱容量を小さくでき、外気温の変動に対する両サーミス
タ薄膜の追従応答性は速くなる。
上記実施例のセンサ素子は、複合膜の形成や基板のエツ
チングそして遮蔽体8のエツチングや基板1との接合ま
で一貫してウェーハ単位のパッチ処理ができる為、量産
に適し安価に製造され得る。
基板や遮蔽体としてシリコン以外にガリウムーヒ素等の
m−v族化合物半導体を用いることも可能であり、さら
に複合膜の形状をそれぞれ第4図または第5図に示すよ
うな片持ち梁(カンチレバー)状、ダイアフラム状にし
てもよい。第4図、第5図はそれぞれ本発明の他の実施
例を示すセンサ素子の構成断面図であり第8図と同一符
号は同一内容を示す。この他、同様な原理でガスセンサ
が得られる。ガス種の選択性が必要な場合は、ガス選択
透過膜を遮蔽体の貫通孔に設けたり、ガスクロマトグラ
フィーに用いられるよりなカラムによるガス種の分離が
考えられる。参照用の封入ガスは、検知ガス種に応じて
適宜選択してもよい。また同一基板上に複数個の複合膜
を設け、湿度・ガス複合センサを形成することも可能で
ある。また貫通孔を大きくして流速センサとしての利用
も可能である。他に複合膜上に合点等を蒸着したセンサ
素子は、赤外線センサとして応用できる。この場合、以
上のセンナとは異なシサーミスタ薄膜は加熱されず、赤
外線照射によるサーミスタ薄膜の温度上昇を検知する。
シリコンは赤外線を透過するので参照側の遮蔽体上に赤
外線反射膜もしくは吸収膜を形成する必要がある。また
同様に複合膜上に酵素固定化膜を形成したセンサ素子は
、酵素と反応する酵素反応物質(基質)を反応熱によっ
て検知する酵素サーミスタセンサとすることができる。
〈発明の効果〉 本発明によるセンサ素子はGe、Si、SiCなどのよ
うな比抵抗値の高いサーミスタ薄膜を、いずれか一方に
一対の電極を有する上下の導電性薄膜で狭むことにより
、低インピーダンス化が図られ、通常のサンドイッチ型
電極で問題の生じ易い段差カバーを必要とせず、また製
造が容易になる利点を有する。また基板上に順次積層さ
れた下部絶縁保護膜、下部導電性薄膜、サーミスタ薄膜
、上部導電性薄膜、上部絶縁保護膜からなる複合膜を、
その直下の基板を部分的にエツチングすることによシ橋
梁(ブリッジ)状9片持ち梁(カンチレバー)状、ダイ
アフラム状に成形して発熱部分の熱容量を小さくするこ
とにより、高速応答性が得られ、低消費電力化が可能と
なった。また本センサ素子は、複合膜の形成や基板のエ
ツチング及び遮蔽体のエツチングや基板との接合まで一
貫してウェーハ単位のバッチ処理ができる為、量産に適
し均一な素子を安価に製造し得るため、素子選別を不要
にすることが可能である。その上センサ素子が小型であ
るため実用性が高く且つ外気温の変動に対する追従性が
良いという利点を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は本発明の1実施例であるブリッジ型
センナ素子の製造方法を示す構造断面図である。第3図
は複合膜をブリッジ状にした本発明の実施例を示すセン
サ素子の構造断面図である。 第4図及び第5図は、複合膜がそれぞれ片持ち梁(カン
チレバー)状、ダイアフラム状である本発明の他の実施
例を示すセンサ素子の構造断面図である。第6図は、従
来のサーミスタ湿度センサの構造断面図である。第7図
は、通常のサンドインチ型電極の構造断面図である。 l・・・基板、2・・・下部絶縁保護膜、3・・・下部
導電性薄膜、4・・・サーミスタ薄膜、5・・・上部導
電性薄膜、6・・・上部絶縁保護膜、7・・・パッド部
、8・・・遮蔽体、9・・・第1の複合膜、10・・・
第2の複合膜、II・・・サーミスタビード、夏2・・
・白金導線、I3゜14・・・缶。 代理人 弁理士 杉 山 毅 至(他1名)(G”l 
                  (G)(b) 
            (b>(C)       
           (C)第2図 第6図 第5図

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.基板上に順次積層された下部絶縁保護膜,下部導電
    性薄膜,サーミスタ薄膜,上部導電性薄膜及び上部絶縁
    保護膜からなり、前記下部導電性薄膜または前記上部導
    電性薄膜のいずれか一方が一対の電極を有する複合膜を
    有し、該複合膜は、前記基板の一部分が異方性エッチン
    グされて成る橋梁(ブリッジ)状,片持ち梁(カンチレ
    バー)状あるいはダイアフラム状に成形加工された構造
    部を有し且つ前記基板上に少なくとも2つ以上並設され
    ており、第1の前記複合膜は外界に露呈され且つ被検知
    量の変化に伴なって前記サーミスタ薄膜の電気的特性が
    変化し、第2の前記複合膜は前記基板に固定された遮蔽
    体の内部に外界と遮蔽状態で気密封止されていることを
    特徴とするセンサ素子。
  2. 2.前記第1の複合膜は、前記基板に固定された前記遮
    蔽体に設けられた貫通孔を通して外界に露呈されている
    特許請求の範囲第1項記載のセンサ素子。
  3. 3.前記基板及び前記遮蔽体はシリコンまたはIII−V
    族化合物半導体を主としてなる特許請求の範囲第1項又
    は第2項記載のセンサ素子。
  4. 4.前記サーミスタ薄膜は、Ge,Si,SiC,Co
    −Mo複合酸化物,TaNまたはBaTiO_3である
    特許請求の範囲第1項記載のセンサ素子。
  5. 5.前記被検知量が、水蒸気,ガス,赤外線,流量ある
    いは酵素反応物質(基質)である特許請求の範囲第1項
    記載のセンサ素子。
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