JPH04263192A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JPH04263192A
JPH04263192A JP3005022A JP502291A JPH04263192A JP H04263192 A JPH04263192 A JP H04263192A JP 3005022 A JP3005022 A JP 3005022A JP 502291 A JP502291 A JP 502291A JP H04263192 A JPH04263192 A JP H04263192A
Authority
JP
Japan
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data
write
address decoder
read address
decoder circuit
Prior art date
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JP3005022A
Other languages
English (en)
Inventor
Kimihiko Kamisaka
上坂 公彦
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は半導体記憶装置に関し
、特に書き込み及び読み出し動作を行うことにより、キ
ャラクタデータにおける水平データの垂直データへの変
換機能(垂直データの水平データへの変換機能)を備え
たX−Yデータ変換機能付きメモリ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】縦書き及び横書きのプリント出力機能を
有するワープロ(ワードプロセッサ)等は、横書きを縦
書きに、あるいは、縦書きを横書きに変換するために、
キャラクタデータの反転、回転等が行う必要がある。
【0003】図3はキャラクタデータの反転、回転等の
具体例を示した説明図である。図3において、(a) 
で示したキャラクタデータ51は8(ワード)×8(ビ
ット)のデータから成り、文字“F”を表しており、黒
塗り部分がビットデータ“1”を白抜き部分がビットデ
ータ“0”に対応している。そして、図3(a) に示
すようなすキャラクタデータ51が、後述するX−Yデ
ータ変換を施されることにより、回転あるいは反転され
て図3(b) 〜(e) に示すようなキャラクタデー
タ52〜55に変換される。
【0004】図4は従来のX−Yデータ変換機能付メモ
リ装置の構成を示すブロック図である。同図に示すよう
に、メモリセルアレイ1は4つのポートを有しており、
データ入力ポート11から入力データDIを取り込み、
データ出力ポート12から出力データDOを出力する。 また、書き込み用アドレスデコーダ回路2の書き込みア
ドレス指令D2が書き込み用アドレスポート13に取り
込まれ、読み出し用アドレスデコーダ回路3の読み出し
アドレス指令D3が読み出し用アドレスポート14に取
り込まれる。
【0005】書き込み用アドレスデコーダ回路2は書き
込み用アドレスAD2をデコードして書き込みアドレス
指令D2をメモリセルアレイ1の書き込み用アドレスポ
ート13に出力し、読み出し用アドレスデコーダ回路3
は読み出し用アドレスAD3をデコードして読み出しア
ドレス指令D3をメモリセルアレイ1の読み出し用アド
レスポート14に出力する。
【0006】図5は書き込み用アドレスデコーダ回路2
(読み出し用アドレスデコーダ回路3)の内部を示す回
路図である。同図に示すように書き込み用アドレスAD
2(A1,A2,A3)を取り込み、インバータ、NA
NDゲートからなる論理回路群21により論理演算を施
すことにより、表1に示すようにデコードし、8ビット
の書き込みアドレス指令D2(Y0〜Y7)のうち、1
ビットを選択的にHに設定している。
【0007】
【表1】 なお、読み出し用アドレスデコーダ回路3の内部構成も
図5で示したものと同様であり、取り込むアドレス信号
が読み出し用アドレスAD3と異なるだけである。
【0008】図6はメモリセルアレイ1の内部を示す回
路図である。同図に示すように、インバータの交叉接続
によりメモリセル30が8×8マトリクス状に構成され
ている。メモリセル30はNMOSトランジスタ31〜
33それぞれの一方電極に接続され、トランジスタ31
のゲートは列単位(R0列〜R7列)で共通に読み出し
用アドレスポート14のビットポートRA0〜RA7に
それぞれ接続され、トランジスタ32及び33のゲート
は行単位(C0行〜C7行)で共通に書き込み用アドレ
スポート15のビットポートWA0〜WA7にそれぞれ
接続される。
【0009】また、入力ポートDIにおけるビットポー
トPI0〜PI7はそれぞれバッファ34及びトランジ
スタ32を介して、列単位で共通にメモリセル30のノ
ードN1に接続されるとともに、インバータ35、バッ
ファ36及びトランジスタ33を介して列単位で共通に
メモリセル30のノードN2に接続される。
【0010】一方、出力ポート12におけるビットポー
トPO0〜PO7は、トランジスタ31を介して、列単
位で共通にメモリセル30のノードN3に接続される。
【0011】図7は90度変換用X−Y変換機能付メモ
リ装置の構成を示す説明図である。
【0012】同図に示すように、書き込み用アドレスデ
コーダ回路2の書き込みアドレス指令Y0〜Y7と書き
込みポートWA0〜WA7とが接続され、読み出し用ア
ドレスデコーダ回路3の読み出しアドレス指令Y0〜Y
7と読み出し用ポートRA7〜RA0とが接続される。 ここで、メモリセルアレイ1に書き込むデータは8個(
ワード)の1行(8ビット)データF0〜F7(図3(
a) 参照)である。
【0013】まず、外部から、(0,0,0)の書き込
みアドレス(A2,A1,A0)が書き込み用アドレス
デコーダ回路2に与えられると表1に示すように、書き
込み用アドレスデコーダ回路2の書き込みアドレス指令
D2(Y0〜Y7)のうちY0のみHに設定される。そ
して、アドレス(0,0,0)に対応する1行データF
0の8個の1ビットデータG0〜G7(図3(a) 参
照)が対応の入力ポートPI0〜PI7からメモリセル
アレイ1内にそれぞれ取り込まれる。
【0014】すると、ポートWA0にゲートが接続され
たトランジスタ32及び33のみがオンするため、C0
行のR0列〜R7列のメモリセル30それぞれに1行デ
ータF0の8個の1ビットデータG0〜G7が記憶され
る。
【0015】以下、書き込みアドレスAD2(A2,A
1,A0)を順次、1(0,0,1)〜7(1,1,1
)と変化させ、書き込みアドレス指令D2(Y0〜Y7
)のうちY1,Y2,…と順次Hに設定していきながら
、1行データF1〜F7を順次取り込み、C1行〜C7
行のメモリセル30に記憶させることにより書き込みが
完了する。
【0016】書き込みが完了すると、続いて(0,0,
0)の読み出しアドレス(A2,A1,A0)が読み出
し用アドレスデコーダ回路3に与えられると表1に示す
ように、読み出し用アドレスデコーダ回路3の読み出し
アドレス指令D3(Y0〜Y7)のうちY0のみHに設
定される。
【0017】すると、ポートRA7にゲートが接続され
たトランジスタ31のみがオンするため、R7列のC0
行〜C7行のメモリセル30に格納されたデータがそれ
ぞれ、出力ポートPO0〜PO7からキャラクタデータ
の1行(8ビット)データとして外部に出力される。
【0018】以下、読み出しアドレスAD3(A2,A
1,A0)を順次、1(0,0,1)〜7(1,1,1
)と変化させ、読み出しアドレス指令D3(Y0〜Y7
)のうちY1,Y2,…と順次Hに設定していきながら
、R6列,R5列,…のメモリセル30に格納されたデ
ータを順次1行データとして外部に出力させることによ
り8×8のキャラクタデータを得る。
【0019】このように読み出し及び書き込みを行うこ
とにより、図3の(a) に示すようなキャラクタデー
タ51が、図3の(c) に示すように、90度回転の
したキャラクタデータ53に変換される。
【0020】図8は270度変換用X−Y変換機能付メ
モリ装置を示す説明図である。このメモリ装置により、
図7で示した90度変換用X−Y変換機能付メモリ装置
と同様な読み出し及び書き込み動作を行うことにより、
図3の(a) に示すようなキャラクタデータ51が、
図3の(d) に示すように、270度回転のしたキャ
ラクタデータ54に変換される。
【0021】
【発明が解決しようとする課題】従来のX−Yデータ変
換機能を有する半導体記憶装置は以上のように構成され
ており、1種類のX−Y変換機能しかもてず、複数種の
X−Yデータ変換を実現するには、複数のX−Yデータ
変換機能を有する半導体記憶装置を備えなければならな
いという問題点があった。
【0022】この発明は上記問題点を解決するためにな
されたもので、複数種のX−Yデータ変換機能を有する
半導体記憶装置を得ることを目的とする。
【0023】
【課題を解決するための手段】この発明にかかる半導体
記憶装置は、外部アドレス信号をデコードし書き込みア
ドレス指令を出力する書き込み用アドレスデコーダと、
外部アドレス信号をデコードし読み出しアドレス指令を
出力する読み出し用アドレスデコーダと、マトリクス状
に配置されたメモリセルを備え、入力データを取り込み
、前記書き込みアドレス指令で指示された行のメモリセ
ルに該入力データを格納する書き込み機能と、前記読み
出しアドレス指令で指示された列のメモリセルに格納さ
れたデータを出力データとして外部に出力する読み出し
機能とを有するメモリセルアレイとを備えており、前記
書き込み用アドレスデコーダ及び読み出し用アドレスデ
コーダのうち、少なくとも一方に、外部信号により変更
可能な複数種のデコード機能をもたせている。
【0024】
【作用】この発明においては、書き込み用アドレスデコ
ーダ及び読み出し用アドレスデコーダのうち、少なくと
も一方に、複数種のデコード機能を持たせたため、メモ
リセルアレイ上で同じ読み出し及び書き込み動作を行っ
ても、デコード機能変更が可能なデコーダのデコード機
能を変えることにより、入力データと出力データの関係
を変化させることができる。
【0025】
【実施例】図1はこの発明の一実施例であるX−Y変換
機能付メモリ装置の構成を示すブロック図である。同図
に示すように、メモリセルアレイ1は4つのポートを有
しており、データ入力ポート11(PI0〜PI7)か
ら入力データDI(DI0〜DI7)を取り込み、デー
タ出力ポート12(PO0〜PO7)から出力データD
O(DO0〜DO7)を出力する。また、書き込み用ア
ドレスデコーダ回路42の書き込みアドレス指令D2(
Y0〜Y7)が書き込み用アドレスポート13(WA0
〜WA7)に取り込まれ、読み出し用アドレスデコーダ
回路43の読み出しアドレス指令D3(Y0〜Y7)が
読み出し用アドレスポート14(RA0〜RA7)に取
り込まれる。なお、メモリセルアレイ1の内部は図6で
示した従来構成と全く同様である。
【0026】書き込み用アドレスデコーダ回路42は、
制御信号C1の指示に従い、書き込み用アドレスAD2
をデコードして書き込みアドレス指令D2をメモリセル
アレイ1の書き込み用アドレスポート13に出力し、読
み出し用アドレスデコーダ回路43は制御信号C2の指
示に従い、読み出し用アドレスAD3をデコードして読
み出しアドレス指令D3をメモリセルアレイ1の読み出
し用アドレスポート14に出力する。
【0027】図2は書き込み用アドレスデコーダ回路4
2(読み出し用アドレスデコーダ回路43)の内部を示
す回路図である。同図に示すように、書き込み用アドレ
スデコーダ回路42は、各アドレス信号A1,A2,A
3をそれぞれXORゲート22〜24の一方入力として
取り込んでいる。そして、制御信号C1をXORゲート
22〜24の他方入力として取り込んでいる。したがっ
て、制御信号C1が“0”の場合、アドレス信号A1〜
A3がそのままXORゲート22〜24の出力S22〜
S24となるが、制御信号C1が“1”の場合、アドレ
ス信号A1〜A3の反転値(バーA1〜バーA3)がX
ORゲート22〜24の出力S22〜S24となる。
【0028】そして、図5で示した従来の書き込み用ア
ドレスデコーダ回路2におけるアドレス信号A1〜A3
と論理回路群21との接続関係と全く同様の接続関係で
、XORゲート22〜24の出力S22〜S24と論理
回路群21とが接続される。
【0029】なお、論理回路群21は、インバータ、N
ANDゲートからなり、図5の従来例で示したものと全
く同様の構成である。
【0030】したがって、上記構成の書き込み用アドレ
スデコーダ回路42は、表2に示すように、制御信号C
1の指示に従いアドレス信号A1〜A3のデコードをし
、8ビットの書き込みアドレス指令D2(Y0〜Y7)
のうち、1ビットを選択的にHに設定している。
【0031】
【表2】 なお、読み出し用アドレスデコーダ回路43の内部構成
も図2で示したものと同様であり、取り込むアドレス信
号と制御信号とが読み出し用アドレスAD3と制御信号
C2と異なるだけである。
【0032】このような構成のX−Y変換機能付メモリ
装置を用いたキャラクタデータの90度変換動作は以下
に示すように行われる。まずあらかじめ、制御信号C1
及びC2をそれぞれ“0”及び“1”に設定しておく。 ここで、メモリセルアレイ1に書き込むデータは従来同
様、8個(ワード)の1行(8ビット)データF0〜F
7(図3(a) 参照)である。
【0033】まず、外部から、(0,0,0)の書き込
みアドレス(A2,A1,A0)が書き込み用アドレス
デコーダ回路2に与えられると表2に示すように、書き
込み用アドレスデコーダ回路42の書き込みアドレス指
令D2(Y0〜Y7)のうちY0のみHに設定される。 そして、アドレス(0,0,0)に対応する1行データ
F0の1ビットデータG0〜G7(図3(a) 参照)
が対応の入力ポートPI0〜PI7からメモリセルアレ
イ1内にそれぞれ取り込まれる。
【0034】すると、ポートWA0にゲートが接続され
たトランジスタ32及び33のみがオンするため、C0
行のR0列〜R7列のメモリセル30それぞれに1行デ
ータF0のビットデータG0〜G7が記憶される。
【0035】以下、書き込みアドレスAD2(A2,A
1,A0)を順次、1(0,0,1)〜7(1,1,1
)と変化させ、書き込みアドレス指令D2のうちY1,
Y2,…と順次Hに設定していきながら、1行データF
1〜F7を順次取り込み、C1行〜C7行のメモリセル
30に記憶させることにより書き込みが完了する。
【0036】書き込みが完了すると、続いて(0,0,
0)の読み出しアドレス(A2,A1,A0)が読み出
し用アドレスデコーダ回路43に与えられると表2に示
すように、読み出し用アドレスデコーダ回路43の読み
出しアドレス指令D3のうちY7のみHに設定される。
【0037】すると、ポートRA7にゲートが接続され
たトランジスタ31のみがオンするため、R7列のC0
行〜C7行のメモリセル30に格納されたデータがそれ
ぞれ、出力ポートPO0〜PO7からキャラクタデータ
の1行(8ビット)データとして外部に出力される。
【0038】以下、読み出しアドレスAD3(A2,A
1,A0)を順次、1(0,0,1)〜7(1,1,1
)と変化させ、読み出しアドレス指令D3のうちY6,
Y5,…と順次Hに設定していきながら、R6列,R5
列,…のメモリセル30に格納されたデータを順次1行
データとして外部に出力させることにより8×8のキャ
ラクタデータを得る。
【0039】このように読み出し及び書き込みを行うこ
とにより、図3の(a) に示すようなキャラクタデー
タ51が、図3の(c) に示すように、90度回転の
したキャラクタデータ53に変換される。
【0040】また、上記した書き込み及び読み出しと同
じ動作を行っても、制御信号C1及びC2の組合せを変
えることにより、異なるX−Yデータ変換も実現できる
。すなわち、制御信号C1及びC2をそれぞれ“0”及
び“0”にすれば、図3の(a) に示すようなキャラ
クタデータ51が、図3の(b) に示すようなキャラ
クタデータ52に変換され、制御信号C1及びC2をそ
れぞれ“1”及び“0”にすれば、図3の(a) に示
すようなキャラクタデータ51が、図3の(d) に示
すようなキャラクタデータ54に変換(270度変換)
され、制御信号C1及びC2をそれぞれ“1”及び“1
”にすれば、図3の(a) に示すようなキャラクタデ
ータ51が、図3の(e) に示すようなキャラクタデ
ータ55に変換される。
【0041】このように、1つのX−Y変換機能付メモ
リ装置であっても、書き込み用アドレスデコーダ回路4
2及び読み出し用アドレスデコーダ回路43それぞれに
2種類のデコード機能をもたせ、制御信号C1及びC2
によりデコード機能を適宜変更することにより、4つの
X−Y変換機能をもたせることができる。
【0042】なお、書き込み用アドレスデコーダ回路4
2(読み出し用アドレスデコーダ回路43)の入力段に
、デコード機能選択用の論理ゲート(XORゲート)を
設けたが、これを出力段に設けることも考えられる。 また、この実施例では、デコード機能選択用の論理ゲー
トとして、XOR(排他的論理和)ゲートを用いたが、
他の論理ゲートにより構成してもよい。
【0043】また、この実施例では、書き込み用アドレ
スデコーダ回路42及び読み出し用アドレスデコーダ回
路43それぞれに2種類のデコード機能を備えさせたが
、どちらか一方のみにデコード機能を備えさせても、2
種類のX−Yデータ変換機能をもたせることができる。 すなわち、書き込み用アドレスデコーダ回路42及び読
み出し用アドレスデコーダ回路43のうち、少なくとも
一方に複数種のデコード機能をもたせればよい。
【0044】
【発明の効果】以上説明したように、この発明はマトリ
クス状に配置されたメモリセルアレイに対し行単位に書
き込みを行い、列単位に読み出しを行うことにより、キ
ャラクタデータのX−Yデータ変換機能を実現している
【0045】そして、書き込み用アドレスデコーダ及び
読み出し用アドレスデコーダのうち、少なくとも一方に
、複数種のデコード機能をもたせることにより、メモリ
セルアレイ上で同じ読み出し及び書き込み動作を行って
も、入力データと出力データの関係を複数種もたせるこ
とができるため、複数種のX−Yデータ変換機能を備え
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例であるX−Yデータ変換機
能付メモリ装置の構成を示すブロック図である。
【図2】図1で示した書き込み(読み出し)用アドレス
デコーダ回路の内部を示す回路図である。
【図3】キャラクタデータのX−Y変換例を示した説明
図である。
【図4】従来のX−Yデータ変換機能付メモリ装置の構
成を示すブロック図である。
【図5】図4で示した書き込み(読み出し)用アドレス
デコーダ回路の内部を示す回路図である。
【図6】図4で示したメモリセルアレイ1の内部を示す
回路図である。
【図7】従来の90度変換用X−Yデータ変換機能付メ
モリ装置の構成を示す説明図である。
【図8】従来の270度変換用X−Yデータ変換機能付
メモリ装置の構成を示す説明図である。
【符号の説明】
1          メモリセルアレイ21    
    論理回路群 22〜24  XORゲート 42        書き込み用アドレスデコーダ回路
43        読み出し用アドレスデコーダ回路
C1,C2  制御信号

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  外部アドレス信号をデコードし書き込
    みアドレス指令を出力する書き込み用アドレスデコーダ
    と、外部アドレス信号をデコードし読み出しアドレス指
    令を出力する読み出し用アドレスデコーダと、マトリク
    ス状に配置されたメモリセルを備え、入力データを取り
    込み、前記書き込みアドレス指令で指示された行のメモ
    リセルに該入力データを格納する書き込み機能と、前記
    読み出しアドレス指令で指示された列のメモリセルに格
    納されたデータを出力データとして外部に出力する読み
    出し機能とを有するメモリセルアレイとを備えた半導体
    記憶装置において、前記書き込み用アドレスデコーダ及
    び読み出し用アドレスデコーダのうち、少なくとも一方
    に、外部信号により変更可能な複数種のデコード機能を
    もたせたことを特徴とする半導体記憶装置。
JP3005022A 1991-01-21 1991-01-21 半導体記憶装置 Pending JPH04263192A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000016260A1 (fr) * 1998-09-11 2000-03-23 Sony Corporation Processeur de donnees et procede de conversion de sequences de donnees
US7123539B2 (en) 2001-07-24 2006-10-17 Kabushiki Kaisha Toshiba Memory modules with magnetoresistive elements and method of reading data from row or column directions

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