JPH04259548A - 二軸配向ポリエステルフイルム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ポリエステル層の積層
構成を有する二軸配向ポリエステルフイルムに関する。

【０００２】

【従来の技術】二軸配向ポリエステルフイルムとしては
、ポリエステルにコロイド状シリカに起因する実質的に
球形のシリカ粒子を含有せしめたフイルムが知られてい
る（例えば、特開昭５９−１７１６２３号公報）。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来の二
軸配向ポリエステルフイルムでは、例えばその上に磁性
層を設けた磁気テープとした時の出力特性が、今後のハ
イビジョンやデジタルビデオ用途には不満足であること
が明らかになりつつある。かといって、フイルム中の粒
子のサイズを小さくして、単に表面を平滑にしていくと
、フイルムをロール状に巻くのが難しくなり、ロールの
巻姿が不良になってシワが発生してしまい、製品性能上
のトラブルにつながるという問題点があった。

【０００４】本発明は、かかる問題点を改善し、磁気テ
ープとした時のシグナルとノイズの比Ｓ／Ｎが高く（以
下出力特性良好という）、かつ、ロール状に巻いた時に
シワが発生しない（以下巻姿良好という）二軸配向ポリ
エステルフイルムを提供することを目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】この目的に沿う本発明の
二軸配向ポリエステルフイルムは、少なくとも１種類の
粒子を２〜２０重量％含有するポリエステルＡをポリエ
ステルＢの片面に積層してなる二軸配向フイルムであっ
て、該ポリエステルＡ層の厚さｔとポリエステルＡ層に
含有する粒子の平均粒径ｄの比ｔ／ｄが０．１〜２．５
であり、かつ、該ポリエステルＢ層が平均粒径０．１ｄ
〜ｄの粒子を０．１〜１．５重量％含有するものからな
る。

【０００６】本発明フイルムを構成するポリエステルＡ
、Ｂは特に限定されないが、いずれも、結晶性である場
合に巻姿、出力特性がより一層良好となるのできわめて
望ましい。ここでいう結晶性とはいわゆる非晶質ではな
いことを示すものであり、定量的には示差走査熱量計の
測定で冷結晶化温度Ｔｃｃが検出され、かつ結晶化パラ
メータΔＴｃｇが１５０℃以下のものである。さらに、
示差走査熱量計で測定された融解熱（融解エンタルピー
変化）が、７．５ｃａｌ／ｇ　以上の結晶性を示す場合
に巻姿、出力特性がより一層良好となるのできわめて望
ましい。なお、本発明を阻害しない範囲内で、２種以上
のポリエステルを混合しても良いし、共重合ポリマを用
いても良い。具体的には、エチレンテレフタレート、エ
チレンα，β−ビス（２−クロルフェノキシ）エタン−
４，４’−ジカルボキシレート、エチレン２，６−ナフ
タレート単位等から選ばれた少なくとも一種の構造単位
を主要構成成分とする場合に巻姿、出力特性がより一層
良好となるので望ましい。また、本発明を構成するポリ
エステルＡとＢは同じでも異なっていてもよい。

【０００７】本発明のポリエステルＡ、Ｂ層には、本発
明の目的を阻害しない範囲内で、他種ポリマをブレンド
してもよいし、また帯電防止剤、導電剤、酸化防止剤、
熱安定剤、滑剤、紫外線吸収剤などの有機添加剤が通常
添加される程度添加されていてもよい。

【０００８】本発明のポリエステルＡ層中の粒子は、粒
径比（粒子の長径／短径）が１．０〜１．３の粒子、特
に、球形状の粒子の場合に出力特性がより一層良好とな
るので望ましい。

【０００９】また、本発明のポリエステルＡ中の不活性
粒子は相対標準偏差が０．６以下、好ましくは０．５以
下の場合に巻姿、出力特性がより一層良好となるので望
ましい。

【００１０】ポリエステルＡ中の粒子の種類は特に限定
されないが、上記の好ましい粒子特性を満足するにはア
ルミナ珪酸塩、１次粒子が凝集した状態のシリカ、内部
析出粒子などは好ましくなく、コロイダルシリカに起因
する実質的に球形のシリカ粒子、架橋高分子による粒子
（たとえば架橋ポリスチレンや架橋ジビニルベンゼン）
などがあげられる。しかしながら、その他の粒子、例え
ば炭酸カルシウム、二酸化チタン、アルミナ等の粒子で
も、フイルム厚さと平均粒径の適切なコントロールによ
り十分使いこなせるものである。

【００１１】ポリエステルＡ層中の粒子の大きさは、特
に限定されないが、平均粒径ｄが０．０３〜１．５μｍ
、特に０．０３〜１μｍの場合に巻姿、出力特性がより
一層良好となるので望ましい。

【００１２】ポリエステルＢ層中の粒子の大きさは、上
記Ａ層中の粒子の平均粒径をｄとした時、０．１ｄ〜２
ｄの範囲であることが必要で、好ましくは０．１ｄ〜ｄ
の範囲である。ポリエステルＢ層中の粒子の大きさが上
記の範囲より小さくても、逆に大きくても両面の滑り性
が大きく異なりすぎる（摩擦係数の差が大きくなりすぎ
る）ために巻姿が不良となるので好ましくない。

【００１３】ポリエステルＡ中の粒子の含有量は２〜２
０重量％であることが必要であり、好ましくは３〜１５
重量％、さらに好ましくは４〜１０重量％である。粒子
の含有量が上記の範囲より少ないと巻姿が不良となり、
逆に多いと出力特性が不良となるので好ましくない。

【００１４】ポリエステルＢ中の粒子の含有量は０．１
〜１．５重量％であることが必要であり、好ましくは０
．２〜１重量％である。粒子の含有量が上記の範囲より
少なくても、逆に多くても巻姿が不良となるので好まし
くない。

【００１５】本発明のフイルムは、上記ポリエステルＡ
組成物を、ポリエステルＢ組成物の少なくとも片面に積
層してなる二軸配向ポリエステルフイルムである。一軸
あるいは無配向フイルムでは出力特性が不良となるので
好ましくない。この配向の程度は特に限定されないが、
高分子の分子配向の程度の目安であるヤング率が長手方
向、幅方向ともに３５０ｋｇ／ｍｍ　２　以上である場
合に出力特性がより一層良好となるのできわめて望まし
い。分子配向の程度の目安であるヤング率の上限は特に
限定されないが、通常、２０００ｋｇ／ｍｍ　２　程度
が製造上の限界である。

【００１６】また、本発明フイルムは、ポリエステルＡ
層のポリマ分子の配向が無配向、あるいは、製膜工程中
に塗布工程を設けたいわゆる塗布延伸法で得られるフイ
ルムのように一軸配向になっていない、すなわち、厚さ
方向の全部分の分子配向が二軸配向である場合に巻姿が
より一層良好となるので特に望ましい。

【００１７】さらにポリエステルＡが結晶性ポリエステ
ルであり、その表面の全反射ラマン結晶化指数が２０ｃ
ｍ−１以下、好ましくは１８ｃｍ−１以下、さらに１７
ｃｍ−１以下の場合に巻姿がより一層良好となるのでき
わめて望ましい。

【００１８】また、本発明におけるフイルムのポリエス
テルＡ層の積層厚さｔとＡ層中に含有される粒子の平均
粒径ｄの比ｔ／ｄは、０．１〜２．５の範囲にある必要
があり、好ましくは０．２〜２、さらに好ましくは０．
３〜０．９の範囲である。ｔ／ｄが上記の範囲より大き
いと出力特性が不良となり、逆に小さいと巻姿が不良と
なるので好ましくない。

【００１９】本発明フイルムにおいては、ポリエステル
Ａ層の積層厚さは特に限定されないが、０．０１〜２μ
ｍ、好ましくは０．０３〜１．５μｍ、さらに好ましく
は０．０４〜０．５μｍの場合に巻姿、出力特性がより
一層良好となるので望ましい。

【００２０】本発明フイルムは、ポリエステルＡ層の表
面粗さＳＲａが１０〜６０ｎｍ、特に１５〜５０ｎｍ、
Ｂ層の表面粗さＳＲａが１〜２０ｎｍ、特に３〜１５ｎ
ｍの範囲である場合に、出力特性、巻姿がより一層良好
となるので望ましい。

【００２１】本発明フイルムは、ポリエステルＡ層の表
面突起高さがＡ層中に含有する粒子の平均粒径の１／３
以上、特に１／３．５以上である場合に出力特性、巻姿
がより一層良好となるのできわめて望ましい。

【００２２】また本発明フイルムは、ポリエステルＡ層
の表面突起の平均高さが２０〜８００ｎｍ、特に、３０
〜６００ｎｍの範囲である場合に巻姿、出力特性がより
一層良好となるのできわめて望ましい。

【００２３】本発明フイルムのポリエステルＡのフイル
ムの２次イオンマススペクトルによって測定される表層
粒子濃度比は特に限定されないが、ポリエステルＡ面の
表層粒子濃度比が１／１０以下、特に１／５０以下であ
る場合に帯電が一層起こりにくく巻姿がより一層良好と
なるので特に望ましい。

【００２４】次に本発明フイルムの製造方法について説
明する。まず、ポリエステルＡまたはＢに粒子を含有せ
しめる方法としては、ポリエステルの重合工程で粒子を
含有せしめる方法、粒子を実質的に含有しないポリエス
テルをあらかじめ重合しておき、そこにベント式二軸混
練機等を用いて粒子を練り込む方法等特に限定されない
が、粒子を用いるポリエステルのジオール成分のスラリ
ーの形で分散せしめて添加した後重合するのが本発明フ
イルムを延伸破れなく工業的に製造するのに有効である
。

【００２５】かくして、粒子を含有するポリエステルＡ
のペレットを、必要に応じて、実質的に粒子を含有しな
いポリエステルＡで希釈し、乾燥したのち、公知の溶融
押出機１に供給し、所定量の粒子含有量となるよう調製
したポリエステルＢ（Ａ、Ｂは同種、異種どちらでもよ
い）を押出機２に供給し、２層のマニホールドまたは合
流ブロックを用いて、ポリエステルＡをポリエステルＢ
の片面に積層し、スリット状の口金から２層のシートを
押し出し、キャスティングロールで冷却して未延伸フイ
ルムを作る。この場合、合流断面が矩形の合流ブロック
を用いて積層する方法が、ポリエステルＡ層の厚さをフ
イルム幅方向に均一にし、本発明範囲のｔ／ｄのフイル
ムを延伸破れなく、安定して製造するのに有効である。

【００２６】次にこの未延伸フイルムを二軸延伸し、二
軸配向せしめる。延伸方法としては、逐次二軸延伸法ま
たは同時二軸延伸法を用いることができる。ただし、最
初に長手方向、次に幅方向の延伸を行なう逐次二軸延伸
法を用い、長手方向の延伸を２段階以上に分けて、総縦
延伸倍率を３．５〜６．５倍で行なう方法は延伸破れな
く、本発明範囲のポリエステルＡ層の厚さとその中の粒
子の平均粒径の関係、含有量、望ましい範囲の配向状態
、表層粒子濃度比のフイルムを得るのに有効である。 長手方向延伸温度はポリエステルの種類によって異なり
一概には言えないが、通常、その１段目を５０〜１３０
℃の範囲が、本発明範囲の厚さと平均粒径の関係、含有
量、望ましい範囲の配向状態、平均突起高さ、表層粒子
濃度比のフイルムを得るのに有効である。長手方向延伸
速度は、５０００〜５００００％／分の範囲が好適であ
る。幅方向の延伸方法としてはステンタを用いる方法が
一般的であり、延伸倍率は、３．０〜５．０倍の範囲が
適当である。幅方向の延伸速度は、１０００〜２０００
０％／分、温度は８０〜１６０℃の範囲が好適である。 また、一旦二軸延伸されたフイルムを少なくとも一方向
にさらに延伸しても良い。次にこの延伸フイルムを熱処
理する。この場合の熱処理温度は１７０〜２００℃、特
に１７０〜１９０℃、時間は０．５〜６０秒の範囲が好
適である。

【００２７】［物性の測定方法ならびに効果の評価方法
］本発明の特性値の測定方法並びに効果の評価方法は次
の通りである。 （１）粒子の平均粒径 フイルムからポリエステルをプラズマ低温灰化処理法（
たとえばヤマト科学製ＰＲ−５０３型）で除去し粒子を
露出させる。処理条件はポリエステルは灰化されるが粒
子はダメージを受けない条件を選択する。これをＳＥＭ
（走査型電子顕微鏡）で観察し、粒子の画像（粒子によ
ってできる光の濃淡）をイメージアナライザー（たとえ
ばケンブリッジインストルメント製ＱＴＭ９００）に結
び付け、観察箇所を替えて粒子数５０００個以上で次の
数値処理を行ない、それによって求めた数平均径Ｄを平
均粒径とする。 Ｄ＝ΣＤｉ　／Ｎ ここでＤｉ　は粒子の円相当径、Ｎは個数である。

【００２８】（２）粒子の含有量 ポリエステルは溶解し粒子は溶解させない溶媒を選択し
、粒子をポリエステルから遠心分離し、粒子の全体重量
に対する比率（重量％）をもって粒子含有量とする。 場合によっては赤外分光法の併用も有効である。

【００２９】（３）結晶化パラメータΔＴｃｇ、融解熱
パーキンエルマー社製のＤＳＣ（示差走査熱量計）ＩＩ
型を用いて測定した。ＤＳＣの測定条件は次の通りであ
る。すなわち、試料１０ｍｇをＤＳＣ装置にセットし、
３００℃の温度で５分間溶融した後、液体窒素中で急冷
する。この急冷試料を１０℃／分で昇温し、ガラス転移
点Ｔｇを検知する。さらに昇温を続け、ガラス状態から
の結晶化発熱ピーク温度をもって冷結晶化温度Ｔｃｃと
した。さらに昇温を続け、融解ピークから融解熱を求め
た。ここでＴｃｃとＴｇの差（Ｔｃｃ−Ｔｇ）を結晶化
パラメータΔＴｃｇと定義する。

【００３０】（４）表面の分子配向（屈折率）ナトリウ
ムＤ線（５８９ｎｍ）を光源として、アッペ屈折率計を
用いて測定した。マウント液にはヨウ化メチレンを用い
、２５℃、６５％ＲＨにて測定した。ポリマの二軸配向
性は長手方向、幅方向、厚さ方向の屈折率をＮ１　、Ｎ
２　、Ｎ３　とした時、（Ｎ１　−Ｎ２　）の絶対値が
０．０７以下、かつ、Ｎ３　／［（Ｎ１　＋Ｎ２　）／
２］が０．９５以下であることをひとつの基準とできる
。また、レーザー型屈折率計を用いて屈折率を測定して
もよい。さらに、この方法では測定が難しい場合は全反
射レーザーラマン法を用いることもできる。レーザー全
反射ラマンの測定は、Ｊｏｂｉｎ−Ｙｖｏｎ社製Ｒａｍ
ａｎｏｒ　Ｕ−１０００ラマンシステムにより、全反射
ラマンスペクトルを測定し、例えばＰＥＴの場合では、
１６１５ｃｍ−１（ベンゼン環の骨格振動）と１７３０
ｃｍ−１（カルボニル基の伸縮振動）のバンド強度比の
偏光測定比（ＹＹ／ＸＸ比など。 ここでＹＹ：レーザーの偏光方向をＹにしてＹに対して
平行なラマン光検出、ＸＸ：レーザーの偏光方向をＸに
してＸに対して平行なラマン光検出）が分子配向と対応
することを利用できる。ポリマの二軸配向性はラマン測
定から得られたパラメータを長手方向、幅方向の屈折率
に換算して、その絶対値、差などから判定できる。この
場合の測定条件は次の通りである。 ■光源 アルゴンイオンレーザー（５１４５Ａ）■試料のセッテ
ィング フイルム表面を全反射プリズムに圧着させ、レーザのプ
リズムへの入射角（フイルム厚さ方向との角度）は６０
℃とした。 ■検出器 ＰＭ：ＲＣＡ３１０３４／Ｐｈｏｔｏｎ　Ｃｏｕｎｔｉ
ｎｇ　Ｓｙｓｔｅｍ（Ｈａｍａｍａｔｓｕ　Ｃ１２３０
）（ｓｕｐｐｌｙ　１６００Ｖ）■測定条件 スリット　　　　　　　　　　　　　　　　　　１００
０μｍレーザー　　　　　　　　　　　　　　　　　　
１００ｍＷゲート時間　　　　　　　　　　　　　　　
　１．０ｓｅｃ　スキャン速度　　　　　　　　　　　
　　　１２ｃｍ−１／ｍｉｎサンプリングインターバル
　　０．２ｃｍ−１繰り返し回数　　　　　　　　　　
　　　　６

【００３１】（５）全反射ラマン結晶化指数
Ｊｏｂｉｎ−Ｙｖｏｎ社製Ｒａｍａｎｏｒ　Ｕ−１００
０ラマンシステムにより、全反射ラマンスペクトルを測
定し、カルボニル基の伸縮振動である１７３０ｃｍ−１
の半価幅をもって表面の全反射ラマン結晶化指数とした
。測定条件は次の通りである。測定深さは、表面から５
００〜１０００オングストローム程度である。 ■光源 アルゴンイオンレーザー（５１４５Ａ）■試料のセッテ
ィング レーザーの偏光方向（Ｓ偏光）とフイルム長手方向が平
行となるようにフイルム表面を全反射プリズムに圧着さ
せ、レーザのプリズムへの入射角（フイルム厚さ方向と
の角度）は６０℃とした。 ■検出器 ＰＭ：ＲＣＡ３１０３４／Ｐｈｏｔｏｎ　Ｃｏｕｎｔｉ
ｎｇ　Ｓｙｓｔｅｍ（Ｈａｍａｍａｔｓｕ　Ｃ１２３０
）（ｓｕｐｐｌｙ　１６００Ｖ）■測定条件 スリット　　　　　　　　　　　　　　　　　　１００
０μｍレーザー　　　　　　　　　　　　　　　　　　
１００ｍＷゲート時間　　　　　　　　　　　　　　　
　１．０ｓｅｃ　スキャン速度　　　　　　　　　　　
　　　１２ｃｍ−１／ｍｉｎサンプリングインターバル
　　０．２ｃｍ−１繰り返し回数　　　　　　　　　　
　　　　６

【００３２】（６）表面突起の平均高さ２検
出器方式の走査型電子顕微鏡［ＥＳＭ−３２００、エリ
オニクス（株）製］と断面測定装置［ＰＭＳ−１、エリ
オニクス（株）製］においてフイルム表面の平坦面の高
さを０として走査した時の突起の高さ測定値を画像処理
装置［ＩＢＡＳ２０００、カールツァイス（株）製］に
送り、画像処理装置上にフイルム表面突起画像を再構築
する。次に、この表面突起画像で突起部分を２値化して
得られた個々の突起の面積から円相当径を求めこれをそ
の突起の平均径とする。また、この２値化された個々の
突起部分の中で最も高い値をその突起の高さとし、これ
を個々の突起について求める。この測定を場所をかえて
５００回繰り返し、突起個数を求め、測定された全突起
についてその高さの平均値を平均高さとした。 また個々の突起の高さデータをもとに、高さ分布の標準
偏差を求めた。また走査型電子顕微鏡の倍率は、１００
０〜８０００倍の間の値を選択する。なお、場合によっ
ては、高精度光干渉式３次元表面解析装置（ＷＹＫＯ社
製ＴＯＰＯ−３Ｄ、対物レンズ：４０〜２００倍、高解
像度カメラ使用が有効）を用いて得られる高さ情報を上
記ＳＥＭの値に読み替えて用いてもよい。

【００３３】（７）平均表面粗さＳＲａ小坂研究所製の
高精度薄膜段差測定器ＥＴ−１０ＨＫを用いて測定した
。条件は下記の通りであり、５回の測定の平均値をもっ
て値とした。 ・触針先端半径：２μｍ ・触針荷重　　　　：４ｍｇ ・測定長　　　　　　：０．５ｍｍ ・カットオフ値：０．２５ｍｍ ・送りピッチ　　：０．５μｍ ・本数　　　　　　　　：８０本

【００３４】（８）ヤング率 ＪＩＳ−Ｚ−１７０２に規定された方法にしたがって、
インストロンタイプの引っ張り試験機を用いて、２５℃
、６５％ＲＨにて測定した。

【００３５】（９）表層粒子濃度比 ２次イオンマススペクトル（ＳＩＭＳ）を用いて、フイ
ルム中の粒子に起因する元素の内のもっとも高濃度の元
素とポリエステルの炭素元素の濃度比を粒子濃度とし、
厚さ方向の分析を行なう。ＳＩＭＳによって測定される
最表層粒子濃度（深さ０の点）における粒子濃度Ａとさ
らに深さ方向の分析を続けて得られる最高濃度Ｂの比、
Ａ／Ｂを表層濃度比と定義した。測定装置、条件は下記
の通りである。測定装置、条件は下記の通りである。 ■測定装置 ２次イオン質量分析装置（ＳＩＭＳ） 西独、ＡＴＯＭＩＫＡ　社製　　Ａ−ＤＩＤＡ３０００
■測定条件 １次イオン種　　：Ｏ２　＋　 １次イオン加速電圧：１２ＫＶ １次イオン電流：２００ｎＡ ラスター領域　　：４００μｍ□ 分析領域　　　　　　：ゲート３０％ 測定真空度　　　　：６．０×１０−９ＴｏｒｒＥ−Ｇ
ＵＮ　　　　：０．５ＫＶ−３．０Ａ

【００３６】（１
０）ポリエステルＡ層の積層厚さ２次イオン質量分析装
置（ＳＩＭＳ）を用いて、表層から深さ３０００ｎｍの
範囲のフイルム中の粒子の内もっとも高濃度の粒子に起
因する元素とポリエステルの炭素元素の濃度比（Ｍ＋　
／Ｃ＋　）を粒子濃度とし、表面から深さ３０００ｎｍ
まで厚さ方向の分析を行なう。表層では表面という界面
のために粒子濃度は低く表面から遠ざかるにつれて粒子
濃度は高くなる。本発明フイルムの場合は一旦極大値と
なった粒子濃度がまた減少し始める。この濃度分布曲線
をもとに表層粒子濃度が極大値の１／２となる深さ（こ
の深さは極大値となる深さよりも深い）を求め、これを
積層厚さとした。条件は次の通り。 ■測定装置 ２次イオン質量分析装置（ＳＩＭＳ） 西独、ＡＴＯＭＩＫＡ　社製　　Ａ−ＤＩＤＡ３０００
■測定条件 １次イオン種　　：Ｏ２　＋　 １次イオン加速電圧：１２ＫＶ １次イオン電流：２００ｎＡ ラスター領域　　：４００μｍ□ 分析領域　　　　　　：ゲート３０％ 測定真空度　　　　：５．０×１０−９ＴｏｒｒＥ−Ｇ
ＵＮ　　　　：０．５ＫＶ−３．０Ａなお、表層から深
さ３０００ｎｍの範囲にもっとも多く含有する粒子が有
機高分子粒子の場合はＳＩＭＳでは測定が難しいので、
表面からエッチングしながらＸＰＳ（Ｘ線光電子分光法
）、ＩＲ（赤外分光法）などで上記同様のデプスプロフ
ァイルを測定し積層厚さを求めても良いし、また、電子
顕微鏡等による断面観察で粒子濃度の変化状態やコント
ラストの差から界面を認識し積層厚さを求めることもで
きる。

【００３７】（１１）粒径比 上記（１）の測定において個々の粒子の長径の平均値／
短径の平均値の比である。すなわち、下式で求められる
。 長径＝ΣＤ１ｉ　／Ｎ 短径＝ΣＤ２ｉ　／Ｎ Ｄ１ｉ　、Ｄ２ｉ　はそれぞれ個々の粒子の長径（最大
径）、短径（最短径）、Ｎは総個数である。

【００３８】（１２）粒径の相対標準偏差上記（１）の
方法で測定された個々の突起径Ｄｉ　、平均径Ｄ、粒子
総数Ｎから計算される標準偏差σ［＝√〔Σ（Ｄｉ　−
Ｄ）２　／Ｎ〕］を平均径Ｄで割った値（σ／Ｄ）で表
した。

【００３９】（１３）巻姿 規定長さに巻き上げたフイルムロールを５０℃、８０％
ＲＨの雰囲気に１週間放置した後に、肉眼で縦シワの程
度をチェックする（フイルムを巻出した状態でもシワ跡
が見える場合が縦シワ不良のロールである）。フイルム
ロール１００本について上記の検査を行ない、縦シワ発
生の本数が３本未満を巻姿良好、３本以上の場合を不良
とした。

【００４０】（１４）出力特性 フイルムに下記組成の磁性塗料をグラビヤロールにより
塗布し、磁気配向させ、乾燥させる。さらに、小型テス
トカレンダー装置（スチールロール／ナイロンロール、
５段）で、温度：７０℃、線圧：２００ｋｇ／ｃｍ　で
カレンダー処理した後、７０℃、４８時間キュアリング
する。 上記テープ原反を８ｍｍにスリットし、パンケーキを作
成した。このパンケーキから長さ５０ｍの長さを８ｍｍ
ＶＴＲカセットに組み込みＶＴＲカセットテープとした
。 （磁性塗料の組成） ・Ｆｅ　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　１００部平均粒子サイズ　　長さ　　：０
．３μｍ針状比：１０／１ 抗磁力　　　　　　　　　　２０００　　Ｏｅ・ポリウ
レタン樹脂　　　　　　　　　　　　　　　　　　１５
部・塩化ビニル・酢酸ビニル共重合体　　　　　　５部
・ニトロセルロール樹脂　　　　　　　　　　　　　　
　　５部・酸化アルミ粉末　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　　　３部平均粒径　　　　　　　　　　
　　　　　　：０．３μｍ・カーボンブラック　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　１部・レシチン　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　２部・メチルエチルケトン　　　　　　　　　　　　
　　１００部・メチルイソブチルケトン　　　　　　　
　　　１００部・トルエン　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　１００部・ステアリン酸　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　２部この
テープに家庭用Ｈｉ８用ＶＴＲを用いてシバソク製のテ
レビ試験波形発生器（ＴＧ７／Ｕ７０６）により１００
％クロマ信号を記録し、その再生信号からシバソク製カ
ラービデオノイズ測定器（９２５Ｄ／１）でクロマＳ／
Ｎを測定した。このクロマＳ／Ｎを０．２μｍ径の球形
シリカを０．４重量％含有する単層のポリエステルフイ
ルムを基材に用いて作ったテープと比較し、２ｄＢ以上
高い場合は出力特性良好、２ｄＢ未満は出力特性不良と
判定した。

【００４１】

【実施例】本発明を実施例に基づいて説明する。 実施例１〜５、比較例１〜８ 粒径の異なるいくつかの種類の粒子をエチレングリコー
ルにスラリーの形で分散せしめ、テレフタル酸ジメチル
とエステル交換反応後、重縮合し、該粒子を所定量含有
するポリエチレンテレフタレート（以下ＰＥＴと略記す
る）のチップを作った（ポリエステルＡ）。

【００４２】また、上記と同様にして粒径の異なるいく
つかの種類の粒子をエチレングリコールにスラリーの形
で分散せしめ、テレフタル酸ジメチルとエステル交換反
応後、重縮合し、該粒子を所定量含有するポリエチレン
テレフタレート（以下ＰＥＴと略記する）のチップを作
った（ポリエステルＢ）。

【００４３】これらのポリマをそれぞれ１８０℃で３時
間減圧乾燥（３Ｔｏｒｒ）した後、それぞれ２台の押出
器に供給し、２９０℃で溶融し、これらのポリマを、２
層用の矩形の合流ブロック（フィードブロック）で合流
積層し、静電印加キャスト法を用いて表面温度３０℃の
キャスティング・ドラムに巻きつけて冷却固化し、２層
構造の未延伸フイルムを作った。この時、それぞれの押
出機の吐出量を調節し総厚さ、ポリエステルＡ層の厚さ
を調節した。この未延伸フイルムを温度８０℃にて長手
方向に４．５倍延伸した。この延伸は２組のロールの周
速差で行なった。この一軸延伸フイルムをステンタを用
いて延伸速度２０００％／分で１００℃で幅方向に４．
０倍延伸し、定長下で、１４０℃にて５秒間熱処理し、
さらに縦方向に１．６倍延伸した後、２００℃で５秒間
熱処理して、総厚さ７．５μｍの二軸配向積層ポリエス
テルフイルムを得た。これらのフイルムの本発明のパラ
メータは表１に示したとおりであり、本発明のパラメー
タが範囲内の場合は、巻姿、出力特性ともに優れたフイ
ルムであるが、そうでない場合は目的を達し得ないこと
がわかる。

【００４４】

【表１】

【００４５】

【発明の効果】本発明は、粒子含有のポリエステルＡの
層厚さと平均粒径の関係、含有量を特定範囲とし、かつ
、ポリエステルＢの含有粒子、含有量を特定範囲として
Ｂ層側の面についても特定の面形態を形成できるように
したので、従来両立が難しいとされていた巻姿と出力特
性を高い次元で両立させたフイルムとすることができる
。

【００４６】この本発明フイルムの用途は特に限定され
ないが、巻姿が製品性能上特に問題となる磁気記録媒体
用ベースフイルムとして特に有用である。

【００４７】また、本発明のポリエステルＡ層は、製膜
工程内で、コーティングなどの操作なしで直接複合積層
によって作ったものであり、製膜工程中あるいはその後
のコーティングによって作られる積層フイルムに比べて
、強い突起構造となり、表面の耐摩耗性もはるかに優れ
、しかもコスト面、品質の安定性などにおいて有利であ
るものである。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　少なくとも１種類の粒子を２〜２０重
   量％含有するポリエステルＡをポリエステルＢの片面に
   積層してなる二軸配向フイルムであって、該ポリエステ
   ルＡ層の厚さｔとポリエステルＡ層に含有する粒子の平
   均粒径ｄの比ｔ／ｄが０．１〜２．５であり、かつ、該
   ポリエステルＢ層が平均粒径０．１ｄ〜２ｄの粒子を０
   ．１〜１．５重量％含有することを特徴とする二軸配向
   ポリエステルフイルム。
2. 【請求項２】　　前記ポリエステルＡ層の表面粗さＳＲ
   ａが１０〜６０ｎｍ、ポリエステルＢ層の表面粗さＳＲ
   ａが１〜２０ｎｍの範囲である請求項１の二軸配向ポリ
   エステルフイルム。