JPH04256400A - Ｉｃの搬送機構 - Google Patents
Ｉｃの搬送機構Info
- Publication number
- JPH04256400A JPH04256400A JP3017927A JP1792791A JPH04256400A JP H04256400 A JPH04256400 A JP H04256400A JP 3017927 A JP3017927 A JP 3017927A JP 1792791 A JP1792791 A JP 1792791A JP H04256400 A JPH04256400 A JP H04256400A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recess
- rod
- conveyed
- securing
- conveying mechanism
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 title abstract description 6
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＩＣの搬送機構に関し、
特にＩＣの自動電気的特性試験装置に用いる搬送機構に
関する。
特にＩＣの自動電気的特性試験装置に用いる搬送機構に
関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の搬送機構は、図２の上面図（図（
ａ））及びそのＢ−Ｂ断面図（図（ｂ））に示すとうり
、ＩＣの外部リードフレームを保持し、前進後退および
上下動作を行なう可動竿部１（平行する２本の竿部１ａ
及び１ｂからなる）と、可動竿部１により搬送されたＩ
Ｃ５のパッケージと外部リードフレームとをガイドし、
ＩＣ５を凹部にセットする固定竿部２とを有している。
ａ））及びそのＢ−Ｂ断面図（図（ｂ））に示すとうり
、ＩＣの外部リードフレームを保持し、前進後退および
上下動作を行なう可動竿部１（平行する２本の竿部１ａ
及び１ｂからなる）と、可動竿部１により搬送されたＩ
Ｃ５のパッケージと外部リードフレームとをガイドし、
ＩＣ５を凹部にセットする固定竿部２とを有している。
【０００３】次にその動作を図３を用いて説明する。同
図（ａ）〜（ｅ）はその行程図である。図（ａ）におい
て、ＩＣ５は固定竿部２のＡの位置にセットされている
。まず可動竿部１（なお図では１ａのみを表示している
）が上昇し、それとともにＩＣ５は外部リードフレーム
が可動竿部１に保持されて上昇し、図（ｂ）の状態とな
る。次いで可動竿部１が前進し、ＩＣ５は固定竿部２の
次の凹部上に移送され、図（ｃ）の状態となる。次いで
可動竿部１が下降し、ＩＣ５は固定竿部２の凹部にセッ
トされ、図（ｄ）の状態となる。次いで可動竿部１が後
退し、ＩＣ５の図（ｅ）のＢの位置への搬送が完了する
。そして可動竿部１は上昇し、図（ａ）の位置に戻る。 このように、図３（ａ）〜（ｅ）のサイクルを繰り返す
ことにより、複数のＩＣを同時に順次搬送して行く。
図（ａ）〜（ｅ）はその行程図である。図（ａ）におい
て、ＩＣ５は固定竿部２のＡの位置にセットされている
。まず可動竿部１（なお図では１ａのみを表示している
）が上昇し、それとともにＩＣ５は外部リードフレーム
が可動竿部１に保持されて上昇し、図（ｂ）の状態とな
る。次いで可動竿部１が前進し、ＩＣ５は固定竿部２の
次の凹部上に移送され、図（ｃ）の状態となる。次いで
可動竿部１が下降し、ＩＣ５は固定竿部２の凹部にセッ
トされ、図（ｄ）の状態となる。次いで可動竿部１が後
退し、ＩＣ５の図（ｅ）のＢの位置への搬送が完了する
。そして可動竿部１は上昇し、図（ａ）の位置に戻る。 このように、図３（ａ）〜（ｅ）のサイクルを繰り返す
ことにより、複数のＩＣを同時に順次搬送して行く。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】この従来の搬送機構で
は、図３の（ｃ），（ｄ）行程に示すように、ＩＣ５を
可動竿部１上から固定竿部２の凹部へセットする際、可
動竿部１の前進および降下速度が速すぎると、ＩＣ５が
固定竿部２上でバウンドしたり、搬送途中で位置ずれを
起してしまうという問題点があった。
は、図３の（ｃ），（ｄ）行程に示すように、ＩＣ５を
可動竿部１上から固定竿部２の凹部へセットする際、可
動竿部１の前進および降下速度が速すぎると、ＩＣ５が
固定竿部２上でバウンドしたり、搬送途中で位置ずれを
起してしまうという問題点があった。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の搬送機構は、Ｉ
Ｃをセットする凹部を有する固定竿部と、この固定竿部
の両側に平行して設けられ連動して前進後退および上下
動を行なう可動竿部とを有し、固定竿部の凹部底面にＩ
Ｃ固定用の真空吸着穴を設けている。そして、この穴を
通じて弱圧により真空吸着を行なうようにし、搬送され
てきたＩＣのバウンド等を防止している。
Ｃをセットする凹部を有する固定竿部と、この固定竿部
の両側に平行して設けられ連動して前進後退および上下
動を行なう可動竿部とを有し、固定竿部の凹部底面にＩ
Ｃ固定用の真空吸着穴を設けている。そして、この穴を
通じて弱圧により真空吸着を行なうようにし、搬送され
てきたＩＣのバウンド等を防止している。
【０００６】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明する
。図１は本発明の一実施例を示す図で、同図（ａ）は上
面図、同図（ｂ）はそのＡ−Ａ断面図である。本実施例
は、ＩＣをセットする固定竿部２ａの凹部底面にＩＣ吸
着用穴３を設け、この穴にＩＣ吸着用ホース４を接続し
ている。そして、この固定竿部２ａの両側に、従来と同
様に連動して動く２本の可動竿部１（１ａ，１ｂ）を有
している。
。図１は本発明の一実施例を示す図で、同図（ａ）は上
面図、同図（ｂ）はそのＡ−Ａ断面図である。本実施例
は、ＩＣをセットする固定竿部２ａの凹部底面にＩＣ吸
着用穴３を設け、この穴にＩＣ吸着用ホース４を接続し
ている。そして、この固定竿部２ａの両側に、従来と同
様に連動して動く２本の可動竿部１（１ａ，１ｂ）を有
している。
【０００７】動作としては図３に示す通り、固定竿部１
が従来と同様、図（ａ）〜（ｅ）の順に動き、ＩＣ５を
図（ａ）のＡの位置から図（ｅ）のＢの位置へと移動さ
せる。その際、本実施例では、図１に示したようにＩＣ
吸着部を有しているため、固定竿部２ａにＩＣ５をセッ
トすると同時にＩＣ５を吸着固定するようになっている
。
が従来と同様、図（ａ）〜（ｅ）の順に動き、ＩＣ５を
図（ａ）のＡの位置から図（ｅ）のＢの位置へと移動さ
せる。その際、本実施例では、図１に示したようにＩＣ
吸着部を有しているため、固定竿部２ａにＩＣ５をセッ
トすると同時にＩＣ５を吸着固定するようになっている
。
【０００８】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、搬送機構
内でのＩＣの位置ずれを防止できるため、搬送後、ＩＣ
の位置精度を要求される特性試験装置には特に有効であ
る。また、特性試験装置の稼働率向上にも貢献すること
ができる。
内でのＩＣの位置ずれを防止できるため、搬送後、ＩＣ
の位置精度を要求される特性試験装置には特に有効であ
る。また、特性試験装置の稼働率向上にも貢献すること
ができる。
【図１】本発明の一実施例を示す図で、同図（ａ）は上
面図、同図（ｂ）はそのＡ−Ａ断面図である。
面図、同図（ｂ）はそのＡ−Ａ断面図である。
【図２】従来の搬送装置を示す図で、同図（ａ）は上面
図、同図（ｂ）はそのＢ−Ｂ断面図である。
図、同図（ｂ）はそのＢ−Ｂ断面図である。
【図３】従来の搬送装置の動作を示す図で、同図（ａ）
〜（ｅ）はその行程を示す断面図である。
〜（ｅ）はその行程を示す断面図である。
１，１ａ，１ｂ 可動竿部
２，２ａ 固定竿部
３ ＩＣ吸着用穴
４ ＩＣ吸着用ホース
５ ＩＣ
Claims (1)
- 【請求項１】 ＩＣをセットする凹部を有する固定竿
部と、この固定竿部の両側に平行して設けられ連動して
前進後退および上下動を行なう可動竿部とを有し、ＩＣ
を前記固定竿部の凹部から次の凹部へと搬送するＩＣの
搬送機構において、前記固定竿部の凹部底面にＩＣ固定
用の真空吸着穴を設けたことを特徴とするＩＣの搬送機
構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3017927A JPH04256400A (ja) | 1991-02-08 | 1991-02-08 | Ｉｃの搬送機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3017927A JPH04256400A (ja) | 1991-02-08 | 1991-02-08 | Ｉｃの搬送機構 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04256400A true JPH04256400A (ja) | 1992-09-11 |
Family
ID=11957409
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3017927A Pending JPH04256400A (ja) | 1991-02-08 | 1991-02-08 | Ｉｃの搬送機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04256400A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5588203A (en) * | 1995-02-28 | 1996-12-31 | Matsushita Communication Industrial Corporation Of America | Nozzle for a vacuum mounting head |
| KR100761310B1 (ko) * | 2006-02-01 | 2007-09-27 | (주)테크윙 | 테스트 핸들러용 소팅 테이블 장치 |
| CN103736666A (zh) * | 2013-12-27 | 2014-04-23 | 昆山迈致治具科技有限公司 | 一种双工位检测装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6212521A (ja) * | 1985-07-10 | 1987-01-21 | Hitachi Ltd | 物品の姿勢反転装置 |
| JPH01317000A (ja) * | 1988-06-16 | 1989-12-21 | Tdk Corp | 電子部品装着機 |
-
1991
- 1991-02-08 JP JP3017927A patent/JPH04256400A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6212521A (ja) * | 1985-07-10 | 1987-01-21 | Hitachi Ltd | 物品の姿勢反転装置 |
| JPH01317000A (ja) * | 1988-06-16 | 1989-12-21 | Tdk Corp | 電子部品装着機 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5588203A (en) * | 1995-02-28 | 1996-12-31 | Matsushita Communication Industrial Corporation Of America | Nozzle for a vacuum mounting head |
| KR100761310B1 (ko) * | 2006-02-01 | 2007-09-27 | (주)테크윙 | 테스트 핸들러용 소팅 테이블 장치 |
| CN103736666A (zh) * | 2013-12-27 | 2014-04-23 | 昆山迈致治具科技有限公司 | 一种双工位检测装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19970722 |