JPH04246847A - 半導体集積回路のパッケージ - Google Patents

半導体集積回路のパッケージ

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Publication number
JPH04246847A
JPH04246847A JP3011739A JP1173991A JPH04246847A JP H04246847 A JPH04246847 A JP H04246847A JP 3011739 A JP3011739 A JP 3011739A JP 1173991 A JP1173991 A JP 1173991A JP H04246847 A JPH04246847 A JP H04246847A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
base
cap
lead frame
integrated circuit
semiconductor integrated
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3011739A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Nishimura
浩 西村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Kyushu Ltd
Original Assignee
NEC Kyushu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Kyushu Ltd filed Critical NEC Kyushu Ltd
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Publication of JPH04246847A publication Critical patent/JPH04246847A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16195Flat cap [not enclosing an internal cavity]

Landscapes

  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体集積回路のパッケ
ージに関し、特に封止ガラスにより密閉されるパッケー
ジに関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のパッケージは、図3に示すように
、ベース1とリードフレーム3とキャップ2と封止ガラ
スにより構成されている。ベース1およびキャップ2の
封止ガラスにより嵌合される部分については、平坦とな
っていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】前述した従来のパッケ
ージは、封止時に封止ガラスが軟化するため、キャップ
2,ベース1およびリードフレーム3にずれが生じやす
く、歩留り低下となったり、また後工程においてもその
ずれのため設備の故障の原因となるという問題点があっ
た。
【0004】本発明の目的は、キャップ、ベース及びリ
ードフレームのずれを防止できる半導体集積回路のパッ
ケージを提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体集積回路
のパッケージは、半導体集積回路のベースとリードフレ
ームとキャップを封止ガラスにて密閉する半導体集積回
路のパッケージにおいて、前記ベースと前記キャップに
嵌合せしめる凹凸部を設け、前記リードフレームに前記
凹凸部に対応した穴部を有することを特徴とする。
【0006】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明する
。図1は、本発明の一実施例の縦断面図、図2は、本発
明のベース,キャップ,リードフレームの縦断面図であ
る。
【0007】図1に示すように、IC7はダイボンディ
ング材6によりベース1に嵌合され、またボンディング
ワイヤー8によりリードフレーム3に接続されている。
【0008】封止時において、図2に示すように、ベー
ス1とキャップ2とリードフレーム3は封止ガラス5に
より嵌合されるが、その時ベース1に設けられた凸部4
aとキャップ2に設けられた凹部4bおよび、穴部9に
よりベース1,キャップ2,リードフレーム3は位置決
めされ、ずれを防止することができる。
【0009】以上の例ではベースに凸部、キャップに凹
部を設けたが、ベースに凹部、キャップに凸部を設けて
も同様である。
【0010】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ベースと
キャップに凹凸部、リードフレームに穴部を有すること
により、3者のずれを極力低減でき、歩留り向上,設備
故障の低減という効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の縦断面図である。
【図2】本発明のベース,キャップ,リードフレームの
縦断面図である。
【図3】従来のベース,キャップ,リードフレームの縦
断面図である。
【符号の説明】
1    ベース 2    キャップ 3    リードフレーム 4    凹凸部 5    封止ガラス 6    ダイボンディング材 7    IC 8    ボンディングワイヤー 9    穴部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  半導体集積回路のベースとリードフレ
    ームとキャップを封止ガラスにて密閉する半導体集積回
    路のパッケージにおいて、前記ベースと前記キャップに
    嵌合せしめる凹凸部を設け、前記リードフレームに前記
    凹凸部に対応した穴部を有することを特徴とする半導体
    集積回路のパッケージ。
JP3011739A 1991-02-01 1991-02-01 半導体集積回路のパッケージ Pending JPH04246847A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6218730B1 (en) * 1999-01-06 2001-04-17 International Business Machines Corporation Apparatus for controlling thermal interface gap distance
US6875631B2 (en) * 2002-09-27 2005-04-05 Renesas Technology Corp. Semiconductor device and a method of manufacturing the same

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