JPH04193946A - スパッタリング装置 - Google Patents

スパッタリング装置

Info

Publication number
JPH04193946A
JPH04193946A JP32298690A JP32298690A JPH04193946A JP H04193946 A JPH04193946 A JP H04193946A JP 32298690 A JP32298690 A JP 32298690A JP 32298690 A JP32298690 A JP 32298690A JP H04193946 A JPH04193946 A JP H04193946A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
slit
opening
substrate
closing
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP32298690A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsuneo Ogawa
小川 恒雄
Katsuhiro Iwashita
岩下 克博
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP32298690A priority Critical patent/JPH04193946A/ja
Publication of JPH04193946A publication Critical patent/JPH04193946A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は計算機用LSIの終端抵抗を薄膜で形成する抵
抗膜形成用スパッタリング装置に関する。
〔従来の技術〕
スパッタリング装置(特開昭62−250173 )で
は、ターゲットからスパッタされた粒子が真空容器の壁
面に付着することにより壁面が汚染されるのを防止する
ために、一般に、カソード電極と基板電極との外周部に
防着板を設けている。
一方、スパッタリングの初期においては、ターゲット表
面の酸化物が基板に付着するのを防ぐために基板の表面
を覆い、ターゲット表面の酸化物がスパッタにより除去
された後基板表面の覆いを解除するための、シャッタ機
構が設けられている。
この基板表面の覆いを解除したシャッタは、基板から離
れた場所に退避するが、従来のスパッタリング装置では
、前記防着板が、この退避したシャッタも内包するよう
な構造をしていた。
従って、従来のスパッタリング装置では、防着板がター
ゲット及び基板に対して非対称な構造となるために、カ
ソード電極と基板電極の間に発生するプラズマには密度
の分布が生じ、特に、プラズマの密度分布の影響を受は
易い機能性薄膜を形成する場合には、基板上での膜特性
に不均一が生じ易かった。
〔発明が解決しようとする課題〕
防着板とシャッタ機構とを備えたスパッタリング装置に
おいて、膜特性が均一な機能性薄膜を形成するためには
、カソード電極と基板電極との間に発生させるプラズマ
に、特に、基板電極近傍での密度分布を生じさせないよ
うな、プラズマ発生手段を設けることが必要である。
〔課題を解決するための手段〕
上記課題を解決するために、防着板をカソード電極と基
板電極に対して対称な形状にし、かつ、シャッタを上記
防着板の外側に退避させるようにした。
そのために、上記対称な形状にした防着板にはシャッタ
が通過するためのスリットを設け、更に、前記スリット
部に開閉機構を備えて、シャ・ンタが退避した後スリッ
トを閉じる構造にした。
〔作用〕
防着板のスリット部に開閉機構を設けることにより、ス
リット部から防着板外部へのプラズマの拡散が防止でき
るようになり、カソード電極と基板電極に対して対称な
構造をした防着板内部にプラズマを閉じ込めることで制
御性が向上し、プラズマ密度分布の均一化が図れる。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を、第1図及び第2図により説
明する。
1は真空容器、2はカソード電極、3はターゲット、4
は真空容器1とカソード電極2とを絶縁する絶縁板、5
は基板電極、6は基板、7及び8はアースシールド、9
は円筒状の防着板でカソード電極2及び基板電極5と同
軸上に配置されている。10は防着板9に設けたスリッ
ト、11は開閉板、12は開閉板11の駆動軸、13は
モータであり、カップリング14により駆動軸12と結
合されている。駆動軸12の他端は、ハウジング15に
収納された軸受16により支持されている。17はシャ
ッタ、18はモータであり、カップリング19によりシ
ャッタ17と連結されている。20はシャッタ11が退
避するために真空容器1に設けた空間である。21は真
空容器1へのガス導入口、22はガス排気口、23はカ
ソード電極2に接続された電源である。
以上の構成において、まず、排気手段(図示せず)によ
りガス排気口22より真空容器1の内部を高真空に排気
した後、ガス導入口21よりガス(アルゴンガス:Ar
など)を導入して真空容器1の内部を所定の圧力に設定
する。
次に、電源23によりカソード電極2に電力を印加する
と、カソード電極2と基板電極5との間にグロー放電が
起こり、プラズマが発生してターゲット3の表面がスパ
ッタされる。
ここで、スパッタされる直前のターゲット表面は酸化物
で覆われていることが多く、この酸化物を基板上に堆積
させると、基板上に形成した薄膜の膜質を劣化させる可
能性があるため、第1図に示すように、スパッタリング
開始直後はシャッタ17でターゲット3の近くを覆い、
ターゲット3からスパッタされた粒子が基板6に付着す
るのを防止する。
一定の時間スパッタリングを続け、ターゲット3の表面
の酸化物の層が除去された後、モータ18によりカップ
リング19で接続されたシャッタ17を駆動し、シャッ
タ17を防着板9のスリット10を通って空間20に退
避させる。
次に、モータ13により、カップリング14で接続され
た駆動軸12を駆動して開閉板11を回転させ、図3に
示すように、防着板9のスリット10を閉じる。
この状態でターゲット3のスパッタリングを続けると、
基板6には所定の薄膜が形成される。
このとき、カソード電極2と基板電極5との間に発生し
たプラズマは防着板9の内部に閉じ込められるが、もし
、開閉板11が無く、スリット10が開いたままならば
、上記プラズマは、スリット10から防着板9の外部に
拡散し、防着板9の内部でのプラズマ密度には大きな分
布が生じ、基板6に形成される薄膜の膜質にも分布が生
じてしまう。
しかし、本発明のように、開閉板11を設け、スリット
10を閉じることにより、防着板9の外部へのプラズマ
の拡散を防ぐことが出来る。これにより、カソード電極
2及び基板電極5と同軸上に配置された防着板9の内部
において、プラズマ発生源であるカソード電極からの距
離を調節することにより、基板電極の近傍におけるプラ
ズマ密度分布を均一に維持することが出来、基板6上へ
の均質な薄膜の形成が可能になる。
以上に示した本発明の実施例では、カソード電極2に接
続する電源23を直流電源として説明したが、電源23
は高周波電源であっても同様の効果が得られる。
また、前記防着板9及び開閉板11の全面または一部分
を、金網またはメツシュ板で構成しても同様の効果が得
られる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、防着板のスリット部に開閉板を設けた
ことにより、防着板外部へのプラズマの拡散を防ぎ、防
着板内部で基板電極近傍のプラズマ密度の分布を均一化
できるようになり、基板上に均質な特性を持つ薄膜を形
成することが、可能になった。
更に、上記スリット部開閉板の駆動源を真空容器の外部
に設置し、開閉板駆動軸の他端を支持する軸受をハウシ
ング内に収納することにより、真空容器内部の可動部分
からの発塵を抑えることが出来、異物の少ない薄膜の形
成が可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示すスパッタリング装置でス
リット開閉板が開いてシャッタがターゲットを覆ってい
る状態を示す縦断面図、第2図は第1図と同じくスパッ
タリング装置でスリット開閉板が閉じた状態を示す縦断
面図、第3図は第2図のA−A断面図である。 符号の説明 2・・・ターゲット電極  3・・・ターゲット5・・
・基板電極     6・・・基板9・・・防着板  
    10・・・スリット11・・・開閉板    
  12・・・駆動軸13・・・モータ      1
7・・・シャッタ〒1霞 〒2図 i′5図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.真空排気した容器内で放電を発生させてカソード電
    極上のターゲットをスパッタして対向する基板電極上の
    基板に薄膜を形成するスパッタリング装置において、ス
    パッタリングの初期においてスパッタされた粒子が基板
    に付着するのを防止するためのシャッタ機構を有し、上
    記カソード電極と基板電極との外周には防着板を配置し
    、前記防着板には前記シャッタ機構の逃げ用のスリット
    が設けられている構造で、前記シャッタ機構の逃げ用の
    前記スリットを開閉する機構を有することを特徴とする
    スパッタリング装置。
  2. 2.前記スリットを開閉する機構が、前記真空排気した
    容器の外側(大気圧側)に駆動部を持つことを特徴とす
    る請求項第1項記載のスパッタリング装置。
  3. 3.前記スリットを開閉する機構のスリット開閉部が、
    金網またはメッシュ板で構成されていることを特徴とす
    る請求項第1項記載のスパッタリング装置。
  4. 4.前記防着板及び前記スリット開閉部が、全てまたは
    一部が金網またはメッシュ板で構成されていることを特
    徴とする請求項第1項記載のスパッタリング装置。
JP32298690A 1990-11-28 1990-11-28 スパッタリング装置 Pending JPH04193946A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32298690A JPH04193946A (ja) 1990-11-28 1990-11-28 スパッタリング装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32298690A JPH04193946A (ja) 1990-11-28 1990-11-28 スパッタリング装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04193946A true JPH04193946A (ja) 1992-07-14

Family

ID=18149869

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP32298690A Pending JPH04193946A (ja) 1990-11-28 1990-11-28 スパッタリング装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04193946A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5382339A (en) * 1993-09-17 1995-01-17 Applied Materials, Inc. Shield and collimator pasting deposition chamber with a side pocket for pasting the bottom of the collimator
US7682454B2 (en) * 2003-08-07 2010-03-23 Sundew Technologies, Llc Perimeter partition-valve with protected seals and associated small size process chambers and multiple chamber systems
CN102822378A (zh) * 2010-03-26 2012-12-12 佳能安内华股份有限公司 溅射设备和制造电子装置的方法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5382339A (en) * 1993-09-17 1995-01-17 Applied Materials, Inc. Shield and collimator pasting deposition chamber with a side pocket for pasting the bottom of the collimator
US7682454B2 (en) * 2003-08-07 2010-03-23 Sundew Technologies, Llc Perimeter partition-valve with protected seals and associated small size process chambers and multiple chamber systems
US8252116B2 (en) 2003-08-07 2012-08-28 Sundew Technologies, Llc Perimeter partition-valve with protected seals and associated small size process chambers and multiple chamber systems
CN102822378A (zh) * 2010-03-26 2012-12-12 佳能安内华股份有限公司 溅射设备和制造电子装置的方法
US20120325651A1 (en) * 2010-03-26 2012-12-27 Canon Anelva Corporation Sputtering apparatus and method of manufacturing electronic device
KR101387178B1 (ko) * 2010-03-26 2014-04-21 캐논 아네르바 가부시키가이샤 스퍼터링 장치 및 전자 디바이스의 제조 방법
KR101409617B1 (ko) * 2010-03-26 2014-06-18 캐논 아네르바 가부시키가이샤 스퍼터링 장치
US9322092B2 (en) 2010-03-26 2016-04-26 Canon Anelva Corporation Sputtering apparatus and method of manufacturing electronic device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9428828B2 (en) Film forming method, film forming apparatus and control unit for the film forming apparatus
US9322092B2 (en) Sputtering apparatus and method of manufacturing electronic device
JPH04193946A (ja) スパッタリング装置
JP3877230B2 (ja) スパッタリング装置
JP3033787B2 (ja) プラズマ処理装置
JP3034358B2 (ja) プラズマ処理装置
JPH0426760A (ja) スパッタリング装置
US6176980B1 (en) Sputtering method and apparatus
JPH0548363A (ja) 水晶振動子用連続成膜装置
JPH03107481A (ja) プラズマ処理装置
JP2001107229A (ja) 基板処理装置及びスパッタリング装置
JPH10110267A (ja) スパッタ装置及びコリメータ付着物の処理方法
JPH083741A (ja) スパッタ装置及びスパッタ方法
JP2744505B2 (ja) シリコンスパッタリング装置
JP2007131930A (ja) 反応性マグネトロンスパッタリング装置
JPH05339725A (ja) スパッタリング装置
JPS63247361A (ja) スパツタリング装置
JPH04187765A (ja) マグネトロンスパッタ装置の防着板
JPS61235558A (ja) スパツタリング装置
JPH0963960A (ja) スパッタリングによる薄膜形成方法及びその装置
JP3415212B2 (ja) スパッタ成膜装置
JPS62298444A (ja) プラズマ処理装置
JP2002367969A (ja) プラズマ処理方法及び装置
JPH0949075A (ja) スパッタ装置
JP2579588Y2 (ja) スパッタリング装置