JPH04182705A - 数値制御工作機械の工具軌跡の部分描画方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、数値制御工作機械用加工プログラムによって
決定される工具軌跡をＣＲＴ画面に描画する方法に関す
る。

［従来の技術］ 従来は、加工プログラムの実行の度に各ブロックを逐次
解析描画する１ブロック解析描画による方法であった。

〔発明が解決しようとする課Ｈ］ ところがこの方法によると、ｌブロック分の解析データ
しかメモリーに保持していないため、同じ加工プログラ
ムを実行して再び描画しようとすると、加工プログラム
の全ブロックについて再び１ブロック解析描画をしなけ
ればならないため実行時間が長くなるという欠点があっ
た。

本発明は上記欠点を解決することを目的とするものであ
る。

［課題を解決するための手段］ 本発明による描画方法は、加工プログラムの指定された
範囲の解析結果を保持し、その範囲の描画（以下、部分
描画という）を行うときは保持された解析結果を利用す
ることにより、指定された範囲については同じ解析を省
略するようにしだものである。

さらに詳しく言えば、数値制御工作機械相加ニブ−ログ
ラムを逐次解析し、工具軌跡をＣＲＴ画面に描く描画方
法において、加工プログラムを逐次解析する際、加工プ
ログラムの複数ブロックからなる指定された部分の解析
データを部分描画メモリに保持しておき、再び前記加工
プログラムを逐次解析するときは、加工プログラムを１
ブロックずつ取り出す毎に前記指定された部分か否かを
判定し、指定された部分でない場合は１ブロック分の画
像解析を行って描画し、指定された部分である場合は前
記部分描画メモリの解析データを用いて描画するように
したものである。

［実施例］ 図１は本発明による描画方法を実現するた緬の装置主要
部のブロック図である。

加工プログラムはキーボード１、あるいはテープリーダ
２によって入力され、プログラム格納メモリ４に保持さ
れる。

描画を行う際に加工プログラム解析部５は加工プログラ
ム格納メモリ４より加工プログラムを１ブロックずつ取
り出して解析する。解析結果は工具軌跡座標発生部６に
渡され、次にＣＲＴ軌跡軌跡座標発生部上りＣＲＴ上の
座標に変換されＣＲＴ画面に軌跡の表示が行われる。た
だし解析結果を保持する指定があるときは、その解析結
果は解析結果保持メモリ３に保持され、次回に加工プロ
グラムを実行するとき、指定された同じブロックを描画
するとき、保持した解析結果は工具軌跡座標発生部６に
渡される。

図２は本発明の実施例の処理流れ図である。

オペレータはあらかじめ、加工プログラム格納メモリ内
のプログラムに対して部分描画の開始ブロックと終了ブ
ロックを指定しておく。例えば、加工プログラムでない
特殊文字等を開始ブロックと終了ブロックの前に挿入す
る。

以下処理流れ図にもとづいて作用を説明する。

■で加工プログラム格納メモリから加工プログラムを１
ブロック取り出す。■で描画終了マークがなければ、■
の処理へ行き、前記挿入された特殊文字の有無で部分描
画ブロックかどうか判別する。

このとき解析結果が保持メモリにあるかないかを示すフ
ラグを用意しておく。フラグをみて解析結果があれば■
へ、なければ■へ進む。■に進んだときは１ブロック解
析を行う。■で部分描画すべきブロックかどうか判別し
たときに、解析結果保持を要求するフラグを用意してお
けば、■でそれをもとに判別を行い、保持要求があると
きは■に進んで解析結果を解析結果保持メモリに転送す
る。

このとき解析結果ありを示すフラグをたてておく。

保持要求がなければそのまま■へ進み、ＣＲＴ上に工具
軌跡の描画を行う。１ブロックの描画が終了すればまた
■にもどり次ブロックの処理へ進む。

先に描画したプログラムを再び描画するときは■の判別
で■へ進み解析結果を解析結果保持メモリから取り出し
、解析■を通らずに■へ進んで描画を行うことができる
。

［発明の効果コ 、以上説明したように、従来の逐次解析描画方法すなわ
ちｌブロック解析描画方法は１ブロック分の解析結果し
か保持しないため、いくらでも長いプログラムの描画が
できるという長所があるが、同じプログラムの再描画に
対しては毎回同じ解析時間がかかる欠点がある。他方、
解析結果を全て格納しておき再描画しようとすると、同
じプログラムの再描画に対しては高速に描画できるが、
保持メモリの容量によって描画できるプログラムの長さ
が制限される。

本発明による部分描画方法は、部分描画の指定がある複
数ブロック区間のみ解析データを保持するようにしたの
で、−度描画した加工プログラムについて再描画を行う
とき部分描画の指定区間については解析時間を省略でき
るので描画時間が短縮される。また、解析結果を全て格
納する方法に比較して少ないメモリ容量ですむので、描
画できる加工プログラムの長さの制限を受けない。

【図面の簡単な説明】

第１図は装置構成図、第２図は部分描画処理の流れを示
す図である。 １・・・キーボード ２・・・テープリーダ ３・・・解析結果保持メモリ ４・・・加工プログラム格納メモリ ５・・・加工プログラム解析部 ６・・・工具軌跡座標発生部 ７・・・ＣＲＴ上軌跡座標発生部 特許出願人　株式会社　安用電機製作所代表者　　菊　
池　　　功 □＼ 第１図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　数値制御工作機械用加工プログラムを逐次解析し、工
   具軌跡をＣＲＴ画面に描く描画方法において、加工プロ
   グラムを逐次解析する際、加工プログラムの複数ブロッ
   クからなる指定された部分の解析データを部分描画メモ
   リに保持しておき、再び前記加工プログラムを逐次解析
   するときは、加工プログラムを１ブロックずつ取り出す
   毎に前記指定された部分か否かを判定し、指定された部
   分でない場合は１ブロック分の画像解析を行って描画し
   、指定された部分である場合は前記部分描画メモリの解
   析データを用いて描画するようにした数値制御工作機械
   の工具軌跡の部分描画方法。