JPH04178114A - 電子機器 - Google Patents

電子機器

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JPH04178114A
JPH04178114A JP2302675A JP30267590A JPH04178114A JP H04178114 A JPH04178114 A JP H04178114A JP 2302675 A JP2302675 A JP 2302675A JP 30267590 A JP30267590 A JP 30267590A JP H04178114 A JPH04178114 A JP H04178114A
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power supply
switch
voltage
key
processing
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JP2302675A
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Isao Ohira
勲 大平
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Canon Inc
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F1/00Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
    • G06F1/26Power supply means, e.g. regulation thereof
    • G06F1/30Means for acting in the event of power-supply failure or interruption, e.g. power-supply fluctuations

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は電池を電源とする小型電子機器の電池電圧低下
時の処理に関するものである。
[従来の技術] 従来、電池駆動される電子学習機、電子手帳、ワードプ
ロセッサなど各種の電子機器では、データ破壊などを未
然に防止するため、電源の状態を検出するリセットic
などを搭載し、電池電圧が低下すると、 I)リセットicの出力信号に応答して1割り込み処理
でRAMのプロテクトを行なう、2)タイマ割込みで一
定のインターバルで電源電圧と基準電圧を比較し、所定
の電圧以下になった場合、警告を出力し、電池交換を促
す、などの制御を行なっているものが多い。
[発明が解決しようとする課題1 しかしながら、上記従来例では、構成l)においては、
いつどこで割り込み処理が発するか分らないので、デー
タ更新処理や割り込み処理が複雑になり、構成2)にお
いてもタイマ割り込みの処理やそのタイマ割り込み処理
からRAMのプロテクト処理に移行する手順が複雑にな
るとともに、電圧を比較する比較回路の調整が必要であ
り、コスト的にも高いという欠点があった。
また、上記の構成2)では、電圧監視のための入力ポー
トを必要とし、シングルチップマイコンでは回路の実現
がポート不足から困難となる場合がある。特に、メモリ
カードなどを用いる装置では、電源の状態に応じてメモ
リプロテクトを行なう際、カードとの間のバスの所定の
信号群の状態を識別するためにいくつかの入力ポートが
必要であり、設計がより困難となる。
本発明の課題は、このような従来の欠点を解消すること
にある。
[課題を解決するための手段1 本発明によれば、上記の課題を解決するため、電源電圧
が所定電圧を割った際に所定の保護処理を行なう電子機
器において、電源オンスイ・ソチおよび電源オフスイッ
チの操作状態に応じて装置の電源を制御する手段と、電
源電圧が第1の所定電圧以下となったことを検出する第
1の検出手段と、電源電圧が前記第1の所定電圧よりも
低い第2の所定電圧以下となったことを検出する第2の
検出手段と、前記第1の検出手段の検出出力に応答して
電源オフスイッチが操作されたのと同じ制御状態を形成
するとともに、前記第2の検出手段の検出出力に応答し
て前記電源オンスイッチの操作入力を禁止するハードウ
ェア手段を設けた構成を採用した。
[作 用] 以上の構成によれば、電源電圧を2段階の所定電圧に関
して検出し、その検出結果に応じて電源オンまたはオフ
スイッチが所定の状態に操作されたのと同じ状態を形成
することにより、保護処理を行なうことができる。
[実施例J 以下、図面に示す実施例に基づき本発明の詳細な説明す
る。ここでは、電池で駆動され、lCカード(複数)を
外部記憶手段として有し、少なくともユーザインターフ
ェース手段としてのキーボード、および表示器を有する
機器を示す。
第1図は、電池駆動の電子機器の電源部および電源電圧
検出に基づいて制御を行なう回路を示しており、同図に
おいて、符号BATTlは電源であるところの電池、B
ATT2はRAMのバシクアップ電池、REGは電圧レ
ギュレータを示している。レギュレータREGは、公知
の集積回路などからなり、BATT lの出力電圧を安
定化し、一定電圧V 001を出力する。
また、符号D1.D2はショットキーダイオードであり
、vDDlとBATT2(7)電圧のORをとり、電源
電圧V DD2を生成する。
電源電圧V DD2は第1図の回路の電源電圧8よび第
4図のic2の電源電圧として供給される。
SWl、SW2、SW3はスライドスイッチであり、そ
れぞれ電池交換用スイッチ、icカード1挿抜用スイツ
チ、icカード2挿抜用スイッチである。これらのスイ
ッチは、電池や、icカードの挿抜に機械的に連動しく
あるいは手動操作により)カード、電池の交換時に操作
され、図の右側に倒される。
ic5 (ic5−1−−ic5−3)はシュミット入
力のNAND回路で、スライドスイッチSW1、SW2
.SW3.の操作状態を検出する。1c6 (i C6
−1−i C6−3)はNOR回路、ic 7 (i 
c 7−1〜i c 7−4 )はアナログスイッチで
ある。
DETl、DET2は電圧検出器であり、電源電圧V 
DD2が低下するとvO端子よりL゛ レベルの信号を
出力する。また、その検出電圧の大小関係ハVDET 
l > VDET 2 テある。
ここで、1c5−1は、スイッチSW2.5W3(ic
カードスイッチ)がいずれも図の左側に倒されている時
のみ1c6−1i5よび1c6−2に° L°レベルを
出力する。
1c5−2.1c5−3は、スイッチSWI  (電池
交換スイッチ)が図の左側に倒されているときのみ、電
圧検出器DETI、DET2の出力を1c6−1.1c
6−2に反転して伝える。
1c6−1および1c6−2は、ic5 1jiよび1
c5−3の出力がいずれも° H“ レベルの場合のみ
°L°レベルを出力する。1c6−2はその出力により
アナログスイッチ1c7−2を制御する。1c6−3は
1c6−1の出力を反転した信号を形成し、この信号に
よりアナログスイッチ1c7−1を制御する。
アナログスイッチ1c7−3〜1c7−4は、検出器D
ET2の出力により直接制御される。
アナログスイッチ1c7−1は、それぞれキーストロー
ブ信号KS Ii3よびキー入力信号KiOをショート
するよう配置されている(キーマトリクスについては、
第2図で詳述する)。このアナログスイッチ1c7−1
は、キーストローブ信号KSIおよびキー入力信号Ki
Oの間に配置されるOFFFFキル下したのと同じ状態
を強制的に作るためのものである。
アナログスイッチ1c7−2は、CPUJよびキーマト
リクス間のキーストローブ信号KSOの接続を制御する
。このアナログスイッチ1c7−2は、ONキーの入力
を禁止するためのものである。
1c7−3.1c7−4は1.RAMのチップセレクト
信号C39(負論理)i5よびRAMの書込イネーブル
信号の各ラインを制御する。
i C7−1〜i c 7−4は、゛H゛レベル入力に
より閉じ、°L°レベル入力により開放(ハイインピー
ダンス状態)されるよう制御される。
C1、C2、Cl01cll、C17,C18、C19
はバイパスコンデンサ、R2は電流制限抵抗、C12、
C13、C14、C15、C16はノイズ吸収兼バイパ
スコンデンサ、R6、R7はプルアップ抵抗である。
第2図は本発明電子機器のキーマトリックス、KMを示
している。
第2図において、KiO〜6はキー入力(スキャン)信
号KSO〜KSIIはキーストローブ信号を示す。
ONおよびOFFキーは電源を制御するもので、ONキ
ーはキーストローブ信号キーSOとキー入力信号キーの
交点にOFFキーはキーSlとキー10の交点に配置さ
れている。
KSIとKiOの交点にはOFFキーが配置されている
。これらONおよびOFFキーは、主電源のオン/オフ
制御に用いられる。なお、ONキーは所定のメニューを
表示させるためにも使用される。
第3図は本発明電子機器の表示回路を示している。
第3図において、符号i C20はLCDのコモンドラ
イバ、1c21とi C22はLCDセグメントドライ
バ、符号DispはLCD表示器、020〜C30はバ
イパスコンデンサ、R20は1c20の発振を制御する
ための抵抗である。
第4図は本発明電子機器のCPU8よびメモリ回路を示
している。
第4図において、iclは本発明電子機器の処理の実行
を司どるところのCPU、ic2はRAlMであり、デ
ータ格納用やCPUのワーク用メモリとなる。
ic3とic4はROMであり、iclのCPUが実行
すべき処理プログラムや参照するデータが格納されてい
る。
XTALはCPU(icl)の動作クロックを発生する
ための発振子、C1,C2はその位相補償用コンデンサ
、R1はダンピング抵抗、R8はプルアップ抵抗、C6
、C7、C8、C9はバイパスコンデンサである。
C3は本発明電子機器のリセット信号を発生するための
時定数用コンデンサ、CNIはicカード用のコネクタ
、CN2はicカード2用のコネクタである。
なお、KMは、第2図のキーマトリクスを示す。
第5図および第6図は第1図の回路の主要な信号のタイ
ミングを示している。
第5図において、第1図のBATTIの電圧が十分に高
い間は、電源電圧V 001はレギュレータREGによ
り定電圧化され、5Vとなる。
この時、電源電圧V DD2はダイオードlを介してい
るため、VDDlよりも約0.3v低い47Vが出力さ
れている。
この時、検出器DET1.DET2の出力は共に、゛H
゛Hoルである。
次に更にBATTIの電圧が低下し、5vを割り込むと
、BATTIの電圧とV 001はほぼ等しい電圧とな
って推移していく。
VDDIの電圧が約4.5v迄低下すると、第3図、第
4図の各icはメーカー保証の動作電圧の下限となる。
この時、V DD2は約4.2Vとなり、検出器DET
Iの出力は゛L°レベルとなる。
さらに 電圧が低下し、VDDIが約3.8V、vDD
2カ約3.5vとなルト検出器DET2(7)出力も°
 Lo レベルとなる。
第6図は、SWl〜3とDETl、DET2と1c7−
1〜7−3のコントロール信号との関係を示している。
第6図において、第1図の5WI−5W3が図の左側に
切り換えられており、かつ検出器DET1.2の出力が
ともに、°H°レベルの場合は、アナログスイッチ1c
7−1のコントロール信号のみ°L゛Loル、アナログ
スイッチIC7−2,1c7−3のコントロール信号は
° Ho レベルとなる。したがって、この時、アナロ
グスイッチ1c7−1はOFF状態、1c7−2.7−
3はON状態となっている。
電源電圧V DD2が第5図の4,2vを割り、検出器
DETIの出力のみが° L°レベルになると、アナロ
グスイッチ1c7−1のコントロール信号は° H°レ
ベルとなり、アナログスイッチ1c7−1はON状態と
なり、第1図のキーストローブ信号KSIとキー入力信
号KiOがショートされる。
さらに、電源電圧V 002が第5図の3.−5’vを
割り、検出器DET1.DET2の出力がいずれも° 
Lo レベルとなると、アナログスイッチ1c7−2.
1c7−3のコントロール信号が゛L゛Loルとなり、
アナログスイッチ1c7−2.1c7−3はOFF状態
になり、第1図の左側のKSO右例のKSOは電気的に
オーブン(ハイインピーダンス)、またはRAMのチッ
プセレクト信号線C59(CPU側)とCE (RAM
側)もオーブンになる。
次に、検出器DET1.DET2の出力が、Ho レベ
ルのまま、SWI、2.3のいずれかが右側に倒される
と、つまり電池ないし2つのICカードのいずれかが交
換されると、1c7−1のアナログスイッチはON状態
、1c7−2のアナログスイッチはOFF状態となる。
ここで、第2図のように、KSIとKiOの交点にはO
FFキーが配置されているので、アナログスイッチ1c
7−1がスイッチOnとなると。
第2図のOFFキーが押されたのと同じ状態になる。
また、アナログスイッチ1c7−2がスイッチOFFと
なると、第2図のKSOが電気的にオーブン状態になる
ので、第2図のONキーを押してもキーはオープンのま
まである。つまり、ONキーの入力はハードウェア的に
無視される。
第3図において、表示器Dispは各ドライバ1c20
.21.22の制御の下で表示動作を行なっており、第
4図のCPU(icl)からSTB信号に゛L°レベル
が入力されると、表示動作を停止し、スタンバイ状態(
超低消費電流モード)になる。
第4図において、iclの実行すべき処理はi第7図の
フローチャートにおけるWORKとは、ic2で示され
るRAMの所定のエリアの事であり、i / oとはi
clで示されるCPtJに内蔵されている電子回路およ
び第3図の表示回路の事である。
第4図おいて、RESETキーが押されるか、あるいは
第1図のBATTlが挿入されて、CPUにパワーON
リセットが入力されると、第7図のステップSlから処
理が実行される。
第7図に唱いて、ステップS1ては、CPU内のレジス
タの初期設定や割込みのモードを初期設定するなどして
ステップS2に移行する。
ステップS2ではCPU内蔵i / oや第3図の表示
回路を初期化し、ステップS3へ移行する。
ステップS3ではRAMが正常にアクセスできるか否か
のテストを行ない、正常であれば次の84へ移行、異常
であればSlへ戻って再びリセッ処理を繰り返す。
ステップS3を更に詳しく説明したのが第8図に示すR
AMチエツクのフローチャート図である。
第8図においてRAMのあらかじめ決められたエリア(
数バイト)をダミーエリアとしで確保しておき、ここに
正常アクセスできるか否かでRAMのテストをする。
まず、ステップS31でダミーエリアを全て0クリアし
てステップS32に移行する。
ステップS32ではダミーエリアに予め決められたメツ
セージ、(たとえばメーカ名や、システムソフトウェア
名など)を書き込み、ステップS33に移行する。
ステップS33ではダミーエリアを読み出し、ステップ
S34に移行する。
ステップS34では読み出されたデータが、書き込んだ
データと一致するかを判断し、一致すれば正常と判断す
る。一致しなければ異常と判断する。
第7図に戻ってステップS4では、RAMのワークエリ
アを初期化し、ステップs5がら始まるON処理へ移行
する。
ステップS5ではステップS3と同様にRAMチエツク
を行ない、異常があればOFF処理へ移行し、正常であ
ればステップs6へ移行する。
ステップS6では、CPUのセットアツプ処理、例えば
必要最小限のレジスタの初期化などを行ない、ステップ
S7へ移行する。
ステップS7ではi / 0のセットアツプ処理、i 
/ oの必要最小限の初期化あるいはoVFする直前の
状態への復帰などを行なってステップS7°へ移行する
。ステップS7’ では、前述と同様にしてRAMチエ
ツク処理を行なう。
ステップS8では、RAM内のワークエリアの必要最小
限の初期化などを行なってステップS9へ移行する。
ステップS9ではOFFキーをスキャンし、OFFキー
が押されている状態であればステップSlOへ、そうで
なければSllへ移行する。
ここで、OFFキーの押下状態は、実際のキー押下のみ
ならず、前述のように電源電圧が3.5Vを割った場合
、およびicカードあるいは電池交換が行なわれた場合
にアナログスイッチ1c7−1を介して形成される。
OFFキーが押下状態にあれば、ステップS10におい
て、電池残量僅少のメツセージ(たとえばrLow  
battery!Jなど)を約2秒程表示してOFF処
理へ移行する。
ステップSllでは、セットアツプ画面を表示して、ス
テップS12へ移行する。
ステップ512では第2図のキーマトリックスよりキー
入力があるまで待ち、データキーが押されてたらステッ
プSf3へOFFキー以外の機能キーが押されたらステ
ップS14へ移行し、OFFキーが押されたらステップ
S15へ移行する。
ステップ513ではデータ入力処理を行ない再びステッ
プS12のキー入力待ちへ戻る。
ステップS14では各機能キーに応じた処理を実行する
。ステップS15ではRAMのワークエリアのターミネ
イト処理(終了処理: OFFの前処理)を行ないステ
ップ516へ移行する。
ステップS16ではi / oのターミネイト処理を行
ない、ステップS17へ移行する。
ステップ517ではCPUを割り込みイネーブルした後
、halt命令を実行し、OFF状態に移行する。
ここで、本発明電子機器におけるOFF状態とはCPU
がクロックを停止し、スタンバイ状態(超低消費電流モ
ード)になるとともに、第3図の表示回路のSTB信号
を°L°にして、表示回路もスタンバイ状態になってい
る状態をさす。
この状態で第4図のRESETキーが押されれば再びス
テップStから処理を実行する。
また、このOFF状態で第2図のONキーが押されれば
ステップS5から処理が再開される。
上記実施例においては、電源電圧を検出する電圧検出器
DETIおよびDET2を設け、電圧検出器DET l
の検出電圧をDET2のものよりも高く設定し、検出器
DETIの出力でOFFキーをショートさせ、検出器D
ET2の出力でONキーの入力と、RAMのアクセスを
禁止する構成としたので、従来のように入力ポートを用
いてCPUで電圧検出を行なう構成に比して構成が簡単
になる。
また、スイッチSWI〜3により検出されるlCカード
、電池交換の操作を検出し、これらの操作に応じてON
およびOFFキーを制御するとともに、RAMのプロテ
クトも確実に容易に行なえる。
さらに、上記構成によれば、無調整の電圧検出器を使用
できるので製造効率が大幅に改善されるとともに、リセ
ットicなどを使用した装置よりも比較的安価に製造で
きる効果がある。
また、システム起動時のリセット処理において、メモリ
のアクセス状態を検査し、正常にアクセス可能となるま
で前記リセット処理を繰り返すようにしであるので、電
池電圧が低下しても確実にRAMのプロテクトを行なえ
るとともに、1池交換によるリセット動作でRAMのプ
ロテクトによるシステム誤動作も防止でき、非常に簡単
安価にRAMのプロテクトが可能となる。
さらに、システム起動時のリセット処理において、前記
ハードウェア手段により電源オフスイッチが操作された
のと同じ制御状態が形成されている場合、電a電圧低下
を警告する表示(音声出力などを用いてもよい)を行な
うようにしてるので、特別な入力ポートなどを使用する
必要がなく、電源電圧低下監視および警告のための構成
が簡単であるという利点がある。
また、10カード、および電池交換動作の際に操作され
るスイッチ(スライドスイッチを例示したが他のスイッ
チでもよい)の出力に応じても、ONおよびOFFキー
の操作状態を制御することによりプロテクト処理を行な
えるため、lCカード、および電池交換動作の際のメモ
リプロテクトを確実に行なえ、機器の誤動作を防止でき
る。
第9図、第10図に上記構成の変形例を示しておく。
以上では、RAMのプロテクトを行なうアナログスイッ
チ1c7−3.7−4を検出器DET2の出力により直
接制御しているが、第9図では、アナログスイッチ1c
7−3.7−4を制御するために電源電圧VD口2を検
出する検出器DET3を設けている6その他の構成は第
1図と同じである。
第9図の第3の電圧検出器DET3の検出電圧(出力が
反転する電圧)は、V DETI> V DET2>V
 DET3とする。
第3の電圧検出器の付加によって、より安全なRAMの
プロテクトが可能となる。
また、本実施例ではicカードの挿抜用スライドスイッ
チを並用した例を示したが、icカードが装着できない
電子機器では、これらは必ずしも必要ではなく、省略し
た場合の実施例は第1O図のようになる。
この構成では、電圧検出器DETIおよびDET2によ
る電源電圧に関する制御、および電池交換の際の制御は
前述同様に行なわれる。
なお、上記実施例では、RAMチエツクの方法として、
ダミーエリアへの書込みと、読出しデータの一致を検査
する方法を示したが、第11図に示すように、所定アド
レスに対する入出力データの照合はスタックへのブツシ
ュおよびポツプを繰り返すことにより行なってもよい。
第11図のステップS51では、所定のカウンタレジス
タに最大R(ブツシュ/ポツプする単位であるワードあ
るいはバイトのm5b−1sbを1とした数)を設定し
、ステップS52、S53でこのカウンタレジスタ内容
をブツシュ/ホップする。このとき、スタックポインタ
は検査する所定のアドレスを指すように制御する。ポツ
プされたデータはアキュムレータに格納される。
ステップS54ではアキュムレータとカウンタレジスタ
内容を照合し、内容が一致していない場合にはメモリエ
ラーとしてリセ・ント処理に進む。
ステップS55では、カウンタレジスタをデクリメント
し、ステップS56でカウンタレジスタ内容がOとなっ
たかどうかを判定し、0でなければステップS52から
の処理を繰り返す。
以上の処理により、lアドレスのワードあるいはバイト
データにつき、全てのビットパターンをテストできる。
上記処理は、RAMの各アドレスにつき、繰り返し行な
うものとする。
[発明の効果] 以上の説明から明らかなように、電源電圧が所定電圧を
割った際に所定の保護処理を行なう電子機器において、
電源オンスイッチおよび電源オフスイッチの操作状態に
応じて装置の電源を制御する手段と、電源電圧が第1の
所定電圧以下となったことを検出する第1の検出手段と
、電源電圧が前記第1の所定電圧よりも低い第2の所定
電圧以下となったことを検出する第2の検出手段と、前
記第1の検出手段の検出出力に応答して電源オフスイッ
チが操作されたのと同じ制御状態を形成するとともに、
前記第2の検出手段の検出出力に応答して前記電源オン
スイッチの操作入力を禁止するハードウェア手段を設け
た構成を採用したので、電源電圧を2段階の所定電圧に
関して検出し、その検出結果に応じて電源オンまたはオ
フスイッチが所定の状態に操作されたのと同じ状態を形
成することにより、保護処理を行なうことができ、電池
電圧が低下した時の各種プロテクト処理が単純になると
ともに、プロテクトも確実に容易に行なえ、かつ無調整
の電圧検出器を使用することで製造作業効率が大幅に改
善されるとともに、従来のCPUソフトウェアによる構
成に比して特別な入力ポートを必要とすることなく、ま
たリセ・ントicなどを使用した装置よりも比較的安価
に装置を製造できるという優れた効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による電子機器の電源周辺の回路図、第
2図はキーマトリックスの説明図、第3図は表示制御回
路のブロック図、第4図はCPUおよびメモリ周辺のブ
ロック図、第5図は電源電圧と主要制御信号のタイミン
グチャート図、第6図は主要制御信号のタイミングチャ
ート図、第7図はCPUの制御手順を示したフローチャ
ート図、第8図はRAMチエツク処理の詳細なフローチ
ャート図、第9図、第1O図は異なる電源周辺の構成を
示した回路図、第11図は異なるRAMチエツク処理の
詳細なフローチャート図である。 5WI−・・電池交換時RAM保護用スライドスイッチ SW2.5W3−・・1cカード挿抜用スライドスイツ
チ DETI・・・第1の電圧検出器 DET2−・・第2の電圧検出器 i c 7−1− i c 7〜3・・・アナログスイ
ッチ今BATT l−・・電池   Disp−・・表
示器i c 1− CP U     i c 2 ・
RA Mic3.  ic4・・・ROM Wis図 RAM今j−ノフカ1里のフローヶj−)−図第8図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)電源電圧が所定電圧を割った際に所定の保護処理を
    行なう電子機器において、 電源オンスイッチおよび電源オフスイッチの操作状態に
    応じて装置の電源を制御する手段と、電源電圧が第1の
    所定電圧以下となったことを検出する第1の検出手段と
    、 電源電圧が前記第1の所定電圧よりも低い第2の所定電
    圧以下となったことを検出する第2の検出手段と、 前記第1の検出手段の検出出力に応答して電源オフスイ
    ッチが操作されたのと同じ制御状態を形成するとともに
    、前記第2の検出手段の検出出力に応答して前記電源オ
    ンスイッチの操作入力を禁止するハードウェア手段を設
    けたことを特徴とする電子機器。 2)前記第2の検出手段の検出出力に応答してメモリア
    クセスを禁止する手段を設けたことを特徴とする請求項
    第1項に記載の電子機器。 3)システム起動時のリセット処理において、メモリの
    アクセス状態を検査し、正常にアクセス可能となるまで
    前記リセット処理を繰り返すことを特徴とする請求項第
    1項および第2項に記載の電子機器。 4)システムON時の処理において、メモリのアクセス
    状態を検査し、正常にアクセスしなかった場合は、速や
    かにOFF処理に移行する処理を設けたことを特徴とす
    る請求項第1項から第3項までのいずれか一項に記載の
    電子機器。 5)システムON時の処理において、前記ハードウェア
    手段により電源オフスイッチが操作されたのと同じ制御
    状態が形成されている場合、電源電圧低下を警告する処
    理を行なうことを特徴とする請求項第1項から第4項ま
    でのいずれか1項に記載の電子機器。 6)メモリまたは電源の電池の交換に応じて操作される
    スイッチ手段を有し、このスイッチ手段の出力に応じて
    前記ハードウェア手段の動作が制御されることを特徴と
    する請求項第1項から第5項までのいずれか1項に記載
    の電子機器。
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