JPH0573349A - スタンバイ制御回路 - Google Patents
スタンバイ制御回路Info
- Publication number
- JPH0573349A JPH0573349A JP3174971A JP17497191A JPH0573349A JP H0573349 A JPH0573349 A JP H0573349A JP 3174971 A JP3174971 A JP 3174971A JP 17497191 A JP17497191 A JP 17497191A JP H0573349 A JPH0573349 A JP H0573349A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- power
- control circuit
- signal
- standby
- transistor
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- Pending
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Microcomputers (AREA)
- Power Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】スタンバイフラグのパワーオンリセット回路に
流れる定常電流を遮断することにより、LSIの選別を
容易にする。 【構成】パワーオン検出のためのトランジスタ2におい
て、テスト信号7をゲート入力とする。パワーオン時は
テスト信号7をインアクティブにしてパワーオンリセッ
ト動作を行う。続いてテスト信号7をアクティブにし
て、トランジスタ2をOFF状態にすることにより、ト
ランジスタ2,トランジスタ3を介して流れる定常電流
を遮断する。 【効果】高温選別によらずリーク電流によるスクリーニ
ングが可能になる。
流れる定常電流を遮断することにより、LSIの選別を
容易にする。 【構成】パワーオン検出のためのトランジスタ2におい
て、テスト信号7をゲート入力とする。パワーオン時は
テスト信号7をインアクティブにしてパワーオンリセッ
ト動作を行う。続いてテスト信号7をアクティブにし
て、トランジスタ2をOFF状態にすることにより、ト
ランジスタ2,トランジスタ3を介して流れる定常電流
を遮断する。 【効果】高温選別によらずリーク電流によるスクリーニ
ングが可能になる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、1チップマイクロコン
ピュータに関し、特に低消費電力動作モード(スタンバ
イモード)を備えたマイクロコンピュータのスタンバイ
制御回路に関する。
ピュータに関し、特に低消費電力動作モード(スタンバ
イモード)を備えたマイクロコンピュータのスタンバイ
制御回路に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、OA機器,民生機器をはじめとし
てマイクロコンピュータの応用分野はますます広がりつ
つあるが、こうしたマイクロコンピュータを利用したシ
ステムにおいて、特に装置自身の小型・軽量化と相まっ
て、いわゆる携帯型機器では電源の供給手段としてバッ
テリ駆動が不可欠であり、装置の低消費電力化は重要の
課題の一つである。
てマイクロコンピュータの応用分野はますます広がりつ
つあるが、こうしたマイクロコンピュータを利用したシ
ステムにおいて、特に装置自身の小型・軽量化と相まっ
て、いわゆる携帯型機器では電源の供給手段としてバッ
テリ駆動が不可欠であり、装置の低消費電力化は重要の
課題の一つである。
【0003】こうした中で、マイクロコンピュータ自身
の低消費電力化の手段として、低消費電力モード(以
下、スタンバイモードと示す)を備えることにより、処
理実行する必要が無い時は、レジスタ,フラグ,RAM
等の内部状態を示す情報を保持したままCPUの動作を
周辺回路も含めて停止状態にする方法があり、一般に採
用されている。通常、スタンバイモードへの移行はスタ
ンバイ制御命令の実行により、また、スタンバイモード
の解除はシステムリセット入力により行われる。
の低消費電力化の手段として、低消費電力モード(以
下、スタンバイモードと示す)を備えることにより、処
理実行する必要が無い時は、レジスタ,フラグ,RAM
等の内部状態を示す情報を保持したままCPUの動作を
周辺回路も含めて停止状態にする方法があり、一般に採
用されている。通常、スタンバイモードへの移行はスタ
ンバイ制御命令の実行により、また、スタンバイモード
の解除はシステムリセット入力により行われる。
【0004】ここで、アプリケーションプログラム中
で、システムリセット入力後のプログラム処理をスタン
バイモード状態からの解除後の処理として実行するか否
かを判断するために、電源投入時のみリセットされる機
能を備えたフラグ(以下、スタンバイフラグと示す)を
設けておく。プログラム処理中では、通常、フラグをセ
ット状態にしておくことにより、スタンバイモード解除
のシステムリセットではセット状態のままであり、電源
投入時のシステムリセットではリセット状態になること
で、システムリセット入力後のプログラム処理をフラグ
の状態で切り替えることができ、例えばRAMの初期化
の処理の実行/非実行を切り替え可能である。
で、システムリセット入力後のプログラム処理をスタン
バイモード状態からの解除後の処理として実行するか否
かを判断するために、電源投入時のみリセットされる機
能を備えたフラグ(以下、スタンバイフラグと示す)を
設けておく。プログラム処理中では、通常、フラグをセ
ット状態にしておくことにより、スタンバイモード解除
のシステムリセットではセット状態のままであり、電源
投入時のシステムリセットではリセット状態になること
で、システムリセット入力後のプログラム処理をフラグ
の状態で切り替えることができ、例えばRAMの初期化
の処理の実行/非実行を切り替え可能である。
【0005】図7は、上述の従来のスタンバイフラグ制
御の回路構成を示した図である。スタンバイフラグ31
は、セット−リセット型フリップフロップ(R−S F
/F)であり、電源ON検出回路32からの電源ON検
出信号33がアクティブになるとリセットされる。ま
た、アンド(AND)ゲート34によるスタンバイフラ
グ31へのライト信号SBFW35に基づく周辺バス3
8からの論理値“1”書き込みの条件でセットされる。
一方、スタンバイフラグ31の出力は、同フラグからの
リード信号SBFR37がアクティブになるとバスドラ
イバ36を介して周辺バス38に読み出される。
御の回路構成を示した図である。スタンバイフラグ31
は、セット−リセット型フリップフロップ(R−S F
/F)であり、電源ON検出回路32からの電源ON検
出信号33がアクティブになるとリセットされる。ま
た、アンド(AND)ゲート34によるスタンバイフラ
グ31へのライト信号SBFW35に基づく周辺バス3
8からの論理値“1”書き込みの条件でセットされる。
一方、スタンバイフラグ31の出力は、同フラグからの
リード信号SBFR37がアクティブになるとバスドラ
イバ36を介して周辺バス38に読み出される。
【0006】電源ON検出回路32は、電源投入時の論
理しきい電圧の変化を利用して、電源投入直後は電源O
N検出信号33をアクティブにし、その後反転レベルに
達すると、以降電源ON検出信号33をインアクティブ
にする。
理しきい電圧の変化を利用して、電源投入直後は電源O
N検出信号33をアクティブにし、その後反転レベルに
達すると、以降電源ON検出信号33をインアクティブ
にする。
【0007】電源ON検出信号33を生成する回路とし
ては、常時ON状態のトランジスタを使用するが、ここ
には定常電流が流れる。
ては、常時ON状態のトランジスタを使用するが、ここ
には定常電流が流れる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところが上述の電源投
入を検出する信号を生成する回路では、トランジスタに
流れる定常電流が数μAであるため、例えばCMOSの
性能要素の1つである接合リーク,サブスレショルド電
流等のリーク電流もやはり常温では数μAのオーダであ
り、電流分布の定常電流との差がほとんど無く、リーク
電流に基づくLSIの選別ができないという問題があっ
た。
入を検出する信号を生成する回路では、トランジスタに
流れる定常電流が数μAであるため、例えばCMOSの
性能要素の1つである接合リーク,サブスレショルド電
流等のリーク電流もやはり常温では数μAのオーダであ
り、電流分布の定常電流との差がほとんど無く、リーク
電流に基づくLSIの選別ができないという問題があっ
た。
【0009】ここで、上記問題を解決するために、上記
リーク電流が高温では数μAと増大化するのを利用し、
定常電流の分布との差を出すことにより選別する手法が
とられているが、この場合は通常の選別工程にくらべて
工程が複雑化しコストメリットが低下するという欠点を
有していた。
リーク電流が高温では数μAと増大化するのを利用し、
定常電流の分布との差を出すことにより選別する手法が
とられているが、この場合は通常の選別工程にくらべて
工程が複雑化しコストメリットが低下するという欠点を
有していた。
【0010】本発明は、このような従来のスタンバイフ
ラグ制御における問題点を改善すべくなされたものであ
って、最小限のハードウエアでテスタビリティの高い1
チップマイクロコンピュータのスタンバイ制御回路を実
現することを目的としている。
ラグ制御における問題点を改善すべくなされたものであ
って、最小限のハードウエアでテスタビリティの高い1
チップマイクロコンピュータのスタンバイ制御回路を実
現することを目的としている。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明のスタンバイ制御
回路は、電源投入の検出のためのトランジスタ回路によ
り電源投入動作を検出して検出信号を出力する電源投入
検出手段と、検出信号によってのみリセットされるフラ
グとを備え、電源投入検出手段は、さらに、外部から入
力されるテスト信号に基づきトランジスタ回路に流れる
定常電流を遮断する手段を備えるようにしたものであ
る。
回路は、電源投入の検出のためのトランジスタ回路によ
り電源投入動作を検出して検出信号を出力する電源投入
検出手段と、検出信号によってのみリセットされるフラ
グとを備え、電源投入検出手段は、さらに、外部から入
力されるテスト信号に基づきトランジスタ回路に流れる
定常電流を遮断する手段を備えるようにしたものであ
る。
【0012】また、テスト信号は、テストモード指定の
ための動作モード指定手段から供給されるものである。
ための動作モード指定手段から供給されるものである。
【0013】
【実施例】以下に、本発明の実施例について図面を参照
して説明する。
して説明する。
【0014】図1は、本発明の一実施例に関わるスタン
バイ制御回路におけるスタンバイフラグ制御回路の構成
を示した図である。
バイ制御回路におけるスタンバイフラグ制御回路の構成
を示した図である。
【0015】スタンバイフラグ1は、セット−リセット
型フリップフロップ(R−S F/F)であり、ノア
(NOR)ゲート5からのSBFリセット信号6がアク
ティブになるとリセットされる。また、アンド(AN
D)ゲート8によるスタンバイフラグ1へのライト信号
SBFW9に基づく周辺バス12からの論理値“1”書
き込みの条件でセットされる。すなわち、周辺バス12
からの書き込みによるフラグのリセットはできない。一
方、スタンバイフラグ1の出力は、同フラグからのリー
ド信号SBFR11がアクティブになるとバスドライバ
10を介して周辺バス12に読み出される。なお、スタ
ンバイフラグ1のライトとリードの動作は、不図示のC
PUの処理により行われる。
型フリップフロップ(R−S F/F)であり、ノア
(NOR)ゲート5からのSBFリセット信号6がアク
ティブになるとリセットされる。また、アンド(AN
D)ゲート8によるスタンバイフラグ1へのライト信号
SBFW9に基づく周辺バス12からの論理値“1”書
き込みの条件でセットされる。すなわち、周辺バス12
からの書き込みによるフラグのリセットはできない。一
方、スタンバイフラグ1の出力は、同フラグからのリー
ド信号SBFR11がアクティブになるとバスドライバ
10を介して周辺バス12に読み出される。なお、スタ
ンバイフラグ1のライトとリードの動作は、不図示のC
PUの処理により行われる。
【0016】ノアゲート5は、テスト信号7がインアク
ティブの時の電源ON検出信号4がアクティブの条件で
SBFリセット信号6をアクティブにする。トランジス
タ2は、テスト信号7がアクティブの時OFF状態にな
るPチャネル型トランジスタで、トランジスタ3は常時
ON状態のNチャネル型トランジスタであり、テスト信
号7がインアクティブの状態では、電源投入直後は電源
ON検出信号4がアクティブ(論理値“0”)になり、
一定時間経過後、電源電圧が反転レベルに到達すると電
源ON検出信号4はインアクティブ(論理値“1”)に
なる。
ティブの時の電源ON検出信号4がアクティブの条件で
SBFリセット信号6をアクティブにする。トランジス
タ2は、テスト信号7がアクティブの時OFF状態にな
るPチャネル型トランジスタで、トランジスタ3は常時
ON状態のNチャネル型トランジスタであり、テスト信
号7がインアクティブの状態では、電源投入直後は電源
ON検出信号4がアクティブ(論理値“0”)になり、
一定時間経過後、電源電圧が反転レベルに到達すると電
源ON検出信号4はインアクティブ(論理値“1”)に
なる。
【0017】図2は、電源投入後の上記スタンバイフラ
グ制御回路の動作状態を示したタイミングチャートであ
る。テスト信号7がインアクティブの状態で電源を投入
するとSBFリセット信号6がアクティブになり、スタ
ンバイフラグ1はリセットされる。この状態ではトラン
ジスタ2とトランジスタ3の両者がON状態であり、電
源−グランド間に定常電流が流れている。その後、テス
ト信号7をアクティブにすると、トランジスタ2がOF
F状態になり、定常電流が遮断される。また、電源ON
検出信号4がアクティブになるが、ノアゲート5により
SBFリセット信号6はインアクティブのままであり本
来の動作に影響は無い。
グ制御回路の動作状態を示したタイミングチャートであ
る。テスト信号7がインアクティブの状態で電源を投入
するとSBFリセット信号6がアクティブになり、スタ
ンバイフラグ1はリセットされる。この状態ではトラン
ジスタ2とトランジスタ3の両者がON状態であり、電
源−グランド間に定常電流が流れている。その後、テス
ト信号7をアクティブにすると、トランジスタ2がOF
F状態になり、定常電流が遮断される。また、電源ON
検出信号4がアクティブになるが、ノアゲート5により
SBFリセット信号6はインアクティブのままであり本
来の動作に影響は無い。
【0018】ここで、テスト信号7は、マイクロコンピ
ュータの外部端子から直接入力すれば良く、また、内部
のテストモード切り替え回路から供給することも可能で
ある。
ュータの外部端子から直接入力すれば良く、また、内部
のテストモード切り替え回路から供給することも可能で
ある。
【0019】次に、本発明の第二の実施例について図面
を参照して説明する。
を参照して説明する。
【0020】図3は、本発明の第二の実施例に関わるス
タンバイ制御回路におけるスタンバイフラグ制御回路の
構成を示した図である。
タンバイ制御回路におけるスタンバイフラグ制御回路の
構成を示した図である。
【0021】スタンバイフラグ13は、セット−リセッ
ト型フリップフロップ(R−S F/F)であり、イン
バータ17からのSBFリセット信号18がアクティブ
になるとリセットされる。また、アンド(AND)ゲー
ト22によるスタンバイフラグ13へのライト信号SB
FW23に基づく周辺バス26からの論理値“1”書き
込みの条件でセットされる。すなわち、周辺バス26か
らの書き込みによるフラグのリセットはできない。一
方、スタンバイフラグ13の出力は、同フラグからのリ
ード信号SBFR25がアクティブになるとバスドライ
バ24を介して周辺バス26に読み出される。なお、ス
タンバイフラグ1のライトとリードの動作は、不図示の
CPUの処理により行われる。
ト型フリップフロップ(R−S F/F)であり、イン
バータ17からのSBFリセット信号18がアクティブ
になるとリセットされる。また、アンド(AND)ゲー
ト22によるスタンバイフラグ13へのライト信号SB
FW23に基づく周辺バス26からの論理値“1”書き
込みの条件でセットされる。すなわち、周辺バス26か
らの書き込みによるフラグのリセットはできない。一
方、スタンバイフラグ13の出力は、同フラグからのリ
ード信号SBFR25がアクティブになるとバスドライ
バ24を介して周辺バス26に読み出される。なお、ス
タンバイフラグ1のライトとリードの動作は、不図示の
CPUの処理により行われる。
【0022】インバータ17は、電源ON検出信号16
がアクティブの条件でSBFリセット信号6をアクティ
ブにする。トランジスタ19は、テスト信号21がアク
ティブの時インバータ20の出力によりOFF状態にな
るNチャネル型トランジスタで、トランジスタ14は常
時ON状態のPチャネル型トランジスタ,トランジスタ
15は常時ON状態のNチャネル型トランジスタであ
り、テスト信号21がインアクティブの状態では、電源
投入直後は電源ON検出信号16がアクティブ(論理値
“0”)になり、一定時間経過後、電源電圧が反転レベ
ルに到達すると電源ON検出信号16はインアクティブ
(論理値“1”)になる。
がアクティブの条件でSBFリセット信号6をアクティ
ブにする。トランジスタ19は、テスト信号21がアク
ティブの時インバータ20の出力によりOFF状態にな
るNチャネル型トランジスタで、トランジスタ14は常
時ON状態のPチャネル型トランジスタ,トランジスタ
15は常時ON状態のNチャネル型トランジスタであ
り、テスト信号21がインアクティブの状態では、電源
投入直後は電源ON検出信号16がアクティブ(論理値
“0”)になり、一定時間経過後、電源電圧が反転レベ
ルに到達すると電源ON検出信号16はインアクティブ
(論理値“1”)になる。
【0023】図4は、電源投入後の上記スタンバイフラ
グ制御回路の動作状態を示したタイミングチャートであ
る。テスト信号21がインアクティブの状態で電源を投
入するとSBFリセット信号18がアクティブになり、
スタンバイフラグ13はリセットされる。この状態では
トランジスタ14,トランジスタ15とトランジスタ1
9が全てON状態であり、電源−グランド間に定常電流
が流れている。その後、テスト信号21をアクティブに
すると、トランジスタ19がOFF状態になり、定常電
流が遮断される。この時、トランジスタ14はON状態
のままであるので、SBFリセット信号18はインアク
ティブのままであり本来の動作には影響は無い。
グ制御回路の動作状態を示したタイミングチャートであ
る。テスト信号21がインアクティブの状態で電源を投
入するとSBFリセット信号18がアクティブになり、
スタンバイフラグ13はリセットされる。この状態では
トランジスタ14,トランジスタ15とトランジスタ1
9が全てON状態であり、電源−グランド間に定常電流
が流れている。その後、テスト信号21をアクティブに
すると、トランジスタ19がOFF状態になり、定常電
流が遮断される。この時、トランジスタ14はON状態
のままであるので、SBFリセット信号18はインアク
ティブのままであり本来の動作には影響は無い。
【0024】ここで、第一の実施例と同様に、テスト信
号21は、マイクロコンピュータの外部端子から直接入
力すれば良く、また、内部のテストモード切り替え回路
から供給することも可能である。
号21は、マイクロコンピュータの外部端子から直接入
力すれば良く、また、内部のテストモード切り替え回路
から供給することも可能である。
【0025】次に、本発明の第三の実施例について図面
を参照して説明する。第三の実施例は、第一の実施例の
スタンバイ制御回路を含むマイクロコンピュータシステ
ムである。
を参照して説明する。第三の実施例は、第一の実施例の
スタンバイ制御回路を含むマイクロコンピュータシステ
ムである。
【0026】図5は、本発明の第三の実施例に関わるマ
イクロコンピュータの構成を示した図である。
イクロコンピュータの構成を示した図である。
【0027】マイクロコンピュータ40は、データ転
送,算術論理演算等の各種命令処理を実行する中央処理
装置(CPU)41と、スタンバイフラグ制御回路42
を含むスタンバイ制御回路43とから構成され、CPU
41とスタンバイ制御回路43は周辺バス49を介して
接続される。マイクロコンピュータ40は、通常の命令
処理を実行する通常動作モード以外に、LSIの製造試
験のためのテストモードを備える。両モード間の切り替
えは、外部端子44の入力論理レベルにより規定される
テスト信号45により指定され、論理値“0”の場合は
通常モード,論理値“1”の場合はテストモードにな
る。テスト信号45は、CPU41とスタンバイフラグ
制御回路42に供給される。
送,算術論理演算等の各種命令処理を実行する中央処理
装置(CPU)41と、スタンバイフラグ制御回路42
を含むスタンバイ制御回路43とから構成され、CPU
41とスタンバイ制御回路43は周辺バス49を介して
接続される。マイクロコンピュータ40は、通常の命令
処理を実行する通常動作モード以外に、LSIの製造試
験のためのテストモードを備える。両モード間の切り替
えは、外部端子44の入力論理レベルにより規定される
テスト信号45により指定され、論理値“0”の場合は
通常モード,論理値“1”の場合はテストモードにな
る。テスト信号45は、CPU41とスタンバイフラグ
制御回路42に供給される。
【0028】図6は、スタンバイフラグ制御回路42の
構成を示した図であり、その構成及び動作は実施例1の
第1図のスタンバイフラグ制御回路と同一であり、その
詳細は説明は省略する。
構成を示した図であり、その構成及び動作は実施例1の
第1図のスタンバイフラグ制御回路と同一であり、その
詳細は説明は省略する。
【0029】マイクロコンピュータ40では、外部端子
44を論理値“0”の状態で電源を投入すると、テスト
信号45はインアクティブであり、実施例1と同様にし
てスタンバイフラグ46がリセットされる。この状態で
はトランジスタ47とトランジスタ48が全てON状態
であり、電源−グランド間に定常電流が流れている。そ
の後、外部端子44を論理値“1”の状態にすると、テ
スト信号45がアクティブになり、CPU41がテスト
モードに切り替わると同時に、トランジスタ47がOF
F状態になり、定常電流が遮断される。
44を論理値“0”の状態で電源を投入すると、テスト
信号45はインアクティブであり、実施例1と同様にし
てスタンバイフラグ46がリセットされる。この状態で
はトランジスタ47とトランジスタ48が全てON状態
であり、電源−グランド間に定常電流が流れている。そ
の後、外部端子44を論理値“1”の状態にすると、テ
スト信号45がアクティブになり、CPU41がテスト
モードに切り替わると同時に、トランジスタ47がOF
F状態になり、定常電流が遮断される。
【0030】ここで、本実施例では、テスト信号45は
外部端子44から直接的に供給される例について示した
が、テストモード指定のレジスタの出力とすることによ
っても、本実施例の同様の動作を実現可能である。
外部端子44から直接的に供給される例について示した
が、テストモード指定のレジスタの出力とすることによ
っても、本実施例の同様の動作を実現可能である。
【0031】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のスタンバ
イ制御回路では、スタンバイフラグ制御回路において生
じる定常電流を遮断することができるため、高温選別等
を必要とせず、テスト信号の切り替えのみで容易にリー
ク電流に基づくスクリーニングが可能である。
イ制御回路では、スタンバイフラグ制御回路において生
じる定常電流を遮断することができるため、高温選別等
を必要とせず、テスト信号の切り替えのみで容易にリー
ク電流に基づくスクリーニングが可能である。
【0032】また、定常電流の遮断のための特殊なハー
ドウエアを必要としないため、容易に実現可能であり、
本発明の実用的効果は極めて高い。
ドウエアを必要としないため、容易に実現可能であり、
本発明の実用的効果は極めて高い。
【図面の簡単な説明】
【図1】第一の実施例におけるスタンバイフラグ制御回
路の構成を示した図である。
路の構成を示した図である。
【図2】第一の実施例における第1図のスタンバイフラ
グ制御回路の動作タイミングを示した図である。
グ制御回路の動作タイミングを示した図である。
【図3】第二の実施例におけるスタンバイフラグ制御回
路の構成を示した図である。
路の構成を示した図である。
【図4】第二の実施例における第2図のスタンバイフラ
グ制御回路の動作タイミングを示した図である。
グ制御回路の動作タイミングを示した図である。
【図5】第三の実施例におけるマイクロコンピュータの
構成を示した図である。
構成を示した図である。
【図6】第三の実施例におけるスタンバイフラグ制御回
路の構成を示した図である。
路の構成を示した図である。
【図7】従来のスタンバイフラグ制御回路の構成を示し
た図である。
た図である。
1,13,46 スタンバイフラグ 2,3,14,15,19,47,48 トランジス
タ 4,16,33 電源ON検出信号 5 ノア(NOR)ゲート 6,18 SBFリセット信号 7,21,45 テスト信号 8,22,34 アンド(AND)ゲート 9,23,35 スタンバフラグライト信号SBFW 10,24,36 バスドライバ 11,25,37 スタンバイフラグリード信号SB
FR 12,26,38,49 周辺バス 17,20 インバータ 32 電源ON検出回路 40 マイクロコンピュータ 41 中央処理装置(CPU) 42 スタンバイフラグ制御回路 43 スタンバイ制御回路 44 外部端子
タ 4,16,33 電源ON検出信号 5 ノア(NOR)ゲート 6,18 SBFリセット信号 7,21,45 テスト信号 8,22,34 アンド(AND)ゲート 9,23,35 スタンバフラグライト信号SBFW 10,24,36 バスドライバ 11,25,37 スタンバイフラグリード信号SB
FR 12,26,38,49 周辺バス 17,20 インバータ 32 電源ON検出回路 40 マイクロコンピュータ 41 中央処理装置(CPU) 42 スタンバイフラグ制御回路 43 スタンバイ制御回路 44 外部端子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G06F 15/78 510 P 7530−5L
Claims (2)
- 【請求項1】 電源投入の検出のためのトランジスタ回
路により電源投入動作を検出して検出信号を出力する電
源投入検出手段と、該検出信号によってのみリセットさ
れるフラグとを備え、前記電源投入検出手段は、外部か
ら入力されるテスト信号に基づき該トランジスタ回路に
流れる定常電流を遮断する手段を備えていることを特徴
とするスタンバイ制御回路。 - 【請求項2】 前記テスト信号は、半導体集積回路装置
のテストモードを指定する動作モード指定手段により供
給されるものであることを特徴とする請求項1記載のス
タンバイ制御回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3174971A JPH0573349A (ja) | 1990-10-17 | 1991-07-16 | スタンバイ制御回路 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27826890 | 1990-10-17 | ||
JP2-278268 | 1990-10-17 | ||
JP3174971A JPH0573349A (ja) | 1990-10-17 | 1991-07-16 | スタンバイ制御回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0573349A true JPH0573349A (ja) | 1993-03-26 |
Family
ID=26496392
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3174971A Pending JPH0573349A (ja) | 1990-10-17 | 1991-07-16 | スタンバイ制御回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0573349A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006350930A (ja) * | 2005-06-20 | 2006-12-28 | Fuji Xerox Co Ltd | 制御回路及び情報処理装置 |
JP2008123538A (ja) * | 2007-12-13 | 2008-05-29 | Denso Corp | マイクロコンピュータ |
JP2011192289A (ja) * | 2011-04-15 | 2011-09-29 | Denso Corp | マイクロコンピュータ |
-
1991
- 1991-07-16 JP JP3174971A patent/JPH0573349A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006350930A (ja) * | 2005-06-20 | 2006-12-28 | Fuji Xerox Co Ltd | 制御回路及び情報処理装置 |
JP2008123538A (ja) * | 2007-12-13 | 2008-05-29 | Denso Corp | マイクロコンピュータ |
JP2011192289A (ja) * | 2011-04-15 | 2011-09-29 | Denso Corp | マイクロコンピュータ |
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