JPH04152283A - 自己診断回路 - Google Patents
自己診断回路Info
- Publication number
- JPH04152283A JPH04152283A JP2277171A JP27717190A JPH04152283A JP H04152283 A JPH04152283 A JP H04152283A JP 2277171 A JP2277171 A JP 2277171A JP 27717190 A JP27717190 A JP 27717190A JP H04152283 A JPH04152283 A JP H04152283A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- signal
- special pattern
- input
- clock
- Prior art date
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- Granted
Links
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 title claims description 6
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims abstract description 5
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 claims description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、ディジタル信号処理に関し、特に、ディジタ
ル信号処理を行うディジタル回路の誤動作を検出する自
己診断回路に関する。
ル信号処理を行うディジタル回路の誤動作を検出する自
己診断回路に関する。
従来の技術
従来この種の自己診断回路は、入力信号を用いて回路の
動作確認を行っていた。第２図は従来の方式を示す、第
２図において、入力信号は、データ１とこれと同期して
いるクロック２から成り、２分岐回路５に入力される。
動作確認を行っていた。第２図は従来の方式を示す、第
２図において、入力信号は、データ１とこれと同期して
いるクロック２から成り、２分岐回路５に入力される。
２分岐回路５では入力信号を２分岐し、一方は主信号と
して符号化回路（または多重回路等の信号処理回路）６
に、他方は信号照合回路８に出力されける。符号化回路
６ではある一定の規則に基づいて信号処理が行われ、そ
の出力信号は２分岐回路７にて２つに分岐され、一方は
出力信号データ３とクロック４として出力される。他方
は復号回路（または分離回路等の信号処理回路）９を通
ることにより元信号、すなわち入力信号と同じになる。
して符号化回路（または多重回路等の信号処理回路）６
に、他方は信号照合回路８に出力されける。符号化回路
６ではある一定の規則に基づいて信号処理が行われ、そ
の出力信号は２分岐回路７にて２つに分岐され、一方は
出力信号データ３とクロック４として出力される。他方
は復号回路（または分離回路等の信号処理回路）９を通
ることにより元信号、すなわち入力信号と同じになる。
復号回路９の出力信号と２分岐回路５の出力信号を信号
照合回路８で比較することにより、各回路での誤りを検
出することが可能となっていた。
照合回路８で比較することにより、各回路での誤りを検
出することが可能となっていた。
発明が解決しようとする課題
しかしながら、上述した従来の技術では、いま入力クロ
ック信号がない状態、すなわち入力断障害もしくは予備
回路としてクロック信号を入力していなかった場合には
、これらの回路が正常に動作しているか判断出来ず、予
備回路を現用回路として使用後しか確認出来ないという
欠点があった。
ック信号がない状態、すなわち入力断障害もしくは予備
回路としてクロック信号を入力していなかった場合には
、これらの回路が正常に動作しているか判断出来ず、予
備回路を現用回路として使用後しか確認出来ないという
欠点があった。
本発明は従来の技術に内在する上記欠点を解消する為に
なされたものであり、従って本発明の目的は、入力信号
断時にも主信号回路が正常に動作しているかを確認する
ことを可能とした新規な自己診断回路を提供することに
ある。
なされたものであり、従って本発明の目的は、入力信号
断時にも主信号回路が正常に動作しているかを確認する
ことを可能とした新規な自己診断回路を提供することに
ある。
課題を解決するための手段
上記目的を達成する為に、本発明に係る自己診断回路は
、ディジタル回路の誤動作を検出するために前記ディジ
タル回路の出力と入力信号を比較する自己診断回路にお
いて、クロック信号を発生するタロツク信号発生回路と
、該クロック信号を入力して特殊パターンを発生する特
殊パターン発生回路と、入力信号と前記特殊パターンの
いずれかを選択して２分岐回路に出力する選択回路とを
備えて構成され、入力信号断時に前記クロック発生回路
および前記特殊パターン発生回路により作られた信号を
入力信号として用いることを特徴としている。
、ディジタル回路の誤動作を検出するために前記ディジ
タル回路の出力と入力信号を比較する自己診断回路にお
いて、クロック信号を発生するタロツク信号発生回路と
、該クロック信号を入力して特殊パターンを発生する特
殊パターン発生回路と、入力信号と前記特殊パターンの
いずれかを選択して２分岐回路に出力する選択回路とを
備えて構成され、入力信号断時に前記クロック発生回路
および前記特殊パターン発生回路により作られた信号を
入力信号として用いることを特徴としている。
実施例
次に本発明をその好ましい一実施例について図面を参照
して具体的に説明する。
して具体的に説明する。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック構成図である
。
。
第１図において、入力信号はデータ１とこれに同期した
クロック２からなり、選択回路１２に入力される０Ｍ択
回路１２では内部クロック発生回路１１からのクロック
で特殊パターン発生回路１０により作られた信号と入力
信号のいずれか一方が選択される１選択回路１２から２
分岐回路５に入力された信号は、２つの信号に分岐され
、一方は符号化回路６に他方は信号照合回路８に出力さ
れる。符号化回路６ではある一定の規則に基すいて信号
処理が行われ、その後２分岐回路７により２分岐され、
一方は出力信号として出力され、他方は復号回路９を通
して元の信号に戻される。この後信号照合回路８で２分
岐回路５の出力信号と復号回路９の出力信号を比較する
ことにより主信号回路（２分岐回路５．７、符号化回路
６）の誤りを検出することが出来る。
クロック２からなり、選択回路１２に入力される０Ｍ択
回路１２では内部クロック発生回路１１からのクロック
で特殊パターン発生回路１０により作られた信号と入力
信号のいずれか一方が選択される１選択回路１２から２
分岐回路５に入力された信号は、２つの信号に分岐され
、一方は符号化回路６に他方は信号照合回路８に出力さ
れる。符号化回路６ではある一定の規則に基すいて信号
処理が行われ、その後２分岐回路７により２分岐され、
一方は出力信号として出力され、他方は復号回路９を通
して元の信号に戻される。この後信号照合回路８で２分
岐回路５の出力信号と復号回路９の出力信号を比較する
ことにより主信号回路（２分岐回路５．７、符号化回路
６）の誤りを検出することが出来る。
この状態において入力クロック信号２が断となった場合
には、この断信号を用いて選択回路１２を制御し特殊パ
ターン発生回路１０からの出力信号を入力信号として用
いることにより内部動作が可能となり、信号照合するこ
とが出来る。
には、この断信号を用いて選択回路１２を制御し特殊パ
ターン発生回路１０からの出力信号を入力信号として用
いることにより内部動作が可能となり、信号照合するこ
とが出来る。
発明の詳細
な説明したように、本発明によれば、入力信号断（障害
または予備回路として使用のための入力断）が発生した
場合にも内部動作機能の確認が出来るために、現用回路
について使用する前における障害の有無を確認出来、サ
ービス断を未然に防ぐ効果・が得られる。
または予備回路として使用のための入力断）が発生した
場合にも内部動作機能の確認が出来るために、現用回路
について使用する前における障害の有無を確認出来、サ
ービス断を未然に防ぐ効果・が得られる。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック構成図、第２
図は従来技術の例を示すブロック図である。 １・・・入力データ、２・・・入力クロック、３・・・
出力データ、４・・・出力クロック、５．７・・・２分
岐回路、６・・・符号化回路、８・・・信号照合回路、
９・・・復号回路、１０・・・特殊パターン発生回路、
１１・・・クロ・ンク信号発生回路、１２・・・選択回
路 特許出願人 日本電気株式会社 代 理 人 弁理士 熊谷雄太部 第２ 図
図は従来技術の例を示すブロック図である。 １・・・入力データ、２・・・入力クロック、３・・・
出力データ、４・・・出力クロック、５．７・・・２分
岐回路、６・・・符号化回路、８・・・信号照合回路、
９・・・復号回路、１０・・・特殊パターン発生回路、
１１・・・クロ・ンク信号発生回路、１２・・・選択回
路 特許出願人 日本電気株式会社 代 理 人 弁理士 熊谷雄太部 第２ 図
Claims (1)
- ディジタル回路の誤動作を検出するために前記ディジタ
ル回路の出力と入力信号を比較する自己診断回路におい
て、クロック信号を発生するクロック信号発生回路と、
該クロック信号を入力して特殊パターンを発生する特殊
パターン発生回路と、入力信号と前記特殊パターンのい
ずれかを選択して２分岐回路に出力する選択回路とを有
し、入力信号断時に前記クロック発生回路および前記特
殊パターン発生回路により作られた信号を入力信号とし
て用いることを特徴とする自己診断回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2277171A JP2643578B2 (ja) | 1990-10-16 | 1990-10-16 | 自己診断回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2277171A JP2643578B2 (ja) | 1990-10-16 | 1990-10-16 | 自己診断回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04152283A true JPH04152283A (ja) | 1992-05-26 |
| JP2643578B2 JP2643578B2 (ja) | 1997-08-20 |
Family
ID=17579799
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2277171A Expired - Lifetime JP2643578B2 (ja) | 1990-10-16 | 1990-10-16 | 自己診断回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2643578B2 (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6068624A (ja) * | 1983-09-26 | 1985-04-19 | Toshiba Corp | Ｌｓｉの自己検査装置 |
| JPS6315456A (ja) * | 1986-07-08 | 1988-01-22 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路 |
| JPS6364419A (ja) * | 1986-09-05 | 1988-03-22 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 符号復号器試験方法 |
| JPH028760A (ja) * | 1988-06-27 | 1990-01-12 | Nec Corp | 半導体集積回路装置 |
-
1990
- 1990-10-16 JP JP2277171A patent/JP2643578B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6068624A (ja) * | 1983-09-26 | 1985-04-19 | Toshiba Corp | Ｌｓｉの自己検査装置 |
| JPS6315456A (ja) * | 1986-07-08 | 1988-01-22 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路 |
| JPS6364419A (ja) * | 1986-09-05 | 1988-03-22 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 符号復号器試験方法 |
| JPH028760A (ja) * | 1988-06-27 | 1990-01-12 | Nec Corp | 半導体集積回路装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2643578B2 (ja) | 1997-08-20 |
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