JPH04138777A - ゴーストリデューサ装置 - Google Patents
ゴーストリデューサ装置Info
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- JPH04138777A JPH04138777A JP2260776A JP26077690A JPH04138777A JP H04138777 A JPH04138777 A JP H04138777A JP 2260776 A JP2260776 A JP 2260776A JP 26077690 A JP26077690 A JP 26077690A JP H04138777 A JPH04138777 A JP H04138777A
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- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 title claims description 9
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 claims abstract description 19
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 12
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
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- Picture Signal Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野］
この発明はゴーストリデューサ装置に関し、特にトラン
スバーサルフィルタのタップ係数を逐次修正してゴース
トを軽減する、ゴーストリデューサ装置に関する。
スバーサルフィルタのタップ係数を逐次修正してゴース
トを軽減する、ゴーストリデューサ装置に関する。
〔従来技術］
第３図に従来のこの種のゴーストリデューサ装置ｆのブ
ロック図を示す、ＯＣＲ演算部２によって、入力された
ビデオ信号のうちＧ ＣＲ（Ｇｈｏｓｔ Ｃａｎｃｅｌ
ｌｉｎｇ Ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ：ゴースト除去基準）信
号について、８フイールドシーケンス等の演算処理が行
われる。（、ＣＲ演算部２の出力信号はフィルタ３に入
力され、ゴーストが軽減される。
ロック図を示す、ＯＣＲ演算部２によって、入力された
ビデオ信号のうちＧ ＣＲ（Ｇｈｏｓｔ Ｃａｎｃｅｌ
ｌｉｎｇ Ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ：ゴースト除去基準）信
号について、８フイールドシーケンス等の演算処理が行
われる。（、ＣＲ演算部２の出力信号はフィルタ３に入
力され、ゴーストが軽減される。
フィルタ３の構成図を第４図に示す。フィルタ３は遅延
線４１乗算器５および加算器６を含み、第４図に示すフ
ィルタ３はＦＦ型であるが、ＦＢ型あるいはＦＦとＦＢ
の混合型でもよい。
線４１乗算器５および加算器６を含み、第４図に示すフ
ィルタ３はＦＦ型であるが、ＦＢ型あるいはＦＦとＦＢ
の混合型でもよい。
フィルタ３のタップ係数として最初はゼロあるいは初期
値が設定される。フィルタ３に入力されたＧＣＲ信号は
（１）式に従って処理される。
値が設定される。フィルタ３に入力されたＧＣＲ信号は
（１）式に従って処理される。
ｙ＝Σｃ−ｘ ・・・ （１）
フィルタ３から出力されたＧＣＲ信号は差分器７に与え
られ、基準波形発生部８からの出力との差をとることに
よって誤差信号ｅを得る。この誤差信号ｅに基づいて、
タップ係数演算部９によって、（２）あるいは（３）式
より、タップ係数を修正するＣ （ａ＋Ｏ＝ ＣＴ１１
）ＬＸ ’ ｅ ”’ （２）Ｃ（ａ
＋＋１ ＝Ｃ＜ｒｒ＞ ｔＸ・ｓｇｎ （ｅ）
−（３）ｅ：誤差信号 α：定数 修正されたタップ係数は新たなタップ係数としてフィル
タ３に設定される。以後、収束するまですなわち誤差信
号が極めて小さくなるまで上記と同じ処理を繰り返す。
フィルタ３から出力されたＧＣＲ信号は差分器７に与え
られ、基準波形発生部８からの出力との差をとることに
よって誤差信号ｅを得る。この誤差信号ｅに基づいて、
タップ係数演算部９によって、（２）あるいは（３）式
より、タップ係数を修正するＣ （ａ＋Ｏ＝ ＣＴ１１
）ＬＸ ’ ｅ ”’ （２）Ｃ（ａ
＋＋１ ＝Ｃ＜ｒｒ＞ ｔＸ・ｓｇｎ （ｅ）
−（３）ｅ：誤差信号 α：定数 修正されたタップ係数は新たなタップ係数としてフィル
タ３に設定される。以後、収束するまですなわち誤差信
号が極めて小さくなるまで上記と同じ処理を繰り返す。
ＯＣＲ演算部２に入力される信号は、Ａ／Ｄ変換器によ
ってディジタル信号に変換された離散的信号であり、通
常は第５図（ａ）に示されるような信号である。また基
準波形発生器８からも第５図（ａ）に示される信号が出
力される。したがって、ゴーストが存在しなければ両信
号の差は「０」であり誤差信号は検出されない。
ってディジタル信号に変換された離散的信号であり、通
常は第５図（ａ）に示されるような信号である。また基
準波形発生器８からも第５図（ａ）に示される信号が出
力される。したがって、ゴーストが存在しなければ両信
号の差は「０」であり誤差信号は検出されない。
しかし、ＯＣＲ信号についてはピーク位置の時間ずれが
数クロック程度許容されているので、ＧＣＲ演算部２へ
の入力信号においては、第５図（ｂ）に示すように、ピ
ーク位置がずれる可能性がある。また、伝送歪やＡ／Ｄ
変換器のクロック位相ずれによって、ＯＣＲ演算部２へ
の入力信号のサンプル点が第５図（Ｃ）に示すようにず
れる可能性もある。この状態で第５図（ａ）に示される
基準波形発生器８からの出力との差分をとると、実際に
はゴーストが存在しなくても誤差信号ｅが検出される。
数クロック程度許容されているので、ＧＣＲ演算部２へ
の入力信号においては、第５図（ｂ）に示すように、ピ
ーク位置がずれる可能性がある。また、伝送歪やＡ／Ｄ
変換器のクロック位相ずれによって、ＯＣＲ演算部２へ
の入力信号のサンプル点が第５図（Ｃ）に示すようにず
れる可能性もある。この状態で第５図（ａ）に示される
基準波形発生器８からの出力との差分をとると、実際に
はゴーストが存在しなくても誤差信号ｅが検出される。
このため、従来の方法では、ゴースト検出が正確に行わ
れないという問題点があったそれゆえに、この発明の主
たる目的は、ゴーストがないときに誤動作しない、ゴー
ストリデューサ装置を提供することである。
れないという問題点があったそれゆえに、この発明の主
たる目的は、ゴーストがないときに誤動作しない、ゴー
ストリデューサ装置を提供することである。
この発明は、入力されたＧＣＲ信号のピーク位置および
サンプル位相ずれを検出する検出手段、検出手段によっ
て検出した各ずれを補正した基準波形を発生する補正基
準波形発生手段、およびＧＣＲ信号と補正した基準波形
との誤差に応じてフィルタのタップ係数を設定する手段
を備える、ゴーストリデューサ装置である。
サンプル位相ずれを検出する検出手段、検出手段によっ
て検出した各ずれを補正した基準波形を発生する補正基
準波形発生手段、およびＧＣＲ信号と補正した基準波形
との誤差に応じてフィルタのタップ係数を設定する手段
を備える、ゴーストリデューサ装置である。
検出手段は、たとえば、ＯＣＲ信号波形のピーク位置か
ら時間ずれを、ピーク値の前後２点あるいは４点のサン
プル値からサンプル位相ずれをそれぞれ検出する。補正
基準波形発生手段はこのような時間ずれおよびサンプル
位相ずれを補正した基準波形を発生し、ゴースト検出器
（たとえば差分器）に与える。
ら時間ずれを、ピーク値の前後２点あるいは４点のサン
プル値からサンプル位相ずれをそれぞれ検出する。補正
基準波形発生手段はこのような時間ずれおよびサンプル
位相ずれを補正した基準波形を発生し、ゴースト検出器
（たとえば差分器）に与える。
なお、このような基準波形を発生するためには、サンプ
ル位相をずらせた何種類かの基準波形を予めストアした
基準波形メモリを用いればよい。
ル位相をずらせた何種類かの基準波形を予めストアした
基準波形メモリを用いればよい。
この場合、時間ずれはメモリの読み出すタイミングをず
らせることによって、またサンプル位相ずれはアドレス
を変更することによって、補正後の基準波形を高速に発
生できる。
らせることによって、またサンプル位相ずれはアドレス
を変更することによって、補正後の基準波形を高速に発
生できる。
〔発明の効果］
この発明によれば、検出されたピーク位置および位相ず
れをもとに時間ずれおよびサンプル位相ずれを補正した
基準波形を用いることにより、伝送歪あるいはＡ／Ｄ変
換器のサンプル位相ずれを含んだ波形が入力されても正
確にゴーストを検出することができる。
れをもとに時間ずれおよびサンプル位相ずれを補正した
基準波形を用いることにより、伝送歪あるいはＡ／Ｄ変
換器のサンプル位相ずれを含んだ波形が入力されても正
確にゴーストを検出することができる。
この発明の上述の目的、その他の目的、特徴および利点
は、図面を参照して行う以下の実施例の詳細な説明から
一層明らかとなろう。
は、図面を参照して行う以下の実施例の詳細な説明から
一層明らかとなろう。
第１図に示すこの発明の一実施例のゴーストリデューサ
装置１０において、ＯＣＲ演算部１２゜フィルタ１４．
差分器１６およびタップ係数演算部１８は、それぞれ、
第３図の従来のＧｃＲ演算部２．フィルタ３．差分器７
およびタップ係数演算部９と同じである。
装置１０において、ＯＣＲ演算部１２゜フィルタ１４．
差分器１６およびタップ係数演算部１８は、それぞれ、
第３図の従来のＧｃＲ演算部２．フィルタ３．差分器７
およびタップ係数演算部９と同じである。
ＧＣＲ信号はＧＣＲ演算部１２に入力され、８フイール
ドシーケンス等の演算が行われる一方、ピーク・位相検
出部２０で（１，ＣＲ倍信号ピーク位置およびサンプル
位相ずれを検出する。サンプル位相ずれはピーク値の前
後２点あるいは４点のすンブル値を用い、ピーク値から
の非対称度により検出する。このピーク位置およびサン
プル位相ずれを補正する基準波形を基準波形発生部２２
で発生させる。
ドシーケンス等の演算が行われる一方、ピーク・位相検
出部２０で（１，ＣＲ倍信号ピーク位置およびサンプル
位相ずれを検出する。サンプル位相ずれはピーク値の前
後２点あるいは４点のすンブル値を用い、ピーク値から
の非対称度により検出する。このピーク位置およびサン
プル位相ずれを補正する基準波形を基準波形発生部２２
で発生させる。
しかしピーク位置およびサンプル位相ずれを検出した後
これらを補正する基準波形を計算し直していてはかなり
の時間を要する。そこで、この実施例では、予めサンプ
ル位相をずらした何種類かの基準波形（−例を第２図に
示す）をストアしたメモリ２４を併用する。
これらを補正する基準波形を計算し直していてはかなり
の時間を要する。そこで、この実施例では、予めサンプ
ル位相をずらした何種類かの基準波形（−例を第２図に
示す）をストアしたメモリ２４を併用する。
第１図の基準波形メモリ２４は予めサンプル位相をずら
せた何種類かの基準波形を備えたメモリで、基準波形の
選択はアドレス指定部２６によるアドレス指定によって
行う。すなわち、ピーク・位相検出部２０の結果をもと
に、アドレス指定部２６では、まず、サンプル位相ずれ
に従って基準波形メモリ２４のアドレスを設定し、成る
基準波形を選択する。そして、時間ずれは、フィルタ１
４から出力された信号のピーク位置と基準波形メモリ２
４から出力された基準波形のピーク位置とが一致するよ
うに、読み出すタイミングを変更して補正する。このと
きスイッチ２８は接点２８ａ側に切り換えておく。
せた何種類かの基準波形を備えたメモリで、基準波形の
選択はアドレス指定部２６によるアドレス指定によって
行う。すなわち、ピーク・位相検出部２０の結果をもと
に、アドレス指定部２６では、まず、サンプル位相ずれ
に従って基準波形メモリ２４のアドレスを設定し、成る
基準波形を選択する。そして、時間ずれは、フィルタ１
４から出力された信号のピーク位置と基準波形メモリ２
４から出力された基準波形のピーク位置とが一致するよ
うに、読み出すタイミングを変更して補正する。このと
きスイッチ２８は接点２８ａ側に切り換えておく。
差分器１６ではフィルタ１４の出力信号と時間および位
相ずれの補正がなされた基準波形との差分を求めて誤差
信号ｅを出力する。この誤差信号ｅをもとに、タップ係
数演算部１８では、前述のように、（２）あるいは（３
）式よりタップ係数を修正してフィルタ１４に設定する
。
相ずれの補正がなされた基準波形との差分を求めて誤差
信号ｅを出力する。この誤差信号ｅをもとに、タップ係
数演算部１８では、前述のように、（２）あるいは（３
）式よりタップ係数を修正してフィルタ１４に設定する
。
このように、基準波形メモリ２４を用いることにより、
時間すれとサンプル位相ずれを補正した基準波形を瞬時
に発生することができる。しかしながら、サンプル位相
ずれの補正量については基準波形メモリ２４にストアさ
れている基準波形の種類に依存する。すなわち、メモリ
容量を考えるとあまり多くの基準波形をストアしておく
ことは不可能であるので、細かい補正は基準波形発生部
２２から出力される基準波形を利用する。
時間すれとサンプル位相ずれを補正した基準波形を瞬時
に発生することができる。しかしながら、サンプル位相
ずれの補正量については基準波形メモリ２４にストアさ
れている基準波形の種類に依存する。すなわち、メモリ
容量を考えるとあまり多くの基準波形をストアしておく
ことは不可能であるので、細かい補正は基準波形発生部
２２から出力される基準波形を利用する。
具体的には、ＧＣＲ信号は１フイールドに１度だけ送ら
れてくるため、タップ係数修正が終了した後、次のＯＣ
Ｒ信号が送られてくるまで最大１／６０秒待つことにな
る。この空き時間を利用してピーク・位相検出部２０よ
り得られた結果をもとに、基準波形発生部２２によって
、時間の許す限り（次のＯＣＲ信号が入力されるまで）
、時間ずれおよびサンプル位相ずれを補正した基準波形
を計算する。計算が終了する前に次のＧＣＲ信号が入力
された場合は基準波形メモリ２４の出力信号を用い、タ
ップ係数修正後さらに次のＧＣＲ信号が送られて（るま
での空き時間を利用して基準波形発生部２２において残
りの計算を行う。そして、計算終了後は、スイッチ２８
を接点２Ｂｂ側に切り換えて基準波形発生部２２の出力
を基準波形として用いる。このように、初期の大まかな
補正は基準波形メモリ２４を用いて高速に処理し、細か
い補正は基準波形発生部２２から出力される基準波形を
用いて正確に行う。
れてくるため、タップ係数修正が終了した後、次のＯＣ
Ｒ信号が送られてくるまで最大１／６０秒待つことにな
る。この空き時間を利用してピーク・位相検出部２０よ
り得られた結果をもとに、基準波形発生部２２によって
、時間の許す限り（次のＯＣＲ信号が入力されるまで）
、時間ずれおよびサンプル位相ずれを補正した基準波形
を計算する。計算が終了する前に次のＧＣＲ信号が入力
された場合は基準波形メモリ２４の出力信号を用い、タ
ップ係数修正後さらに次のＧＣＲ信号が送られて（るま
での空き時間を利用して基準波形発生部２２において残
りの計算を行う。そして、計算終了後は、スイッチ２８
を接点２Ｂｂ側に切り換えて基準波形発生部２２の出力
を基準波形として用いる。このように、初期の大まかな
補正は基準波形メモリ２４を用いて高速に処理し、細か
い補正は基準波形発生部２２から出力される基準波形を
用いて正確に行う。
なお、上述の実施例におけるスイッチ２８．基準波形発
生部２２および基準波形メモリ２４は１つのメモリで構
成することも可能である。このときには、メモリ２４の
アドレス指定がスイッチ２８の代わりとなる。
生部２２および基準波形メモリ２４は１つのメモリで構
成することも可能である。このときには、メモリ２４の
アドレス指定がスイッチ２８の代わりとなる。
第１図はこの発明の一実施例を示すブロック図である。
第２図はサンプル位相をずらせた基準波形の一例を示す
図解図である。 第３図は従来技術を示すブロック図である。 第４図はトランスバーサルフィルタの構成図である。 第５図は時間ずれおよびサンプル位相ずれを示す図解図
である。 図において、１０はゴーストリデューサ装置、１２はＧ
ＣＲ演算部、１４はフィルタ、１６は差分器、１８はタ
ップ係数演算部、２０はピーク・位相検出部、２２は基
準波形発生部、２４は基準波形メモリ、２６はアドレス
指定部、２８はスイッチを示す。 ０ ＠季テ皮ｇｉ＋（イ１椙マ゛れｔすＸ ・・
２ ム ・・ ３ 第 図 第 図
図解図である。 第３図は従来技術を示すブロック図である。 第４図はトランスバーサルフィルタの構成図である。 第５図は時間ずれおよびサンプル位相ずれを示す図解図
である。 図において、１０はゴーストリデューサ装置、１２はＧ
ＣＲ演算部、１４はフィルタ、１６は差分器、１８はタ
ップ係数演算部、２０はピーク・位相検出部、２２は基
準波形発生部、２４は基準波形メモリ、２６はアドレス
指定部、２８はスイッチを示す。 ０ ＠季テ皮ｇｉ＋（イ１椙マ゛れｔすＸ ・・
２ ム ・・ ３ 第 図 第 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 入力されたゴースト除去基準信号のピーク位置およびサ
ンプル位相ずれを検出する検出手段、前記検出手段によ
って検出した各ずれを補正した基準波形を発生する補正
基準波形発生手段、および 前記ゴースト除去基準信号と前記補正した基準波形との
誤差に応じてフィルタのタップ係数を設定する手段を備
える、ゴーストリデューサ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2260776A JP2557736B2 (ja) | 1990-09-29 | 1990-09-29 | ゴーストリデューサ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2260776A JP2557736B2 (ja) | 1990-09-29 | 1990-09-29 | ゴーストリデューサ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04138777A true JPH04138777A (ja) | 1992-05-13 |
| JP2557736B2 JP2557736B2 (ja) | 1996-11-27 |
Family
ID=17352572
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2260776A Expired - Fee Related JP2557736B2 (ja) | 1990-09-29 | 1990-09-29 | ゴーストリデューサ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2557736B2 (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02110242A (ja) * | 1988-10-18 | 1990-04-23 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 空気調和機用遠隔故障診断装置 |
| JPH02209980A (ja) * | 1988-09-30 | 1990-08-21 | Union Carbide Chem & Plast Co Inc | 改質された水担持されるフェノキシ樹脂 |
-
1990
- 1990-09-29 JP JP2260776A patent/JP2557736B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02209980A (ja) * | 1988-09-30 | 1990-08-21 | Union Carbide Chem & Plast Co Inc | 改質された水担持されるフェノキシ樹脂 |
| JPH02110242A (ja) * | 1988-10-18 | 1990-04-23 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 空気調和機用遠隔故障診断装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2557736B2 (ja) | 1996-11-27 |
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Legal Events
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