JPS63177619A - デジタルサンプルレ−トコンバ−ト制御回路 - Google Patents

デジタルサンプルレ−トコンバ−ト制御回路

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JPS63177619A
JPS63177619A JP62009283A JP928387A JPS63177619A JP S63177619 A JPS63177619 A JP S63177619A JP 62009283 A JP62009283 A JP 62009283A JP 928387 A JP928387 A JP 928387A JP S63177619 A JPS63177619 A JP S63177619A
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sampling clock
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sampled
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [yl明の目的] (産業上の利用分野) この発明は、アナログデータを第1の標本化クロックで
標本化し、さらにこの第1の標本化クロックと異なる周
波数を有する第2の標本化クロックを用いて標本化する
デジタルサンプルレートコンバー1− i!、1111
1回路の改良に関する。
(従来の技術) 近年、映伝データや音声データ等の無線及び、有線によ
る伝送が頻繁に行なわれており、その伝送データの形態
も、アナログデータからデジタルデータへと移行してき
ている。
ここで、デジタルデータを処理する際には、サンプルレ
ートを変更する必要が多々ある。これは、所定周波数の
第1の標本化クロックによって標本化されているデジタ
ルデータを、上記第1の標本化クロックと周波数の異な
る第2の標本化クロックで標本化することにより達成さ
れる。
ところで、この種のデジタルサンプルレートコンバート
方式は、第1の標本化クロックによって標本化されてい
るデジタルデータを、そのまま第2の標本化クロックで
標本化すると、伝送路中のスタッフィングの不完全性に
よって、誤差を生じるという問題を有する。
このため、デジタルサンプルレートコンバートを行なう
場合には、従来より、第6図に示すような手段が用いら
れている。すなわち、入力端子11に供給された第1の
標本化クロックf1に基づいて標本化されているデジタ
ルデータを、D/A(デジタル/アナログ)変換回路1
2によって、第1の標本化クロックf1に基づいてアナ
ログデータに変換し、このD/A変換回路12から出力
されるアナログデータを、A/D  アナログ/デジタ
ル)変換回路13によって、第1の標本化クロックf1
と周波数の異なる第2の標本化クロックf2に基づいて
標本化し、出力端子14にサンプルレートがflからf
2に変化されたデジタルデータを1するようにしている
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、上記のような従来のデジタルサンプルレ
ートコンバート手段では、デジタルデータを−Hアナロ
グデータに戻した後、標本化するようにしているため、
スタッフインクの不完全性によって生じる誤差は減少す
るが、D/A。
A/D両変換回路の非線形性による波形のひずみが増大
するという問題が生じる。
このため、デジタルサンプルレートコンバートを行なう
場合、A/D変換及びD/A変換を繰り返すのではなく
、第1の標本化クロックによって標本化されているデジ
タルデータを、そのまま第2の標本化クロックによって
標本化できるようにすることが望まれている。
そこで、この発明は上記事情に基づいてなされたもので
、スタッフィングの不完全性による悪影響を排除し、波
形のひずみの少ないデジタルサンプルレートコンバート
処理を行なうことのできる極めて良好なデジタルサンプ
ルレートコンバートI11御回路を提供することを目的
とする。
し発明の構成] (問題点を解決するための手段) すなわち、この発明に係るデジタルサンプルレートコン
バート制御回路は、第1の標本化クロックで標本化され
ているデジタルデータを、さらに、第1の標本化クロッ
クと異なる周波数を有する第2の標本化クロックを用い
て標本化するデジタルサンプルレートコンバート回路を
対象としている。
そして、第1の標本化クロックを、その遅延世の合計が
該第1の標本化クロックの周期に対応するように、所定
量つづ?!数回遅延させて第1の標本化クロックの周期
を複数に分割し、この所定量づつ遅延された複数の第1
の標本化クロックを、第2の標本化クロックでラッチし
て、このラッチ出力に基づいて第1の標本化クロックの
極性反転位置及びその周期を示すデータを生成する。
その後、上記データに基づいて、第1の標本化クロック
の標本化間隔を1とした場合に対応する、第1の標本化
クロックの標本化タイミングと、第2の標本化クロック
の標本化タイミングとの曲間ずれに対応するデータkを
生成し、このデータにと第1の標本化クロックによる標
本化データχn及びχn−1とに基づいて χn  (1−k)+χn−1・k なる演算を行ない、その演算結果を第2の標本化クロッ
クによる標本化データとするようにしたものである。
(作用) そして、上記のような構成によれば、第1の標本化クロ
ックの周期を複数に分割して第2の標本化クロックで抜
き取ることによq1第1の標本化クロックの標本化タイ
ミングと、第2の標本化クロックの標本化タイミングと
の時間ずれを略正確に検知することができ、その検知結
果に基づいて第2の標本化クロックによる標本化データ
を演算するようにしたので、スタッフインクの不完全性
による悪影響を排除し、誤差や邑子化ノイズの少ないデ
ジタルデータを得ることができるようになる。
(実施例) 以下、この発明の一実施例を説明するのに先立ち、この
発明の原理について説明しておくことにする。すなわち
、第1図<a>に示すアナログデータを、(t2−tl
 )なる周期を有する第1の標本化クロックによって標
本化すると、同図(1))に示すようなデジタルデータ
χn−1,χn。
χn1.・・・が生成される。
また、同様に、第1図(a)に示すアナログデータを、
(t2 ”−tl −)なる周期を有する第2の標本化
クロックによって標本化すると、同図(C)に示すよう
なデジタルデータym、ym1゜・・・が生成される。
この発明では、第2の標本化クロックによって標本化さ
れるデジタルデータym、y++1.・・・は、第1図
(a)に示すアナログデータを直接標本化して生成する
のではなく、第1の標本化クロックによって標本化され
るデジタルデータχn−1゜χn、χnl、・・・から
求めるようにしている。
すなわち、第2の標本化クロックによって標本化される
デジタルデータymは、 Vll =In  (1−k) +In−1−kk= 
(tl =−tl )/(t2−tl )なる式を用い
て締出することができる。
ここで、上記係数kをいかにして求めるかが、最も問題
となる点である。つまり、第2の標本化クロックによっ
て標本化されるデジタルデータymを求める際の標本化
タイミングt1−は、第1の標本化クロックによって標
本化されるデジタルデータχn−1,χn、χn1.・
・・の標本化タイミングt1.t2 、・・・とは全く
非同期であるため、係数には本来ならば無限に存在する
ことになる。
しかしながら、具体的な回路として実現する場合には、
係数kを無限に設定することは不可能であるから、現実
には係数には近似的な値としている。すなわち、この発
明では、第1の標本化クロックの標本化タイミングt1
とt2どの間を複数(数十)に分割し、その1つの分割
点を第2の標本化クロックの標本化タイミングt1 ′
として近似して、係数kを求めるようにしている。
なお、上記のような原理に基づいてデジタルサンプルレ
ートコンバート処理を行なう場合、第1及び第2の標本
化クロックは完全に非同期であるため、第2の標本化ク
ロックの1周期毎に、第1の標本化クロックと第2の標
本化クロックとの位相関係を検出する手段や、また、第
1の標本化クロックで標本化したデジタルデータを保持
する手段等が必要となる。
以下、上記のような原理に基づく、この発明の一実施例
について、図面を参照して詳細に説明する。II2図に
おいて、16は第1の標本化クロックが逆相で供給され
る入力端子である。この入力端子16に供給された第1
の標本化クロックは、複数(この実施例では40個)の
遅延素子1101〜174oを直列接続してなる遅延1
!J17に供給される。
ここで、遅延線17を構成する各遅延素子1101〜1
740の遅延旦の合計は、上記第1の標本化クロックの
1周期と略同じになるように設定されている。
このため、各遅延素子1101〜174oの出力は、第
3図に示すようになり、第1の標本化クロックの1周期
が約40分割されることになる。
そして、上記各遅延素子1701〜174oの出力は、
ラッチ回路18に供給される。このラッチ回路18は、
入力端子19に供給される第2の標本化り0ツクの標本
化タイミングに基づいて、各遅延素子1101〜174
0の出力をラッチするものである。
すなわら、第2の標本化クロックの標本化タイミングが
、第3図中TI 、T2のタイミングであるとすると、
ラッチ回路18には、標本化タイミングT1で、 ” 1,0,0,0.・・・、0,0,1,1.・・・
、 1 、1 、1 、 O”なる40ビツトのデータ
がラッチされ、標本化タイミングT2で、 ”  o、1.i、i、  ・・・、1,1,0,0.
  ・・・、0,0,0.1″゛なる40ビツトのデー
タがラッチされる。なお、上記各データは、左端がLS
Bとなっている。
そして、上記ラッチ回路18の出力データは、10ビツ
トづつ4つの読み出し専用メモリ(以下ROMという)
20〜23に、そのアドレスデータとして供給される。
これらROM20〜23は、アドレスとして入力される
上記10ビツトのデータのうちのダウンエツジ部、つま
り該10ビツトのデータをLSB側からみていって“1
,0”となっているパターンが存在するか否かを検出す
るとともに、そのパターンの存在が検出された場合該パ
ターンがLSBから何番目にあるかを示す位置データを
出力する。
また、上記アドレスデータに°゛1,0”となっている
パターンが存在しなければ、つまりアドレスデータにダ
ウンエツジ部がない場合には、ROM20〜23の出力
は0゛°となる。
このため、上述した標本化タイミングT1においては、
各ROM20〜23から構成される装置データは、それ
ぞれ’1.0.0.9” (16進)となり、標本化タ
イミングT2においては、°“o、o、i、O” (1
B進)となる。
このようにしてROM20〜23から構成される装置デ
ータは、16進数出力部24に供給される。この16進
数出力部24は、各ROM20〜23から出力される1
6進の位置データに基づいて、ラッチ回路18にラッチ
された40ビツトの全データの中での上記ダウンエツジ
部の位置を示す16進の位置データを生成するものであ
る。すなわち、この16進数出力部24は、16進で“
0〜28” (10道で゛°0〜40パで第1の標本化
クロックの分割数に対応する)の位置データを出力し得
るものである。
そして、上記16進数出力部24から構成される装置デ
ータは、ラッチ回路18にラッチされた40ビツトのデ
ータをLSBからみていって、ダウンエツジ部が何番目
にあるかを示しているものである。
なお、第3図に示した第2の標本化クロックの標本化タ
イミングT1の場合のように、ラッチ回路18にラッチ
された40ビツトのデータ中にダウンエツジ部が2か所
検出される場合には、時間的に考えて後の方のダウンエ
ツジ部、つまりLSBに近い方のダウンエツジ部の位置
データが、優先的に出力されるようになされている。
このため、標本化タイミングT1の時点における16進
数出力部24の出力位置データは1°°(1β進)とな
り、標本化タイミング■2の時点における16進数出力
部24の出力位置データは“”15” (16進)とな
る。
そして、上記16進数出力部24から構成される装置デ
ータは、ROM25.26にそのアドレスデータとして
供給される。これらROM25.26は、詳細は後述す
るが、それぞれ前述した係数k及び(1−k)を生成し
て出力するものである。
また、前記ROM20.23から出力される位置データ
は、ROM27にそのアドレスデータとして供給される
。このROM27は、ROM23の出力位置データから
ROM20の出力位置データを減算して、上記第1の標
本化クロックの周期を示す周期データを生成するもので
ある。このため、上述した標本化タイミングT1におい
ては、周期データは、39−1−38となり、第1の標
本化クロックの周期が、上記遅延1a17を構成する各
遅延素子の38g!分の遅延量に対応していることがわ
かる。
ところで、上述したように、第2の標本化クロックの標
本化タイミングによっては、ダウンエツジ部が1つ検出
される場合と、2つ検出される場合とがあるため、オア
回路28.29.アンド回路30及びレベルラッチ回路
31によって、ROM20.23の出力位置データが0
°′でない場合にのみ、ROM27の出力周期データを
有効情報とするように1lJtl!lシている。
すなわち、ROM20.23の出力位置データが“O°
′でなく、アンド回路30の出力が第4図(a)に示す
ようにハイ(H)レベルの場合にのみ、ROM27から
出力される同図(b)に示す周期データがレベルラッチ
回路31にラッチされ、該レベルラッチ回路31から同
図(C)に示す周期データが出力されるようになされて
いる。
そして、上記レベルラッチ回路31から出力される周期
データは、上記ROM25.26にそのアドレスデータ
として供給される。これらROM25.26は、上記1
6進数出力部24からの出力位置データとレベルラッチ
回路31からの出力周期データとに基づいて、第1の標
本化クロックの位相ずれやジッタ成分を検出して、それ
に対処する作用を行なうものである。
すなわち、第1の標本化クロックに位相ずれが生じると
、16進数出力部24の出力位置データが、正規の圃に
対して変動するようになる。そして、この変動する位置
データをそのままROM25.26のアドレスデータと
すると、ROM25.26から出力される係数k及び(
1−k)が正規の値から変動してしまうことになるため
、レベルラッチ回路31の出力周期データによって、R
OM25.26のアドレス補正を行ない、801M25
.2Gから出力される係数k及び(1−k)が正規の値
となるように補正しているものである。
このため、第5図に示すように、第1の標本化クロック
によって標本化されI;デジタルデータχn−1,χn
・・・の標本化間隔を1とした場合に対応する、第1の
標本化クロックの標本化タイミングと第2の標本化クロ
ックの標本化タイミングとの位相差に対応する係数k及
び(1−k)を、正確に生成することができる。
そして、上記ROM25.26から出力される係数k及
び(1−k)は、乗算回路32.33の一方の入力端に
それぞれ供給される。このうち、乗算回路32は、上記
係数にと、第1の標本化クロックによって標本化された
デジタルデータχn−1とを乗算して、 χn−1Φに なるデータを生成する。また、乗算回路33は、上記係
数(1−k>と、第1の標本化クロックによって標本化
されたデジタルデータχnとを乗算して、 χn (1−k> なるデータを生成する。
そして、上記各乗算回路32.33の出力データが、加
算回路34で加算されることにより、前述した式、ym
 =In  (1−k) +Zn−1−kによる演算が
実行され、ここに第2の標本化クロックによって標本化
されたデジタルデータymが出力端子35から得られる
ようになる。
したがって、上記実施例のような構成によれば、従来の
ようにA/D変換とD/A変換とを繰り返すことがない
ので、A/D、D/A両変換回路の影響を受けることが
なく、特にD/A変換時に現われるアパーチャー効果に
よるノイズの影響を無視することができるので、良質な
デジタルデータの生成を行なうことができる。
また、第1の標本化クロックの位相ずれやジッタ成分を
検出して、第1の標本化クロックの位相誤差を自動補正
することができるので、標本化クロックの周波数変動に
十分対処することができ、スタッフインクの不完全性に
影響されることなく、誤差の少ないデジタルデータの生
成を行なうことができる。
なお、この発明は上記実施例に限定されるものではなく
、この外その要旨を逸脱しない節回で種々変形して実施
することができる。
[発明の効果] したがって、以上詳述したようにこの発明によれば、ス
タッフィングの不完全性による悪影響を排除し、波形の
ひずみの少ないデジタルサンプルレートコンバート処理
を行なうことのできる極めて良好なデジタルサンプルレ
ートコンバート制御回路を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明に係るデジタルサンプルレートコンバ
ートt、+! 111回路の原理を説明するためのタイ
ミング図、第2図はこの発明の一実施例を示すブロック
構成図、第3図乃至第5図はそれぞれ同実施例の動作を
説明するためのタイミング図、第6図は従来のデジタル
サンプルレートコンバート回路を示すブロック構成図で
ある。 11・・・入力端子、12・・・D/A変換回路、13
・・・A/D変換回路、14・・・出力端子、16・・
・入力端子、17・・・遅延線、18・・・ラッチ回路
、19・・・入力端子、20〜23・・・ROM、24
・・・16進数出力部、25〜21・・・ROM、28
.29・・・オア回路、30・・・アンド回路、31・
・・レベルラッチ回路、32.33・・・乗算回路、3
4・・・加算回路、35・・・出力端子。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 (b) 第4図 第5図 第6図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 第1の標本化クロックで標本化されているデジタルデー
    タを前記第1の標本化クロックと異なる周波数を有する
    第2の標本化クロックを用いて標本化するデジタルサン
    プルレートコンバート制御回路において、前記第1の標
    本化クロックを遅延量の合計が該第1の標本化クロック
    の周期より長くなるように所定量つづ複数回遅延させて
    前記第1の標本化クロックの周期を複数に分割する遅延
    手段と、この遅延手段によつて所定量づつ遅延された複
    数の前記第1の標本化クロックを前記第2の標本化クロ
    ックでラッチするラッチ手段と、このラッチ手段の出力
    によつて前記第1の標本化クロックの極性反転位置及び
    その周期を示すデータを生成するデータ生成手段と、こ
    のデータ生成手段の出力に基づいて前記第1の標本化ク
    ロックの標本化間隔を1とした場合に対応する前記第1
    の標本化クロックの標本化タイミングと前記第2の標本
    化クロックの標本化タイミングとの時間ずれに対応する
    データkを生成するずれデータ生成手段と、このずれデ
    ータ生成手段から出力されるデータkと前記第1の標本
    化クロックによる標本化データχn及びχn−1とに基
    づいて χn(1−k)+χn−1・k なる演算を行なう演算手段とを具備し、前記演算手段の
    演算結果を前記第2の標本化クロックによる標本化デー
    タとするように構成してなることを特徴とするデジタル
    サンプルレートコンバート制御回路。
JP62009283A 1987-01-19 1987-01-19 デジタルサンプルレートコンバート制御回路 Expired - Lifetime JP2607494B2 (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4954824A (en) * 1987-09-18 1990-09-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Sample rate conversion system having interpolation function with phase locked clock

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4954824A (en) * 1987-09-18 1990-09-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Sample rate conversion system having interpolation function with phase locked clock

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