JPH0413495A - 半田合金とこれを用いたチップ部品の半田付け方法 - Google Patents
半田合金とこれを用いたチップ部品の半田付け方法Info
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3431—Leadless components
-
- H—ELECTRICITY
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/3457—Solder materials or compositions; Methods of application thereof
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は半田合金とこれを用いたチップ部品の半田付は
方法に関するものである。
方法に関するものである。
従来の技術
電子回路基板の製造においてプリント基板に実装される
チップ部品のサイズは、3.2 Xl、 6.2. O
Xl、25.1.6 Xo、 8.1.OXo、5(い
ずれも単位はIIIm)と微小化の傾向にある。
チップ部品のサイズは、3.2 Xl、 6.2. O
Xl、25.1.6 Xo、 8.1.OXo、5(い
ずれも単位はIIIm)と微小化の傾向にある。
このようなチップ部品をプリント基板のランドに接合す
る際に用いられる従来の半田合金は、Sn63wt%−
Pb37wt%の共晶半田である。この共晶半田は液相
線温度Ttrが184℃1固相線温度Tβが183℃で
その差は1℃であり、リフロー時に溶融温度に達すると
固体から瞬時に液体に変化する。
る際に用いられる従来の半田合金は、Sn63wt%−
Pb37wt%の共晶半田である。この共晶半田は液相
線温度Ttrが184℃1固相線温度Tβが183℃で
その差は1℃であり、リフロー時に溶融温度に達すると
固体から瞬時に液体に変化する。
発明が解決しようとする課題
上記従来例では、固体から液体への変化が瞬時に生じる
ため、第2図に示すように、両うンドa、a間の温度差
が小さい場合でもチップ部品すに溶融半田Cの急激な表
面張力が作用し、チップ立ちが生し易いという問題があ
る。
ため、第2図に示すように、両うンドa、a間の温度差
が小さい場合でもチップ部品すに溶融半田Cの急激な表
面張力が作用し、チップ立ちが生し易いという問題があ
る。
又近年の電子回路基板は実装の高密度化によって各部品
が互いに近接しており、その熱容量の影響を受けて温度
分布が局部的に不均一になり易く、両ランド間に温度差
が生じ易い。しかし上記従来例では、液相線温度Taと
固相線温度Tβとの差が僅か1℃で前記温度差が大きい
とこれを許容することが困難であるため、一方のランド
の半田合金が先に溶融しその表面張力でチップ部品を引
張り、やはりチップ立ちを生じ易い。
が互いに近接しており、その熱容量の影響を受けて温度
分布が局部的に不均一になり易く、両ランド間に温度差
が生じ易い。しかし上記従来例では、液相線温度Taと
固相線温度Tβとの差が僅か1℃で前記温度差が大きい
とこれを許容することが困難であるため、一方のランド
の半田合金が先に溶融しその表面張力でチップ部品を引
張り、やはりチップ立ちを生じ易い。
本発明は上記問題点に鑑み、リフロー時の液化が穏やか
に進行し、且つプリント基板の温度分布が局部的に不均
一であってもチップ立ちが生じにくい半田合金を提供す
ることを目的とする。
に進行し、且つプリント基板の温度分布が局部的に不均
一であってもチップ立ちが生じにくい半田合金を提供す
ることを目的とする。
課題を解決するための手段
本発明の半田合金は上記課題を解決するため、液相線温
度と固相線温度との差が、5℃以上であることを特徴と
する。
度と固相線温度との差が、5℃以上であることを特徴と
する。
又本発明のチップ部品の半田付は方法は、上記半田を用
いてチップ部品の半田付けを行うことを特徴とする。
いてチップ部品の半田付けを行うことを特徴とする。
作用
液相線温度Taと固相線温度Tβとの間では半田合金は
液相状態にある部分と固相状態にある部分とが混在して
おり、リフロー時の表面張力は半田合金の温度が固相線
温度Tβから液相線温度Tヶに向かうに従って大きくな
る。本発明では両者間の温度差を5℃以上と従来よりも
太き(設定したことにより、リフロー時の表面張力を徐
々に大きくすることができるので、チップ部品に急激な
表面張力が作用してチップ立ちするという事態を回避す
ることができる。
液相状態にある部分と固相状態にある部分とが混在して
おり、リフロー時の表面張力は半田合金の温度が固相線
温度Tβから液相線温度Tヶに向かうに従って大きくな
る。本発明では両者間の温度差を5℃以上と従来よりも
太き(設定したことにより、リフロー時の表面張力を徐
々に大きくすることができるので、チップ部品に急激な
表面張力が作用してチップ立ちするという事態を回避す
ることができる。
又、一般のりフロー炉によって基板に生じる加熱温度の
バラ付きは5℃前後であるが、これに対して本発明では
両温度差を5℃以上に設定したことにより、リフロー炉
の温度バラツキをカバーすることができるので、チップ
立ちを回避することができる。
バラ付きは5℃前後であるが、これに対して本発明では
両温度差を5℃以上に設定したことにより、リフロー炉
の温度バラツキをカバーすることができるので、チップ
立ちを回避することができる。
実施例
本発明の実施例を、第1図に基き説明する。
ガラスエポキシ基板からなるプリント基板1の相対向す
るランド2上に、チップ部品3として1、OXo、5m
mのチップコンデンサC及びチップ抵抗Rを、11種類
(No、1〜11)の半田合金を用いて夫々接合した。
るランド2上に、チップ部品3として1、OXo、5m
mのチップコンデンサC及びチップ抵抗Rを、11種類
(No、1〜11)の半田合金を用いて夫々接合した。
ランド2は4種類(ランドNo、 1〜4)を使用し、
半田合金は各ラント°2の上にランド2の平面形状と同
一寸法形状になるようにペースト状半田(クリーム半田
)を印刷用スキージを用いてメタルマスクによりガラス
エポキシ基板上に印刷した。
半田合金は各ラント°2の上にランド2の平面形状と同
一寸法形状になるようにペースト状半田(クリーム半田
)を印刷用スキージを用いてメタルマスクによりガラス
エポキシ基板上に印刷した。
第1表に各半田合金の組成とその液相線温度Ttr及び
固相線温度Tβ及び両温度差の絶対値第1表 (単位:
℃) 3の長さ方向寸法し、ランド20幅寸法Wを夫々示す。
固相線温度Tβ及び両温度差の絶対値第1表 (単位:
℃) 3の長さ方向寸法し、ランド20幅寸法Wを夫々示す。
第2表 (単位:mm)
を夫々示し、第2表に各種類のランド2における両者間
の間隔寸法G、ランド2のチップ部品チップ部品3を各
種類のランド2上に印刷されたペースト半田を介して載
置し、基板1を加熱して半田合金をリフローした。リフ
ロー後、各半田合金及び各ランド2におけるチップ部品
30品種ごとにチップ立ち発生数を50の試料について
夫々調べた。その結果を、第3表に示す。
の間隔寸法G、ランド2のチップ部品チップ部品3を各
種類のランド2上に印刷されたペースト半田を介して載
置し、基板1を加熱して半田合金をリフローした。リフ
ロー後、各半田合金及び各ランド2におけるチップ部品
30品種ごとにチップ立ち発生数を50の試料について
夫々調べた。その結果を、第3表に示す。
以上の結果、Nα2及びNo、3(共晶半田)以外の半
田合金、すなわちSnが70w t%以上又は60w
t%以下の場合はチップ立ち発生率がゼロであった。
田合金、すなわちSnが70w t%以上又は60w
t%以下の場合はチップ立ち発生率がゼロであった。
第3表
次にAgや旧を含有する半田合金(毘12〜15)につ
いて同様の実験を行った。その結果を、第4表に示す。
いて同様の実験を行った。その結果を、第4表に示す。
上のBiをSn −Pb系の半田合金に添加することに
より、液相線温度T4や固相線温度Tβを制御すること
ができ、Snが60〜70−t%の場合でもチップ立ち
の発生を回避することができた。
より、液相線温度T4や固相線温度Tβを制御すること
ができ、Snが60〜70−t%の場合でもチップ立ち
の発生を回避することができた。
発明の効果
本発明は上記構成、作用を有するので、チップ部品が微
小であってもチップ立ちを生じることなくプリント基板
に接合することができる。
小であってもチップ立ちを生じることなくプリント基板
に接合することができる。
第1図は本発明の実施例の平面図、第2図は従来例の側
面図である。
面図である。
Claims (2)
- (1)液相線温度と固相線温度との差が、5℃以上であ
ることを特徴とする半田合金。 - (2)請求項1記載の半田合金を用いてチップ部品の半
田付けを行うことを特徴とするチップ部品の半田付け方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11448690A JP3342481B2 (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | チップ部品のリフロー半田付け方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11448690A JP3342481B2 (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | チップ部品のリフロー半田付け方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0413495A true JPH0413495A (ja) | 1992-01-17 |
JP3342481B2 JP3342481B2 (ja) | 2002-11-11 |
Family
ID=14638957
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11448690A Expired - Fee Related JP3342481B2 (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | チップ部品のリフロー半田付け方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3342481B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0677268U (ja) * | 1993-04-01 | 1994-10-28 | 株式会社三協精機製作所 | 磁電変換素子 |
US6212751B1 (en) * | 1998-01-06 | 2001-04-10 | Fuji Machine Mfg. Co., Ltd. | Method and apparatus for examining position of board-support pin, and method and apparatus for positioning board-support pin |
-
1990
- 1990-04-27 JP JP11448690A patent/JP3342481B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0677268U (ja) * | 1993-04-01 | 1994-10-28 | 株式会社三協精機製作所 | 磁電変換素子 |
US6212751B1 (en) * | 1998-01-06 | 2001-04-10 | Fuji Machine Mfg. Co., Ltd. | Method and apparatus for examining position of board-support pin, and method and apparatus for positioning board-support pin |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3342481B2 (ja) | 2002-11-11 |
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