JPH04123462A - 半導体実装装置 - Google Patents
半導体実装装置Info
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- JPH04123462A JPH04123462A JP2242514A JP24251490A JPH04123462A JP H04123462 A JPH04123462 A JP H04123462A JP 2242514 A JP2242514 A JP 2242514A JP 24251490 A JP24251490 A JP 24251490A JP H04123462 A JPH04123462 A JP H04123462A
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 22
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 21
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 8
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 abstract description 12
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 12
- 230000005679 Peltier effect Effects 0.000 abstract description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 abstract description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 abstract 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 5
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 4
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 229910001080 W alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- SBYXRAKIOMOBFF-UHFFFAOYSA-N copper tungsten Chemical compound [Cu].[W] SBYXRAKIOMOBFF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、半導体装置に係り、特に固体撮像素子の冷却
構造に関する。
構造に関する。
(従来の技術)
半導体装置は、一般に温度変化に対しその素子特性も変
化する。即ち温度上昇により熱雑音が増加し、その素子
の持つ性能が著しく劣化する。
化する。即ち温度上昇により熱雑音が増加し、その素子
の持つ性能が著しく劣化する。
それを防ぐ為には、素子の温度上昇を妨げる様素子を冷
却することが必要となる。従来のこのような構造を持っ
た半導体装置を第6図に示す。固体撮像素子1は、セラ
ミック基板3の開口部に接続された金属板2の上に搭載
され、素子上の電極とセラミック基板に設けられた配線
導体4がワイヤ6によって接続される。金属板には冷却
素子が接続されている。即ち、これはP型半導体9の両
面に電極9a、9bを形成したもので、これによりベル
チェ効果を用いた冷却素子を構成しており、上側の電極
9aは金属板2に接続され、下側の電極9bは放熱板1
2に接続されている。3はセラミック枠体、4は接続配
線、5は外部リード端子、6はワイヤ、7はフレア板(
遮光板)、IOは透光性蓋である。
却することが必要となる。従来のこのような構造を持っ
た半導体装置を第6図に示す。固体撮像素子1は、セラ
ミック基板3の開口部に接続された金属板2の上に搭載
され、素子上の電極とセラミック基板に設けられた配線
導体4がワイヤ6によって接続される。金属板には冷却
素子が接続されている。即ち、これはP型半導体9の両
面に電極9a、9bを形成したもので、これによりベル
チェ効果を用いた冷却素子を構成しており、上側の電極
9aは金属板2に接続され、下側の電極9bは放熱板1
2に接続されている。3はセラミック枠体、4は接続配
線、5は外部リード端子、6はワイヤ、7はフレア板(
遮光板)、IOは透光性蓋である。
今、熱の移動に関してみると、電極9aと9bの間に電
圧を印加するとペルチェ効果により、電極9aとP型半
導体9との接合部では吸熱され、電極9bとP型半導体
9の接合部では放熱される。そのため固体撮像素子1に
より発生した熱は金属板2を通して放熱し得るものであ
る。しかし、固体撮像素子の画素数が増え、動作周波数
が上がり、更に素子の発熱が大きくなるとこのような冷
却方法だけでは不十分である。即ち素子1の中で半導体
素子が形成されているのは上面のごくわずかな深さ部分
であり、この部分で発生した熱はチップの裏面まで伝わ
った後に、金属板2に伝わる。従って、この部分に熱抵
抗が存在し、その部分で発生する温度差が無視出来なく
なっている。発熱量の増大に比例して温度差も大きくな
る。従って、画素数がふえ、動作周波数が上がると発熱
量が増え、チップ表面の温度が上がり、熱雑音が増える
という問題を生じる。一方、冷却素子の能力を更に上げ
るという方法が解決策としては考えられるが、その為の
消費電力が増大し、システム全体の発熱量が増大したり
、又、コストが上がるという問題が残る。
圧を印加するとペルチェ効果により、電極9aとP型半
導体9との接合部では吸熱され、電極9bとP型半導体
9の接合部では放熱される。そのため固体撮像素子1に
より発生した熱は金属板2を通して放熱し得るものであ
る。しかし、固体撮像素子の画素数が増え、動作周波数
が上がり、更に素子の発熱が大きくなるとこのような冷
却方法だけでは不十分である。即ち素子1の中で半導体
素子が形成されているのは上面のごくわずかな深さ部分
であり、この部分で発生した熱はチップの裏面まで伝わ
った後に、金属板2に伝わる。従って、この部分に熱抵
抗が存在し、その部分で発生する温度差が無視出来なく
なっている。発熱量の増大に比例して温度差も大きくな
る。従って、画素数がふえ、動作周波数が上がると発熱
量が増え、チップ表面の温度が上がり、熱雑音が増える
という問題を生じる。一方、冷却素子の能力を更に上げ
るという方法が解決策としては考えられるが、その為の
消費電力が増大し、システム全体の発熱量が増大したり
、又、コストが上がるという問題が残る。
(発明が解決しようとする課題)
以上の様に、固体撮像素子を収納するパッケージの冷却
構造において、チップの裏面から熱を伝え冷却素子に伝
えるような構造ではチップ自体の持っている熱抵抗によ
る温度差が問題となり、チップの発熱量が更に増大した
場合、この分の温度上昇が無視出来ず、熱雑音が発生す
るという課題が生じている。又、冷却素子の能力を高め
ると、冷却の為の消費電力が著しく大きくなってしまう
。
構造において、チップの裏面から熱を伝え冷却素子に伝
えるような構造ではチップ自体の持っている熱抵抗によ
る温度差が問題となり、チップの発熱量が更に増大した
場合、この分の温度上昇が無視出来ず、熱雑音が発生す
るという課題が生じている。又、冷却素子の能力を高め
ると、冷却の為の消費電力が著しく大きくなってしまう
。
本発明は、この様な課題を解決する半導体装置を提供す
ることを目的とする。
ることを目的とする。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので1固体撮像素
子を収納するパッケージの蓋体が、前記固体撮像素子の
受光面に接続して設けられた透光性の熱伝導性材料によ
り構成されていることを特徴とする半導体装置を提供す
るものである。
子を収納するパッケージの蓋体が、前記固体撮像素子の
受光面に接続して設けられた透光性の熱伝導性材料によ
り構成されていることを特徴とする半導体装置を提供す
るものである。
また、本発明は固体撮像素子を収納するパッケージの蓋
体が、裏面に前記固体撮像素子とパッケージ間を接続す
る配線パターンが施された熱伝導性材料よりなり、前記
蓋体には開口部が設けられ、この開口部に窓材が取付け
られていることを特徴とする半導体装置を提供するもの
である。
体が、裏面に前記固体撮像素子とパッケージ間を接続す
る配線パターンが施された熱伝導性材料よりなり、前記
蓋体には開口部が設けられ、この開口部に窓材が取付け
られていることを特徴とする半導体装置を提供するもの
である。
(作 用)
この様にすることにより、チップ表面で発生した熱が直
接熱伝導材から逃げるために、効率的に素子を冷却する
ことが可能になり、熱雑音等素子の性能劣化を効率的に
抑えることが出来る。
接熱伝導材から逃げるために、効率的に素子を冷却する
ことが可能になり、熱雑音等素子の性能劣化を効率的に
抑えることが出来る。
また、発熱に伴う結像面のずれ等も防止することが出来
る。
る。
(実施例)
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す断面図である。
例えば、窒化アルミセラミック性(AIIN)の枠体3
の裏側の開口を塞ぐ様に例えばCu−W (銅・タング
ステン合金)からなる板状の熱伝導性部材2が設けられ
ている。その熱伝導性部材2のパッケージ内部側の面に
固体撮像素子1が取り付けられている。また、熱伝導性
部材2の固体撮像素子1とは反対側の面にペルチェ効果
を有する冷却素子9が取り付けられている。この冷却素
子9は、P型半導体の上下両面に電極9aと9bを形成
することにより構成されており、上側の電極9aは熱伝
導性部材2に取り付けられ、下側の電極9bは放熱板1
2に取り付けられている。また素子1の電極と枠体3の
接続配線4は、金属ワイヤー6で接続されている。
の裏側の開口を塞ぐ様に例えばCu−W (銅・タング
ステン合金)からなる板状の熱伝導性部材2が設けられ
ている。その熱伝導性部材2のパッケージ内部側の面に
固体撮像素子1が取り付けられている。また、熱伝導性
部材2の固体撮像素子1とは反対側の面にペルチェ効果
を有する冷却素子9が取り付けられている。この冷却素
子9は、P型半導体の上下両面に電極9aと9bを形成
することにより構成されており、上側の電極9aは熱伝
導性部材2に取り付けられ、下側の電極9bは放熱板1
2に取り付けられている。また素子1の電極と枠体3の
接続配線4は、金属ワイヤー6で接続されている。
接続配線4は夫々、枠体3の側壁に沿って互いに間隔を
置いて配置された外部リード端子5に接続されている。
置いて配置された外部リード端子5に接続されている。
又、枠体3には、固体撮像素子の受光面への不要な光の
到達を防ぐために、フレア板(金属製の遮光板)7が設
けられている。固体撮機素子1表面には、透光性の良熱
伝導性絶縁材料からなる蓋体8が接し、それが枠体に接
続されている。蓋体8の材料としては高純度の窒化アル
ミニウム(An) N)やアルミナ(AfI203)が
用いられる。
到達を防ぐために、フレア板(金属製の遮光板)7が設
けられている。固体撮機素子1表面には、透光性の良熱
伝導性絶縁材料からなる蓋体8が接し、それが枠体に接
続されている。蓋体8の材料としては高純度の窒化アル
ミニウム(An) N)やアルミナ(AfI203)が
用いられる。
ここで冷却素子9の電極9aからP型半導体、電極9b
へと電流を流すと、ベルチェ効果により、電極9aが吸
熱部、電極9bが放熱部となる。これによって熱伝導性
部材2からの熱はこれと接している金属板9aにおいて
吸収され、金属板9b側より放熱板12を通して放熱さ
れる。そして、半導体素子表面で発生した熱が、良熱伝
導性部材8から枠体3、熱伝導部材2を通って吸熱板9
aに流れる。このような構造とすることにより、チップ
表面が直接冷却されるために、素子の性能劣化を効率的
に防ぐことが可能となる。
へと電流を流すと、ベルチェ効果により、電極9aが吸
熱部、電極9bが放熱部となる。これによって熱伝導性
部材2からの熱はこれと接している金属板9aにおいて
吸収され、金属板9b側より放熱板12を通して放熱さ
れる。そして、半導体素子表面で発生した熱が、良熱伝
導性部材8から枠体3、熱伝導部材2を通って吸熱板9
aに流れる。このような構造とすることにより、チップ
表面が直接冷却されるために、素子の性能劣化を効率的
に防ぐことが可能となる。
第2図は第2の実施例を示す断面図である。本実施例で
は第1の実施例において固体撮像するチップ1の表面に
接続された透光性の良熱伝導性材料からなる蓋体8は枠
体3に接続され更に枠体を超えて両側8a、8bに延長
されている。8a、8bにはペルチェ冷却素子11が接
続されている。熱流路として半導体素子1表面で発生し
た熱が蓋体8から吸熱側の電極11aに流れる経路が加
わるllbは放熱側の電極13は、放熱板である。
は第1の実施例において固体撮像するチップ1の表面に
接続された透光性の良熱伝導性材料からなる蓋体8は枠
体3に接続され更に枠体を超えて両側8a、8bに延長
されている。8a、8bにはペルチェ冷却素子11が接
続されている。熱流路として半導体素子1表面で発生し
た熱が蓋体8から吸熱側の電極11aに流れる経路が加
わるllbは放熱側の電極13は、放熱板である。
第3図は第3の実施例を示す断面図である。本実施例で
は蓋体14は不明瞭な良熱伝性絶縁材料からなる。そし
て、その下面には配線パターン15が形成され、固体撮
像素子1の端子と枠体3の配線4とを先の実施例の様な
ワイヤを用いずに相互接続している。これにより素子1
上面から蓋体14、更に枠体3への放熱路が形成される
。蓋体I4の材料としては、窒化アルミニウム(Al1
N)やアルミナ(AII203)に不純物を入れて不
透明にしたものが用いられる。例えば窒化アルミニウム
の場合はW 、 Ca。
は蓋体14は不明瞭な良熱伝性絶縁材料からなる。そし
て、その下面には配線パターン15が形成され、固体撮
像素子1の端子と枠体3の配線4とを先の実施例の様な
ワイヤを用いずに相互接続している。これにより素子1
上面から蓋体14、更に枠体3への放熱路が形成される
。蓋体I4の材料としては、窒化アルミニウム(Al1
N)やアルミナ(AII203)に不純物を入れて不
透明にしたものが用いられる。例えば窒化アルミニウム
の場合はW 、 Ca。
とOの化合物を添加して不透明にする。これにより遮光
板を兼ねている。アルミナの場合はCr又はTiを添加
する。蓋体14には受光面に対応して開口が設けられ、
上面にはガラス窓1Bが取付けられている。
板を兼ねている。アルミナの場合はCr又はTiを添加
する。蓋体14には受光面に対応して開口が設けられ、
上面にはガラス窓1Bが取付けられている。
第4図は、第3図の蓋体14を枠体3と同様多層構造に
して間に金属層17を形成し、スルーホールを介して接
地される配線15に接続する構造として配線15のシー
ルドを図ったものである。
して間に金属層17を形成し、スルーホールを介して接
地される配線15に接続する構造として配線15のシー
ルドを図ったものである。
また、第3図の変形例として、第2図と同様蓋体14を
張出させ、冷却素子11を取付けるようにしてもよい(
第5図)。
張出させ、冷却素子11を取付けるようにしてもよい(
第5図)。
尚、第1図、第2図の実施例では蓋体8は素子1の上面
に圧接し、第3図乃至第5図の実施例では蓋体14はそ
の配線15を介して素子1の端子に接続されているが、
蓋体8,14と素子1との間に接着層を介層させてよい
ことは勿論である。
に圧接し、第3図乃至第5図の実施例では蓋体14はそ
の配線15を介して素子1の端子に接続されているが、
蓋体8,14と素子1との間に接着層を介層させてよい
ことは勿論である。
[発明の効果]
以上述べて来た様に本発明によれば、冷却素子の冷却能
力を半導体素子を冷却することにより効率良く使うこと
ができ、その為に固体撮像素子の性能を向上させること
ができる。
力を半導体素子を冷却することにより効率良く使うこと
ができ、その為に固体撮像素子の性能を向上させること
ができる。
第1図、第2図は本発明の実施例を示す断面図、第3図
、第4図、第5図は他の実施例を示す断面図、第6図は
従来例を示す断面図である。図において、 1・・・固体撮像素子、2・・・金属板、3・・・枠体
、4・・・接続配線、5・・・外部リード端子、6・・
・ワイヤ、7・・・フレア板、8,14・・・蓋体、9
,11・・・冷却素子、10・・・透光性窓、12.1
3・・・放熱板。
、第4図、第5図は他の実施例を示す断面図、第6図は
従来例を示す断面図である。図において、 1・・・固体撮像素子、2・・・金属板、3・・・枠体
、4・・・接続配線、5・・・外部リード端子、6・・
・ワイヤ、7・・・フレア板、8,14・・・蓋体、9
,11・・・冷却素子、10・・・透光性窓、12.1
3・・・放熱板。
Claims (4)
- (1)固体撮像素子を収納するパッケージの蓋体が、前
記固体撮像素子の受光面に接続して設けられた透光性の
熱伝導性材料により構成されていることを特徴とする半
導体実装装置。 - (2)固体撮像素子を吸収するパッケージの蓋体が、裏
面に前記固体撮像素子とパッケージ間を接続する配線パ
ターンが施された熱伝導性材料よりなり、前記蓋体には
開口部が設けられ、この開口部に窓材が取付けられてい
ることを特徴とする半導体実装装置。 - (3)前記固体撮像素子の裏面側に冷却素子が取付けら
れていることを特徴とする請求項(1)又は(2)記載
の半導体実装装置。 - (4)前記蓋体の延在部に冷却素子が取付けられている
ことを特徴とする請求項(1)又は(2)記載の半導体
実装装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2242514A JPH04123462A (ja) | 1990-09-14 | 1990-09-14 | 半導体実装装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2242514A JPH04123462A (ja) | 1990-09-14 | 1990-09-14 | 半導体実装装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04123462A true JPH04123462A (ja) | 1992-04-23 |
Family
ID=17090240
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2242514A Pending JPH04123462A (ja) | 1990-09-14 | 1990-09-14 | 半導体実装装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04123462A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5500785A (en) * | 1993-02-24 | 1996-03-19 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Circuit board having improved thermal radiation |
US5625226A (en) * | 1994-09-19 | 1997-04-29 | International Rectifier Corporation | Surface mount package with improved heat transfer |
KR100231934B1 (ko) * | 1995-04-26 | 1999-12-01 | 마찌다 가쯔히꼬 | 반도체 장치 |
US9155212B2 (en) | 2012-04-27 | 2015-10-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Electronic component, mounting member, electronic apparatus, and their manufacturing methods |
US9220172B2 (en) | 2012-04-27 | 2015-12-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Electronic component, electronic module, their manufacturing methods, mounting member, and electronic apparatus |
US9253922B2 (en) | 2012-04-27 | 2016-02-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Electronic component and electronic apparatus |
US9585287B2 (en) | 2013-10-25 | 2017-02-28 | Canon Kabushiki Kaisha | Electronic component, electronic apparatus, and method for manufacturing the electronic component |
-
1990
- 1990-09-14 JP JP2242514A patent/JPH04123462A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US5586007A (en) * | 1993-02-24 | 1996-12-17 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Circuit board having improved thermal radiation |
US5625226A (en) * | 1994-09-19 | 1997-04-29 | International Rectifier Corporation | Surface mount package with improved heat transfer |
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US9220172B2 (en) | 2012-04-27 | 2015-12-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Electronic component, electronic module, their manufacturing methods, mounting member, and electronic apparatus |
US9253922B2 (en) | 2012-04-27 | 2016-02-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Electronic component and electronic apparatus |
US9585287B2 (en) | 2013-10-25 | 2017-02-28 | Canon Kabushiki Kaisha | Electronic component, electronic apparatus, and method for manufacturing the electronic component |
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