JPH04101782A - スエード様研磨布 - Google Patents
スエード様研磨布Info
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- 239000004744 fabric Substances 0.000 title claims abstract description 24
- 229920003225 polyurethane elastomer Polymers 0.000 claims abstract description 22
- 229920005862 polyol Polymers 0.000 claims abstract description 15
- 150000003077 polyols Chemical class 0.000 claims abstract description 15
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims abstract description 13
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 claims abstract description 4
- 230000001112 coagulating effect Effects 0.000 claims abstract 2
- 238000005498 polishing Methods 0.000 claims description 53
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 15
- 238000000227 grinding Methods 0.000 claims description 4
- -1 polyhexamethylene carbonate Polymers 0.000 abstract description 21
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract description 13
- 230000007062 hydrolysis Effects 0.000 abstract description 8
- 238000006460 hydrolysis reaction Methods 0.000 abstract description 8
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 7
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 6
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 abstract description 6
- 239000004332 silver Substances 0.000 abstract description 6
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 abstract 1
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 abstract 1
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 28
- WGCNASOHLSPBMP-UHFFFAOYSA-N hydroxyacetaldehyde Natural products OCC=O WGCNASOHLSPBMP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylformamide Chemical compound CN(C)C=O ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 6
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 5
- 230000015271 coagulation Effects 0.000 description 5
- 238000005345 coagulation Methods 0.000 description 5
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 5
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 5
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 5
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 4
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 229920003048 styrene butadiene rubber Polymers 0.000 description 4
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 4
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 4
- XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acetate Chemical compound CCOC(C)=O XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- DNIAPMSPPWPWGF-UHFFFAOYSA-N Propylene glycol Chemical compound CC(O)CO DNIAPMSPPWPWGF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 239000005708 Sodium hypochlorite Substances 0.000 description 3
- MTHSVFCYNBDYFN-UHFFFAOYSA-N diethylene glycol Chemical compound OCCOCCO MTHSVFCYNBDYFN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 239000004745 nonwoven fabric Substances 0.000 description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 3
- SUKJFIGYRHOWBL-UHFFFAOYSA-N sodium hypochlorite Chemical compound [Na+].Cl[O-] SUKJFIGYRHOWBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 239000004970 Chain extender Substances 0.000 description 2
- IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N Dimethylsulphoxide Chemical compound CS(C)=O IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920000459 Nitrile rubber Polymers 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 2
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 2
- 239000000806 elastomer Substances 0.000 description 2
- 238000011049 filling Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- GLDOVTGHNKAZLK-UHFFFAOYSA-N octadecan-1-ol Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCCCO GLDOVTGHNKAZLK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920000570 polyether Polymers 0.000 description 2
- 239000005056 polyisocyanate Substances 0.000 description 2
- 229920001228 polyisocyanate Polymers 0.000 description 2
- 229920000909 polytetrahydrofuran Polymers 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- XFNJVJPLKCPIBV-UHFFFAOYSA-N trimethylenediamine Chemical compound NCCCN XFNJVJPLKCPIBV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 2
- PUPZLCDOIYMWBV-UHFFFAOYSA-N (+/-)-1,3-Butanediol Chemical compound CC(O)CCO PUPZLCDOIYMWBV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 1,4-Dioxane Chemical compound C1COCCO1 RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-L Carbonate Chemical compound [O-]C([O-])=O BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229920000742 Cotton Polymers 0.000 description 1
- PIICEJLVQHRZGT-UHFFFAOYSA-N Ethylenediamine Chemical compound NCCN PIICEJLVQHRZGT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005057 Hexamethylene diisocyanate Substances 0.000 description 1
- FXHOOIRPVKKKFG-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylacetamide Chemical compound CN(C)C(C)=O FXHOOIRPVKKKFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 208000000474 Poliomyelitis Diseases 0.000 description 1
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 239000004721 Polyphenylene oxide Substances 0.000 description 1
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 1
- 229920000297 Rayon Polymers 0.000 description 1
- 150000001414 amino alcohols Chemical class 0.000 description 1
- 239000006229 carbon black Substances 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 229910000420 cerium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000008119 colloidal silica Substances 0.000 description 1
- 238000007334 copolymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- KORSJDCBLAPZEQ-UHFFFAOYSA-N dicyclohexylmethane-4,4'-diisocyanate Chemical compound C1CC(N=C=O)CCC1CC1CCC(N=C=O)CC1 KORSJDCBLAPZEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000005442 diisocyanate group Chemical group 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000839 emulsion Substances 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 150000002334 glycols Chemical class 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- RRAMGCGOFNQTLD-UHFFFAOYSA-N hexamethylene diisocyanate Chemical compound O=C=NCCCCCCN=C=O RRAMGCGOFNQTLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 1
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- WHQSYGRFZMUQGQ-UHFFFAOYSA-N n,n-dimethylformamide;hydrate Chemical compound O.CN(C)C=O WHQSYGRFZMUQGQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GOQYKNQRPGWPLP-UHFFFAOYSA-N n-heptadecyl alcohol Natural products CCCCCCCCCCCCCCCCCO GOQYKNQRPGWPLP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoceriooxy)cerium Chemical compound [Ce]=O.O=[Ce]=O BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002239 polyacrylonitrile Polymers 0.000 description 1
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 1
- 229920005906 polyester polyol Polymers 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920000921 polyethylene adipate Polymers 0.000 description 1
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- AOHJOMMDDJHIJH-UHFFFAOYSA-N propylenediamine Chemical compound CC(N)CN AOHJOMMDDJHIJH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KIDHWZJUCRJVML-UHFFFAOYSA-N putrescine Chemical compound NCCCCN KIDHWZJUCRJVML-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002964 rayon Substances 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 150000003384 small molecules Chemical class 0.000 description 1
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 1
- 229920002994 synthetic fiber Polymers 0.000 description 1
- 239000012209 synthetic fiber Substances 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004753 textile Substances 0.000 description 1
- DVKJHBMWWAPEIU-UHFFFAOYSA-N toluene 2,4-diisocyanate Chemical compound CC1=CC=C(N=C=O)C=C1N=C=O DVKJHBMWWAPEIU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002759 woven fabric Substances 0.000 description 1
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- Polishing Bodies And Polishing Tools (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
性に優れ、耐久性のよい、特に集積回路素子用半導体基
板、例えば高純度シリコンや化合物半導体等からなるウ
ェハーの鏡面加工、あるいはガラス、金属、セラミック
等の仕上研磨に好適なスェード様研磨布に関する。
不織布、あるいはこれらにポリウレタンエラストマー等
の樹脂またはスチレンブタジェンゴム、ニトリルブタジ
ェンゴム等のゴム状物質を充填して得られる基体に、ポ
リウレタンエラストマーの溶液を塗布し、これを凝固液
で処理し湿式凝固して多孔質銀面層を形成せしめ、水洗
乾燥後、該銀面層表面を研削して得られるスェード様研
磨布は夙によく知られており、高純度シリコンや化合物
半導体からなるウェハーの鏡面加工工程、或いはガラス
製品、金属製品等の仕上工程に於て、酸化セリウム、酸
化アルミニウム、酸化ケイ素等の微細遊離砥粒を分散せ
しめた研磨液を供給しながら研磨する所謂精密研磨用と
して広く使用されている。
給する研磨液中の砥粒の種類3粒度、濃度等、あるいは
研磨の際の温度、圧力1回転数等の加工条件を適宜設定
することで、所望する仕上精度のものを得ている。また
、仕上状態の向上を目的として、研磨液をpH9〜12
のアルカリ性に調整したり、研磨液に次亜塩素酸ナトリ
ウム等の薬品を混入して、被研磨物の表面をエツチング
しながら研磨する方法が一般的である。
、耐アルカリ性、耐薬品性が十分でなく、良好なる研磨
性能を長時間維持することができない。耐加水分解性(
耐アルカリ性)を向上させたスェード様シート状物がい
くつか提案されてはいるが、この場合も例えば次亜塩素
酸ナトリウム等に対する耐性に乏しいといった、耐薬品
性に問題がある。即ち、耐加水分解性(耐アルカリ性)
、耐薬品性に優れ研磨耐久性の良好なスェード様研磨布
は未だ満足すべきものが提案されていないのが現状であ
る。
完成したものであって、本発明の目的は耐加水分解性、
耐薬品性に優れ、耐久性が良く研磨可使寿命の長いスェ
ード様研磨布を提供するにある。
和性有機溶剤溶液を塗布し、水系凝固液で処理して基体
上に多孔質銀面層を形成せしめ、該銀面層表面を研削す
ることからなるスェード様研磨布であって、前記ポリウ
レタンエラストマーのポリオール成分としてポリヘキサ
カーボネートを30モル%以上含むことを特徴とするス
ェード様研磨布によって達成される。
アミド、ポリエステル、ポリアクリロニトリル等の繊維
またはこれらの混合物からなる編織布や不織布、或はこ
れらにスチレンブタジェンゴム、ニトリルブタジェンゴ
ム等のゴム状物質またはポリウレタンエラストマー等の
樹脂を充填して得られるものが挙げられるが、特にこれ
らに限定されるものではない。
ト、ポリオール及び鎖伸長剤とから製造されるが、本発
明の銀面形成用に使用されるポリウレタンエラストマー
は、ポリオール成分としてポリへキサメチレンカーボネ
ートを30モル%以上、好ましくは50モル%以上含む
ものである。
満の場合は、耐加水分解性(耐アルカリ性)及び耐薬品
性が不十分となる。
サメチレンカーボネートのみを用いた場合が、耐加水分
解性、耐薬品性が良好であり好適であるが、他のポリオ
ールを併用し共重合させてもよい。併用されるポリオー
ルとしては、例えばポリエチレンアジペートグリコール
、ポリプロピレンアジペートグリコール、ポリエチレン
プロピレンアジペートグリコール、ポリブチレンアジペ
ートグリコール、ポリエチレンブチレンアジペートグリ
コール、ポリペンタメチレンアジペートグリコール等の
ポリエステルポリオール類、或はポリエチレンエーテル
グリコール、ポリプロピレンエーテルグリコール、ポリ
テトラメチL′・′エーテルグリコール、ポリへキサメ
チレンエーテルグリコール等のポリエーテルポリオール
類等、両末端に水酸基を有する分子量500〜8000
のポリオール類が挙げられる。共重合されるポリオ−2
ルとしてはポリエステル類よりもポリエーテル類の方が
耐加水分解性、耐薬品性が良く好ましい。
ソシアネートとしては、例えばジフェニルメタン−4,
4′−ジイソンアネート、トリレン2.4−ジイソシア
ネート、キンレンジイソンアネート、ジシクロヘキシル
メタン−4,4′ −ジイソシアネート、ヘキサメチレ
ンジイソシアネート等の有機ジイソシアネート、或いは
これらの混合物が挙げられる。また鎖伸長剤としては、
活性水素基を含んだ低分子化合物、例えばエチレングリ
コール、プロピレングリコール、ブチレングリコール、
ジエチレングリコール等のグリコール類、例えばエチレ
ンジアミン、トリメチレンジアミン。
、あるいはアミノアルコール等を挙げることができる。
を溶解する溶剤としては、例えばジメチルホルムアミド
、ジメチルスルホキシド、テトラヒドロフラン、ジメチ
ルアセトアミド、エチルアセテート、ジオキサン等の水
混和性有Il溶剤を挙げることができるが、特にこれら
に限定されるものではない。ポリウレタンエラストマー
溶液のエラストマー固形分濃度は好ましくは10〜40
重量%、更に好ましくは20〜40重量%である。
遇ぎて、溶液が基体へ過度に浸み込み、良好なる多孔質
銀面層が形成されにくくなる。
様にすればよい。即ち、上述の如き組成に調整された銀
面形成用ポリウレタンエラストマー溶液を前記基体上に
ロールコータ−、ナイフコーター等の適宜な塗布手段を
用いて、好ましくは150〜1500g/cm”、更に
好ましくは300〜1.200g/m” の塗布量(溶
液として)になるように塗布し、次いで水或は水とポリ
ウレタンエラストマーの溶剤との混合液中に浸漬して湿
式凝固せしめた後、脱溶剤のための水洗、乾燥をするこ
とにより、基体面に垂直且つ均一な紡錘状気孔を有する
銀面層を具えたシート状物質が得られる。更に、サンド
ペーパー使用の表面研削機などにより該シート状物質の
銀面表面を研削することにより、表面孔形状も均一で且
つ断面孔形状が基体面に垂直で均一な紡錘状気孔である
スェード様研磨布が得られる。
性)、耐薬品性に優れているため、これを用いて研磨す
れば被研磨体への加工傷(所謂スクラッチ)の発生が少
なく、且つ良好なる研磨状態が長時間にわたり維持され
、従来品に比べ耐久性に優れ且つ安定した研磨ができる
。
その前に本実施例及び比較例における研磨試験方法及び
その評価方法について記述す゛る。
りのない限り、「重量部」及び「重量%」を意味する。
且つ水酸化ナトリウムによりpH11に調整された研磨
液を用い、得られた研磨布を使用して、スピードファム
社製36SPAW研磨機にて、5インチシリコンウェハ
ーを1回の研磨時間30分間で研磨した。研磨は全部で
60回くり返し行った。その他の研磨条件は次の通りで
あった。
素酸ナトリウムを1%溶解した研磨液を用い、得られた
研磨布を使用して、スピードファム社製36SPAW研
磨機にて、3インチGaAsウェハーを研磨した。1回
の研磨時間を30分間とし、研磨は60回くり返し行っ
た。その他の研磨条件は研磨試験Iと同様とした。
ッチ)を確認したウェハーの割合を求め、下記基準に準
拠して評価した。
m )よりなるニードルバンチされた不織布(目付30
0 g/m”、厚み2.0m/m)に、スチレンブタジ
ェン共重合体のエマルジョン溶液を含浸させ、加熱架橋
反応後、Q、 9 m mの厚さにスライスして、繊維
比率46%、スチレンブタジェン共重合体比率54%の
基体を得た。
ネート(P)IMC)とポリテトラメチレンエーテルグ
リコール(PTMG)とを第1表に示す如きモル比率に
て計1モルをポリオール成分として用い、ジフェニルメ
タン−4,4′−ジイソシアネート3モル、エチレング
リコール2モルを、ジメチルホルムアミド中で溶液重合
させて濃度30%のポリウレタンエラストマー溶液を得
た。
ンブラック粉末5部、ステアリルアルコール3部、ジメ
チルホルムアミド100部を加え、粘度100ボイズ/
30℃の銀面ポリウレタンエラストマー塗布液を得た。
8部m” 塗布した後、30℃の凝固浴(水ニジメチル
ホルムアミド=90:10重量比)の中に浸漬して凝固
させ、温水で充分に脱溶媒した後、120℃にて熱風乾
燥を行った。
て0.15mm研削し、スェード様研磨布を得た。結果
は第1表の通りであった。
メチレンカーボネート(PHMC)とポリヘキサメチレ
ンアジペートグリコール(AD)とをモル比率50 :
50で用いた他は、実施例1〜4と同様の方法でスェ
ード様研磨布を得た。結果は第1表の通りであった。
ADのみを用いた他は、実施例5と同様の方法でスェー
ド様研磨布を得た。結果は第1表の手続補正書(自発) 1.事件の表示 平成 2年特許願第220571号 2、発明の名称 住所 東京都墨田区墨田五丁目17番4号4゜ 〒534 大阪市部島区友渕町1丁目5番90号鐘紡
株式会社 特許部 電話(06)921−1251 補正により増加する請求項の数 な し5、補正の対
象 明細書の「特許請求の範囲」の欄及び「発明の詳細な説
明」の欄 6、補正の内容 (1)明細書の「特許請求の範囲」の欄の記載を別紙の
通り補正します。
」とあるを、「ポリへキサメチレンカーボネート」と訂
正します。
あるを、r15〜30重量%」と訂正します。
溶剤溶液を塗布し、水系凝固液で処理して基体上に多孔
質銀面層を形成せしめ、該銀面層表面を研削することか
らなるスェード様研磨布であって、前記ポリウレタンエ
ラストマーのポリオール成分としてポリへキサメチレン
カーボネートを30モル%以上含むことを特徴とするス
ェード様研磨布。
Claims (1)
- (1)基体にポリウレタンエラストマーの水混和性有機
溶剤溶液を塗布し、水系凝固液で処理して基体上に多孔
質銀面層を形成せしめ、該銀面層表面を研削することか
らなるスエード様研磨布であって、前記ポリウレタンエ
ラストマーのポリオール成分としてポリヘキサカーボネ
ートを30モル%以上含むことを特徴とするスエード様
研磨布。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2220571A JPH0661702B2 (ja) | 1990-08-21 | 1990-08-21 | スエード様研磨布 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2220571A JPH0661702B2 (ja) | 1990-08-21 | 1990-08-21 | スエード様研磨布 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04101782A true JPH04101782A (ja) | 1992-04-03 |
JPH0661702B2 JPH0661702B2 (ja) | 1994-08-17 |
Family
ID=16753075
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2220571A Expired - Fee Related JPH0661702B2 (ja) | 1990-08-21 | 1990-08-21 | スエード様研磨布 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPH0661702B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20080299350A1 (en) * | 2007-05-29 | 2008-12-04 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method of Polishing Compound Semiconductor Substrate, Compound Semiconductor Substrate, Method of Manufacturing Compound Semiconductor Epitaxial Substrate, and Compound Semiconductor Epitaxial Substrate |
JP2009074217A (ja) * | 2007-09-25 | 2009-04-09 | Toray Coatex Co Ltd | ポリッシングテープ |
JP2011073111A (ja) * | 2009-09-30 | 2011-04-14 | Fujibo Holdings Inc | 研磨パッド |
-
1990
- 1990-08-21 JP JP2220571A patent/JPH0661702B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JP4552968B2 (ja) * | 2007-05-29 | 2010-09-29 | 住友電気工業株式会社 | 化合物半導体基板の研磨方法、化合物半導体基板、化合物半導体エピ基板の製造方法および化合物半導体エピ基板 |
US8133815B2 (en) * | 2007-05-29 | 2012-03-13 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method of polishing compound semiconductor substrate, compound semiconductor substrate, method of manufacturing compound semiconductor epitaxial substrate, and compound semiconductor epitaxial substrate |
TWI404133B (zh) * | 2007-05-29 | 2013-08-01 | Sumitomo Electric Industries | 化合物半導體基板之研磨方法、化合物半導體基板、化合物半導體磊晶基板之製造方法及化合物半導體磊晶基板 |
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