JPH0398653A - 穀物サンプルの自主検定システムにおけるサンプル搬送装置 - Google Patents
穀物サンプルの自主検定システムにおけるサンプル搬送装置Info
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- JPH0398653A JPH0398653A JP23524789A JP23524789A JPH0398653A JP H0398653 A JPH0398653 A JP H0398653A JP 23524789 A JP23524789 A JP 23524789A JP 23524789 A JP23524789 A JP 23524789A JP H0398653 A JPH0398653 A JP H0398653A
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- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
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- Adjustment And Processing Of Grains (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、各生産者からの穀物を荷受けし、乾燥，精選
，貯蔵の各工程を経て出荷できるようにした穀物調製施
設において使用され、その荷受けした穀物の品質を自主
検定する穀物サンプルの自主検定システムの改良に関す
る． （従来の技術） 従来、この種のシステムとしては、荷受けした穀物を荷
受け計量機で計量中に、サンプル採取装置で所定量の穀
物サンプルを採取し，搬送装置でその採取したサンプル
をサンプル乾燥機まで搬送すると、サンプル搬入出装置
によりそのサンプルをサンプル乾燥機の各乾燥室に搬入
し、乾燥終了後にサンプル搬入出装置で乾燥済みのサン
プルを自主検定装置に搬出し、サンプルの品質検定を行
うものが知られている． （発明が解決しようとする課題） ところで，従来のシステムでは，穀物の荷受けが集中し
ない場合には，荷受け計量機の計量作業は円滑に処理さ
れる． しかし、穀物の荷受けが集中する場合べは，荷受け計量
機の計量作業が連続して行えな〈なって待ち時間が生じ
るようになり、その結果、穀物の荷受け処理を円滑にで
きないという欠点があった． 本発明は，以上の欠点を解消することを目的とする． （課題を解決するための手段） かかる目的を達或するため，本発明は、以下のように構
威した． すなわち、本発明は、荷受けした穀物を荷受け計量機で
計量中にサンプル採取装置で一定量の穀物サンプルを採
取し、搬送装置でその採取したサンプルをサンプル乾燥
機まで搬送すると，サンプル搬入出装置によりそのサン
プルをサンプル乾燥機の各乾燥室に搬入して乾燥し，乾
燥終了後にサンプル搬入出装置で乾燥済みのサンプルを
自主検定装置に搬出し、サンプルの品質検定を行なう穀
物サンプルの自主検定システムにおいて、前記搬送装置
の搬送路中にサンプルの搬送を阻止する開閉自在な開閉
弁を設けてなるものである．（作用） このように構或する本発明では、荷受け計量機で穀物を
計量中に、サンプル採取装置が一定量のサンプルを採取
する． その採取されたサンプルは、搬送装置によりザンプル乾
燥機まで搬送されるが、その搬送路中の開閉弁を閉状態
にすると、サンプルの搬送が阻ＩＦ．されて待機状態と
なるサンプル待機空間を形成できる． 従って、本発明では、サンプル採取装置で採取したサン
プルを直ちに上述のサンプル待機空間まで搬送して待機
させて、荷受け計量機はその計驕動作が＃１統可能とな
るので、穀物の荷受けが集中する場合であってもその荷
受け処理の円滑化が実現できる． （実施例） 第１図は、本発明実施例の全体構成を示す図である． 図において．ＩＡ．ＩＢは、それぞれ穀物乾燥調製施設
で荷受けした穀物の重量を例えば２００ｋｇ単位で測定
する荷受け計量機であり，その計量値が２００ｋｇ以下
となって同一荷主の荷受け穀物の計量が終了すると，計
量終了信号ａ．ｂを出力する． ２Ａ、２Ｂは，それぞれサンプル採取装置（図示せず）
で採取した自主検定用サンプルを収容するホッパである
．その各ホッパ２Ａ、２Ｂの各排出口には、開閉自在な
第１シャッタ３Ａ．第２シャッタ３Ｂを設ける． 各ホッパ２Ａ、２Ｂには、それぞれシュータ４Ａ．４Ｂ
を介してサンプル箱５Ａ、５Ｂを接続する。
，貯蔵の各工程を経て出荷できるようにした穀物調製施
設において使用され、その荷受けした穀物の品質を自主
検定する穀物サンプルの自主検定システムの改良に関す
る． （従来の技術） 従来、この種のシステムとしては、荷受けした穀物を荷
受け計量機で計量中に、サンプル採取装置で所定量の穀
物サンプルを採取し，搬送装置でその採取したサンプル
をサンプル乾燥機まで搬送すると、サンプル搬入出装置
によりそのサンプルをサンプル乾燥機の各乾燥室に搬入
し、乾燥終了後にサンプル搬入出装置で乾燥済みのサン
プルを自主検定装置に搬出し、サンプルの品質検定を行
うものが知られている． （発明が解決しようとする課題） ところで，従来のシステムでは，穀物の荷受けが集中し
ない場合には，荷受け計量機の計量作業は円滑に処理さ
れる． しかし、穀物の荷受けが集中する場合べは，荷受け計量
機の計量作業が連続して行えな〈なって待ち時間が生じ
るようになり、その結果、穀物の荷受け処理を円滑にで
きないという欠点があった． 本発明は，以上の欠点を解消することを目的とする． （課題を解決するための手段） かかる目的を達或するため，本発明は、以下のように構
威した． すなわち、本発明は、荷受けした穀物を荷受け計量機で
計量中にサンプル採取装置で一定量の穀物サンプルを採
取し、搬送装置でその採取したサンプルをサンプル乾燥
機まで搬送すると，サンプル搬入出装置によりそのサン
プルをサンプル乾燥機の各乾燥室に搬入して乾燥し，乾
燥終了後にサンプル搬入出装置で乾燥済みのサンプルを
自主検定装置に搬出し、サンプルの品質検定を行なう穀
物サンプルの自主検定システムにおいて、前記搬送装置
の搬送路中にサンプルの搬送を阻止する開閉自在な開閉
弁を設けてなるものである．（作用） このように構或する本発明では、荷受け計量機で穀物を
計量中に、サンプル採取装置が一定量のサンプルを採取
する． その採取されたサンプルは、搬送装置によりザンプル乾
燥機まで搬送されるが、その搬送路中の開閉弁を閉状態
にすると、サンプルの搬送が阻ＩＦ．されて待機状態と
なるサンプル待機空間を形成できる． 従って、本発明では、サンプル採取装置で採取したサン
プルを直ちに上述のサンプル待機空間まで搬送して待機
させて、荷受け計量機はその計驕動作が＃１統可能とな
るので、穀物の荷受けが集中する場合であってもその荷
受け処理の円滑化が実現できる． （実施例） 第１図は、本発明実施例の全体構成を示す図である． 図において．ＩＡ．ＩＢは、それぞれ穀物乾燥調製施設
で荷受けした穀物の重量を例えば２００ｋｇ単位で測定
する荷受け計量機であり，その計量値が２００ｋｇ以下
となって同一荷主の荷受け穀物の計量が終了すると，計
量終了信号ａ．ｂを出力する． ２Ａ、２Ｂは，それぞれサンプル採取装置（図示せず）
で採取した自主検定用サンプルを収容するホッパである
．その各ホッパ２Ａ、２Ｂの各排出口には、開閉自在な
第１シャッタ３Ａ．第２シャッタ３Ｂを設ける． 各ホッパ２Ａ、２Ｂには、それぞれシュータ４Ａ．４Ｂ
を介してサンプル箱５Ａ、５Ｂを接続する。
上述の図示しないサンプル採取装置は、計量機ｌＡ、Ｉ
Ｂが荷受け穀物を計量中に、その穀物の一部を自主検定
用のサンプル粒として所定量採取する． サンプル箱５Ａの排出口は、搬送パイプ６Ａを介して搬
送切換箱７に接続するとともに，サンプル箱５Ｂの排出
口は、搬送パイプ６Ｂを介して搬送切換箱７に接続する
．そして、搬送切換箱７内には、搬送バイブ６Ａおよび
搬送パイプ６Ｂの各排出口の開閉を行なう第１切換弁８
を設ける．搬送切換箱７の排出口は、搬送パイプ９によ
りサイクロンｌＯと接続する．サイクロン１０の上部に
は、吸引式の排風機１１を連結し、その排出口側には、
一定速度で回転するロータリバルブｌ２を設ける． サイクロンｌＯの排出口には、サンプル流下バイブ１３
およびサンプル流下パイブｌ４をそれぞれ連結するとと
もに，その連結部に自主検定用サンプルの搬送方向を切
換える第２切換弁ｌ５を設ける． サンプル流下パイプ１３の排出口に開閉自在な第３シャ
ッタ１６を設ける．そして、サンプル流下バイプｌ３の
排出口側は，サンプルの搬送が第３シャッタ１６により
阻止されて待機する待機空間Ｂとする． サンプル流下パイプ１４の排出口に開閉自在な第４シャ
ッタ１７を設ける。そして、サンプル流下バイブ１４の
排出口側は、サンプルの搬送が第４シャッタ１７により
阻止されて待機する待機空ｌｉｆｔ Ｆとする． サンプル流下パイブ１３の排出口の下方には、自主検定
サンプルの重量を測定する重量計１８を設け、その重量
計ｌ８の排出口に開閉自在な第５シャッタｌ９を設ける
．重量計１８は、第５シャッタエ９が閉状態のときには
，サンプルがいったん待機する待機空間Ａとする。
Ｂが荷受け穀物を計量中に、その穀物の一部を自主検定
用のサンプル粒として所定量採取する． サンプル箱５Ａの排出口は、搬送パイプ６Ａを介して搬
送切換箱７に接続するとともに，サンプル箱５Ｂの排出
口は、搬送パイプ６Ｂを介して搬送切換箱７に接続する
．そして、搬送切換箱７内には、搬送バイブ６Ａおよび
搬送パイプ６Ｂの各排出口の開閉を行なう第１切換弁８
を設ける．搬送切換箱７の排出口は、搬送パイプ９によ
りサイクロンｌＯと接続する．サイクロン１０の上部に
は、吸引式の排風機１１を連結し、その排出口側には、
一定速度で回転するロータリバルブｌ２を設ける． サイクロンｌＯの排出口には、サンプル流下バイブ１３
およびサンプル流下パイブｌ４をそれぞれ連結するとと
もに，その連結部に自主検定用サンプルの搬送方向を切
換える第２切換弁ｌ５を設ける． サンプル流下パイプ１３の排出口に開閉自在な第３シャ
ッタ１６を設ける．そして、サンプル流下バイプｌ３の
排出口側は，サンプルの搬送が第３シャッタ１６により
阻止されて待機する待機空間Ｂとする． サンプル流下パイプ１４の排出口に開閉自在な第４シャ
ッタ１７を設ける。そして、サンプル流下バイブ１４の
排出口側は、サンプルの搬送が第４シャッタ１７により
阻止されて待機する待機空ｌｉｆｔ Ｆとする． サンプル流下パイブ１３の排出口の下方には、自主検定
サンプルの重量を測定する重量計１８を設け、その重量
計ｌ８の排出口に開閉自在な第５シャッタｌ９を設ける
．重量計１８は、第５シャッタエ９が閉状態のときには
，サンプルがいったん待機する待機空間Ａとする。
サンプル流下パイプ１４の排出口の下方には、自主検定
サノブルの重量を測定する重量計２０を設け、その重量
計２０の排出口に開閉自在な第６シャッタ２１を設ける
．重量計２０は、第６シャッタ２ｌが閉状態のときには
，サンプルがいったん待機する待機空間Ｅとする． ２２は、それぞれ重量計１８、２０の下方で待機するサ
ンプル乾燥ａｌ（図示せず）の乾燥箱であり，この乾燥
箱２２のサンプル乾燥機における乾燥室への搬入、およ
び乾燥終了後における乾燥室から自主検定装置（図示せ
ず）へ向けての搬出は，サンプル搬入出装置（図示せず
）により行な次に、このように構或する実施例の電気系
のブロック図について、第２図を参照して説明する．図
において、３１〜３６は，それぞれ対応する第１シャッ
タ３Ａ．第２シャッタ３Ｂ．第３シャッタ１６，第４シ
ャッタ１７、第５シャッタ１９．Ｍ６シャッタ２１が閉
であるか否かを検出する各センサである．３８は、第１
切換弁８が後述のように定位置にあるか否かを検出する
第１切換弁センサである．第３９は、第２切換弁が後述
のように定位置にあるか否かを検出する第２切換弁セン
サである． ３９は待機空間Ｂのサンプルが空か否かを検出する待機
空間センナ、４０は待機空間Ｆのサンプルが空か否かを
検出する待機空間センサである．また，４１は待機空間
Ａのサンプルが空か否かを検出する待機空間センサ、４
２は待機空間Ｆのサンプルが空か否かを検出する待機空
間センサである． 本発明実施例では，これら各入力要素を入力インターフ
ェイス４３を介してマイクロコンビュータ４４に接続す
る．マイクロコンピュータ４４は，第３図および第４図
で示すように，あらかじめ定めた手順により各種の判断
や各部の制御を行う。
サノブルの重量を測定する重量計２０を設け、その重量
計２０の排出口に開閉自在な第６シャッタ２１を設ける
．重量計２０は、第６シャッタ２ｌが閉状態のときには
，サンプルがいったん待機する待機空間Ｅとする． ２２は、それぞれ重量計１８、２０の下方で待機するサ
ンプル乾燥ａｌ（図示せず）の乾燥箱であり，この乾燥
箱２２のサンプル乾燥機における乾燥室への搬入、およ
び乾燥終了後における乾燥室から自主検定装置（図示せ
ず）へ向けての搬出は，サンプル搬入出装置（図示せず
）により行な次に、このように構或する実施例の電気系
のブロック図について、第２図を参照して説明する．図
において、３１〜３６は，それぞれ対応する第１シャッ
タ３Ａ．第２シャッタ３Ｂ．第３シャッタ１６，第４シ
ャッタ１７、第５シャッタ１９．Ｍ６シャッタ２１が閉
であるか否かを検出する各センサである．３８は、第１
切換弁８が後述のように定位置にあるか否かを検出する
第１切換弁センサである．第３９は、第２切換弁が後述
のように定位置にあるか否かを検出する第２切換弁セン
サである． ３９は待機空間Ｂのサンプルが空か否かを検出する待機
空間センナ、４０は待機空間Ｆのサンプルが空か否かを
検出する待機空間センサである．また，４１は待機空間
Ａのサンプルが空か否かを検出する待機空間センサ、４
２は待機空間Ｆのサンプルが空か否かを検出する待機空
間センサである． 本発明実施例では，これら各入力要素を入力インターフ
ェイス４３を介してマイクロコンビュータ４４に接続す
る．マイクロコンピュータ４４は，第３図および第４図
で示すように，あらかじめ定めた手順により各種の判断
や各部の制御を行う。
また、マイクロコンピュータ４４には、出力インターフ
ェイス４５を介して，制御対象である第１シャッタ３Ａ
． 第２シャッタ３Ｂ．第３シャッタ１６、第４シャッ
タ１７，第５シャッタ１９、第６シャッタ２１，第ｌｖ
Ｊ換弁８、および第２切換ブｔＩ５をそれぞれ接続する
． 次に、このように構戊する実施例の制御例について、ま
ず第３図を参照して説明する．いま，穀物乾燥調製施設
に穀物が運びこまれて，例えば荷受け計量機ＩＡに穀物
が投入されると，荷受け計量機ＩＡは計量を開始し、そ
の計量が終了すると、計量終了信号ａを出力する．この
とき、ホッパ２Ａ内には、所定量のサンプルが収容され
ている．なお，荷受け計量機ＩＢも同様に動作し、計量
終了信号ｂを出力する． この計量終了信号ａ．ｂのいずれかがあると（ステップ
Ｓ１）、信号ａか信号ｂかの検出を行う（ステップ３２
）。
ェイス４５を介して，制御対象である第１シャッタ３Ａ
． 第２シャッタ３Ｂ．第３シャッタ１６、第４シャッ
タ１７，第５シャッタ１９、第６シャッタ２１，第ｌｖ
Ｊ換弁８、および第２切換ブｔＩ５をそれぞれ接続する
． 次に、このように構戊する実施例の制御例について、ま
ず第３図を参照して説明する．いま，穀物乾燥調製施設
に穀物が運びこまれて，例えば荷受け計量機ＩＡに穀物
が投入されると，荷受け計量機ＩＡは計量を開始し、そ
の計量が終了すると、計量終了信号ａを出力する．この
とき、ホッパ２Ａ内には、所定量のサンプルが収容され
ている．なお，荷受け計量機ＩＢも同様に動作し、計量
終了信号ｂを出力する． この計量終了信号ａ．ｂのいずれかがあると（ステップ
Ｓ１）、信号ａか信号ｂかの検出を行う（ステップ３２
）。
その検出の結果，計量終了信号ａのときには，第１切換
弁８を搬送バイブ６Ｂの排出口に向けて移動し（ステッ
プＳ３）、第１切換弁８がその排出口を塞いで定位置に
なると（ステップＳ４）、その動作を終了する． 次いで、待機空間センサ３９．４０、４ｌ、４２、の各
検出信号に基づき、待機空間Ａ．Ｂ、Ｅ，Ｆのいずれか
に空があるか否かの検出を行なう（ステップＳ５）． そして、空が検出されると、ｆｆｉｌシャシタ３Ａを所
定時間開いたのち閉じ（ステップＳ６、Ｓ７），第１シ
ャツタセンサ３Ｌの検出信号に基づき、第１シャッタ３
Ａが閉状態になったことが検出されると（ステップＳ８
）、次のステップＳ９に進む． ステップＳ９では、本実施例の動作が停止か否かを判別
し，停止でないときには，ステップＳ１に戻る． ところで、ステップＳ２で判別の結果，計量終了信号ｂ
のときには、第１切換弁８を搬送パイプ６Ａの排出口に
向けて移動し（ステップＳｌＯ）、第１切換弁８が第１
図で示すようにその排出口を塞いで定位置になると（ス
テップＳｌ１）、その動作を終了する． 次いで、待機空間センサ３９．４０、４ｌ、４２、の各
検出信号に基づき，待機空間Ａ．Ｂ、Ｅ，Ｆのいずれか
に空があるか否かの検出を行なう（ステップ５１２）． そして，空が検出されると，第２シャッタ３Ｂを所定時
間開いたのちに閉じ（ステップＳ１３Ｓ１４）．第２シ
ャツタセンサ３２の検出信号に２，（づき、第２シャッ
タ３Ｂが閉状態になったことが検出されると（ステップ
５１５）．次のステップＳ５９に進む． このような動作により，待機空間Ａ．Ｂ．ＥＦのいずれ
かに空があるときには、第１シャッタ３Ａまたは第２シ
ャッタ３Ｂの開閉動作が行われるので，ホッパ２Ａまた
はホッパ２Ｂに収容されている各サンプルは、空いてい
るいずれかの待機空間Ａ，Ｂ．Ｅ，Ｆに向けて搬送され
る．次に，待機空間Ａ．Ｂ．Ｅ．Ｆの各空状態を検出処
理するための制御手順について，第４図を参照して説明
する． まず、待機空間センサ４１および待機空間センサ３９の
各検出信号に基づき、待機空間Ａおよび待機空間Ｂの各
空状態の検出を、ステップＳ２１〜ステップＳ２３で行
なう． その検出の結果，待機空間Ａのみが空のときにはステッ
プ３２４〜ステップ５２６に進み、待機空間Ａおよび待
機空間Ｂのいずれもが空のときにはステップＳ２７〜ス
テップＳ３２に進み、待機空間Ｂのみが空のときにはス
テップＳ３３〜ステップＳ３７に進む． これを詳述すると、待機空間Ａのみが空のときには，第
３シャッタ１６を所定時間開いたのち閉じ（ステ−２プ
Ｓ２４、Ｓ２５）．第３シャツタセンサ３３の検出信号
に基づき、第３シャツ．タｌ６が閉状態になったことが
検出されると（ステップＳ２６）． ステップＳ２１に
戻る．これにより，待機空間Ｂで待機中のサンプルは待
機空間Ａに移動し、待機空間Ｂはサンプル待ちとなる．
また、待機空間Ａおよび待機空間Ｂがいずれも空のとき
には，第２切換−ｊｔ１５をサンプル流下パイプ１４の
入口に向けて移動し（ステップＳ２７）、第２切換弁ｌ
５が第１図で示すようにその人口を塞いで定位置になっ
たか否かを検出する。
弁８を搬送バイブ６Ｂの排出口に向けて移動し（ステッ
プＳ３）、第１切換弁８がその排出口を塞いで定位置に
なると（ステップＳ４）、その動作を終了する． 次いで、待機空間センサ３９．４０、４ｌ、４２、の各
検出信号に基づき、待機空間Ａ．Ｂ、Ｅ，Ｆのいずれか
に空があるか否かの検出を行なう（ステップＳ５）． そして、空が検出されると、ｆｆｉｌシャシタ３Ａを所
定時間開いたのち閉じ（ステップＳ６、Ｓ７），第１シ
ャツタセンサ３Ｌの検出信号に基づき、第１シャッタ３
Ａが閉状態になったことが検出されると（ステップＳ８
）、次のステップＳ９に進む． ステップＳ９では、本実施例の動作が停止か否かを判別
し，停止でないときには，ステップＳ１に戻る． ところで、ステップＳ２で判別の結果，計量終了信号ｂ
のときには、第１切換弁８を搬送パイプ６Ａの排出口に
向けて移動し（ステップＳｌＯ）、第１切換弁８が第１
図で示すようにその排出口を塞いで定位置になると（ス
テップＳｌ１）、その動作を終了する． 次いで、待機空間センサ３９．４０、４ｌ、４２、の各
検出信号に基づき，待機空間Ａ．Ｂ、Ｅ，Ｆのいずれか
に空があるか否かの検出を行なう（ステップ５１２）． そして，空が検出されると，第２シャッタ３Ｂを所定時
間開いたのちに閉じ（ステップＳ１３Ｓ１４）．第２シ
ャツタセンサ３２の検出信号に２，（づき、第２シャッ
タ３Ｂが閉状態になったことが検出されると（ステップ
５１５）．次のステップＳ５９に進む． このような動作により，待機空間Ａ．Ｂ．ＥＦのいずれ
かに空があるときには、第１シャッタ３Ａまたは第２シ
ャッタ３Ｂの開閉動作が行われるので，ホッパ２Ａまた
はホッパ２Ｂに収容されている各サンプルは、空いてい
るいずれかの待機空間Ａ，Ｂ．Ｅ，Ｆに向けて搬送され
る．次に，待機空間Ａ．Ｂ．Ｅ．Ｆの各空状態を検出処
理するための制御手順について，第４図を参照して説明
する． まず、待機空間センサ４１および待機空間センサ３９の
各検出信号に基づき、待機空間Ａおよび待機空間Ｂの各
空状態の検出を、ステップＳ２１〜ステップＳ２３で行
なう． その検出の結果，待機空間Ａのみが空のときにはステッ
プ３２４〜ステップ５２６に進み、待機空間Ａおよび待
機空間Ｂのいずれもが空のときにはステップＳ２７〜ス
テップＳ３２に進み、待機空間Ｂのみが空のときにはス
テップＳ３３〜ステップＳ３７に進む． これを詳述すると、待機空間Ａのみが空のときには，第
３シャッタ１６を所定時間開いたのち閉じ（ステ−２プ
Ｓ２４、Ｓ２５）．第３シャツタセンサ３３の検出信号
に基づき、第３シャツ．タｌ６が閉状態になったことが
検出されると（ステップＳ２６）． ステップＳ２１に
戻る．これにより，待機空間Ｂで待機中のサンプルは待
機空間Ａに移動し、待機空間Ｂはサンプル待ちとなる．
また、待機空間Ａおよび待機空間Ｂがいずれも空のとき
には，第２切換−ｊｔ１５をサンプル流下パイプ１４の
入口に向けて移動し（ステップＳ２７）、第２切換弁ｌ
５が第１図で示すようにその人口を塞いで定位置になっ
たか否かを検出する。
（ステップＳ２８）。そして、定位置になると第３シャ
ッタ１６を開状態（ステップＳ２９）にしたのち第５シ
ャッタ１９を閉にし（ステップＳ３０）、第５シャツタ
センサ３５の検出信号に基づいて第５シャッタ１９の閉
状態が検出されると（ステップＳ３１）．待機空間Ａに
対するサンプルの張込が可能となる（ステップＳ３２）
．さらに待機空間Ｂのみが空のときには、第２切換弁１
５をサンプル流下パイブ１４の入口に向けて移動し（ス
テップＳ３３）．第２切換弁ｌ５がその人Ｄを塞いで定
位置になると（ステップＳ３４），第３シャッタ１６を
閉じ（ステンブＳ３５），第３シャー２タセンサ３３の
検出信号に基づき第３シャッタｌ６の閉状態が検出され
ると（ステップＳ３６）．待機空間Ｂに対するサンプル
の張込が可能となる（ステ−２ブＳ３７）。
ッタ１６を開状態（ステップＳ２９）にしたのち第５シ
ャッタ１９を閉にし（ステップＳ３０）、第５シャツタ
センサ３５の検出信号に基づいて第５シャッタ１９の閉
状態が検出されると（ステップＳ３１）．待機空間Ａに
対するサンプルの張込が可能となる（ステップＳ３２）
．さらに待機空間Ｂのみが空のときには、第２切換弁１
５をサンプル流下パイブ１４の入口に向けて移動し（ス
テップＳ３３）．第２切換弁ｌ５がその人Ｄを塞いで定
位置になると（ステップＳ３４），第３シャッタ１６を
閉じ（ステンブＳ３５），第３シャー２タセンサ３３の
検出信号に基づき第３シャッタｌ６の閉状態が検出され
ると（ステップＳ３６）．待機空間Ｂに対するサンプル
の張込が可能となる（ステ−２ブＳ３７）。
次に，待機空間Ａおよび待機空間Ｂの両方がいずれも使
用中のときには、ステップＳ３８〜ステップＳ４０に進
み，待機空間センサ４２および待機空間センサ４０の各
検出信号に基づき、待機空間Ｅおよび待機空間Ｆの各空
状態の検出を行なク． その結果、待機空間Ｅのみが空のときにはステップＳ４
１〜ステップＳ４３に進み、待機空間Ｅおよび待機空間
Ｆのいずれもが空のときにはステップ５４４〜Ｓ４９に
進み、待機空問Ｆのみが空のときにはステップ３５０〜
ステップＳ５４に進む． すなわち、待機空間Ｅのみが空のときには、第４シャッ
タ１７を所定時間開いたのち閉じ（ステップＳ４１．Ｓ
４２）．第４シャツタセンサ３４の検出信号に基づき第
４シャッタ１７が閉状態になったことが検出されると（
ステップＳ４３），ステップＳ３８に戻る．これにより
、待機空間Ｆで待機中のサンプルは待機空間Ｅに移動し
、待機空間Ｆはサンプル待ちとなる．また，待機空間Ｅ
および待機空間Ｆがいずれも空のときには、第２切換弁
ｌ５をサンプル流下パイプｌ３の入口に向けて移動し（
ステップＳ４４）、第２ｖＪ換弁ｌ５がその入口を塞い
で定位置になったか否かを検出する（ステップＳ４５）
．そして，定位置になると，第４シャッタｌ７を開状態
（ステップ５４６）にしたのち第６シャッタ２ｌを閉に
し（ステップＳ４７）．第６シャツタセンサ３６の検出
信号に基づいて第６シャ，タ２１の閉状態が検出される
と（ステップＳ４８）．待機空間Ｅに対するサンプルの
張込がｆ１丁能となる（ステップＳ３２）． さらに、待機空間Ｆのみが空のときには、第２切ｔＩ！
弁ｌ５をサンプル流下パイプｌ４の入ロに向けて移動し
（ステップＳ５０）．第２切換弁１５がその入口を塞い
で定位置になると（ステップＳ５１）、第４シャッタ１
７を閉じ（ステップＳ５２）、第４シャツタセンサ３４
の検出信号に基づき第４シャッタｌ７の閉状態が検出さ
れると（ステップＳ５３）．待機空間Ｆに対するサンプ
ルの張込が可能となる（ステップＳ５４），以上述べた
制御処理により、サンプル採取装置で採取されてホッパ
２Ａまたはホッパ２Ｂに収容されている所定量の各サン
プルは、待機空間Ａ、Ｂ，Ｅ，Ｆのいずれかで待機可能
となる．ところで，この種のシステムでは、第５図に示
すように，多数の乾燥室をそれぞれ有する２台のサンプ
ル乾燥４１５１、５２を平行に配置し、その左側に自主
検定装置５３、右側にシーケンサ盤５５をそれぞれ配置
するのが好ましい．このようにサンプル乾燥機５ｌ、５
２とシーケンサ盤５４を隣接して配置すると、サンプル
乾燥機５１、５２の各乾燥室に備えたファンおよびヒー
タとシーケンス盤５４との間に必要とする電力供給用コ
ードの配線量を減少でき、コイトダウンとなる． （発明の効果） 以上のように本発明では、搬送装置の搬送路中にサンプ
ルの搬送を阻止する開閉自在な開閉弁を設け、この開閉
弁を閉じることによって、サンプルの搬送が阻止されて
待機状態となるサンプル待機空間を形成できるようにし
た． 従って、本発明では、サンプル採取装置で採取したサン
プルを直ちに上述のサンプル待機空間まで搬送して待機
させて、荷受け計量機はその計量動作が継続可能となる
ので、穀物の荷受けが集中する場合であってもその荷受
け処理の円滑化が実現できる．
用中のときには、ステップＳ３８〜ステップＳ４０に進
み，待機空間センサ４２および待機空間センサ４０の各
検出信号に基づき、待機空間Ｅおよび待機空間Ｆの各空
状態の検出を行なク． その結果、待機空間Ｅのみが空のときにはステップＳ４
１〜ステップＳ４３に進み、待機空間Ｅおよび待機空間
Ｆのいずれもが空のときにはステップ５４４〜Ｓ４９に
進み、待機空問Ｆのみが空のときにはステップ３５０〜
ステップＳ５４に進む． すなわち、待機空間Ｅのみが空のときには、第４シャッ
タ１７を所定時間開いたのち閉じ（ステップＳ４１．Ｓ
４２）．第４シャツタセンサ３４の検出信号に基づき第
４シャッタ１７が閉状態になったことが検出されると（
ステップＳ４３），ステップＳ３８に戻る．これにより
、待機空間Ｆで待機中のサンプルは待機空間Ｅに移動し
、待機空間Ｆはサンプル待ちとなる．また，待機空間Ｅ
および待機空間Ｆがいずれも空のときには、第２切換弁
ｌ５をサンプル流下パイプｌ３の入口に向けて移動し（
ステップＳ４４）、第２ｖＪ換弁ｌ５がその入口を塞い
で定位置になったか否かを検出する（ステップＳ４５）
．そして，定位置になると，第４シャッタｌ７を開状態
（ステップ５４６）にしたのち第６シャッタ２ｌを閉に
し（ステップＳ４７）．第６シャツタセンサ３６の検出
信号に基づいて第６シャ，タ２１の閉状態が検出される
と（ステップＳ４８）．待機空間Ｅに対するサンプルの
張込がｆ１丁能となる（ステップＳ３２）． さらに、待機空間Ｆのみが空のときには、第２切ｔＩ！
弁ｌ５をサンプル流下パイプｌ４の入ロに向けて移動し
（ステップＳ５０）．第２切換弁１５がその入口を塞い
で定位置になると（ステップＳ５１）、第４シャッタ１
７を閉じ（ステップＳ５２）、第４シャツタセンサ３４
の検出信号に基づき第４シャッタｌ７の閉状態が検出さ
れると（ステップＳ５３）．待機空間Ｆに対するサンプ
ルの張込が可能となる（ステップＳ５４），以上述べた
制御処理により、サンプル採取装置で採取されてホッパ
２Ａまたはホッパ２Ｂに収容されている所定量の各サン
プルは、待機空間Ａ、Ｂ，Ｅ，Ｆのいずれかで待機可能
となる．ところで，この種のシステムでは、第５図に示
すように，多数の乾燥室をそれぞれ有する２台のサンプ
ル乾燥４１５１、５２を平行に配置し、その左側に自主
検定装置５３、右側にシーケンサ盤５５をそれぞれ配置
するのが好ましい．このようにサンプル乾燥機５ｌ、５
２とシーケンサ盤５４を隣接して配置すると、サンプル
乾燥機５１、５２の各乾燥室に備えたファンおよびヒー
タとシーケンス盤５４との間に必要とする電力供給用コ
ードの配線量を減少でき、コイトダウンとなる． （発明の効果） 以上のように本発明では、搬送装置の搬送路中にサンプ
ルの搬送を阻止する開閉自在な開閉弁を設け、この開閉
弁を閉じることによって、サンプルの搬送が阻止されて
待機状態となるサンプル待機空間を形成できるようにし
た． 従って、本発明では、サンプル採取装置で採取したサン
プルを直ちに上述のサンプル待機空間まで搬送して待機
させて、荷受け計量機はその計量動作が継続可能となる
ので、穀物の荷受けが集中する場合であってもその荷受
け処理の円滑化が実現できる．
第１図は本発明実施例の要部構威を示す図、第２図はそ
の電気系のブロック図、第３図および第４図はそれぞれ
その実施側の制御側を示すフローチャート、第５図は本
発明の他の実施例の概略平而図である． Ａ ． Ｂ ． Ｅ ． Ｆ ・・・待機空ｎ’！
Ｉ、ａ．ｂ・・・計量終了信号、 １Ａ．ＩＢ・・・荷受け計量機、 ２Ａ．２Ｂ・・・ホッパ、７・・・第１切換弁，１０・
・・サイクローン、１５・・・第２切換弁、ｌ６・・・
第３シャッタ、ｌ７・・・第４シャッタ、１９・・・第
５シャッタ、２１・・・第６シャッタ４４・・・マイク
ロコンピュータ．
の電気系のブロック図、第３図および第４図はそれぞれ
その実施側の制御側を示すフローチャート、第５図は本
発明の他の実施例の概略平而図である． Ａ ． Ｂ ． Ｅ ． Ｆ ・・・待機空ｎ’！
Ｉ、ａ．ｂ・・・計量終了信号、 １Ａ．ＩＢ・・・荷受け計量機、 ２Ａ．２Ｂ・・・ホッパ、７・・・第１切換弁，１０・
・・サイクローン、１５・・・第２切換弁、ｌ６・・・
第３シャッタ、ｌ７・・・第４シャッタ、１９・・・第
５シャッタ、２１・・・第６シャッタ４４・・・マイク
ロコンピュータ．
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 荷受けした穀物を荷受け計量機で計量中にサンプル採取
装置で一定量の穀物サンプルを採取し、搬送装置でその
採取したサンプルをサンプル乾燥機まで搬送すると、サ
ンプル搬入出装置によりそのサンプルをサンプル乾燥機
の各乾燥室に搬入して乾燥し、乾燥終了後にサンプル搬
入出装置で乾燥済みのサンプルを自主検定装置に搬出し
、サンプルの品質検定を行なう穀物サンプルの自主検定
システムにおいて、 前記搬送装置の搬送路中にサンプルの搬送を阻止する開
閉自在な開閉弁を設けてなるサンプル待機装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23524789A JP2913687B2 (ja) | 1989-09-11 | 1989-09-11 | 穀物サンプルの自主検定システムにおけるサンプル搬送装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23524789A JP2913687B2 (ja) | 1989-09-11 | 1989-09-11 | 穀物サンプルの自主検定システムにおけるサンプル搬送装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0398653A true JPH0398653A (ja) | 1991-04-24 |
| JP2913687B2 JP2913687B2 (ja) | 1999-06-28 |
Family
ID=16983253
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23524789A Expired - Fee Related JP2913687B2 (ja) | 1989-09-11 | 1989-09-11 | 穀物サンプルの自主検定システムにおけるサンプル搬送装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2913687B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1019466A (ja) * | 1996-07-03 | 1998-01-23 | Iseki & Co Ltd | 穀粒乾燥施設のサンプル粒移送装置 |
| JP2007177845A (ja) * | 2005-12-27 | 2007-07-12 | Yamatake Corp | 調節弁操作器とその組み付け治具 |
| JP2021162270A (ja) * | 2020-04-02 | 2021-10-11 | 株式会社サタケ | テスト乾燥機のサンプル搬入装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5686839B2 (ja) * | 2013-04-22 | 2015-03-18 | 日本車輌製造株式会社 | 自主検定装置 |
-
1989
- 1989-09-11 JP JP23524789A patent/JP2913687B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1019466A (ja) * | 1996-07-03 | 1998-01-23 | Iseki & Co Ltd | 穀粒乾燥施設のサンプル粒移送装置 |
| JP2007177845A (ja) * | 2005-12-27 | 2007-07-12 | Yamatake Corp | 調節弁操作器とその組み付け治具 |
| JP2021162270A (ja) * | 2020-04-02 | 2021-10-11 | 株式会社サタケ | テスト乾燥機のサンプル搬入装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2913687B2 (ja) | 1999-06-28 |
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