JPH0389170A - プローブボードとその組立方法 - Google Patents
プローブボードとその組立方法Info
- Publication number
- JPH0389170A JPH0389170A JP22520689A JP22520689A JPH0389170A JP H0389170 A JPH0389170 A JP H0389170A JP 22520689 A JP22520689 A JP 22520689A JP 22520689 A JP22520689 A JP 22520689A JP H0389170 A JPH0389170 A JP H0389170A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- substrate
- helical spring
- coating
- board
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 120
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 11
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 34
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims abstract description 31
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims abstract description 31
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 23
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 23
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 8
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 claims description 5
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 abstract description 14
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 abstract description 8
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 3
- 239000007769 metal material Substances 0.000 abstract 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 abstract 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 abstract 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 10
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 2
- 229910000906 Bronze Inorganic materials 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000010974 bronze Substances 0.000 description 1
- KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N copper tin Chemical compound [Cu].[Sn] KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、プローブボードとその組立方法に関し、例
えば各種半導体集積回路装置及び半導体ウェハ上に完成
された半導体集積回路又はマルチチップ用の配線基板の
試験測定に用いられるプローブボードとその組立方法に
利用して有効な技術に関するものである。
えば各種半導体集積回路装置及び半導体ウェハ上に完成
された半導体集積回路又はマルチチップ用の配線基板の
試験測定に用いられるプローブボードとその組立方法に
利用して有効な技術に関するものである。
プローブを軸方向にバネ性を持たせた測定用プローブが
公知である。このようなプローブに関しては、例えば実
開昭63−32491号公報、実開昭63−99275
号公報等がある。
公知である。このようなプローブに関しては、例えば実
開昭63−32491号公報、実開昭63−99275
号公報等がある。
従来のプローブは、軸方向にバネ性を持たせるため、言
い換えるならば、プローブビンのそれぞれを進退自在に
構成するためにへりカルスピリングを用い、それを介し
て固定部と進退自在にされた先端部との電気的接続を行
っている。このため、各プローブビンは、ホルダーと呼
ばれるような筒状のケースを用いて組立られる。
い換えるならば、プローブビンのそれぞれを進退自在に
構成するためにへりカルスピリングを用い、それを介し
て固定部と進退自在にされた先端部との電気的接続を行
っている。このため、各プローブビンは、ホルダーと呼
ばれるような筒状のケースを用いて組立られる。
半導体技術及びパフケージ技術の進展に伴い電気的測定
を行う電子部品の小型化、高性能化が図られ、それに伴
い測定すべき電極のピンチも小さくなるとともに伝送す
べき信号周波数も高周波数まで必要になるものである。
を行う電子部品の小型化、高性能化が図られ、それに伴
い測定すべき電極のピンチも小さくなるとともに伝送す
べき信号周波数も高周波数まで必要になるものである。
したがって、上記のような構造のプローブビンを用いた
のでは、扱う個々の部品自体が極めて小さくなる結果、
その組立作業が極めて煩わしいものになってしまう。ま
た、信号伝送経路に上記のようなヘリカルスプリングが
介在するため、そのインダスタンス威分によって高周波
数伝送ができなく、測定項目も直流的な試験に限定され
てしまうものである。
のでは、扱う個々の部品自体が極めて小さくなる結果、
その組立作業が極めて煩わしいものになってしまう。ま
た、信号伝送経路に上記のようなヘリカルスプリングが
介在するため、そのインダスタンス威分によって高周波
数伝送ができなく、測定項目も直流的な試験に限定され
てしまうものである。
この発明の目的は、高密度で良好な信号伝達特性を持つ
プローブを備えたプローブボードを提供することにある
。
プローブを備えたプローブボードを提供することにある
。
この発明の他の目的は、高密度で良好な信号伝達特性を
持つプローブボードの簡単な組立方法を提供することに
ある。
持つプローブボードの簡単な組立方法を提供することに
ある。
この発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は
、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。
、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
すなわち、細い線条の導電性金属からなるプローブと、
このプローブを巻き込むように取り付けられ、プローブ
の先端側が固着されたヘリカルスプリングと、上記ヘル
カルスプリングが取り付けられた状態のプローブが挿入
可能にされ、ヘルカルスプリングの他端側を固定するス
トッパーが挿入口の反対側に設けられ、測定すべき電極
に位置合わせされて形成されてなる複数の挿入穴を有し
、少なくとも表面が電気絶縁性を持つ基板とを用意して
おき、上記挿入穴に挿入された状態のプローブに上記ス
トッパーが設けられた側の基板表面において上記プロー
ブ先端の突出長さを決めるカラーをプローブに固着させ
る。
このプローブを巻き込むように取り付けられ、プローブ
の先端側が固着されたヘリカルスプリングと、上記ヘル
カルスプリングが取り付けられた状態のプローブが挿入
可能にされ、ヘルカルスプリングの他端側を固定するス
トッパーが挿入口の反対側に設けられ、測定すべき電極
に位置合わせされて形成されてなる複数の挿入穴を有し
、少なくとも表面が電気絶縁性を持つ基板とを用意して
おき、上記挿入穴に挿入された状態のプローブに上記ス
トッパーが設けられた側の基板表面において上記プロー
ブ先端の突出長さを決めるカラーをプローブに固着させ
る。
上記した手段によれば、プローブを進退自在にさせるヘ
リカルスプリング等を納めるホルダと基板とが併用でき
、部品点数を少なくできるとともに信号伝達経路にスプ
リングが介在しないから良好な信号伝達経路を得ること
ができる。
リカルスプリング等を納めるホルダと基板とが併用でき
、部品点数を少なくできるとともに信号伝達経路にスプ
リングが介在しないから良好な信号伝達経路を得ること
ができる。
第1図ないし第5図は、この発明に係るプローブボード
の組立方法の一実施例が示されている。
の組立方法の一実施例が示されている。
以下、この発明に係るプローブボードの構造をその組立
方法とともに詳細に説明する。
方法とともに詳細に説明する。
第1図においては、細い線条の配線材料を利用したプロ
ーブ1と、それに軸方向のバネ性(進退自在)を持たせ
るためのヘリカルスプリング2がが用意される。上記プ
ローブlは、例えばベリリュウムカッパー(BeCu)
材等からなり、断面が円形にされた単芯の配線材料が利
用され、その直径は約100μm程度の極細い線材が用
いられる。この線材は、その表面に絶縁被覆又は被膜が
形成されているが、プローブとして用いる先端部分にお
いては、同図に示すように被覆又は被膜が除去されてい
る。ヘリカルスプリング2は、例えばバネ用リン青銅材
のような極く細い線材からなり、上記プローブ1に挿入
可能に形成される。
ーブ1と、それに軸方向のバネ性(進退自在)を持たせ
るためのヘリカルスプリング2がが用意される。上記プ
ローブlは、例えばベリリュウムカッパー(BeCu)
材等からなり、断面が円形にされた単芯の配線材料が利
用され、その直径は約100μm程度の極細い線材が用
いられる。この線材は、その表面に絶縁被覆又は被膜が
形成されているが、プローブとして用いる先端部分にお
いては、同図に示すように被覆又は被膜が除去されてい
る。ヘリカルスプリング2は、例えばバネ用リン青銅材
のような極く細い線材からなり、上記プローブ1に挿入
可能に形成される。
第2図において、プローブ1の先端側からヘリカルスプ
リング2を挿入し、適当な治具を用いてプローブ1の先
端部分IAの長さXが所望の長さになるように揃える。
リング2を挿入し、適当な治具を用いてプローブ1の先
端部分IAの長さXが所望の長さになるように揃える。
この長さXは、例えば約150μm程度の極短い長さで
ある。
ある。
第3図において、上記のようにプローブ1の先端長さX
が一定になるようにヘリカルスプリング2を挿入した状
態で、プローブIとヘリカルスプリング2とを一定の長
さY−Y’ まで固着させる。
が一定になるようにヘリカルスプリング2を挿入した状
態で、プローブIとヘリカルスプリング2とを一定の長
さY−Y’ まで固着させる。
例えば、上記治具としては、特に制限されないが、先端
長さXを決めるととともにY−Y’から左側に固着手段
としてのハンダが流れないような機能を持たせ、先端側
から一定量の溶融ハンダを流し込んでハンダ付けを行う
。
長さXを決めるととともにY−Y’から左側に固着手段
としてのハンダが流れないような機能を持たせ、先端側
から一定量の溶融ハンダを流し込んでハンダ付けを行う
。
上記第1図ないし第3図により、一定の長さXを持って
プローブ1とヘリカルスプリング2とが固着された多数
のプローブlが組立られる。
プローブ1とヘリカルスプリング2とが固着された多数
のプローブlが組立られる。
第4図において、上記プローブ1の組立とは別に基板4
が形成される。この基板4は、特に制限されないが、ア
ルミエウム板からなり、測定すべき電極に合わせてその
厚み方向にプローブ1の挿入穴5が設けられる。この挿
入穴5は、その挿入口である下面側では上記ヘリカルス
プリング2が挿入された状態のプローブ1先端部分が挿
入可能な大きさの直径を持ち、上面側において上記ヘリ
カルスプリング2の他端を止めるよう径が小さくされた
ストッパ−6が設けられる。
が形成される。この基板4は、特に制限されないが、ア
ルミエウム板からなり、測定すべき電極に合わせてその
厚み方向にプローブ1の挿入穴5が設けられる。この挿
入穴5は、その挿入口である下面側では上記ヘリカルス
プリング2が挿入された状態のプローブ1先端部分が挿
入可能な大きさの直径を持ち、上面側において上記ヘリ
カルスプリング2の他端を止めるよう径が小さくされた
ストッパ−6が設けられる。
上記のアルミニュウム4からなる基板は、それ自体は導
電性を持つものである。それ故、上記のような挿入穴5
の加工処理を行った後に上記挿入穴を含む全表面を酸化
処理(アルマイト処理)して電気絶縁性を持つようにす
るものである。そして、同図に矢印で示すように、上記
組立られたプローブ1をその他端側IBから挿入する。
電性を持つものである。それ故、上記のような挿入穴5
の加工処理を行った後に上記挿入穴を含む全表面を酸化
処理(アルマイト処理)して電気絶縁性を持つようにす
るものである。そして、同図に矢印で示すように、上記
組立られたプローブ1をその他端側IBから挿入する。
第5図において、挿入されたプローブ1の他端IB側は
、基板4を貫通して上面側に出る。そして、適当な治具
を用いて基板4の下面とプローブ1の尖端の長さ(高さ
)Xが、全てのプローブにおいて一定になるように揃え
る。この状態で、基板4の上側でプローブ1の他端IB
にカラーマを挿入して、その隙間に溶融ハンダを流し込
み、カラーとプローブ1の他端IBとを固着させる。
、基板4を貫通して上面側に出る。そして、適当な治具
を用いて基板4の下面とプローブ1の尖端の長さ(高さ
)Xが、全てのプローブにおいて一定になるように揃え
る。この状態で、基板4の上側でプローブ1の他端IB
にカラーマを挿入して、その隙間に溶融ハンダを流し込
み、カラーとプローブ1の他端IBとを固着させる。
この状態で、ヘリカルスプリング2のスプリングとして
作用する部分の長さAは約880μm、縮み代が約40
0μmとされる。そして、特に制限されないが、ハンダ
3が形成された部分の長さは約500μmとされる。
作用する部分の長さAは約880μm、縮み代が約40
0μmとされる。そして、特に制限されないが、ハンダ
3が形成された部分の長さは約500μmとされる。
上記ヘリカルスプリング2の他端側を止めるストッパー
6と上面側の厚さBは、約200μmとされる。その部
分の挿入穴の直径は、約150μmとされ、挿入穴5の
挿入口の直径は約250μmにされる。これにより、上
記カラー7は、その内径が上記プローブ1の直径100
μmより少し大きくされ、その外径は上記150μmよ
り大きく形成される。
6と上面側の厚さBは、約200μmとされる。その部
分の挿入穴の直径は、約150μmとされ、挿入穴5の
挿入口の直径は約250μmにされる。これにより、上
記カラー7は、その内径が上記プローブ1の直径100
μmより少し大きくされ、その外径は上記150μmよ
り大きく形成される。
この実施例では、プローブの先端部分の突出長さXは、
プローブ1の直径の約1.5倍程度しかない。それ故、
上記のような比較的柔らかい配線材料を用いるものであ
っても測定電極への繰り返し圧着に際して横方向に曲げ
られてしまうことはない。
プローブ1の直径の約1.5倍程度しかない。それ故、
上記のような比較的柔らかい配線材料を用いるものであ
っても測定電極への繰り返し圧着に際して横方向に曲げ
られてしまうことはない。
第6図には、基板に形成される挿入穴5の一実施例の配
置図が示されている。同図には、この実施例によるプロ
ーブボードの最大密度の例が示されており、挿入穴5の
ピッチ、言い換えるならばば、測定可能な電極の最小ピ
ッチは、X方向及びY方向のピッチPX及びPYは、そ
れぞれ300μm程度になる。もっとも、プローブ1は
、測定すべき半導体集積回路装置又はセラミック等の配
線基板の電極ピッチに合わせて形成されることはいうま
でもない。
置図が示されている。同図には、この実施例によるプロ
ーブボードの最大密度の例が示されており、挿入穴5の
ピッチ、言い換えるならばば、測定可能な電極の最小ピ
ッチは、X方向及びY方向のピッチPX及びPYは、そ
れぞれ300μm程度になる。もっとも、プローブ1は
、測定すべき半導体集積回路装置又はセラミック等の配
線基板の電極ピッチに合わせて形成されることはいうま
でもない。
第7図は、この発明に係るプローブボードの全体の概略
側面図が示されている。
側面図が示されている。
この実施例では、上記基板4とプローブ1からなるプロ
ーブボードの上面側に支柱9を介して配線ホルダーとし
ての基板10が設けられる。すなわち、上記プローブ1
のカラーが設けられる他端IBから先は、上記プローブ
1の上下の進退を損なわないよう所定のたわみをもって
基板10に設けられた貫通穴により固着され、上面側に
延びてそのまま直接にテスターに接続される。上記プロ
ーブIとして用いる配線材は、前記のように被覆又は被
膜が設けられており、上記カラーが設けられるプローブ
としての他端IB側から先(テスター側)は、上記被覆
又は被膜が残された状態にされる。それ故、上記基板4
と基板10とのたわみ部分で隣接する配線が電気的に短
絡してしまうこことがない。上記基板4と基板10との
間隔は、比較的短いから、そこでの配線材料の自重によ
って上記プローブ先端部分の進退が損なわれることはな
い。
ーブボードの上面側に支柱9を介して配線ホルダーとし
ての基板10が設けられる。すなわち、上記プローブ1
のカラーが設けられる他端IBから先は、上記プローブ
1の上下の進退を損なわないよう所定のたわみをもって
基板10に設けられた貫通穴により固着され、上面側に
延びてそのまま直接にテスターに接続される。上記プロ
ーブIとして用いる配線材は、前記のように被覆又は被
膜が設けられており、上記カラーが設けられるプローブ
としての他端IB側から先(テスター側)は、上記被覆
又は被膜が残された状態にされる。それ故、上記基板4
と基板10とのたわみ部分で隣接する配線が電気的に短
絡してしまうこことがない。上記基板4と基板10との
間隔は、比較的短いから、そこでの配線材料の自重によ
って上記プローブ先端部分の進退が損なわれることはな
い。
なお、図示しないが、基板10としては、プリント配線
基板により構成し、上記プローブ1と一体的に構成され
る配線の他端は、基板10に設けられたプリント配線に
ハンダ付けさせれ終端するものであってもよい。この構
成では、基板10に形成されたプリント配線が基板端部
に設けられた接続電極まで延びて基板用のコネクタに接
続される。このコネクタを通して所定のケーブルにより
テスターに接続される。このようにすると、プローブボ
ードとしては、上記基板lと基板10からなり、テスタ
ーに直結するための接続される比較的長い配線が設けら
れないから取り扱いが簡単になるものである。
基板により構成し、上記プローブ1と一体的に構成され
る配線の他端は、基板10に設けられたプリント配線に
ハンダ付けさせれ終端するものであってもよい。この構
成では、基板10に形成されたプリント配線が基板端部
に設けられた接続電極まで延びて基板用のコネクタに接
続される。このコネクタを通して所定のケーブルにより
テスターに接続される。このようにすると、プローブボ
ードとしては、上記基板lと基板10からなり、テスタ
ーに直結するための接続される比較的長い配線が設けら
れないから取り扱いが簡単になるものである。
上記の実施例から得られる作用効果は、下記の通りであ
る。すなわち、 (1)ttlJい線条の導電性金属からなるプローブと
、このプローブを巻き込むように取り付けられ、プロー
ブの先端側が固着されたヘリカルスプリングと、上記ヘ
ルカルスプリングが取り付けられた状態のプローブが挿
入可能にされ、ヘルカルスプリングの他端側を固定する
ストッパーが挿入口の反対側に設けられ、測定すべき電
極に位置合わせされて形成されてなる複数の挿入穴を有
し、少なくとも表面が電気絶縁性を持つ基板とを用意し
ておき、上記挿入穴に挿入された状態のプローブに上記
ストッパーが設けられた側の基板表面において上記プロ
ーブ先端の突出長さを決めるカラーをプローブに固着さ
せる。この構成では、プローブを進退自在にさせるヘリ
カルスプリング等を納めるホルダと基板とが併用でき、
部品点数を少なくできるとともに信号伝達経路にスプリ
ングが介在しないから良好な信号伝達経路を得ることが
できるという効果が得られる。
る。すなわち、 (1)ttlJい線条の導電性金属からなるプローブと
、このプローブを巻き込むように取り付けられ、プロー
ブの先端側が固着されたヘリカルスプリングと、上記ヘ
ルカルスプリングが取り付けられた状態のプローブが挿
入可能にされ、ヘルカルスプリングの他端側を固定する
ストッパーが挿入口の反対側に設けられ、測定すべき電
極に位置合わせされて形成されてなる複数の挿入穴を有
し、少なくとも表面が電気絶縁性を持つ基板とを用意し
ておき、上記挿入穴に挿入された状態のプローブに上記
ストッパーが設けられた側の基板表面において上記プロ
ーブ先端の突出長さを決めるカラーをプローブに固着さ
せる。この構成では、プローブを進退自在にさせるヘリ
カルスプリング等を納めるホルダと基板とが併用でき、
部品点数を少なくできるとともに信号伝達経路にスプリ
ングが介在しないから良好な信号伝達経路を得ることが
できるという効果が得られる。
(2)上記細い線条の導電性金属は、その表面が電気絶
縁のための被覆又は被膜を有し、上記プローブとして作
用する部分において被覆又は被膜が除去し、カラーから
先の部分は上記被覆又は被膜を残してケーブルの一部と
して用いることにより、良好な信号伝達経路を得ること
ができるという効果が得られる。
縁のための被覆又は被膜を有し、上記プローブとして作
用する部分において被覆又は被膜が除去し、カラーから
先の部分は上記被覆又は被膜を残してケーブルの一部と
して用いることにより、良好な信号伝達経路を得ること
ができるという効果が得られる。
(3) mい線条の導電性金属からなるプローブと、こ
のプローブを巻き込むように取り付けられ、プローブの
先端側が固着されたヘリカルスプリングと、上記ヘルカ
ルスプリングが取り付けられた状態のプローブが挿入可
能にされ、ヘルカルスプリングの他端側を固定するスト
ッパーが挿入口の反対側に設けられ、測定すべき電極に
位置合わせされて形成されてなる複数の挿入穴を有し、
少なくとも表面が電気絶縁性を持つ基板とを用意してお
き、上記挿入穴に挿入された状態のプローブに上記スト
ッパーが設けられた側の基板表面において上記プローブ
先端の突出長さを決めるカラーをプローブに固着させ組
立方向を採ることによって、高密度からなる多数のプロ
ーブを持つプローブボードを簡単に組み立てることがで
きるという効果が得られる。
のプローブを巻き込むように取り付けられ、プローブの
先端側が固着されたヘリカルスプリングと、上記ヘルカ
ルスプリングが取り付けられた状態のプローブが挿入可
能にされ、ヘルカルスプリングの他端側を固定するスト
ッパーが挿入口の反対側に設けられ、測定すべき電極に
位置合わせされて形成されてなる複数の挿入穴を有し、
少なくとも表面が電気絶縁性を持つ基板とを用意してお
き、上記挿入穴に挿入された状態のプローブに上記スト
ッパーが設けられた側の基板表面において上記プローブ
先端の突出長さを決めるカラーをプローブに固着させ組
立方向を採ることによって、高密度からなる多数のプロ
ーブを持つプローブボードを簡単に組み立てることがで
きるという効果が得られる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本願発明は前記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。例えば、プローブとし
て用いる配線材料やヘリカルスプリングとして用いる材
料や寸法は、種々の実施形態を採ることができる。ヘリ
カルスプリングは、信号伝達経路を構成しないからヘリ
カルスプリングとプローブとの接続は、ハンダ付けの他
職縁性の接着剤を用いるものであってもよい。このこと
は、カラーとプローブとの間においても同様である。そ
れ故、プローブとして用いる被覆又は被膜を持つ配線材
料は、その先端部分のみを露出させ上記ヘリカルスプリ
ングやカラーが設けられる部分は被覆又は被膜を残すも
のであってもよい。この場合には、基板の挿入穴全部が
電気的に絶縁性を持つ必要はない。
体的に説明したが、本願発明は前記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。例えば、プローブとし
て用いる配線材料やヘリカルスプリングとして用いる材
料や寸法は、種々の実施形態を採ることができる。ヘリ
カルスプリングは、信号伝達経路を構成しないからヘリ
カルスプリングとプローブとの接続は、ハンダ付けの他
職縁性の接着剤を用いるものであってもよい。このこと
は、カラーとプローブとの間においても同様である。そ
れ故、プローブとして用いる被覆又は被膜を持つ配線材
料は、その先端部分のみを露出させ上記ヘリカルスプリ
ングやカラーが設けられる部分は被覆又は被膜を残すも
のであってもよい。この場合には、基板の挿入穴全部が
電気的に絶縁性を持つ必要はない。
この発明は、半導体集積回路装置や半導体ウェハ上の半
導体チップ又はセラミック配線基板等のような小型電子
部品に用いられるプローブボードとその組立方法に広く
利用できるものである。
導体チップ又はセラミック配線基板等のような小型電子
部品に用いられるプローブボードとその組立方法に広く
利用できるものである。
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば下記の通りである。
て得られる効果を簡単に説明すれば下記の通りである。
すなわち、細い線条の導電性金属からなるプローブと、
このプローブを巻き込むように取り付けられ、プローブ
の先端側が固着されたヘリカルスプリングと、上記ヘル
カルスプリングが取り付けられた状態のプローブが挿入
可能にされ、ヘルカルスプリングの他端側を固定するス
トッパーが挿入口の反対側に設けられ、測定すべき電極
に位置合わせされて形成されてなる複数の挿入穴を有し
、少なくとも表面が電気絶縁性を持つ基板とを用意して
おき、上記挿入穴に挿入された状態のプローブに上記ス
トッパーが設けられた側の基板表面において上記プロー
ブ先端の突出長さを決めるカラーをプローブに固着させ
る。この構成では、プローブを進退自在にさせるヘリカ
ルスプリング等を納めるホルダと基板とが併用でき、部
品点数を少なくでき、信号伝達経路にスプリングが介在
しないから良好な信号伝達経路を得るとともに高密度か
らなる多数のプローブを持つプローブボードを簡単に簡
単に組み立てることができる。
このプローブを巻き込むように取り付けられ、プローブ
の先端側が固着されたヘリカルスプリングと、上記ヘル
カルスプリングが取り付けられた状態のプローブが挿入
可能にされ、ヘルカルスプリングの他端側を固定するス
トッパーが挿入口の反対側に設けられ、測定すべき電極
に位置合わせされて形成されてなる複数の挿入穴を有し
、少なくとも表面が電気絶縁性を持つ基板とを用意して
おき、上記挿入穴に挿入された状態のプローブに上記ス
トッパーが設けられた側の基板表面において上記プロー
ブ先端の突出長さを決めるカラーをプローブに固着させ
る。この構成では、プローブを進退自在にさせるヘリカ
ルスプリング等を納めるホルダと基板とが併用でき、部
品点数を少なくでき、信号伝達経路にスプリングが介在
しないから良好な信号伝達経路を得るとともに高密度か
らなる多数のプローブを持つプローブボードを簡単に簡
単に組み立てることができる。
第1図ないし第5図は、この発明に係るプローブボード
の組立方法の一実施例を示し、概略側面図、 第6図は、基板に設けられた挿入穴の一実施例を配置図
、 第7図は、この発明に係るプローブボードの一実施例を
示す概略側面図である。 1・・プローブ(配線材)、2・・ヘリカルスプリング
、3・・ハンダ、4・・基板、5・・挿入穴、6・・ス
トッパー、7・・カラー、8・・ハンダ、9・・支柱、
10・・基板(配線ホルダー)、IA・・プローブ先端
、IB・・プローブ他端
の組立方法の一実施例を示し、概略側面図、 第6図は、基板に設けられた挿入穴の一実施例を配置図
、 第7図は、この発明に係るプローブボードの一実施例を
示す概略側面図である。 1・・プローブ(配線材)、2・・ヘリカルスプリング
、3・・ハンダ、4・・基板、5・・挿入穴、6・・ス
トッパー、7・・カラー、8・・ハンダ、9・・支柱、
10・・基板(配線ホルダー)、IA・・プローブ先端
、IB・・プローブ他端
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、細い線条の導電性金属からなるプローブと、このプ
ローブを巻き込むように取り付けられ、プローブの先端
側が固着されたヘリカルスプリングと、上記ヘルカルス
プリングが取り付けられた状態のプローブが挿入可能に
され、ヘルカルスプリングの他端側を固定するストッパ
ーが挿入口の反対側に設けられ、測定すべき電極に位置
合わせされて形成されてなる複数の挿入穴を有し、少な
くとも表面が電気絶縁性を持つ基板と、上記挿入穴に挿
入された状態のプローブに上記ストッパーが設けられた
側の基板表面において上記プローブ先端の突出長さを決
めるように固着されたカラーとを備えてなることを特徴
とするプローブボード。 2、上記細い線条の導電性金属は、その表面が電気絶縁
のための被覆又は被膜を有し、上記プローブとして作用
する部分において被覆又は被膜が除去されるものであり
、上記カラーから先の部分は上記被覆又は被膜を残して
ケーブルの一部として用いるものであることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載のプローブボード。 3、細い線条の導電性金属からなるプローブに対して巻
き込むようにヘリカルスプリングを取り付ける工程、上
記取り付けられたヘルカルスプリングをプローブの先端
側で固着させる工程、測定すべき電極に合わせて上記ヘ
リカルスプリングが取り付けられた状態のプローブが挿
入可能にされるとともに、ヘリカルスプリングの他端側
を固定するストッパーを挿入口の反対側に設けた挿入穴
を持つ基板を形成する工程、上記挿入穴にヘリカルスプ
リングが取り付けられた状態のプローブが挿入して、上
記プローブ先端の突出長さが一定になるように上記スト
ッパーが設けられた側の基板表面において上記プローブ
にカラーを固着させる工程とを含むことを特徴とするプ
ローブボードの組立方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22520689A JPH0389170A (ja) | 1989-08-31 | 1989-08-31 | プローブボードとその組立方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22520689A JPH0389170A (ja) | 1989-08-31 | 1989-08-31 | プローブボードとその組立方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0389170A true JPH0389170A (ja) | 1991-04-15 |
Family
ID=16825643
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22520689A Pending JPH0389170A (ja) | 1989-08-31 | 1989-08-31 | プローブボードとその組立方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0389170A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4880120B2 (ja) * | 1998-07-10 | 2012-02-22 | 日本発條株式会社 | 導電性接触子 |
TWI400449B (zh) * | 2009-08-10 | 2013-07-01 | Mpi Corp | 具有擴充電源平面的探針卡、及其擴充電源平面的結構與方法 |
-
1989
- 1989-08-31 JP JP22520689A patent/JPH0389170A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4880120B2 (ja) * | 1998-07-10 | 2012-02-22 | 日本発條株式会社 | 導電性接触子 |
TWI400449B (zh) * | 2009-08-10 | 2013-07-01 | Mpi Corp | 具有擴充電源平面的探針卡、及其擴充電源平面的結構與方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6400168B2 (en) | Method for fabricating probe tip portion composed by coaxial cable | |
JP4438601B2 (ja) | 検査ユニットの製法 | |
KR100449204B1 (ko) | 고주파용 프로브의 에어 인터페이스 장치 | |
JP3597738B2 (ja) | 導電性接触子及び導電性接触子アセンブリ | |
US5446393A (en) | Electrical measuring and testing probe having a malleable shaft facilitating positioning of a contact pin | |
JP2007178163A (ja) | 検査ユニットおよびそれに用いる検査プローブ用外皮チューブ組立体 | |
US6087840A (en) | Probe card with vertical needle for enabling improved wafer testing and method of manufacturing the same | |
JPH0817535A (ja) | プローブ・アダプタ | |
JPH0389170A (ja) | プローブボードとその組立方法 | |
JPS5811741B2 (ja) | プロ−ブボ−ド | |
JP2976619B2 (ja) | 半導体素子検査装置およびその製法 | |
US6498299B2 (en) | Connection structure of coaxial cable to electric circuit substrate | |
JPH0580124A (ja) | 半導体素子検査装置 | |
JP3249865B2 (ja) | 半導体集積回路装置の製造方法 | |
JP2016099301A (ja) | 中継基板及びその製造方法 | |
JP3635882B2 (ja) | 電子部品実装基板 | |
KR100426074B1 (ko) | 프로브 카드의 탐침 접합 구조 | |
JPS63157076A (ja) | チツプテストポスト | |
JPH01265470A (ja) | 同軸ケーブル用コネクタ | |
JPS6221008Y2 (ja) | ||
JP2528910Y2 (ja) | コンタクトプローブ支持カバー | |
JPS5912615Y2 (ja) | プロ−ブカ−ド | |
JP3268283B2 (ja) | Bgaパッケージ用測定装置 | |
JP2980952B2 (ja) | プローブボード | |
JPS63317784A (ja) | 半導体素子検査装置 |