JPS6221008Y2 - - Google Patents
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- JPS6221008Y2 JPS6221008Y2 JP10613982U JP10613982U JPS6221008Y2 JP S6221008 Y2 JPS6221008 Y2 JP S6221008Y2 JP 10613982 U JP10613982 U JP 10613982U JP 10613982 U JP10613982 U JP 10613982U JP S6221008 Y2 JPS6221008 Y2 JP S6221008Y2
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- Japan
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- probe
- probe card
- opening
- probes
- synthetic resin
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- 238000005476 soldering Methods 0.000 claims 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 4
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Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は半導体ウエハに形成された集積回路の
電気的特性を測定するときに使用されるプローブ
カードに関する。
電気的特性を測定するときに使用されるプローブ
カードに関する。
一般に半導体ウエハに形成された多数の集積回
路の電気的特性を各々測定する場合、集積回路の
1単位に相当する半導体ウエハ面上の1個のます
目(以下「チツプ」と呼ぶ)内の各電極に対応し
て配置される探針を有するプローブカードが用い
られる。
路の電気的特性を各々測定する場合、集積回路の
1単位に相当する半導体ウエハ面上の1個のます
目(以下「チツプ」と呼ぶ)内の各電極に対応し
て配置される探針を有するプローブカードが用い
られる。
プローブカードの構造は、例えば基本的特許た
る特公昭54−43354より公知ではあるが、ここで
改めて従来のプローブカードについて説明する。
る特公昭54−43354より公知ではあるが、ここで
改めて従来のプローブカードについて説明する。
第1図は、従来のプローブカードの部分断面図
である。
である。
第1図において、プローブカード10は、その
表裏面に所定のプリント配線を有する略矩形(又
は円形であつてもよい)のプリント基板11で形
成されている。プリント基板11は、そのほぼ中
央に開口部12を有するとともに、前記開口部1
2の裏面側には嵌合部13を有する。そして嵌合
部13には、リング状のベース部材14が嵌合接
着されており、そのベース部材14の傾斜面に
は、複数個の探針15が放射状に配置され、絶縁
性合成樹脂16で固定されている。さらに、探針
15は一端をプリント基板11の所定の端子にそ
れぞれ半田付されているとともに、他端は絶縁性
合成樹脂16の内側面より突出している。前記探
針の突出部17の先端は針先形状をなし、かつ折
曲されたコンタクト部18を形成する。
表裏面に所定のプリント配線を有する略矩形(又
は円形であつてもよい)のプリント基板11で形
成されている。プリント基板11は、そのほぼ中
央に開口部12を有するとともに、前記開口部1
2の裏面側には嵌合部13を有する。そして嵌合
部13には、リング状のベース部材14が嵌合接
着されており、そのベース部材14の傾斜面に
は、複数個の探針15が放射状に配置され、絶縁
性合成樹脂16で固定されている。さらに、探針
15は一端をプリント基板11の所定の端子にそ
れぞれ半田付されているとともに、他端は絶縁性
合成樹脂16の内側面より突出している。前記探
針の突出部17の先端は針先形状をなし、かつ折
曲されたコンタクト部18を形成する。
かかるプローブカード10を使用した集積回路
の測定は、主としてアルミニウム薄膜で形成され
たチツプ内の電極と、前記探針15のコンタクト
部18とをそれぞれ圧接することにより行われ
る。
の測定は、主としてアルミニウム薄膜で形成され
たチツプ内の電極と、前記探針15のコンタクト
部18とをそれぞれ圧接することにより行われ
る。
従つて、集積回路の電気的特性を正確に測定し
ようとする場合、チツプ内の電極と探針との接触
抵抗を出来るだけ少くし、かつそのバラツキを押
える必要がある。さらに、半導体集積回路の信頼
性等の面から、探針が電極に与える損傷は極力少
くなるようにしなければならない。
ようとする場合、チツプ内の電極と探針との接触
抵抗を出来るだけ少くし、かつそのバラツキを押
える必要がある。さらに、半導体集積回路の信頼
性等の面から、探針が電極に与える損傷は極力少
くなるようにしなければならない。
しかしながら、近年、集積回路の集積度が飛躍
的に向上するにつれて、さらにその集積度を向上
させ、また電気的特性を確保する観点より、従来
はチツプの周辺に位置していた電極が、チツプの
中央部に位置するような場合も生じてきた。
的に向上するにつれて、さらにその集積度を向上
させ、また電気的特性を確保する観点より、従来
はチツプの周辺に位置していた電極が、チツプの
中央部に位置するような場合も生じてきた。
第2図は、前記したようなチツプ中央部に電極
を有する集積回路を測定する場合における従来の
プローブカードの部分断面図を示す。
を有する集積回路を測定する場合における従来の
プローブカードの部分断面図を示す。
第2図において151はチツプ周辺部に位置す
る電極と圧接される探針、152はチツプ中央部
に位置する電極と圧接される探針にそれぞれ相当
している。
る電極と圧接される探針、152はチツプ中央部
に位置する電極と圧接される探針にそれぞれ相当
している。
同図より明らかなように、探針151の突出部
17の長さL1と、探針152の突出部17の長
さL2とは著しくその長さが異なる。
17の長さL1と、探針152の突出部17の長
さL2とは著しくその長さが異なる。
このような探針151及び152をチツプ内の
各電極に圧接した場合、探針152に生じる押圧
力は探針151のそれよりも著しく小さくなる。
各電極に圧接した場合、探針152に生じる押圧
力は探針151のそれよりも著しく小さくなる。
その結果、従来のプローブカードでは、突出部
17の長い探針152と、これに接触する電極間
との接触抵抗が増大するとともに、各探針と電極
間の接触抵抗のバラツキも大きくなることによ
り、集積回路の電気的特性を正確に測定できなく
なる。
17の長い探針152と、これに接触する電極間
との接触抵抗が増大するとともに、各探針と電極
間の接触抵抗のバラツキも大きくなることによ
り、集積回路の電気的特性を正確に測定できなく
なる。
一方、前記探針152の押圧力を増すため、第
3図に示すように、半導体ウエハー20の上下駆
動ストロークXを広く取つた場合、探針151の
押圧力が著しく高くなるとともに、そのコンタク
ト部18の電極面上のずれR1が大きくなる。
3図に示すように、半導体ウエハー20の上下駆
動ストロークXを広く取つた場合、探針151の
押圧力が著しく高くなるとともに、そのコンタク
ト部18の電極面上のずれR1が大きくなる。
その結果、探針151に接触する電極が著しく
損傷を受け、半導体集積回路の信頼性に悪影響を
及ぼす恐れがある。
損傷を受け、半導体集積回路の信頼性に悪影響を
及ぼす恐れがある。
本考案は上記諸点に鑑みてなされたもので、探
針の突出部の長さに関係なく、一定の押圧力を得
ることができるプローブカードを提供することを
目的とする。
針の突出部の長さに関係なく、一定の押圧力を得
ることができるプローブカードを提供することを
目的とする。
以下本考案の実施例を図面とともに説明する。
第4図は本考案に係るプローブカードの一実施
例を裏面から見た概略斜視図、第5図はその部分
断面図である。
例を裏面から見た概略斜視図、第5図はその部分
断面図である。
プローブカード40は、その表裏面に所定のプ
リント配線42を有する略矩形のプリント基板4
1で形成されており、前記プリント配線42の一
端は、プリント基板41の一側辺部に直交する方
向に並設された接触板43にそれぞれ接続されて
いるとともに、その他端はプリント基板41の中
央部の開口部44と同心円状の円周上に周設され
た端子部45にそれぞれ接続されている。
リント配線42を有する略矩形のプリント基板4
1で形成されており、前記プリント配線42の一
端は、プリント基板41の一側辺部に直交する方
向に並設された接触板43にそれぞれ接続されて
いるとともに、その他端はプリント基板41の中
央部の開口部44と同心円状の円周上に周設され
た端子部45にそれぞれ接続されている。
一方、前記開口部44はプリント基板41の裏
面側に第5図に示すように嵌合部46が形成され
ており、この嵌合部46には内方に向つて高くな
る傾斜面を有するリング状のベース部材47が嵌
合接着されている。さらに、前記ベース部材47
の傾斜面には開口部44の内方に延在する複数個
のスリーブ48が放射状に配置され、絶縁性合成
樹脂49で固定されている。スリープ48は外径
が約0.40mmで内径が約0.30mmの金属製の細管で、
その表面にはニツケルメツキ等の表面処理が施さ
れている。そして、スリーブ48の内部孔には、
線径が約0.25mmで、主としてタングステンで構成
される探針50が嵌入されている。スリーブ48
の一端より外方へ延在する探針50の一端は、端
子部45に半田付されているとともに、スリーブ
48の他端より開口部44の内方へ延在する探針
50の突出部52は、その先端に向つて線径が漸
次減少していく針先形状をなし、かつその先端か
ら0.5mm程度のところで下方に折曲されたコンタ
クト部53を有する。ここで各探針50は、その
突出部52の長さMがすべて等しくなるようにス
リーブ48の内部に充填された合成樹脂63内に
埋設固定されるが、この埋設固定は予め探針50
の表面に合成樹脂63を塗布したのち、この探針
をスリーブ84内に挿入することによつて行うこ
とができる。
面側に第5図に示すように嵌合部46が形成され
ており、この嵌合部46には内方に向つて高くな
る傾斜面を有するリング状のベース部材47が嵌
合接着されている。さらに、前記ベース部材47
の傾斜面には開口部44の内方に延在する複数個
のスリーブ48が放射状に配置され、絶縁性合成
樹脂49で固定されている。スリープ48は外径
が約0.40mmで内径が約0.30mmの金属製の細管で、
その表面にはニツケルメツキ等の表面処理が施さ
れている。そして、スリーブ48の内部孔には、
線径が約0.25mmで、主としてタングステンで構成
される探針50が嵌入されている。スリーブ48
の一端より外方へ延在する探針50の一端は、端
子部45に半田付されているとともに、スリーブ
48の他端より開口部44の内方へ延在する探針
50の突出部52は、その先端に向つて線径が漸
次減少していく針先形状をなし、かつその先端か
ら0.5mm程度のところで下方に折曲されたコンタ
クト部53を有する。ここで各探針50は、その
突出部52の長さMがすべて等しくなるようにス
リーブ48の内部に充填された合成樹脂63内に
埋設固定されるが、この埋設固定は予め探針50
の表面に合成樹脂63を塗布したのち、この探針
をスリーブ84内に挿入することによつて行うこ
とができる。
すなわち、第5図に示すようにベース部材の内
側面から探針50の先端までの長さL1,L2は各
探針50が圧接すべきチツプ内の電極の位置によ
つてその値は異るが、突出部52の長さMはすべ
ての探針50について等しくなる。
側面から探針50の先端までの長さL1,L2は各
探針50が圧接すべきチツプ内の電極の位置によ
つてその値は異るが、突出部52の長さMはすべ
ての探針50について等しくなる。
また、スリーブ48の外径は、探針50の線径
より太くなつているため、探針50をチツプ内の
電極に圧接しても、スリーブ48は、ほとんどた
わむことはない。
より太くなつているため、探針50をチツプ内の
電極に圧接しても、スリーブ48は、ほとんどた
わむことはない。
従つて、探針の電極への押圧力は、探針の突出
部52の長さを一定にすることにより、チツプ内
の電極の位置に関係なく、すべての探針について
等しくなる。
部52の長さを一定にすることにより、チツプ内
の電極の位置に関係なく、すべての探針について
等しくなる。
又第6図は本考案に係るプローブカードの他の
実施例をしめす部分断面図であつて、基板41の
開口部44の内方に放射状に延在するプリント配
線60に、一端を半田付けされた金属製ブレード
の他端に半田付けされ、上記プリント基板41の
裏面から突出して、裏面と傾斜を成す様に支持さ
れる金属製スリーブ62に嵌入されている探針6
4の後端を、金属製スリーブから突出せしめて、
前記金属製ブレード61に半田65でもつて半田
付すると共に探針64の先端突出部の長さをすべ
て等しくなる様にスリーブ62の内部に於て合成
樹脂で接着して形成したものである。この場合も
前述と同様に探針の電極への押圧力をチツプ内の
電極の位置に関係なく、すべての探針について等
しくすることができる。本考案の効果としては探
針64とこれを支持するスリーブ62間に合成樹
脂が介在し、クツシヨンとして働く為に過度の応
力集中もなく探針の折傷を防止することもできる
ほか、チツプ内の電極と探針との接触抵抗のバラ
ツキを少くすることができるとともに、その接触
抵抗を均一に低くすることができるので、集積回
路の正確な測定が可能になる。
実施例をしめす部分断面図であつて、基板41の
開口部44の内方に放射状に延在するプリント配
線60に、一端を半田付けされた金属製ブレード
の他端に半田付けされ、上記プリント基板41の
裏面から突出して、裏面と傾斜を成す様に支持さ
れる金属製スリーブ62に嵌入されている探針6
4の後端を、金属製スリーブから突出せしめて、
前記金属製ブレード61に半田65でもつて半田
付すると共に探針64の先端突出部の長さをすべ
て等しくなる様にスリーブ62の内部に於て合成
樹脂で接着して形成したものである。この場合も
前述と同様に探針の電極への押圧力をチツプ内の
電極の位置に関係なく、すべての探針について等
しくすることができる。本考案の効果としては探
針64とこれを支持するスリーブ62間に合成樹
脂が介在し、クツシヨンとして働く為に過度の応
力集中もなく探針の折傷を防止することもできる
ほか、チツプ内の電極と探針との接触抵抗のバラ
ツキを少くすることができるとともに、その接触
抵抗を均一に低くすることができるので、集積回
路の正確な測定が可能になる。
さらに、前記押圧力を一定にすることにより、
チツプ内の電極の損傷を減少することができるの
で、集積回路の信頼性の向上を期待できる。
チツプ内の電極の損傷を減少することができるの
で、集積回路の信頼性の向上を期待できる。
第1図は従来のプローブカードの部分断面図、
第2図はチツプ中央部に電極を有する集積回路を
測定する場合における従来のプローブカードの部
分断面図、第3図は探針のコンタクト部の電極面
上のずれを示す説明図、第4図は本考案に係るプ
ローブカードの一実施例を裏面から見た概略斜視
図、第5図は本考案に係るプローブカードの一実
施例の部分断面図、第6図は本考案に係るプロー
ブカードのブレード形への実施例を示す部分断面
図である。 40……プローブカード、41……プリント基
板、44……開口部、47……ベース部材、4
8,62……スリーブ、49……絶縁性合成樹
脂、50,64……探針、53……コンタクト
部、61……ブレード。
第2図はチツプ中央部に電極を有する集積回路を
測定する場合における従来のプローブカードの部
分断面図、第3図は探針のコンタクト部の電極面
上のずれを示す説明図、第4図は本考案に係るプ
ローブカードの一実施例を裏面から見た概略斜視
図、第5図は本考案に係るプローブカードの一実
施例の部分断面図、第6図は本考案に係るプロー
ブカードのブレード形への実施例を示す部分断面
図である。 40……プローブカード、41……プリント基
板、44……開口部、47……ベース部材、4
8,62……スリーブ、49……絶縁性合成樹
脂、50,64……探針、53……コンタクト
部、61……ブレード。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) プリント基板における開口部の裏面に複数個
の探針が放射状に配置固定された集積回路測定
用のプローブカードにおいて、前記複数個の探
針は前記開口部の周縁に配設固定された複数個
の金属性スリーブにそれぞれ嵌入されており、
前記金属性スリーブの一端より前記開口部の内
方へ延在する探針の突出部の長さがすべての探
針について等しくなるように金属製スリーブ内
に於て合成樹脂で接着されたものであることを
特徴とするプローブカード。 (2) 前記複数個の金属性スリーブは前記開口部に
嵌合接着されているリング状のベース部材に絶
縁性合成樹脂で固定されたものであることを特
徴とする実用新案登録請求の範囲第1項記載の
プローブカード。 (3) 前記複数個の金属性スリーブはプリント配線
に一端を半田付けして配設されている複数個の
金属製ブレードの他端に半田付固定されたもの
であることを特徴とする実用新案登録請求の範
囲第1項記載のプローブカード。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10613982U JPS5911443U (ja) | 1982-07-12 | 1982-07-12 | プロ−ブカ−ド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10613982U JPS5911443U (ja) | 1982-07-12 | 1982-07-12 | プロ−ブカ−ド |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5911443U JPS5911443U (ja) | 1984-01-24 |
JPS6221008Y2 true JPS6221008Y2 (ja) | 1987-05-28 |
Family
ID=30248502
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10613982U Granted JPS5911443U (ja) | 1982-07-12 | 1982-07-12 | プロ−ブカ−ド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5911443U (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0636581Y2 (ja) * | 1987-01-07 | 1994-09-21 | 沖電気工業株式会社 | プロ−ブボ−ド |
-
1982
- 1982-07-12 JP JP10613982U patent/JPS5911443U/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5911443U (ja) | 1984-01-24 |
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