JPH0383462A - 情報支持物によって散乱される光を測定するための装置 - Google Patents
情報支持物によって散乱される光を測定するための装置Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、情報支持物によって散乱される光を測定する
ための装置に係わり、前記装置は、情報支持物の一部分
を露光するために使用可能な光源と、感光性表面を有し
且つこの感光性表面上に当たる光の量に応じて出力信号
を与えるセンサと、前記情報支（２）前記センサとの間
に配置されるセンサから成り、更に、前記情報支持物の
露光部分が前記センサの視野よりも小さい。
ための装置に係わり、前記装置は、情報支持物の一部分
を露光するために使用可能な光源と、感光性表面を有し
且つこの感光性表面上に当たる光の量に応じて出力信号
を与えるセンサと、前記情報支（２）前記センサとの間
に配置されるセンサから成り、更に、前記情報支持物の
露光部分が前記センサの視野よりも小さい。
上記に基づいて作られる装置はＵＳ−＾−４６３９６０
７から公知、であり、これは、反射表面の僅かな部分に
対して光ビームが導かれるペーパーエツジ検出器を説明
する。この場合には、この反射表面から正反射光収束レ
ンズを経て前記検出器の上に当たる。一定の範囲内では
、この露光部分と収束レンズとの間の距離が一定不変に
維持される限り、検出される光の量は前記反射表面の方
向性には無関係である。
７から公知、であり、これは、反射表面の僅かな部分に
対して光ビームが導かれるペーパーエツジ検出器を説明
する。この場合には、この反射表面から正反射光収束レ
ンズを経て前記検出器の上に当たる。一定の範囲内では
、この露光部分と収束レンズとの間の距離が一定不変に
維持される限り、検出される光の量は前記反射表面の方
向性には無関係である。
この種の装置は、例えば電子写真装置における無背景複
写に必要な露光を測定するために使用可能である。この
目的のために、情報支持物によって散乱される光の量は
、この支持物の一部分を露光すること及び；の露光部分
からの散乱光の量を測定することによって計測される。
写に必要な露光を測定するために使用可能である。この
目的のために、情報支持物によって散乱される光の量は
、この支持物の一部分を露光すること及び；の露光部分
からの散乱光の量を測定することによって計測される。
この種の装置の欠点は、情報支（２）センサこの間の距
離が変化する場合には、センサ上に当たる光の量が変化
する可能性があるということである。例えば、センサに
対する情報支持物の位置決めが変動する可能性を伴いな
がら、情報支持物がセンサに沿った経路を移動する場合
に、こうした事態が起こる。
離が変化する場合には、センサ上に当たる光の量が変化
する可能性があるということである。例えば、センサに
対する情報支持物の位置決めが変動する可能性を伴いな
がら、情報支持物がセンサに沿った経路を移動する場合
に、こうした事態が起こる。
本発明の目的は、上記欠点を著しく減少させることであ
る。本発明に従って、この目的は本説明の冒頭で述べら
れた通りの装置において実現される。この装置では、セ
ンサ情報支（２）の間の距離がこの距離の８０〜１２０
％の長さに亘って変化する時にも、センサの感光性表面
に当たる光の量が５％の範囲内で一定不変のままである
ように、前記センサが前記対物レンズの後方に幾らかの
距離を置いて配置される。前記センサの感光性表面の最
大の長さ寸法りは、次の方程式を満たす。
る。本発明に従って、この目的は本説明の冒頭で述べら
れた通りの装置において実現される。この装置では、セ
ンサ情報支（２）の間の距離がこの距離の８０〜１２０
％の長さに亘って変化する時にも、センサの感光性表面
に当たる光の量が５％の範囲内で一定不変のままである
ように、前記センサが前記対物レンズの後方に幾らかの
距離を置いて配置される。前記センサの感光性表面の最
大の長さ寸法りは、次の方程式を満たす。
前式中でＡは情報支持物こセンサの間の距離を表し、Ｂ
はセンサセンサの感光性表面との間の距離を表し、ｆは
対物レンズの焦点距離を表し、またｄ は対物レンズ
の有効直径を表１ｅＩＩ器１ｅＩＩ器 す。
はセンサセンサの感光性表面との間の距離を表し、ｆは
対物レンズの焦点距離を表し、またｄ は対物レンズ
の有効直径を表１ｅＩＩ器１ｅＩＩ器 す。
情報支（２）センサの間の距離が一幅広い範囲内で−ど
んなに変化しても、センサの感光性表面上の光の量が一
定不変のままであり又は実質的に一定不変のままである
ような、センサの最適位置があることが見出されている
。この最適位置は、特に情報支（２）センサの間の距離
と、対物レンズの焦点距離と、センサの感光性表面の大
きさ及び形状と、並びに情報支持物の散乱特性とに依存
する。
んなに変化しても、センサの感光性表面上の光の量が一
定不変のままであり又は実質的に一定不変のままである
ような、センサの最適位置があることが見出されている
。この最適位置は、特に情報支（２）センサの間の距離
と、対物レンズの焦点距離と、センサの感光性表面の大
きさ及び形状と、並びに情報支持物の散乱特性とに依存
する。
幾つかの具体例では、上記のパラメタが既知であるなら
ば、センサの最適位置を計算することが可能である。し
かし多くの場合には、この計算は非常に複雑であり、実
際上は実験によって最適位置を決定することの方が簡単
である。次のような手順がこのために採用されることが
可能である。
ば、センサの最適位置を計算することが可能である。し
かし多くの場合には、この計算は非常に複雑であり、実
際上は実験によって最適位置を決定することの方が簡単
である。次のような手順がこのために採用されることが
可能である。
即ちこの手順は、対物レンズの後方に例えばこのレンズ
の焦点距離の １１０％の距離にセンサを配置すること
と、センサへの入射光の量が一定不変のままであるか又
は実質的に一定不変のままでなければならないことが必
要とされる長さに亘って、対物レンズに対する情報支持
物のずれの関数としてセンサの出力信号を測定すること
と、並びに対物レンズの方向にセンサを段階的に移動さ
せ、及びその移動の段階毎に、必要とされ長さに亘って
、対物レンズに対する情報支持物のずれの関数としてセ
ンサの出力信号を測定することとから成る。
の焦点距離の １１０％の距離にセンサを配置すること
と、センサへの入射光の量が一定不変のままであるか又
は実質的に一定不変のままでなければならないことが必
要とされる長さに亘って、対物レンズに対する情報支持
物のずれの関数としてセンサの出力信号を測定すること
と、並びに対物レンズの方向にセンサを段階的に移動さ
せ、及びその移動の段階毎に、必要とされ長さに亘って
、対物レンズに対する情報支持物のずれの関数としてセ
ンサの出力信号を測定することとから成る。
この方法では、対物レンズに対して情報支持物の位置が
ずれても、必要とされる応用にとって十分な程度にまで
センサに対する入射光の量が一定不変のままであるよう
なセンサ位置が容易に決定される。
ずれても、必要とされる応用にとって十分な程度にまで
センサに対する入射光の量が一定不変のままであるよう
なセンサ位置が容易に決定される。
情報支持物が光を拡散的に散乱させ且つセンサ感光性表
面の長さ及び幅が互いに等しいか又は実質的に等しい場
合には、センサの最適位置を計算することが可能である
ことが見出されている。情報支（２）センサの間の距離
Ａと、センサセンサの感光性表面との間の距離間の距離
Ａと、対物レンズの焦点距離ｆと、及びセンサ感光性表
面の大きさＭとが、次の方程式を満たすか又は実質的に
満たすように選択されるならば、対物レンズに対して情
報支持物のずれが生じる場合でも、センサ上の入射光の
量は実質的に一定不変である。
面の長さ及び幅が互いに等しいか又は実質的に等しい場
合には、センサの最適位置を計算することが可能である
ことが見出されている。情報支（２）センサの間の距離
Ａと、センサセンサの感光性表面との間の距離間の距離
Ａと、対物レンズの焦点距離ｆと、及びセンサ感光性表
面の大きさＭとが、次の方程式を満たすか又は実質的に
満たすように選択されるならば、対物レンズに対して情
報支持物のずれが生じる場合でも、センサ上の入射光の
量は実質的に一定不変である。
Ａ、Ｍ及びｆが既知であるならば、上記の式に基づいて
センサ位置Ｂを計算することが可能である。例えば異な
った形状のセンサが使用される場合に又は情報支持物が
光を完全には拡散的に散乱させることがない場合にも、
この算出されたセンサ位置が、上記のようなセンサ位置
の実験的な最適化のための開始値として使用されること
が可能である。
センサ位置Ｂを計算することが可能である。例えば異な
った形状のセンサが使用される場合に又は情報支持物が
光を完全には拡散的に散乱させることがない場合にも、
この算出されたセンサ位置が、上記のようなセンサ位置
の実験的な最適化のための開始値として使用されること
が可能である。
本発明の他の特徴及び利点が、添付の図面を参照して行
われる以下の説明によって、更に明確となるだろう。
われる以下の説明によって、更に明確となるだろう。
第を図は、光を完全に拡散的に散乱させる情報支持物か
らの散乱光の量を透過光として測定するために使用可能
な、本発明による装置の１つの実施例を示す。その装置
では、光は光源ｌによって情報支持物２の上に集束され
る。この目的のために、ピンホール３が光源ｌの付近に
配置される。
らの散乱光の量を透過光として測定するために使用可能
な、本発明による装置の１つの実施例を示す。その装置
では、光は光源ｌによって情報支持物２の上に集束され
る。この目的のために、ピンホール３が光源ｌの付近に
配置される。
この結果として得られる点光源からの光が、収束レンズ
４を経由して情報支持物２の小さな表面５の上に結像さ
れる。情報支持物２からの拡散散乱光は、対物収束レン
ズ６によって点７に結像される。感光性センサ８は、収
束レンズ６と収束レンズ６の焦点ｆの前方の結像点７と
の間の光経路内に配置されている。情報支持物２と収束
レンズ６との間の距離が数閣の範囲内でどんなに変化し
ようと、センサ８上に当たる光の量が実質的に一定不変
のままであるように、センサ８の位置が選択される。セ
ンサ８の感光性表面全体が、レンズ６の結果として点７
において収束する光ビームの中に収まる。情報支持物２
と収束レンズ６の間の距離が１０であり、焦点距離が８
閣であり、センサ８の正方形の有効感光面積が４−であ
り、且つ収束レンズ直径が５００１１であるならば、最
適センサ位置はレンズ６から ７．９Ｉｆｆ１１離れた
位置である。この時には、情報支持物２と収束レンズ６
との間の距離が０，８〜１．２ａｎの範囲内でどんなに
変化しようとも、センサ８上に当たる光の量は０．２％
の範囲内で実質的に一定不変のままである。
４を経由して情報支持物２の小さな表面５の上に結像さ
れる。情報支持物２からの拡散散乱光は、対物収束レン
ズ６によって点７に結像される。感光性センサ８は、収
束レンズ６と収束レンズ６の焦点ｆの前方の結像点７と
の間の光経路内に配置されている。情報支持物２と収束
レンズ６との間の距離が数閣の範囲内でどんなに変化し
ようと、センサ８上に当たる光の量が実質的に一定不変
のままであるように、センサ８の位置が選択される。セ
ンサ８の感光性表面全体が、レンズ６の結果として点７
において収束する光ビームの中に収まる。情報支持物２
と収束レンズ６の間の距離が１０であり、焦点距離が８
閣であり、センサ８の正方形の有効感光面積が４−であ
り、且つ収束レンズ直径が５００１１であるならば、最
適センサ位置はレンズ６から ７．９Ｉｆｆ１１離れた
位置である。この時には、情報支持物２と収束レンズ６
との間の距離が０，８〜１．２ａｎの範囲内でどんなに
変化しようとも、センサ８上に当たる光の量は０．２％
の範囲内で実質的に一定不変のままである。
上記の実施例では、センサ８とレンズ６との間の距離が
前記値以外の値の時には、情報支持物２とレンズ６との
間の距離が長さ４ｍに亘って変化する場合に、センサ８
上に当たる光の量の恒常性は遥かに劣ったものとなる。
前記値以外の値の時には、情報支持物２とレンズ６との
間の距離が長さ４ｍに亘って変化する場合に、センサ８
上に当たる光の量の恒常性は遥かに劣ったものとなる。
情報支持物２とレンズ６との間の距離が長さ４ｎｎに亘
って変化する場合のセンサ８上の光の量の変化百分率が
、レンズ６とセンサ８との間の距離の関数として第２図
に示される。第２図は、情報支持物２とレンズ６との間
の距離が長さ４ｍに亘って変化させられる時には、セン
サ８が最適センサ位置から（レンズ６に近付いて、又は
レンズ６から遠ざかって）１閤ずれると、センサ８上の
光の量が約１２％変化するということも示す。
って変化する場合のセンサ８上の光の量の変化百分率が
、レンズ６とセンサ８との間の距離の関数として第２図
に示される。第２図は、情報支持物２とレンズ６との間
の距離が長さ４ｍに亘って変化させられる時には、セン
サ８が最適センサ位置から（レンズ６に近付いて、又は
レンズ６から遠ざかって）１閤ずれると、センサ８上の
光の量が約１２％変化するということも示す。
第３図は、本発明による装置が情報支持物１２からの反
射光としての散乱光の量を測定するために使用される別
の実施例を示し、この実施例では、情報支持物１２は、
その情報支持物１２がその装置を通過するよう給送され
る経路１９内に位置させられる。測定の間は、情報支持
物１２は前記経路１９の境界２０及び２１の間に位置さ
せられ、従って、情報支持物１２と対物レンズ１６との
間の距離は、経路１９の境界２０及び２１の範囲内で変
化することが可能である。
射光としての散乱光の量を測定するために使用される別
の実施例を示し、この実施例では、情報支持物１２は、
その情報支持物１２がその装置を通過するよう給送され
る経路１９内に位置させられる。測定の間は、情報支持
物１２は前記経路１９の境界２０及び２１の間に位置さ
せられ、従って、情報支持物１２と対物レンズ１６との
間の距離は、経路１９の境界２０及び２１の範囲内で変
化することが可能である。
ピンホール１３が備えられた光源１１によって、情報支
持物１２の小さな部分が入射光で照らされる。
持物１２の小さな部分が入射光で照らされる。
この目的のために、レンズ１４によって光が経路１９の
中央に集束される。情報支持物１２と収束レンズ１６の
間の距離が１ａｍであり、焦点距離が１ＯＩ６ｎであり
、センサ１８の正方形の有効感光面積がＩＯ−であり、
且つレンズ直径が５０閣であるならば、最適センサ位置
はレンズ１６から ９．７帥離れた位置である。
中央に集束される。情報支持物１２と収束レンズ１６の
間の距離が１ａｍであり、焦点距離が１ＯＩ６ｎであり
、センサ１８の正方形の有効感光面積がＩＯ−であり、
且つレンズ直径が５０閣であるならば、最適センサ位置
はレンズ１６から ９．７帥離れた位置である。
情報支持物１２と収束レンズ１６の間の距離の変化が１
８〜１．２ａｍの範囲内であるならば、センサ１８上の
光の量は工％の範囲内で一定不変である。これらの条件
の下では、照射経路の光軸と測定経路の光軸との間の角
度は２５°である。情報支持物１２が経路１９の中心の
外に動かされる１合には、光の集束点１５は測定経路の
光軸に関して移動する。これは、センサ１８上の光の量
に大きく影響する。センサ１８上の光の量を可能な限り
一定不変に保つためには、照射経路の光軸と測定経路の
光軸との間の角度は可能な限り小さいものであるべきで
ある。
８〜１．２ａｍの範囲内であるならば、センサ１８上の
光の量は工％の範囲内で一定不変である。これらの条件
の下では、照射経路の光軸と測定経路の光軸との間の角
度は２５°である。情報支持物１２が経路１９の中心の
外に動かされる１合には、光の集束点１５は測定経路の
光軸に関して移動する。これは、センサ１８上の光の量
に大きく影響する。センサ１８上の光の量を可能な限り
一定不変に保つためには、照射経路の光軸と測定経路の
光軸との間の角度は可能な限り小さいものであるべきで
ある。
しかし、前記角度が非常に小さい場合には、正反射光が
センサ１８に当たる危険性がある。レンズ１６に関する
情報支持物１２の位置の変化に対する感度は、角度４５
°の場合に比べて、角度２５°の場合に約１／ｌＯとな
り、一方、角度２５°では正反射の危険性は低いままで
あるということが測定から明らかになっている。
センサ１８に当たる危険性がある。レンズ１６に関する
情報支持物１２の位置の変化に対する感度は、角度４５
°の場合に比べて、角度２５°の場合に約１／ｌＯとな
り、一方、角度２５°では正反射の危険性は低いままで
あるということが測定から明らかになっている。
第４図は、本発明による装置が情報支持物４２によって
散乱される反射光及び透過光の量を測定するために使用
される別の実施例を示す。この場合には、ピンホール４
３がその付近に備えられる単一の光源４１が使用される
。その結果として生じる点光源の光は、情報支持物４２
がその装置を通過する経路Ｈの中央の点にその光を集束
させることによって、収束レンズ４４を経由して情報支
持物４２の小さな表面４５上に結像される。
散乱される反射光及び透過光の量を測定するために使用
される別の実施例を示す。この場合には、ピンホール４
３がその付近に備えられる単一の光源４１が使用される
。その結果として生じる点光源の光は、情報支持物４２
がその装置を通過する経路Ｈの中央の点にその光を集束
させることによって、収束レンズ４４を経由して情報支
持物４２の小さな表面４５上に結像される。
この実施例は、反射光の量を測定するための光源４１と
（情報支持物４２に関して）同一の側のセンサ４８を使
用し、対物収束レンズ４６がセンサ４８と経路４９との
間に配置される。透過散乱光の量を測定するための第２
のセンサ５０が情報支持物の他方の側に配置され、且つ
収束レンズ５１がセンサ５０と経路４９との間に配置さ
れる。測定の間は、情報支持物４２とレンズ４６及び５
１との間の距離は、経路４９の境界５２．５３の範囲内
で変化することが可能である。
（情報支持物４２に関して）同一の側のセンサ４８を使
用し、対物収束レンズ４６がセンサ４８と経路４９との
間に配置される。透過散乱光の量を測定するための第２
のセンサ５０が情報支持物の他方の側に配置され、且つ
収束レンズ５１がセンサ５０と経路４９との間に配置さ
れる。測定の間は、情報支持物４２とレンズ４６及び５
１との間の距離は、経路４９の境界５２．５３の範囲内
で変化することが可能である。
この実施例は直径１ｍのピンホール４３を使用する。経
路４つの中心と対物レンズ５１との間の距離は、５閣で
ある。経路４９の中心とレンズ４６との間の距離は、Ｌ
Ｏｎｍである。両凸レンズ４４．４６．５１は全てｔｏ
＋ｍの焦点距離と５０−の直径とを有する。センサ４８
，５０は４−の有効感光面積を有する。センサ５０とレ
ンズ５１との間の距離は９．２鵬である。センサ４８と
レンズ４６との間の距離は９．９ｍである。情報支持物
４２と収束レンズ４６の間の距離及び情報支持物４２と
収束レンズ５１の間の距離の変化が、これらの距離の８
０〜１２０％の範囲内であるならば、センサ４８．５Ｇ
上の光の量は工％の範囲内で一定不変である。
路４つの中心と対物レンズ５１との間の距離は、５閣で
ある。経路４９の中心とレンズ４６との間の距離は、Ｌ
Ｏｎｍである。両凸レンズ４４．４６．５１は全てｔｏ
＋ｍの焦点距離と５０−の直径とを有する。センサ４８
，５０は４−の有効感光面積を有する。センサ５０とレ
ンズ５１との間の距離は９．２鵬である。センサ４８と
レンズ４６との間の距離は９．９ｍである。情報支持物
４２と収束レンズ４６の間の距離及び情報支持物４２と
収束レンズ５１の間の距離の変化が、これらの距離の８
０〜１２０％の範囲内であるならば、センサ４８．５Ｇ
上の光の量は工％の範囲内で一定不変である。
この後者の実施例は、例えば、特に半透明な原稿が複写
される電子写真装置において使用可能である。コピー上
の背景を抑制するための最適露光及び／又は適正なコン
トラストは、必要に応じて本発明の装置によって測定さ
れる反射特性及び透過特性に基づいて自動的に制御され
ることが可能である。この場合には、反射され及び透過
される散乱光の量の測定に基づいて、入射光露光だけを
選択することも、゛透過光露光を選択することも、又は
その両方の組合せを選択することも可能であり、並びに
、光の全体量及び入射光ランプ強度と透過光ランプ強度
との間の相互関係を変化させることが可能である。
される電子写真装置において使用可能である。コピー上
の背景を抑制するための最適露光及び／又は適正なコン
トラストは、必要に応じて本発明の装置によって測定さ
れる反射特性及び透過特性に基づいて自動的に制御され
ることが可能である。この場合には、反射され及び透過
される散乱光の量の測定に基づいて、入射光露光だけを
選択することも、゛透過光露光を選択することも、又は
その両方の組合せを選択することも可能であり、並びに
、光の全体量及び入射光ランプ強度と透過光ランプ強度
との間の相互関係を変化させることが可能である。
上記の実施例では、ランプ１，１１．４１がピンホール
３□Ｎ、４３と共に露光のために使用され、収束レンズ
４．１４．４４が情報支持物２． ＋２．４２とランプ
１、１１．４１との間に配置され、従って、光が情報支
持物２．１２．４２の上に集束された。収束光を情報支
持物上に投影することが可能であり且つ情報支持物２．
１２４２のずれが生じる場合にも情報支持物２、１２．
４２上の光点の大きさを一定不変のままか又は実質的に
一定不変のままに保つ、例えば発光ダイオード、レーザ
及びそれに類するもののような他の光源も使用可能であ
る。原稿の背景の明るさを測定するために電子写真装置
において使用される場合には、原稿上に存在するどんな
情報も測定に対して最小限度の影響しか与えないように
、露光される部分を可能な限り小さくすることが有利で
ある。
３□Ｎ、４３と共に露光のために使用され、収束レンズ
４．１４．４４が情報支持物２． ＋２．４２とランプ
１、１１．４１との間に配置され、従って、光が情報支
持物２．１２．４２の上に集束された。収束光を情報支
持物上に投影することが可能であり且つ情報支持物２．
１２４２のずれが生じる場合にも情報支持物２、１２．
４２上の光点の大きさを一定不変のままか又は実質的に
一定不変のままに保つ、例えば発光ダイオード、レーザ
及びそれに類するもののような他の光源も使用可能であ
る。原稿の背景の明るさを測定するために電子写真装置
において使用される場合には、原稿上に存在するどんな
情報も測定に対して最小限度の影響しか与えないように
、露光される部分を可能な限り小さくすることが有利で
ある。
特に反射光において測定される場合、情報文持物内に折
り目又は皺が存在することは、測定される光の量を一定
不変の値に保つ上では好ましくないということが見出さ
れている。露光経路の光軸と測定経路の光軸とによって
範囲が限定される平面が情報支持物の搬送方法に対し垂
直であるように、第３図及び第４図に示されるような本
発明による装置の実施例を位置決めすることが有利であ
るということが見出されている。情報支持物の搬送方向
に対し垂直な折り目がある場合は、その折り目が装置を
通過する時に測定信号が欠落を呈するだろう。
り目又は皺が存在することは、測定される光の量を一定
不変の値に保つ上では好ましくないということが見出さ
れている。露光経路の光軸と測定経路の光軸とによって
範囲が限定される平面が情報支持物の搬送方法に対し垂
直であるように、第３図及び第４図に示されるような本
発明による装置の実施例を位置決めすることが有利であ
るということが見出されている。情報支持物の搬送方向
に対し垂直な折り目がある場合は、その折り目が装置を
通過する時に測定信号が欠落を呈するだろう。
しかし、背景の無いコピーを得るために必要な露光を測
定する場合には、最大の測定信号が使用され、従ってそ
うした折り目はその装置の働きに対して悪影響をもたら
さない。
定する場合には、最大の測定信号が使用され、従ってそ
うした折り目はその装置の働きに対して悪影響をもたら
さない。
第１図は本発明による装置の実施例の１つを示す図、第
２図は、第１図に示される実施例における、情報支（２
）センサの間の距離がこの距離の８０〜１２０％の長さ
に亘って変化する時のセンサ上の光の量の変化百分率を
、センサそのセンサとの間の距離Ｂの関数として示すグ
ラフ、 第３図は本発明による装置の第２の実施例を概略的に示
す図、及び、第４図は本発明による装置の第３の実施例
を概略的に示す図である。 １、ｉｔ、４１・・・・・・光源、 ２．１２３．１
３．４３・・・・・・ピンホール、４、６．１４．１６
．４４．４６．５１・・・・・・収束レンズ、８、１８
．４８．５０・・・・・・感光性センサ、９、１９．４
９・・・・・・情報支持物経路、２０、２１５２．５３
・・・・・・情報支持物経路の境界、５、１５．４５・
・・・・・情報支持物の小さな表面。 ４２・・・・・・情報支持物、 ｉｔ１人 ＃！上 坂 ＦＩＧ、１ 一一一一−Ｂ （ｍ ｍ １ Ｆ！６．２ ＼才
２図は、第１図に示される実施例における、情報支（２
）センサの間の距離がこの距離の８０〜１２０％の長さ
に亘って変化する時のセンサ上の光の量の変化百分率を
、センサそのセンサとの間の距離Ｂの関数として示すグ
ラフ、 第３図は本発明による装置の第２の実施例を概略的に示
す図、及び、第４図は本発明による装置の第３の実施例
を概略的に示す図である。 １、ｉｔ、４１・・・・・・光源、 ２．１２３．１
３．４３・・・・・・ピンホール、４、６．１４．１６
．４４．４６．５１・・・・・・収束レンズ、８、１８
．４８．５０・・・・・・感光性センサ、９、１９．４
９・・・・・・情報支持物経路、２０、２１５２．５３
・・・・・・情報支持物経路の境界、５、１５．４５・
・・・・・情報支持物の小さな表面。 ４２・・・・・・情報支持物、 ｉｔ１人 ＃！上 坂 ＦＩＧ、１ 一一一一−Ｂ （ｍ ｍ １ Ｆ！６．２ ＼才
Claims (2)
- （１）情報支持物によって散乱される光を測定するため
の装置であって、 前記情報支持物の一部分を露光するために使用可能な光
源と、 感光性表面を有し且つこの感光性表面上に当たる光の量
に基づいて出力信号を与えるセンサと、前記情報支持物
と前記センサとの間に配置される対物レンズとから成り
、 前記情報支持物の露光部分が前記センサの視野よりも小
さく、前記対物レンズと前記情報支持物との間の距離が
この距離の８０〜１２０％の長さに亘って変化する時に
も、前記センサの感光性表面に当たる光の量が５％の範
囲内で一定不変のままであるように、前記センサが前記
対物レンズの後方に幾らかの距離を置いて配置されてお
り、更に次式中でＡが前記情報支持物と前記対物レンズ
との間の距離を表し、Ｂが前記対物レンズと前記センサ
の感光性表面との間の距離を表し、ｆが前記対物レンズ
の焦点距離を表し、且つｄ＿ｌ＿ｅ＿ｎ＿ｓが前記対物
レンズの有効直径を表す時に、前記センサの感光性表面
の最大の長さ寸法Ｌが、方程式、 Ｌ＜［ｆＡ＋ｆＢ−ＡＢ］／［ｆＡ］・ｄ＿ｌ＿ｅ＿ｎ
＿ｓを満たすこととを特徴とする情報支持物によって散
乱される光を測定するための装置。 - （２）前記センサの感光性表面の長さ及び幅が互いに等
しいか又は実質的に等しく、更に前記情報支持物と前記
対物レンズとの間の距離Ａと、前記対物レンズと前記セ
ンサの感光性表面との間の距離Ｂと、前記対物レンズの
焦点距離ｆと、前記感光性表面の大きさＭとが、方程式 ２√２／π・ＡＭ／（Ｍ＋４Ａ＾２）√［Ｍ＋２Ａ＾２
］＝ｆＢ／ｆＡ＋ｆＢ−ＡＢ・［１−４／π・ａｒｃｓ
ｉｎ（√２・Ａ）／（√Ｍ＋４Ａ＾２）］を満たすか又
は実質的に満たすように選択されることを特徴とする請
求項１に記載の情報支持物によって散乱される光を測定
するための装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8901722 | 1989-07-06 | ||
| NL8901722A NL8901722A (nl) | 1989-07-06 | 1989-07-06 | Inrichting voor het meten van door een informatiedrager verstrooid licht. |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0383462A true JPH0383462A (ja) | 1991-04-09 |
Family
ID=19854975
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2176121A Pending JPH0383462A (ja) | 1989-07-06 | 1990-07-03 | 情報支持物によって散乱される光を測定するための装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5111037A (ja) |
| EP (1) | EP0406968A1 (ja) |
| JP (1) | JPH0383462A (ja) |
| NL (1) | NL8901722A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001203866A (ja) * | 1999-11-24 | 2001-07-27 | Xerox Corp | 変位に鈍感な光学系を有するカラープリンタのカラー補正システム |
| JP2007320310A (ja) * | 2006-05-30 | 2007-12-13 | Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte Ltd | 印刷媒体の特性を識別するためのシステム |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3546914B2 (ja) * | 1996-10-18 | 2004-07-28 | 富士ゼロックス株式会社 | 光学測定方法、光学測定装置および画像形成装置 |
| US6633382B2 (en) * | 2001-05-22 | 2003-10-14 | Xerox Corporation | Angular, azimuthal and displacement insensitive spectrophotometer for color printer color control systems |
| DE102006045285B4 (de) * | 2006-09-22 | 2021-03-04 | Byk-Gardner Gmbh | Vorrichtung zur Untersuchung von Oberflächeneigenschaften mit indirekter Beleuchtung |
| JP5077780B2 (ja) * | 2009-07-06 | 2012-11-21 | 株式会社デンソー | 光検出装置 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3076378A (en) * | 1957-10-23 | 1963-02-05 | Agfa Ag Fa | Photographic printing system and method |
| GB1364439A (en) * | 1970-08-25 | 1974-08-21 | Agfa Gevaert | Measurement of optical density |
| GB1352700A (en) * | 1970-10-29 | 1974-05-08 | Agfa Gevaert | Photoelectric device |
| US3856417A (en) * | 1971-11-30 | 1974-12-24 | P Bey | Photographic color densitometer |
| JPS6048029B2 (ja) * | 1978-04-11 | 1985-10-24 | 大日本印刷株式会社 | 網点フイルムの減力量測定方法 |
| JPS56154605A (en) * | 1980-05-01 | 1981-11-30 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Measuring method and device for mesh image density or mesh area rate |
| EP0234579B1 (en) * | 1986-02-26 | 1995-01-11 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Reflection density measuring system |
| EP0290013B1 (en) * | 1987-05-06 | 1996-03-13 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Densitometer and its use |
-
1989
- 1989-07-06 NL NL8901722A patent/NL8901722A/nl not_active Application Discontinuation
-
1990
- 1990-07-02 EP EP90201758A patent/EP0406968A1/en not_active Withdrawn
- 1990-07-03 JP JP2176121A patent/JPH0383462A/ja active Pending
- 1990-07-05 US US07/548,119 patent/US5111037A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001203866A (ja) * | 1999-11-24 | 2001-07-27 | Xerox Corp | 変位に鈍感な光学系を有するカラープリンタのカラー補正システム |
| JP2007320310A (ja) * | 2006-05-30 | 2007-12-13 | Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte Ltd | 印刷媒体の特性を識別するためのシステム |
| JP4654221B2 (ja) * | 2006-05-30 | 2011-03-16 | アバゴ・テクノロジーズ・イーシービーユー・アイピー（シンガポール）プライベート・リミテッド | 印刷媒体の特性を識別するためのシステム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5111037A (en) | 1992-05-05 |
| EP0406968A1 (en) | 1991-01-09 |
| NL8901722A (nl) | 1991-02-01 |
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