JPS6048029B2 - 網点フイルムの減力量測定方法 - Google Patents
網点フイルムの減力量測定方法Info
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- JPS6048029B2 JPS6048029B2 JP53042270A JP4227078A JPS6048029B2 JP S6048029 B2 JPS6048029 B2 JP S6048029B2 JP 53042270 A JP53042270 A JP 53042270A JP 4227078 A JP4227078 A JP 4227078A JP S6048029 B2 JPS6048029 B2 JP S6048029B2
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- amount
- light
- reduction
- wavelength band
- measuring
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-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F5/00—Screening processes; Screens therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は網ネガまたは網ポジ等の網点フィルムの減力量
を測定する方法に関するものである。
を測定する方法に関するものである。
一般に網点フィルムにおける網点面積率のバランスの良
否は印刷品質に大なる影響を及ぼす。網点フィルムは原
稿を網掛することによつて作られ、潜像を形成すべく原
版に焼付けられる。次いて原版が現像され刷版とされる
。ところが経験上網掛されたフィルムから直ちに良好な
刷版は作られない。良好な刷版を作るまでには校正用の
原版にフィルムを焼付けて刷版を作り校正刷を行なう工
程を必要とする。この校正刷の結果に基づいて網点フィ
ルムの面積率の調整が行なわれる。そして再度校正用刷
版が作られ校正刷りが行なわれる。この印刷結果が良け
れば網点フィルムは本印刷用原版に焼付けられ、一方良
好でなければさらに面積率の調整がなされて校正刷が行
なわれる。上記網点フィルムの網点面積率の調整は減力
と呼ばれる作業で行なわれる。
否は印刷品質に大なる影響を及ぼす。網点フィルムは原
稿を網掛することによつて作られ、潜像を形成すべく原
版に焼付けられる。次いて原版が現像され刷版とされる
。ところが経験上網掛されたフィルムから直ちに良好な
刷版は作られない。良好な刷版を作るまでには校正用の
原版にフィルムを焼付けて刷版を作り校正刷を行なう工
程を必要とする。この校正刷の結果に基づいて網点フィ
ルムの面積率の調整が行なわれる。そして再度校正用刷
版が作られ校正刷りが行なわれる。この印刷結果が良け
れば網点フィルムは本印刷用原版に焼付けられ、一方良
好でなければさらに面積率の調整がなされて校正刷が行
なわれる。上記網点フィルムの網点面積率の調整は減力
と呼ばれる作業で行なわれる。
減力作業は鉄キレト系等の減力液で網点フィルムを洗う
ことにより網点を細める作業で、レタツチヤーによつて
行なわ一れるものてある。これはレタツチヤーの全くの
勘に頼る作業であつて、どの程度減力すればすなわちど
の程度網点面積を減少させれば所望の印刷結果を得られ
るかを経験にもとづいて割り出し、減力操作を行なうの
てある。減力量は減力の前後に．おいて網点面積率計で
測定することにより客観化されるので熟練者でない者に
も把握される。従つて、熟練したレタツチヤーの指示す
る減力量を網点面積率計で測定しつつ減力してゆけば熟
練のない者でも減力作業に関与することができ、その作
業工程の能率化を達成することが可能となる。ところで
、従来使用されている網点面積率計は網点以外の部分を
透過する光の量を測定して減力量を算出することによつ
ている。
ことにより網点を細める作業で、レタツチヤーによつて
行なわ一れるものてある。これはレタツチヤーの全くの
勘に頼る作業であつて、どの程度減力すればすなわちど
の程度網点面積を減少させれば所望の印刷結果を得られ
るかを経験にもとづいて割り出し、減力操作を行なうの
てある。減力量は減力の前後に．おいて網点面積率計で
測定することにより客観化されるので熟練者でない者に
も把握される。従つて、熟練したレタツチヤーの指示す
る減力量を網点面積率計で測定しつつ減力してゆけば熟
練のない者でも減力作業に関与することができ、その作
業工程の能率化を達成することが可能となる。ところで
、従来使用されている網点面積率計は網点以外の部分を
透過する光の量を測定して減力量を算出することによつ
ている。
減力された部分は通常黄褐色に変色し、この変色部分と
網点が最初からなかつた透明部分とに光を透過させてそ
の光量を電気量に変換し網点面積率を表示するのである
。網点は例えば第１図ａの如く形成されており、減力さ
れて第２図ａの如くなる。
網点が最初からなかつた透明部分とに光を透過させてそ
の光量を電気量に変換し網点面積率を表示するのである
。網点は例えば第１図ａの如く形成されており、減力さ
れて第２図ａの如くなる。
第２図ａで網点１０を囲む周辺部が減力された部分１２
である。ところが、光の透過率の分布は減力によつて影
響フを受け、第１図ｂの状態から第２図ｂの如く変化す
る。黄褐色部分１２は網点フィルムを原版または他のフ
ィルムに焼付ける際には何ら影響がなく焼付光を透過し
てしまうので、網点面積率を測定する７際に減力部１２
での光の透過率に変化が生じて都合が悪い。
である。ところが、光の透過率の分布は減力によつて影
響フを受け、第１図ｂの状態から第２図ｂの如く変化す
る。黄褐色部分１２は網点フィルムを原版または他のフ
ィルムに焼付ける際には何ら影響がなく焼付光を透過し
てしまうので、網点面積率を測定する７際に減力部１２
での光の透過率に変化が生じて都合が悪い。
従来このような減力された部分の光透過率の低下による
測定値のズレを防ぐ方法としては特開昭４７−３７８６
４号に示されるようなものがある。
測定値のズレを防ぐ方法としては特開昭４７−３７８６
４号に示されるようなものがある。
すな１わち、網点フィルム上の濃淡をピジコン等により
電気信号に変え、一定濃度以上の部分の面積を電気的に
選択して測定することにより網点面積率を得ようとする
ものである。しかしながらこの方法による装置は大型か
つ高価である。一方こうした装置を使用したとしても減
力の前後において測定箇所にズレが生じたときには減力
量の測定値にかなりの誤差が生じる。測定箇所が階調部
分である場合特にその誤差が大きくなる。というのは階
調部分ではある箇所とその隣接箇所とて網点の大きさが
異なつているので、測定箇所が異なれば網点の大小によ
る透過率の差が減力量に相当する透過率の差に加算され
るからである。従つて、従来は減力の前後における測定
箇所の一致にはかなりの厳密性が要求されている。
電気信号に変え、一定濃度以上の部分の面積を電気的に
選択して測定することにより網点面積率を得ようとする
ものである。しかしながらこの方法による装置は大型か
つ高価である。一方こうした装置を使用したとしても減
力の前後において測定箇所にズレが生じたときには減力
量の測定値にかなりの誤差が生じる。測定箇所が階調部
分である場合特にその誤差が大きくなる。というのは階
調部分ではある箇所とその隣接箇所とて網点の大きさが
異なつているので、測定箇所が異なれば網点の大小によ
る透過率の差が減力量に相当する透過率の差に加算され
るからである。従つて、従来は減力の前後における測定
箇所の一致にはかなりの厳密性が要求されている。
本発明は以上のような減力作業で要求される減力量の測
定に際して測定箇所に多少のズレが生じたとしても測定
精度に大なる影響を与えることがないようにして測定操
作を簡易迅速化しようとするものである。本発明者はこ
の発明をなすにあたつて次の事柄に着目した。
定に際して測定箇所に多少のズレが生じたとしても測定
精度に大なる影響を与えることがないようにして測定操
作を簡易迅速化しようとするものである。本発明者はこ
の発明をなすにあたつて次の事柄に着目した。
すなわち、減力量を最も良く表わしているのは減力によ
る変色部分１２である。従つて、この変色部分の面積を
何らかの手段で測定するのが最良の策である。本発明者
はこの変色部分の面積を測定すべく鋭意研究の結果次の
ような事実を得た。
る変色部分１２である。従つて、この変色部分の面積を
何らかの手段で測定するのが最良の策である。本発明者
はこの変色部分の面積を測定すべく鋭意研究の結果次の
ような事実を得た。
１減力された部分１２の分光透過特性は第３図のように
なつている。
なつている。
すなわち、近紫外領域で光透過率は低く、可視領域では
光の波長が大きくなるにつれて高くなり、近赤外領域で
ほぼ最高となつている。２減力した網点フィルムの平均
した分光透過率は第４図のようになる。
光の波長が大きくなるにつれて高くなり、近赤外領域で
ほぼ最高となつている。２減力した網点フィルムの平均
した分光透過率は第４図のようになる。
この特性は、網点と網点の間の本来透明な部分を透過し
て来る光と減力により生じた黄褐色に変色した透明な部
分を透過して来る光の両者を含んだ光により測定された
ものである。
て来る光と減力により生じた黄褐色に変色した透明な部
分を透過して来る光の両者を含んだ光により測定された
ものである。
すなわち減力により生じた黄褐色に変色した透明部分を
透過して来る光成分の影響により近赤外波長帯域の透過
率Ｔ２と近紫外波長帯域の透過率Ｔ１とは網点フィルム
においても明瞭に差が生じる。（ΔＴ＝Ｔ２−Ｔ１）。
３減力量とΔＴとは比例関係に近似することができる（
第５図、第６図）。
透過して来る光成分の影響により近赤外波長帯域の透過
率Ｔ２と近紫外波長帯域の透過率Ｔ１とは網点フィルム
においても明瞭に差が生じる。（ΔＴ＝Ｔ２−Ｔ１）。
３減力量とΔＴとは比例関係に近似することができる（
第５図、第６図）。
４網点がソフトドットの場合、網点面積率が大体２０％
〜６０％の範囲内では減力時間が同じであれば減力量も
大体同じである（第７図）。
〜６０％の範囲内では減力時間が同じであれば減力量も
大体同じである（第７図）。
すなわち、階調部分で測定箇所が多少ずれたとしても黄
褐色部分の面積には大差が生じない。５網点がハードド
ットの楊合、減力時間が同じであつても網点面積率が異
なつていればそれに応じて減力量も異なつている。
褐色部分の面積には大差が生じない。５網点がハードド
ットの楊合、減力時間が同じであつても網点面積率が異
なつていればそれに応じて減力量も異なつている。
しかし、減力時間を同じにして網点面積率の差と減力量
の差とを比較すれば、減力量の差の方が極めて僅少であ
る（第８図）。たとえば減力時間８０秒として網点面積
率を２５．０％および４５．５％とするとその差は約２
０％てあるが、減力量の差は約２％である。すなわち、
階調部分で測定箇所が多少ずれたとしても、減力量の測
定には大きな影響を与えない。本発明は以上のような新
規な発見に基づいて成されたもので、網点フィルムに光
を照射してその透過光から長波長帯域と短波長帯域とに
おける光量を夫々に抽出し、これら光量の差異から減力
量を算出して表示することを特徴とし、これらによつて
減力量測定の位置合わせを簡易化し、かつこれと背反的
な測定箇精度の向上を図り、もつて網点フィルムの適切
な減力作業に寄与しようとするものである。
の差とを比較すれば、減力量の差の方が極めて僅少であ
る（第８図）。たとえば減力時間８０秒として網点面積
率を２５．０％および４５．５％とするとその差は約２
０％てあるが、減力量の差は約２％である。すなわち、
階調部分で測定箇所が多少ずれたとしても、減力量の測
定には大きな影響を与えない。本発明は以上のような新
規な発見に基づいて成されたもので、網点フィルムに光
を照射してその透過光から長波長帯域と短波長帯域とに
おける光量を夫々に抽出し、これら光量の差異から減力
量を算出して表示することを特徴とし、これらによつて
減力量測定の位置合わせを簡易化し、かつこれと背反的
な測定箇精度の向上を図り、もつて網点フィルムの適切
な減力作業に寄与しようとするものである。
以下図面に基づいて本発明の実施態様につき説明を行な
う。
う。
第９図は網点フィルムの減力量を測定するための装置の
一例を示している。
一例を示している。
図において、１４は光源、１６，１８はコンデンサレン
ズ、２０は網ネガフィルムまたは網ポジフィルムである
試料、２２は光源からの光を前述の長波長帯域光望まし
くは近赤外波長帯域光Ｂ１（可視領域のうち赤外に近い
波長も含む。以下同様。）と短波長帯域光望ましくは近
紫外波長帯域光Ｂ２（可視領域のうち紫外に近い波長も
含む。以下同様。）とに分離する光学系、２４，２６は
夫々の波長帯域の光量を抽出する光電変換素子、２８は
データ処理部、３０は表示部である。この場合、上記光
源１４としては分光放射特性が安定しており、かつ光量
の経時変化が少ないものが選定される。
ズ、２０は網ネガフィルムまたは網ポジフィルムである
試料、２２は光源からの光を前述の長波長帯域光望まし
くは近赤外波長帯域光Ｂ１（可視領域のうち赤外に近い
波長も含む。以下同様。）と短波長帯域光望ましくは近
紫外波長帯域光Ｂ２（可視領域のうち紫外に近い波長も
含む。以下同様。）とに分離する光学系、２４，２６は
夫々の波長帯域の光量を抽出する光電変換素子、２８は
データ処理部、３０は表示部である。この場合、上記光
源１４としては分光放射特性が安定しており、かつ光量
の経時変化が少ないものが選定される。
光源からの光量の変化が測定値に影響を及ぼすことがな
いようにするためである。具体的にはハロゲンランプ、
キセノンランプ等を直流安定化電源て発光させるような
手段が採られる。上記二波長帯坤出，，Ｂ２に分離する
光学系２２は第１０図、第１１図または第１２図のよう
に構成することがてきる。
いようにするためである。具体的にはハロゲンランプ、
キセノンランプ等を直流安定化電源て発光させるような
手段が採られる。上記二波長帯坤出，，Ｂ２に分離する
光学系２２は第１０図、第１１図または第１２図のよう
に構成することがてきる。
第１０図において、３２はビームスプリッタ、３４，３
６はフィルタである。フィルタ３４は光源から近赤外波
長帯域Ｂ１を抽出し、フィルタ３６は近紫外波長帯域式
を抽出するものである（第１０図ｂ）。ノ 一方、第１
１図においては、さらに他のフィルタ３８が光源側に設
けられている。
６はフィルタである。フィルタ３４は光源から近赤外波
長帯域Ｂ１を抽出し、フィルタ３６は近紫外波長帯域式
を抽出するものである（第１０図ｂ）。ノ 一方、第１
１図においては、さらに他のフィルタ３８が光源側に設
けられている。
このフィルタ３８は第１１図ｂのように上記二波長帯域
Ｂｌ，八を通す性質を備えている。またビームスプリッ
タ３２はこの場合波長特性の平坦な性質を備え７たもの
が選定される。ビームスプリッタ３２を出た光はフィル
タで互いに他の波長帯域をカットされ第１１図ｃのよう
な波長帯域Ｂｉ，Ｂ２となつて夫々異なる光電変換素子
２４，２６に至る。これら素子は各波長帯域について夫
々感度のよいものを選定してもよい。第１２図は上記ビ
ームスプリッタおよびフィルタの代わりにプリズムを用
いた光学系を示している。
Ｂｌ，八を通す性質を備えている。またビームスプリッ
タ３２はこの場合波長特性の平坦な性質を備え７たもの
が選定される。ビームスプリッタ３２を出た光はフィル
タで互いに他の波長帯域をカットされ第１１図ｃのよう
な波長帯域Ｂｉ，Ｂ２となつて夫々異なる光電変換素子
２４，２６に至る。これら素子は各波長帯域について夫
々感度のよいものを選定してもよい。第１２図は上記ビ
ームスプリッタおよびフィルタの代わりにプリズムを用
いた光学系を示している。
図において４０がプリズム、４２はスリツタ、２４，２
６はプリズムおよびスリツタで分離された二波長帯域の
光Ｂｌ，Ｂ２を夫々受ける光電変換素子である。以上の
他、光学系２２としてはビームスプリッタ自身をダイク
ロイックミラーで構成し、波長を選択して透過または反
射させることによりニ波長帯域を二つの光路に分離する
こともできる（図示せず）。
６はプリズムおよびスリツタで分離された二波長帯域の
光Ｂｌ，Ｂ２を夫々受ける光電変換素子である。以上の
他、光学系２２としてはビームスプリッタ自身をダイク
ロイックミラーで構成し、波長を選択して透過または反
射させることによりニ波長帯域を二つの光路に分離する
こともできる（図示せず）。
またプリズムのかわりにグレーデイングを用いることも
できる。前記データ処理部２８は、前記二波長帯域Ｂｌ
，式の光量を光電変換素子２４，２６で電気量として置
換えたものから減力量を算出する回路である。
できる。前記データ処理部２８は、前記二波長帯域Ｂｌ
，式の光量を光電変換素子２４，２６で電気量として置
換えたものから減力量を算出する回路である。
この回路ては、まず網点面積率が零であるフィルム（減
力されていないフィルム）を試料とし、各々の光波長帯
畢あ，，Ｂ２における透過光量を光電変換素子で受光し
て得られる電気量１３，１４を記憶し、次に減力した網
点フィルムを試料として光波長帯？あ，，Ｂ２の透過光
量に対応した電気量１１，１２を得て、を計算する。
力されていないフィルム）を試料とし、各々の光波長帯
畢あ，，Ｂ２における透過光量を光電変換素子で受光し
て得られる電気量１３，１４を記憶し、次に減力した網
点フィルムを試料として光波長帯？あ，，Ｂ２の透過光
量に対応した電気量１１，１２を得て、を計算する。
そしてさらにΔＴ″を減力量ΔＡと比例関係に近似して
次の計算を行なう。
次の計算を行なう。
ここで、定数Ｋは例えば波長帯域Ｂｌ，Ｐ２を近赤外お
よび近紫外に選定した場合２〜２．５程度である。
よび近紫外に選定した場合２〜２．５程度である。
ａは１〜２程度である。ΔＡとΔ丁との関係は二以上の
次数をもつ関数て近似すれば、さらに精度の高いΔＡを
算出す．ることができる。
次数をもつ関数て近似すれば、さらに精度の高いΔＡを
算出す．ることができる。
ΔＡはデジタル量またはアナログ量として表示部で表示
される。
される。
なお、試料表面が乾燥しているとその表面反射光による
干渉が分光透過率に影響を与える。
干渉が分光透過率に影響を与える。
とこ５ろが、試料表面を透明液体で濡らし、透明板に密
着させて測定に供すると反射光を減少させて測定精度を
向上することができる。フィルムの表面反射による光の
干渉が分光透過特性に影響を与えるのを防ぐ他の方法と
しては測ク定する透過率の波長帯域幅を広くとり干渉の
影響による分光透過率のふらつきを平均してしまう方法
もある。
着させて測定に供すると反射光を減少させて測定精度を
向上することができる。フィルムの表面反射による光の
干渉が分光透過特性に影響を与えるのを防ぐ他の方法と
しては測ク定する透過率の波長帯域幅を広くとり干渉の
影響による分光透過率のふらつきを平均してしまう方法
もある。
このような方法を行う場合、光源としては測定する各波
長帯域において比較的連続した分光放射特性を持ち、強
い輝線スペクトルが無い事が必要である。また試料は白
紙等の上に置いて試料の透過光を白紙上で反射させ、こ
の反射光を前記光学系に導くようにすることもできる。
長帯域において比較的連続した分光放射特性を持ち、強
い輝線スペクトルが無い事が必要である。また試料は白
紙等の上に置いて試料の透過光を白紙上で反射させ、こ
の反射光を前記光学系に導くようにすることもできる。
この場合光源は光学系と並置される（図示せず）。次に
、前記実施態様において、光源から発する光量に経時変
化があるが、分光放射特性が比較的安定している場合に
は第１３図のような構成が採フ用される。
、前記実施態様において、光源から発する光量に経時変
化があるが、分光放射特性が比較的安定している場合に
は第１３図のような構成が採フ用される。
図において、４４は光源であり具体的にはキセノンラン
プ、キセノンせん光ランプが選定される。
プ、キセノンせん光ランプが選定される。
また、光源４４と資料３４との間にはビームスプリッタ
３２が設置され、ビームスプリッタに９よる分岐光路上
にフィルタ４６および光電変換素子４８が設置されてい
る。なお、光源４４をキセノンせん光ランプとする場合
には各光電変換素子２４，２６，２８の後方にせん光と
同期して電気量をホールドするサンプルホールド回路を
設ける・必要がある。この回路はデータ処理回路２８に
含ませることもできる。フィルタ４６は光源からの光の
全波長帯域またはある波長帯域だけを通すようになつて
いる。
３２が設置され、ビームスプリッタに９よる分岐光路上
にフィルタ４６および光電変換素子４８が設置されてい
る。なお、光源４４をキセノンせん光ランプとする場合
には各光電変換素子２４，２６，２８の後方にせん光と
同期して電気量をホールドするサンプルホールド回路を
設ける・必要がある。この回路はデータ処理回路２８に
含ませることもできる。フィルタ４６は光源からの光の
全波長帯域またはある波長帯域だけを通すようになつて
いる。
従つて、本実施態様において、光源４４からの光はビー
ムスプリッタ３２で二光路に分離され、一方の光路の光
が試料３４に照射され、その透過光がビームスプリッタ
３２およびフィルタ３４，３６あるいはプリズム４０等
からなる光学系２２によつて近赤外波長帯域の光司と近
紫外波長帯域の光八に分離せしめられ、夫々の光量が光
電変換素子２４，２６によつて電気量として抽出される
。一方、他の光路における光量も光電変換素子４８によ
り電気量として抽出される。
ムスプリッタ３２で二光路に分離され、一方の光路の光
が試料３４に照射され、その透過光がビームスプリッタ
３２およびフィルタ３４，３６あるいはプリズム４０等
からなる光学系２２によつて近赤外波長帯域の光司と近
紫外波長帯域の光八に分離せしめられ、夫々の光量が光
電変換素子２４，２６によつて電気量として抽出される
。一方、他の光路における光量も光電変換素子４８によ
り電気量として抽出される。
演算回路においては
を計算する。
ここで１３，１４は網点面積率が零であるフィルムを試
料としたときの光源からビームスプリッタを用いて分岐
した光路上の光量に比例した電気量（ＬＯ）および試料
を透過した後の各光波長帯域Ｂｌ，Ｂ２における光量に
比例した電気量であり、Ｌ，ｌｌ，ｌ２は減力された網
点フィルムを試料としたときの前記各々の光量に比例し
た電気量である。しかる後ΔＡが求められ表示部で表示
される。上記実施態様において、光源から発する光量に
経時変化があり、しかも分光放射特性が不安定である場
合には第１４図のような態様が採用される。
料としたときの光源からビームスプリッタを用いて分岐
した光路上の光量に比例した電気量（ＬＯ）および試料
を透過した後の各光波長帯域Ｂｌ，Ｂ２における光量に
比例した電気量であり、Ｌ，ｌｌ，ｌ２は減力された網
点フィルムを試料としたときの前記各々の光量に比例し
た電気量である。しかる後ΔＡが求められ表示部で表示
される。上記実施態様において、光源から発する光量に
経時変化があり、しかも分光放射特性が不安定である場
合には第１４図のような態様が採用される。
図において、５０は光源であり、前記他の光路上にはさ
らに他の光学系５２および光電変換素子５４，５６が設
けられている。
らに他の光学系５２および光電変換素子５４，５６が設
けられている。
すなわち、この光学系５２によつて当該他の光路の光か
らも近赤外波長帯域Ｂ１と近紫外波長帯域八とに相当す
る光量が光電変換素子５４，５６によつて電気量Ｌｌ，
Ｉ−２として抽出され、データ処理部２８において基準
値とされ、前記一方の光路から得られる各波長帯域に相
応する電気量１１，１２と比較され、差ΔＴ″が算出さ
れ、次いで減力量ΔＡが算出される。ΔＡは表示部３０
で表示されレタツチヤー等に知らされる。なお、いずれ
の実施態様にあつても光源１４，４４，５０として紫外
線を多く放射する螢光管と赤外線を多く放射するタング
ステンランプ等とを組合わせたものを採用することがで
きる。
らも近赤外波長帯域Ｂ１と近紫外波長帯域八とに相当す
る光量が光電変換素子５４，５６によつて電気量Ｌｌ，
Ｉ−２として抽出され、データ処理部２８において基準
値とされ、前記一方の光路から得られる各波長帯域に相
応する電気量１１，１２と比較され、差ΔＴ″が算出さ
れ、次いで減力量ΔＡが算出される。ΔＡは表示部３０
で表示されレタツチヤー等に知らされる。なお、いずれ
の実施態様にあつても光源１４，４４，５０として紫外
線を多く放射する螢光管と赤外線を多く放射するタング
ステンランプ等とを組合わせたものを採用することがで
きる。
また、検出すべき二波長帯域も近紫外および近赤外に限
るものではない。しかし、第３図から明らかなように近
紫外および近赤外に設定した方がΔ丁を測定しやすいの
で都合が良い。上記データ処理部２８はアナログ計算機
またはデジタル計算機で構成され、第１４図示の態様を
例にとるならばを計算し、減力早．の近似値ΔＡ″をま
たはΔＫ＝現＋Ｋ１ΔＴ″＋Ｋ２（Δ丁）゛として計算
する。
るものではない。しかし、第３図から明らかなように近
紫外および近赤外に設定した方がΔ丁を測定しやすいの
で都合が良い。上記データ処理部２８はアナログ計算機
またはデジタル計算機で構成され、第１４図示の態様を
例にとるならばを計算し、減力早．の近似値ΔＡ″をま
たはΔＫ＝現＋Ｋ１ΔＴ″＋Ｋ２（Δ丁）゛として計算
する。
ここで、Ｃｌ，Ｃ２は各光路での光量の減衰を補正する
ための定数であり、網点面積率がＯ％であるフィルムを
試料として測定したときの１１，１２，Ｌ１，Ｌ２を基
にして次式から算出される。
ための定数であり、網点面積率がＯ％であるフィルムを
試料として測定したときの１１，１２，Ｌ１，Ｌ２を基
にして次式から算出される。
さて、本発明は以上のように減力により黄褐色に変色し
た部分の面積を測定できるようにしてなるものであるか
ら、減力量をより正確に測定することができる。また、
減力により黄褐色となつた部分は、網点がソフトドット
の場合網点面積率が大幅に変化したとしても減力された
時間が同じならば測定される減力量はさほど変化しない
ので、階調部分の減力量を測定する場合減力の前後で測
定位置に多少ズレが生じたとしてもかなり正確な減力量
の測定を行なうことができる。
た部分の面積を測定できるようにしてなるものであるか
ら、減力量をより正確に測定することができる。また、
減力により黄褐色となつた部分は、網点がソフトドット
の場合網点面積率が大幅に変化したとしても減力された
時間が同じならば測定される減力量はさほど変化しない
ので、階調部分の減力量を測定する場合減力の前後で測
定位置に多少ズレが生じたとしてもかなり正確な減力量
の測定を行なうことができる。
このことは測定操作の簡易迅速化を達成しうることを意
味する。一方、網点がハードドットの場合であつても減
力時間を同じとすれば網点面積率の差に比して黄変部の
面積の差は僅少であるから、階調部分で測定箇所が多少
ズレたとしても上記と同様に精度の良い測定を行なうこ
とができるのである。
味する。一方、網点がハードドットの場合であつても減
力時間を同じとすれば網点面積率の差に比して黄変部の
面積の差は僅少であるから、階調部分で測定箇所が多少
ズレたとしても上記と同様に精度の良い測定を行なうこ
とができるのである。
第１図ａは減力前の網点の説明図、第２図ａは減力後の
網点の説明図、第１図ｂおよび第２図ｂノは減力前後の
光透過率のグラフである。 第３図は減力部分の分光透過特性のグラフである。第４
図は減力した網点フィルムの分光透過等性のグラフであ
る。第５図は減力量による分光透過率の変化を示すグラ
フである。第６図は、減力量ΔＡと透７過率差ΔＴとの
関係グラフである。第７図および第８図は減力時間と網
点％との関係を示すグラフである。第９図、第１３図お
よび第１４図は本発明に係る方法を実施するための夫々
異なる態様の装置を表わすブロック線図てある。第１０
図ａ１第１１図ａおよび第１２図は二波長帯域光を得る
ための夫々異なる態様の光学系を示す説明図、第１０図
ｂおよび第１１図Ｂ，ｃは光学系を通る光の波長と透過
率との関係グラフである。１０・・・・・・網点、１２
・・・・・・減力部分、１４・・・・・・光５源、２０
・・・・・・網点フィルム（試料）、２２・・・・・・
分離光学系、２４，２６・・・・・・光電変換素子、２
８・・・・・データ処理部、３０・・・・・・表示部、
３２・・・・・・ビームスプリッタ、３４，３６，３８
・・・・・フィルタ、４０・・・・・・プリズム、４２
・・・・スリツタ、４４・・・゛Ｏ光源、４６・・・・
フィルタ、４８・・・・・・光電変換素子、５０・・・
・・・光源、５２・・・・・・分離光学系、５４，５６
・・・・・・光電変換素子。
網点の説明図、第１図ｂおよび第２図ｂノは減力前後の
光透過率のグラフである。 第３図は減力部分の分光透過特性のグラフである。第４
図は減力した網点フィルムの分光透過等性のグラフであ
る。第５図は減力量による分光透過率の変化を示すグラ
フである。第６図は、減力量ΔＡと透７過率差ΔＴとの
関係グラフである。第７図および第８図は減力時間と網
点％との関係を示すグラフである。第９図、第１３図お
よび第１４図は本発明に係る方法を実施するための夫々
異なる態様の装置を表わすブロック線図てある。第１０
図ａ１第１１図ａおよび第１２図は二波長帯域光を得る
ための夫々異なる態様の光学系を示す説明図、第１０図
ｂおよび第１１図Ｂ，ｃは光学系を通る光の波長と透過
率との関係グラフである。１０・・・・・・網点、１２
・・・・・・減力部分、１４・・・・・・光５源、２０
・・・・・・網点フィルム（試料）、２２・・・・・・
分離光学系、２４，２６・・・・・・光電変換素子、２
８・・・・・データ処理部、３０・・・・・・表示部、
３２・・・・・・ビームスプリッタ、３４，３６，３８
・・・・・フィルタ、４０・・・・・・プリズム、４２
・・・・スリツタ、４４・・・゛Ｏ光源、４６・・・・
フィルタ、４８・・・・・・光電変換素子、５０・・・
・・・光源、５２・・・・・・分離光学系、５４，５６
・・・・・・光電変換素子。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 網点フィルムに光を照射してその透過光から長波長
帯域と短波長帯域とにおける光量を夫々抽出し、これら
光量の差異から減力量を算出して表示することを特徴と
する網点フィルムの減力量測定方法。 ２ 前記網点フィルムに照射する光は紫外線を多く含む
光と赤外線を多く含む光との組合せ光である特許請求の
範囲第１項記載の減力量測定方法。 ３ 前記光量の抽出は、前記透過光をビームスプリッタ
およびフィルムを透過させて前記二つの波長帯域に分離
し、次いで夫々光電変換素子に至らしめることにより行
なう特許請求の範囲第１項記載の減力量測定方法。 ４ 前記光量の抽出は、前記透過光をプリズムおよびス
リットを透過させて前記二つの波長帯域に分離し、次い
で夫々光電変換素子に至らしめることにより行なう特許
請求の範囲第１項記載の減力量測定方法。 ５ 前記光量の差異と減力量とを比例関係に近似して上
記光量の差異に定数を乗じることにより減力量を算出す
る特許請求の範囲第１項記載の減力量測定方法。 ６ 前記光量の差異と減力量との関係を二以上の次数を
もつ関係で近似して減力量を算出する特許請求の範囲第
１項記載の減力量測定方法。 ７ 光源からの光を二光路に分離し、一方の光路の光を
網点フィルムに照射してその透過光から長波長帯域と短
波長帯域とにおける光量を抽出し、これら光量の差異か
らから減力量を算出し、かつこの算出時に上記他の光路
における光量を基準値として対比させ、しかる後減力量
を表示することを特徴とする減力量測定方法。 ８ 前記基準値は光源の全波長帯域または所望の波長帯
域に関する光量とし、前記一方の光路から得られる長波
長帯域と短波長帯域とにおける光量を上記基準値に対比
させて光量の差異を求める特許請求の範囲第７項記載の
減力量測定方法。 ９ 前記他の光路の光をさらに二光路に分離して夫々の
光路の光から長波長帯域と短波長帯域とにけるる光量を
抽出してこれらを基準値とし、前記一方の光路から得ら
れる長波長帯域と短波長帯域とにおける光量を上記各基
準値に夫々対比させて光量の差異を求める特許請求の範
囲第７項記載の減力量測定方法。 １０ 前記網点フィルムに照射する光は柴外線を多く含
む光と赤外線を多く含む光との組合せ光である特許請求
の範囲第７項記載の減力量測定方法。 １１ 前記光量の抽出は、前記透過光をビームスプリッ
タおよびフィルタを透過させて前記二つの波長帯域に分
離し、次いで夫々光電変換素子に至らしめることにより
行なう特許請求の範囲第７，８または９項記載の減力量
測定方法。 １２ 前記光量の抽出は、前記透過光をプリズムおよび
スリットを透過させて前記二つの波長帯域に分離し、次
いで夫々光電変換素子に至らしめることにより行なう特
許請求の範囲第７，８または９項記載の減力量測定方法
。 １３ 前記光量の差異と減力量とを比例関係に近似して
上記光量の差異に定数を乗じることにより減力量を算出
する特許請求の範囲第７項記載の減力量測定方法。 １４ 前記光量の差異と減力量との関係を二以上の次数
をもつ関数で近似して減力量を算出する特許請求の範囲
第７項記載の減力量測定方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53042270A JPS6048029B2 (ja) | 1978-04-11 | 1978-04-11 | 網点フイルムの減力量測定方法 |
| US06/028,195 US4266872A (en) | 1978-04-11 | 1979-04-09 | Method of measuring the amount of reduction of a dot film, and device for practicing same |
| DE2914534A DE2914534C2 (de) | 1978-04-11 | 1979-04-10 | Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Betrags der Reduktion eines Rasterfilms |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53042270A JPS6048029B2 (ja) | 1978-04-11 | 1978-04-11 | 網点フイルムの減力量測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54135003A JPS54135003A (en) | 1979-10-19 |
| JPS6048029B2 true JPS6048029B2 (ja) | 1985-10-24 |
Family
ID=12631338
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53042270A Expired JPS6048029B2 (ja) | 1978-04-11 | 1978-04-11 | 網点フイルムの減力量測定方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4266872A (ja) |
| JP (1) | JPS6048029B2 (ja) |
| DE (1) | DE2914534C2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0361195U (ja) * | 1989-10-17 | 1991-06-14 |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5852542U (ja) * | 1981-10-05 | 1983-04-09 | 株式会社 ヤマトヤ商会 | ドツト・エツチングの量の管理を可能にしたフイルム |
| US4591978A (en) * | 1983-11-14 | 1986-05-27 | Foresight Enterprises Inc. | Method of interrelating a master computer with a peripheral device |
| US4837450A (en) * | 1985-07-01 | 1989-06-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Apparatus for reading a film image with controllable illumination and threshold value |
| US4717258A (en) * | 1985-12-31 | 1988-01-05 | Smith College | 3-channel microdensitometer for analysis of plate spectra |
| US4781464A (en) * | 1986-04-14 | 1988-11-01 | Isco, Inc. | Gel scanner |
| NL8901722A (nl) * | 1989-07-06 | 1991-02-01 | Oce Nederland Bv | Inrichting voor het meten van door een informatiedrager verstrooid licht. |
| US5245418A (en) * | 1990-12-27 | 1993-09-14 | Eastman Kodak Company | Method for recording a color image on a medium and reading an image recorded on a medium |
| US6186404B1 (en) | 1998-05-29 | 2001-02-13 | Welch Allyn Data Collection, Inc. | Security document voiding system |
| US12003045B2 (en) | 2021-10-20 | 2024-06-04 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Wireless interconnect for high rate data transfer |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3306156A (en) * | 1957-02-19 | 1967-02-28 | Du Pont | Method and apparatus for photometric analysis |
| US3586441A (en) * | 1967-07-12 | 1971-06-22 | Instrumentation Labor Inc | Atomic absorption spectroanalysis system |
| JPS5540809B1 (ja) * | 1970-03-31 | 1980-10-20 | ||
| US3827808A (en) * | 1973-05-09 | 1974-08-06 | Industrial Nucleonics Corp | Method and apparatus for measuring the opacity of sheet material in which the transmittance signal is compensated for the reflectivity of the material |
| US4080075A (en) * | 1976-09-20 | 1978-03-21 | Foresight Enterprises, Inc. | Compensated densitometer |
-
1978
- 1978-04-11 JP JP53042270A patent/JPS6048029B2/ja not_active Expired
-
1979
- 1979-04-09 US US06/028,195 patent/US4266872A/en not_active Expired - Lifetime
- 1979-04-10 DE DE2914534A patent/DE2914534C2/de not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0361195U (ja) * | 1989-10-17 | 1991-06-14 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE2914534A1 (de) | 1979-10-25 |
| DE2914534C2 (de) | 1986-06-26 |
| JPS54135003A (en) | 1979-10-19 |
| US4266872A (en) | 1981-05-12 |
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