DE2914534C2 - Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Betrags der Reduktion eines Rasterfilms - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Messen des Betrages der Reduktion eines Rasterfilmes, etwa eines Rasternegativs oder eines Rasterpositivs.

Ein Rasterfilm wira dadurch erhalten, daß ein Original einer Rasterfotografie unterworfen wird, worauf der Rasterfilm auf eine Originalplatte belichtet wird, um so ein latentes Bild zu erhalten. Daraufhin wird die Originalplatte entwickelt, um eine Druckplatte zu bekommen. Aus der Praxis ist bekannt, daß es unmöglich ist, eine zufriedenstellende Druckplatte direkt von dem der Rasterfotografie unterworfenen Rasterfilm zu erhalten. Bevor eine zufriedenstellende Druckplatte erreicht wird, ist es deshalb notwendig, den Rasterfilrp. auf eine Korrektur-Originalplatte zu belichten und aus dieser eine Druckplatte herzustellen, an welcher dann eine Prüfung vorgenommen wird. Gemäß dem Ergebnis dieser Prüfung wird dann der Rasterpunkt-Prozentsatz des Rasterfilms entsprechend eingesteht.

Daraufhin wird wiederum eine Druckplatte hergestellt und diese einer Prüfung unterworfen. Ist das Prüfungsergebnis nun annehmbar, dann wird der Rasterfilm auf eine tatsächliche Druck-Originalplatte belichtet. Befriedigt jedoch das Ergebnis der Prüfung noch nicht, dann wird der Rasterpunkt-Prozentsatz des Films erneut abgeändert und wiederum eine Prüfung durchgeführt.

Die Veränderung bzw. Einstellung des Rasterpunkt-Prozentsatzes des Rasterfilms wird durch ein Verfahren bewirkt, das mit Reduktion bezeichnet wird. Bei diesem Verfahren wird die Größe der Rasterpunkte durch Waschen des Rasterfilms mit einem Eisenchelat-Redukiionsmittel vermindert. Die Einstellung des Rasterpunkt-Prozentsatzes hängt dabei vollständig von der Vorstellung und der Erfahrung des Retuscheurs ab. Mit anderen Worten, der Retuscheur weiß durch Erfahrung, welches ungefähre Ausmaß der Reduktion bzw. der Abnahme des Rasterpunkt-Prozentsatzes zum gewünschten Druckergebnis führt, und er führt diese Einstellung gemäß seinen eigenen Kenntnissen aus.

Der Betrag der Reduktion kann jedoch auch objektiv festgestellt werden, und zwar durch Messungen mit einem Rasterpunkt-Prozentsatz-Mcßgerät vor und nach der vorgenommenen Reduktion. In diesem Fall kann dann der erforderliche Reduktionsbetrag selbst von einer unerfahrenen Person ermittelt werden. Wird also

der sonst durch einen fachkundigen Retuscheur festzulegende Reduktionsbetrag mit einem Rasterpunkt-Prozentsatz-Meßgerät gemessen, dann kann die Reduktion auch durch eine unerfahrene Person durchgeführt werden, was selbstverständlich von Vorteil ist.

Übliche Rasterprozentsatz-Meßgeräte arbeiten derart, daß die Menge an Licht gemessen wird, weiche durch den rasterpunktfreien Bereich des Rasterfilms hindurchgegangen ist, womit der Reduktionsbetrag errechenbar ist. Üblicherweise geht der reduzierte Bereich eines Rasterfilms in den gelb-braunen Farbbereich über. Wird nun Licht auf diesen abgeschwächten Bereich und auf einen durchsichtigen, keine Rasterpunkte aufweisenden Bereich des Rasterfilms gestrahlt und werden die durch die beiden unterschiedlichen Teile hindurchgehenden Lichtmengen in elektrische Daten umgesetzt, dann kann aus letzterem der Rasterpunktprozentsatz errechnet werden.

Die Rasterpunkte sehen ursprünglich so aus, wie in F i g. 1 (a) dargestellt. Nach der Reduktion sehen die Raslerpunkie dann gemäß F i g. 2 (a) aus. In F i g. 2 (a) stellt der den Rasterpunkt 10 umgebende Umfangsbereich einen reduzierten Bereich 12 dar. Die Verteilung der Lichtdurchlässigkeit wird offensichtlich durch die Reduktion beeinflußt, d. h. die Lichtdurchlässigkeit erfährt eine Änderung vom Zustand nach F i g. 1 (b) zum Zustand gemäß F i g. 2 (b).

Wird der Rasterfilm auf eine Originalplatte oder auf andere Filme belichtet, dann kann das Licht durch den gelbbraunen Bereich 12 hindurchgehen. Bei der Messung des Rasterpunkt-Prozentsatzes ist es unerwünscht, daß die Lichtdurchlässigkeit des reduzierten Bereiches 12 sich ändert.

Ein Meßfehler infolge der Abnahme des Rasterpunkt-Prozentsatzes des reduzierten Bereiches kann durch ein bekanntes Verfahrea vermieden werden, bei dem die Tonabstufung eines Rasterfilms in ein elektrisches Signal umgesetzt wird, beispielsweise mittels einer Vidicon-Röhre, um so die Fläche des Filmbereiches zu messen, wo die Dichte größer ist als einem vorbestimmten Wert entspricht, woraus dann der Rasterpunkt-Prozentsatz ermittelbar ist.

Die Vorrichtungen zur Durchführung dieses bekannten Verfahrens sind jedoch bezüglich Platzbedarf und Kosten sehr aufwendig. Außerdem ergibt sich bei diesen Vorrichtungen folgender Nachteil. Wenn die Meßstelle vor Reduktion gegenüber der Meßstelle nach Reduktion verschoben ist, dann weist der gemessene Reduktionsbetrag einen großen Fehler auf. Dieser Fehler wird insbesondere dann noch besonders vergrößert, wenn ein Gradationsbereich genessen wird, und zwar aus folgendem Grund. Im Gradationsbereich unterscheidet sich die Größe eines Rasterpunktes vcn der Größe eines benachbarten Rasterpunkts, womit die Differenz der Lichtdurchlässigkeit infolge der Differenz der Größe der Rasterpunkte der Differenz der Lichtdurchlässigkeit entsprechend dem Reduktionsbetrag hinzuaddiert wird, wenn sich der Meßbereich ändert.

Demgemäß ist es bei dem üblichen Verfahren notwendig, daß die Meßstelle vor Reduktion exakt mit der Meßstelle nach erfolgter Reduktion zusammenfällt.

Aufgabe der Erfindung ist deshalb ein Verfahren zur Messung des Betrags der Reduktion eines Rasterfilms, bei dem selbst dann, wenn die Meßstelle während des Messens des Reduktionsbetrages sich ändert, die Genauigkeit der Messung kaum beeinflußt wird, so daß die Messung auf einfache Weise und in kurzer Zeit durchgeführt werden kann. Außerdem ist Aufgabe der Erfindung eine Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens.

Die Lösung dieser Aufgabe ist in den Patentansprüchen gekennzeichnet.
Auf der Zeichnung zeigt

F i g. 1 (a) ein Erläuterungsdiagramm eines Rasterpunkts vor seiner Reduktion,

Fig.2(a) ein Erläuterungsdiagramm eines Rasterpunkts nach seiner Reduktion,

ίο F i g. 1 (b) und 2 (b) grafische Darstellungen der Lichtdurchlässigkeit vor und nach Reduktion,

Fig.3 eine grafische Darstellung der spektralen Durchlässigkeit des einer Reduktion unterworfenen Bereiches eines Rasterfilms,

Fig.4 eine grafische Darstellung der spektralen Durchlässigkeit eines einer Reduktion unterworfenen Rasterfilms,

F i g. 5 eine grafische Darstellung der Veränderungen der spektralen Durchlässigkeit bei Veränderung des Reduktionsbetrags,

Fig.6 eine grafische Darstellung des Verhältnisses zwischen einem Reduktionsbetrag ΔΑ und der Licht-Durchlässigkeitsdifferenz AT,

F i g. 7 und 8 grafische Darstellungen des Verhältnisses zw^;schen Reduktionszeit und Rasterpunkt-Prozentsatz (%),

Fig. 9,10,14 bis 16 Blockdiagramme einiger Beispiele von Vorrichtungen zur Durchführung eines Verfahrens der Messung des Betrags der Reduktion eines Rasterfilms gemäß der Erfindung,

F i g. 11 (a), 12 (a) und 13 Diagramme zur Erläuterung einiger Beispiele eines optischen Systems für die Erzeugung eines Lichtstrahles in zwei verschiedenen Bereichen optischer Weilenlänge., und

F i g. 11 (b), 12 (b) und 12 (c) grafische Darstellungen des Verhältnisses zwischen der Wellenlänge des durch das optische System hindurchgehenden Lichtes und seine Lichtdurchläs.sigkeit.

Die Erfindung basiert auf der Tatsache, daß der Betrag der Reduktion am besten durch den oben beschriebenen Schwächungsbereich 12 des Rasterfilms ausdrückbar ist. Deshalb ist es am zweckmäßigsten, die Fläche des Schwächungsbereiches i2 mit geeigneten Mitteln zu messen.

Als Ergebnis zahlreicher Untersuchungen und Studien zur Messung der Fläche des Schwächungsbereiches ergaben sich folgende Erkenntnisse.

(1) Die spektrale Durchlässigkeit des Schwächungsbereiches 12 ist so wie in F i g. 3 dargestellt. Im nahen Ultraviolettbereich ist also die Lichtdurchlässigkpit gering. Im sichtbaren Bereich steigt dann die Lichtvjurchlässigkeit mit steigender optischer Wellenlänge an. Im nahen Infrarotbereich schließlich erreicht die Lichtdurchlässigkeit einen Maximalwert.

(2) Die spektrale Gesamtdurchhlässigkeit eines einer Reduktion unterworfenen Rasterfilms verhält sich wie in Fig.4 dargestellt. Diese Kennkurve wurde durch Licht erhalten, welches aus zwei Lichtanteilen bestand, nämlich einem Anteil, der durch einen originär transparenten Bereich zwischen den Rasterpunkten hindurchging, und durch einen Anteil, der durch einen gelb-braunen, aber durch die Reduktion transpirent gemachten Bereich hindurchging. Aus F i g. 4 ist ersichtlich, daß die Durchlässigkeit Ti des Lichts im nahen Infrarotbereich sich deutlich von der Durchlässigkeit T₁ des Lichts im nahen Ultraviolett-Bereich unterscheidet, und zwar

durch den Effekt des durch den gelb-braunen Bereich hindurchgehenden Lichtes selbst bei einem Rasterfilm.

AT=(T₁-T_x)

(3) Der Betrag der Reduktion kann im proportionalen Verhältnis zum Wert //7"(Fi g. 5 und 6) angenähert '.verden.

(4) Wenn es sich bei den Rasterpunkten um weiche Punkte handelt, dann bleibt der Reduktionsbetrag im wesentlichen unverändert, wenn der Rasterpunkt-Prozentsatz zwischen etwa 20% und etwa 60% liegt und die Reduktionszeit dieselbe ist (Fig. 7). Dies bedeutet, daß selbst dann, wenn die Position der Messung im Abstufungsbereich sich etwas verschiebt, die Messung der Fläche des gelbbraunen Bereiches richtig bleibt.

(5) Wenn sich bei den Rasterpunkten um harte Punkte handelt, dann ist bei unterschiedlichem Rasterpunkt-Prozentsatz der Reduktionsbetrag selbst dann unterschiedlich, wenn die Reduktionszeit die gleiche ist. Unter der Bedingung jedoch, daß die Reduktion die gleiche ist, wird jedoch dieser Unterschied im Reduktionsbetrag wesentlich kleiner sein als der Unterschied zwischen dem Rasterpunkt-Prozentsatz (Fig. 8). Wenn also beispielsweise die Reduktionszeit 80 Sekunden beträgt und die Rasterpunkt-Prozentsätze bei 25% und 45% liegen, dann ergibt sich somit eine Differenz zwischen den beiden Rasterpunkt-Prozentsätzen von etwa 20% während die Differenz zwischen den zugehörigen Reduktionsbeträgen lediglich bei etwa 2% liegt. Selbst wenn also die Meßstelle mehr oder weniger im Gradationsbereich verschoben wird, so wird doch die Messung des Reduktionsbetrages dadurch nicht sehr weseniiich beeinflußt.

F i g. 9 zeigt ein Beispiel einer Vorrichtung zum Messen des Reduktionsbetrages eines Rasterfilms gemäß der Erfindung. Die Vorrichtung enthält gemäß Fig. 9 eine Lichtquelle 14. Kondensorlinsen 16 und 18 sowie ein optisches System 22. das von der Lichtquelle kommendes Licht in zwei Lichtanteile Si und B₁ unterteilt, wobei der Lichtanteil ßi aus Licht im oben erwähnten langen Wellenbereich besteht, \orzugsweise Licht im nahen Infrarotbereich (einschließlich dem Infrarotbereich benachbartes sichtbares Licht), und wobei der Lichtanteil B-. Licht im oben erwähnten kurzen Wellenlängenbereich enthält, vorzugsweise Licht im nahen Ultraviolett-Bereich. einschließlich nahe dem Ultraviolett-Bereich liegendes sichtbares Licht. Weiterhin enthält die Vorrichtung fotoelektrische Umsetzer 24 und 26 zur Feststellung der Lichtmengen des entsprechenden Wellenlängenbereiches, einen Datenverarbeitungsabschnitt und einen Anzeigeabschnitt 30. Das Bezugszeichen bezeichnet in F i g. 9 eine Probe, die ein Rasterpositiv oder ein Rasternegativ sein kann.

Es ist wesentlich, daß die Lichtquelle 14 eine stabile spektrale Emissionscharakteristik aufweist und daß sich die abgegebene Lichtmenge mit der Zeit nur unwesentlich ändert, so daß die Meßwerte nicht durch Änderungen der Mengen an von der Lichtquelle abgegebene Licht beeinflußt werden. Deshalb wird beispielsweise als Lichtquelle eine Haiogeniampe oder eine Xenoniampe verwendet betrieben durch eine stabilisierte Gleichstromquelle.

Der Licht-Empfangsabschnitt der Vorrichtung von Fi g. 9 ist im einzelnen in F i g. 10 dargestellt.

Der Licht-Empfangsabschnitt 4 ist innerhalb eines Meßtisches 2 angeordnet, der im allgemeiner, mit einer lichtdurchlässigen Glasplatte versehen ist. Die Lichtquelle 14 befindet sich stationär oberhalb des Empfangsabschnittes 4, so daß der Abschnitt 4 von der Quelle 14 ausgestrahltes Licht aufnehmen kann. Der Abschnitt 4 enthält einen an einem Ende offenen Zylinderkopf 4a und ein Lichtaufnahmeelement 24, etwa einen

!0 fotoelektrischen Umsetzer zur Aufnahme des durch ein zu messendes Objekt I (Rasterpositiv oder Raslernegativ 20) hindurchgegangenen Lichtes. Der Abschnitt 4 ist derart innerhalb des Meßtisches 2 angeordnet, daß die öffnung des Kopfes 4a mit der oberen Oberfläche des

t5 Tisches 2 fluchtet. Die untere Oberfläche des Objektives 1 wird auf den Tisch 2 gelegt und berührt somit die Öffnung des Kopfes 4a.

Das Lichtempfangselement 4 ist elektrisch über den Datenabschnitt 28 mit dem Än/uigeauschniu 30 verbunden. so daß die Menge an Licht, welches durch das Objekt 1 hindurchgegangen und vom Aufnahmeabschnitt 4 empfangen worden ist, am Anzeigeabschnitt 30 angezeigt werden kann.

Mit dieser Vorrichtung wird der Reduktionsbetrag des Objekts 1 in folgender Weise gemessen. Zunächst wird der zu messende Bereich des Objekts über die öffnung des Kopfes 4a gebracht. Dann wird Licht vorgegebene. Intensität von der Lichtquelle durch die Linsen 16 und 18 auf das Objekt 1 gestrahlt, so daß die Menge des durch das Objekt 1 hindurchgehenden Lichtes vom Element 24 aufgenommen und am Anzeigeabschnitt 30 angezeigt wird. Sowohl die Lichtquelle 14 als auch das Objekt 1 befinden sich außerhalb eines Gehäuses, d. h. sie werden beide dem äußeren Umgebungslicht ausgesetzt. Es besteht deshalb die Gefahr, daß die Messung durch das äußere Umgebungslicht beeinflußt wird. Urn diese Schwierigkeit zu umgehen, wird nur das nicht sichtbare infrarote und das nicht sichtbare ultraviolette Licht der Lichtquelle 14 verwendet, zu welchem Zweck im Licht-Aufnahmeabschnitt in den optischen Weg zwischen Objekt 1 und Element24gemäß Fig. 10ein Infrarotfilter eingesetzt ist und außerdem als Element 24 eine Silizium-Fotodiode verwendet wird, die ausreichend empfindlich für Infrarotstrahlen ist. Dadurch wird es möglich, die Messung frei von Einflüssen durch sichtbares Licht zu machen und bei der Feststellung der ultravioletten Strahlen den Effekt des sichtbaren Lichtes auszuschalten.
Bei dem beschriebenen Beispiel fluchtet die öffnung

so des Abschnittes 4 mit der oberen Oberfläche des Meßtisches 2. Der Lichtempfangsabschnitt 4 kann aber auch so abgewandelt werden, daß seine Öffnung sich nicht an der unteren Oberfläche des Meßtisches 2 befindet.
Das oben erwähnte optische System zum Aufteilen des Lichtes in Lichtstrahlen B\ und S₂ unterschiedlicher Wellenlängenbereiche kann so beschaffen sein, wie in den F i g. 11,12 und 13 dargestellt ist.

In F i g. 11 ist mit 32 ein Strahlteiler bezeichnet, während die Bezugszeichen 34 und 36 Filter bezeichnen.

Der Filter 34 filtert aus dem von der Lichtquelle kommenden Licht den nahen Infrarotbereich und damit den Lichtstrahl B_x aus, der Filter 36 das im nahen Ultraviolett-Bereich (den Teil b von F i g. 11) aus, also den Lichtstrahl B₁.

im optischen System von Fig. 12 ist auf der Seite der Lichtquelle ein zusätzliches Filter 38 vorgesehen, so daß die Lichtstrahlen Si und S₂ der beiden Wellenlängenbereiche durch es hindurchgehen, wie in Teil b von F i g. 12

angedeutet ist. Die Wellenlängen-Charakteristik des Filters 38 ist vergleichsweise flach. Die beiden Lichtstrahlen verlassen dann den Strahlteiler 32. Dabei ist es so, daß beim Verlassen des Strahlteilers 32 in jedem der beiden Lichtstrahlen der jeweils andere Lichtstrahl des anderen Wellenbereiches unterdrückt ist. Mit anderen Worten, die Lichtstrahlen werden in die beiden Lichtstrah';-n B\ und Bi von jeweils Wellenlängenbereichen umgewandelt, die im Teil (c) von Fig. 12 dargestellt sind, wobei diese Strahlen dann auf zwei unterschiedliche Umwandlungselemente 24 und 26 gegeben werden. Diese Umwandlungsclemente sind jeweils für den jeweiligen Wellenlängenbereich empfindlich.

Beim optischen System nach Fig. 13 wird anstelle der oben erwähnten Strahlenteiler und Filter ein Prisma 40 verwendet. Mit 42 ist ein Doppelspalt bezeichnet und 24 und 26 sind fotoelektrische Umwandlungselemente zur Aufnahme der vom Doppelspalt 42 voneinander abgesonderten Strahlen B-, und Bi

Anstelle der beschriebenen optischen Systeme kann zum Aufteilen der Strahlen auch ein halbdurchlässiger Spiegel verwendet werden, der einen Lichtstrahl reflektiert und einen Lichtstrahl durchläßt, und zwar abhängig von der Wellenlänge, so daß es auch damit möglich ist, zwei Lichtstrahlen unterschiedlicher Wellenlänge zu erhalten, die sich auf zwei verschiedenen optischen Wegen fortpflanzen. Anstelle des Prismas kann beispielsweise auch ein optisches Gitter verwendet werden.

Die erwähnte Datenverarbeitungseinrichtung 28 dient dazu, den Reduktionsbetrag aus elekrischen Daten zu e rechnen, die von den beiden fotoelektrischen Umsetzern 24 und 26 zugeführt werden, welche die Lichtmengen der unterschiedliche Wellenlängenbereiche beinhaltenden Lichtstrahlen B₁ und Bi in elektrische Signale umsetzt.

Zunächst wird ein Film mit einer Rasterpunkt-Prozentsatz Null (oder ein nocht nicht reduzierter Film) als Probe verwendet, wobei die Lichtmengen der hindurchgegangenen Lichtstrahlen Si und Bi in den entsprechenden Wellenlängenbereichen aufgenommen, durch die fotoelekirischen Umsetzer in elektrische Daten /3 und /4 umgesetzt und diese Daten in der Verarbeitungseinrichtung 28 gespeichert werden. Daraufhin wird ein reduzierter Film als Probe verwendet, wobei elektrische Daten /1 und Ii entsprechend den Mengen der hindurchgegangenen Lichtstrahlen ß| und Bi in den betreffenden Wellenlängenbereichen erhalten werden. Damit ergibt sich folgende Gleichung:

AT = (~ - 4-) X 100 (%).

Daraufhin wird die nächste Berechnung durchgeführt, um eine Annäherung des Wertes AT proportional zum Betrag der Reduktion JA zu erhalten.

/IA = a + KAT

wobei K eine Konstante ist, die dann im Bereich zwischen 2 und 2,5 liegt, wenn die Wellenlängenbereiche der beiden Lichtstrahlen B\ und B2 so gewählt sind, daß sie im nahen Infrarot und im nahen Ultraviolett liegen, wobei dann a etwa zwischen 1 und 2 liegt.

Wenn dann das Verhältnis zwischen den Werten AA und AT durch eine Funktion zweiten oder höheren Grades angenähert ist. dann kann ein Wert AA mit hoher Genauigkeit erreicht werden. Der Wert JA wird dann digital oder analog auf der Anzeigeeinrichtung angezeigt.

Wenn die Oberfläche der Probe trocken ist. dann kann es infolge des durch die Objektoberfläche reflektierten Lichtes zu Interferenzerscheinungen kommen, mit der Folge, daß die spektrale Durchlässigkeit beeinflußt wird. Wird jedoch die Oberfläche der Probe mit einer transparenten Flüssigkeit angefeuchtet und die Probe dann zum Zweck der Messung mit einer transparenten Platte kontaktiert, dann ist die Menge des reflektierten Lichtes wesentlich vermindert, was zur Verbesserung der Meßgenauigkeit beiträgt.

Die Beeinflussung der spektralen Durchlässigkeit durch Interferenzerscheinungen des von der Oberfläche eines Filmes reflektierten Lichtes kann durch ein Verfahren verhindert werden, bei dem die Wellenlängen-Bandbreite der zu messenden Durchlässigkeit vergrößert wird, mit der Folge einer Mittelung der Schwankungen der spektralen Durchlässigkeit infolge der Interferenzerscheinungen. Bei diesem Verfahren ist es iedoch wesentlich, daß die Lichtquelle eine vergleichsweise kontinuierliche spektrale Emission in jedem zu messenden Wellenlängenbereich aufweist und kein Spektrum mit intensiven Spektrallinien besitzt.

Die Probe kann auf ein weißes Papier oder dergleichen gelegt werden, so daß Licht, welches durch die Probe hindurchgeht, durch das weiße Papier reflektiert wird, worauf das reflektierte Licht in das optische System eingeführt wird. In diesem Fall befindet sich die Lichtquelle neben dem optischen System (auf der Zeichnung nicht dargestellt).

Fig. 14 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel der Vorrichtung zum Messen des Betrags der Reduktion. Diese Vorrichtung wird dann verwendet, wenn die Menge des von der Lichtquelle emittierten Lichts sich mit der Zeit ändert, die spektrale Emissionscharakteristik dagegen vergleichsweise stabil ist.

In Fig. 14 ist mit 44 eine Lichtquelle bezeichnet, nämlich eine Xenonlampe oder eine Xenon-Blitzlichtlampe. Zwischen der Lichtquelle 44 und einer Probe 34 befindet sich ein Strahlaufteiler 32. Ein Filter 46 und ein fotoelektrischer Umsetzer 48 sind in den von Strahlteiler 32 abgehenden optischen Weg eingesetzt. Wird als Lichtquelle 44 eine Xenonlampe verwendet, dann ist es erforderlich, in der Endstufe der fotoelektrischen Umsetzer 24, 26 und 48 einen Abtast-Haltekreis vorzusehen. Der Abtast-Haltekreis hält die elektrischen Daten in Synchronisation mit dem von der Xenon-Blitzlampe abgegebenen intermittierenden Licht. Der Abtast-Haltekreis kann auch in der Datenverarbeitungseinrichtung 28 untergebracht sein.

Der Filter kann alle Wellenlängenbereiche des von der Lichtquelle abgegebenen Lichtes durchlassen oder nur bestimmte Wellenlängenbereiche.
Bei diesem Beispiel wird das von der Lichtquelle 44 abgegebene Licht in zwei Lichtstrahlen unterteilt, die sich auf zwei unterschiedlichen optischen Wegen fortpflanzen, wobei die Aufteilung durch den Strahlteiler erfolgt. Der Lichtstrahl des einen optischen Weges wird auf die Probe 34 gegeben, worauf der Lichtstrahl nach Durchlaufen der Probe in einen Lichtstrahl B\ im nahen Infrarotbereich und einen Lichtstrahl Bi im nahen Ultraviolettbereich aufgeteilt wird, und zwar durch ein optisches System 22. Die Mengen der Lichtstrahlen B\ und Bi werden dann mittels fotoelektrischer Umsetzer 24 und 26 in elektrische Daten umgesetzt.

Die Lichtmenge des längs des anderen optischen Weges verlaufenden Lichtstrahles wird in Form eines elektrischen Signals durch den fotoelektrischen Umsetzer

48 abgegeben.

In einem Rechenkreis wird die folgende Gleichung ausgerechnet:

AT¹ =

- ΛΛ

X 100

dabei sind die elcKtrischen Daten Lq, Ij und /4 proportional zur Lichtmenge in dem durch den Strahlteiler aufgeteilten optischen Weg, und zwar dann, wenn ein Film mit einem Rasterpunkt-Prozentsatz Null als Probe verwendet wird, bzw. proportional zu den Lichtmengen der Lichtstrahlen B] und B₁ in den entsprechenden Wellenlängenbereichen. Die elektrischen Daten L, I] und /2 sind proportional den oben erwähnten Lichtmengen, wenn ein reduzierter Rasterfilm als Probe verwendet wird. Durch die Ausrechnung wird der Wert von AA erhalten und dieser Wert dann auf der Anzeigeeinrichtung angezeigt.

Fig. 15 zeigt ein drittes Ausführungsbeispiel einer Vorrichtung zur Messung des Reduktionsbetrages. Dieses Ausführungsbeispiel wird dann verwendet, wenn die von der Lichtquelle abgegebene Lichtmenge sich mit der Zeit ändert und außerdem die spektrale Emissionscharakteristik instabil ist.

In Fig. 15 ist mit 50 eine Lichtquelle bezeichnet. Dabei ist im auch beim Beispiel nach Fig. 14 vorhandenen, zusätzlichen optischen Weg ein optisches System 52 eingesetzt. Außerdem befinden sich in diesem optischen Weg fotoelektrische Umsetzer 54 und 56. Durch das optische System 52 werden die Lichtmengen entsprechend denjenigen der Lichtstrahlen B\ und B2 im nahen Infrarotbereich und im nahen Ultraviolettbereich als elektrische Daten L] und L2 aus dem Licht dieses optischen Weges ermittelt. Diese elektrischen Daten dienen als Bezugswerte für die Datenverarbeitungseinrichtung 28, in welcher sie mit den elektrischen Daten /· und /2 verglichen werden, wobei letztere den Lichtmengen in den Wellenlängenbereichen entsprechen, die im ersten optischen Weg ermittelt werden, so daß die Differenz T errechenbar ist, worauf der Reduktionsbetrag A berechnet wird. Der Wert A wird in der Einrichtung 30 angezeigt, so daß der Retuscheur über den Grad der Reduktion informiert ist.

Bei allen beschriebenen Beispielen kann als Lichtquelle (14, 44 oder 50) die Kombination einer stark im Ultravioletten strahlenden Fluoreszenzlampe und einer stark im Infraroten strahlenden Wolframlampe Verwendungfinden.

Die beiden zu untersuchenden Wellenlängenbereiche sind nicht auf das nahe Ultraviolett und das nahe Infrarot begrenzt. Wie sich aus F i g. 3 ergibt, ist es jedoch wünschenswert, die beiden Wellenlängenbereiche auf das nahe Ultraviolett und das nahe Infrarot zu begrenzen, weil dann der Wert T'Ieicht ermittelt werden kann.

Die erwähnte Datenverarbeitungsvorrichtung 28 kann einen analogen oder einen digitalen Rechner erhalten. Im Fall der obigen Vorrichtung führt die Datenverarbeitungseinrichtung folgende Rechnung durch

_Ar. (C₁X-L-C₁ £

100

10

In dieser Gleichung stellen Ci und C2 Konstante zur Korrektur der Schwächungsbetriige der Lichtmengen in den entsprechenden optischen Wegen dar und sind durch die nachfolgenden Gleichungen ermittelbar, und zwar unter Verwendung der Werte L], L2, A und I₁, wenn diese auf einen Film als Probe bezogen sind, der einen Rasterpunkt-Prozentsatz Null aufweist:

C2 =

L]Il]

Aus obigen Ausführungen ergibt sich, daß gemäß der

Erfindung die Fläche eines Bereiches emessen werden kann, der durch Reduktion eine gelb-braune Färbung angenommen hat, woraus dann der Reduktionsbetrag sehr exakt ermittelt werden kann.

Im Fall weicher Rasterpunkte ändert sich der Reduktionsbetrag des gelb-braun gewordenen Bereiches ksürn, WGnn uiC RcdükiiOnSZcii uiCSCluc iSi. ScIuSt uumm nicht, wenn eine große Änderung des Rasterpunkt-Prozentsatzes aufgetreten ist. Selbst wenn sich also vor und nach Reduktion beim Messen des Reduktionsbetrages eines Gradationsbereiches eine gewisse Verschiebung der Meßstelle aufgetreten ist, bleibt die Messung sehr genau. Dies bedeutet aber, daß die Messung in sehr kurzer Zeit durchgeführt werden kann.

Im Fall harter Rasterpunkte ist bei gleicher Reduktionszeit die Differenz der Fläche des gelb-braun gewordenen Bereiches kleiner als die Differenz des Rasterpunkt-Prozentsatzes. Selbst wenn sich also im Gradationsbereich die Meßstelle etwas verschiebt, kann trotzdem, wie bei den weichen R;isterpunktcn, ein Meßergebnis hoher Genauigkeit erhalten werden.

Hierzu 6 Blatt Zeichnungen

und errechnet dann den Annäherungswert JA'des Reduktionsbetrags aus folgender Gleichung

AA'= a + KAT
oder

AA' ~ K₀ + K]AT + K₁(ATf

Claims (10)

Patentansprüche:

1. Verfahren zum Messen des Betrages der Reduktion eines Rasterfilms, dadurch gekennzeichnet, daß der Rasterfilm mit Licht bestrahlt wird, daß aus dem durch den Rasterfilm hindurchgegangenen Licht eine Lichtmenge eines langwelligen Bereiches und eine Lichtmenge eines kurzwelligen Bereiches abgesondert werden und daß die Differenz zwischen diesen beiden Lichtmengen bestimmt und daraus der Reduktionsbetrag ermittelt und angezeigt wird.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß von einer Lichtquelle abgegebenes Licht in einen ersten, längs eines ersten optischen Weges verlaufenden Lichtstrahl und einen zweiten, längs eines zweiten optischen Weges verlaufenden Lichtstrahl unterteilt wird, daß der erste Lichtstrahl auf den Rasjerfilm gelenkt wird, daß aus dem durch den Rasterfilm hindurchgegangenen Licht die Lichtmenge eines langwelligen Bereiches und die Lichtmenge eines kurzwelligen Bereiches abgesondert werden, daß aus der Differenz zwischen diesen beiden Lichtmengen der Reduktionsbetrag berechnet wird und daß die Menge des zweiten Lichtstrahles bei dieser Berechnung als Bezugs- und Vergleichswert herangezogen wird, worauf dann der Reduktionsbetrag angezeigt wird.

3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß Jer Bezugszwert die Menge des Lichtes aller Wellenlängenbsreiche oder eines bestimmten WellenlängenbereichPiS der Lichtquelle umfaßt und daß die Lichtmengen des langwelligen und des kurzwelligen Bereichs des ersten optischen Weges mit dem Bezugsweri verglichen werden.

4. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der im zweiten optischen Weg verlaufende zweite Lichtstrahl seinerseits in einen sich längs eines dritten optischen Weges erstreckenden dritten Lichtstrahl und einen sich längs eines vierten optischen Weges erstreckenden vierten Lichtstrahl unterteilt wird, daß aus den im dritten und im vierten optischen Weg verlaufenden Lichtstrahlen die Lichtmengen von Licht kurzer Wellenlänge und Licht langer Wellenlänge ausgesondert werden, daß diese ausgesonderten Lichtmengen als Bezugswerte herangezogen werden und daß die Lichtmengen des langwelligen Bereiches und des kurzwelligen Bereiches des Lichtes des ersten optischen Weges mit diesen Bezugswerien verglichen werden.

5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Rasterfilm mit einem Licht bestrahlt wird, das aus Licht vergleichsweise hohen Ultraviolettanteils und Licht vergleichsweise hohen Infrarotanteils kombiniert wird.

5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Differenz zwischen den lang- und kurzwelligen Lichtmengen im proportionalen Verhältnis zum Reduktionsbetrag angenä* e>o hert und dann der Reduktionsbetrag durch Multiplikation der angenäherten Differenz mit einer Konstanten errechnet wird.

7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß das Verhältnis zwisehen der Differenz der lang- und kurzwelligen Lichtmengen und dem Reduktionsbetrag durch eine Funktion angenähert wird, die zumindest zweiten

Grades ist.

8. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 7, gekennzeichnet durch einen zylindrischen Lichtaufnahmeabschnitt (4) mit einer öffnung (4a,), die mit der oberen Oberfläche eines Meßtisches (2) fluchtet, wobei der Lichtaufnahmeabschnitt innerhalb des Meßtisches (2) angeoidnet ist, und durch einen Lichtabgabeabschnitt (14, 16, 18, 22), der Licht auf das zu messende, auf dem Meßtisch (2) befindliche Objekt leitet, wobei der Lichtabgabeabschnitt dem Lichiaufnahmeabschnitt zugewandt ist

9. Vorrichtung nach Anspruch 8, gekennzeichnet durch einen Strahlteiler (32), durch Filter (34,36) und durch fotoelektrische Umsetzer (24,26).

10. Vorrichtung nach Anspruch 8, gekennzeichnet durch ein Prisma (40), durch eine Schutzanordnung (42) und durch fotoelektrische Umsetzer (24,26).