DE2914534A1

DE2914534A1 - Verfahren und vorrichtung zur messung des betrags der reduktion eines rasterfilms

Info

Publication number: DE2914534A1
Application number: DE19792914534
Authority: DE
Inventors: Yuuji Mitsuhashi
Original assignee: Dai Nippon Printing Co Ltd
Current assignee: Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date: 1978-04-11
Filing date: 1979-04-10
Publication date: 1979-10-25
Also published as: DE2914534C2; JPS6048029B2; JPS54135003A; US4266872A

Description

Firma DAI NIPPON INSATSü KABUSHIKI KAISHA; 12, Kaga-Cho 1-Chome, Ichigaya-Shinjuku-Ku, Tokyo-To, Japan

Verfahren und Vorrichtung zur Meßung des Betrags der Reduktion

eines Rasterfilms

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Messen des Betrages der Reduktion eines Rasterfilmes, etwa eines Rasternegativs oder eines Rasterpositivs.

Ein Rasterfilm wird dadurch erhalten, daß ein Original einer Rasterfotografie unterworfen wird, worauf der Rasterfilm auf eine Originalplatte gedruckt wird, um so ein latentes Bild zu erhalten. Daraufhin wird die Origxnalplatte entwickelt, um eine Druckplatte zu bekommen. Aus der Praxis ist bekannt, daß es unmöglich ist, eine zufriedenstellende Druckplatte direkt von dem der Rasterfotografie unterworfenen Rasterfilm zu erhalten. Bevor eine zufriedenstellende Druckplatte erreicht wird, ist es deshalb notwendig, den Rasterfilm auf eine Korrektur-Originalplatte abzudrucken und aus dieser eine Druckplatte herzustellen, an welcher dann eine Prüfung vorgenommen wird. Gemäß dem Ergebnis dieser Prüfung wird dann der Rasterpunkt-Prozentsatz des Rasterfilms entsprechend eingestellt.

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Daraufhin wird wiederum eine Druckplatte hergestellt und diese einer Prüfung unterworfen. Ist das Prüfungsergebnis nun annehmbar, dann wird der Rasterfilm auf eine tatsächliche Druck-Originalplatte abgedruckt. Befriedigt jedoch das Ergebnis der Prüfung noch nicht, dann wird der Rasterpunkt-Prozentsatz des Films erneut abgeändert und wiederum eine Prüfung durchgeführt.

Die Veränderung bzw. Einstellung des Rasterpunkt-Prozentsatzes des Rasterfilms wird durch ein Verfahren bewirkt, das mit Reduktion bezeichnet wird. Bei diesem Verfahren wird die Größe der Rasterpunkte durch Waschen des Rasterfilms mit einem Eisenchelat-Reduktionsmittel vermindert. Die Einstellung des Rasterpunkt-Prozentsatzes hängt dabei vollständig von der Vorstellung und der Erfahrung des Retuscheurs ab. Mit anderen Worten, der Retuscheur weiß durch Erfahrung, welches ungefähre Ausmaß der Reduktion bzw. der Abnahme des Rasterpunkt-Prozentsatzes zum gewünschten Druckergebnis führt,und er führt diese Einstellung gemäß seinen eigenen Kenntnissen aus.

Der Betrag der Reduktion kann jedoch auch objektiv festgestellt werden, und zwar durch Meßungen mit einem Rasterpunkt-Prozentsatz-Meßgerät vor und nach der vorgenommenen Reduktion. In diesem Fall kann dann der erforderliche Reduktionsbetrag selbst von einer unerfahrenen Person ermittelt werden. Wird also der sonst durch einen fachkundigen Retuscheur festzulegende Reduktionsbetrag mit einem Rasterpunkt-Prozentsatz-Meßgerät gemessen, dann kann die Reduktion auch durch eine unerfahrene Person durchgeführt werden, was selbstverständlich von Vorteil ist.

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Übliche Rasterprozentsatz-Meßgeräte arbeiten derart, daß die Menge an Licht gemessen wird, welche durch den rasterpunktfreien Bereich des Rasterfilms hindurchgegangen ist, womit der Reduktionsbetrag errechenbar ist. üblicherweise geht der reduzierte Bereich eines Rasterfilms in den gelb-braunen Farbbereich über. Wird nun Licht auf diesen abgeschwächten Bereich und auf einen durchsichtigen, keine Rasterpunkte aufweisenden Bereich des Rasterfilms gestrahlt und werden die durch die beiden unterschiedlichen Teile hindurchgehenden Lichtmengen in elektrische Daten umgesetzt, dann kann aus letzterem der Rasterpunktprozentsatz errechnet werden.

Die Rasterpunkte sehen ursprünglich so aus, wie in Fig. 1(a) dargestellt. Nach der Reduktion sehen die Rasterpunkte dann gemäß Fig. 2(a) aus. In Fig. 2(a) stellt der den Rasterpunkt 10 umgebende Umfangsbereich einen reduzierten Bereich 12 dar. Die Verteilung der Lichtdurchlässigkeit wird offensichtlich durch die Reduktion beeinflußt, d.h. die Lichtdurchlässigkeit erfährt eine Änderung vom Zustand nach Fig. 1(b) zum Zustand gemäß Fig. 2(b).

Wird der Rasterfilm auf eine Originalplatte oder auf andere Filme abgedruckt, dann kann das Licht des Druckvorgangs durch den gelbbraunen Bereich 12 hindurchgehen. Bei der Meßung des Rasterpunkt-Prozentsatzes ist es unerwünscht, daß die Lichtdurchlässigkeit des reduzierten Bereiches 12 sich ändert.

Ein Meßfehler infolge der Abnahme des Rasterpunkt-Prozentsatzes des reduzierten Bereiches kann durch ein bekanntes Verfahren vermieden werden, bei dem die Tonabstufung eines Rasterfilms in ein elektrisches Signal umgesetzt wird, beispielsweise mittels einer

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Vidicon-Röhre, um so die Fläche des Filmbereiches zu messen, wo die Dichte größer ist als einem vorbestimmten Wert entspricht, woraus dann der Rasterpunkt-Prozentsatz ermittelbar ist.

Die Vorrichtungen zur Durchführung dieses bekannten Verfahrens sind jedoch bezüglich Platzbedarf und Kosten sehr aufwendig. Ausserdem ergibt sich bei diesen Vorrichtungen folgender Nachteil. Wenn die Meßstelle vor Reduktion gegenüber der Meßstelle nach Reduktion verschoben ist, dann weist der gemessene Reduktionsbetrag einen großen Fehler auf. Dieser Fehler wird insbesondere dann noch besonders vergrößert, wenn ein Gradationsbereich gemessen wird, und zwar aus folgendem Grund. Im Gradationsbereich unterscheidet sich die Größe eines Rasterpunkts von der Größe eines benachbarten Rasterpunkts, womit die Differenz der Lichtdurchlässigkeit infolge der Differenz der Größe der Rasterpunkte der Differenz der Lichtdurchlässigkeit entsprechend dem Reduktionsbetrag hinzuaddiert wird, wenn sich der Meßbereich ändert.

Demgemäß ist es bei dem üblichen Verfahren notwendig, daß die Meßstellevorreduktion exakt mit der Meßstelle nach erfolgter Reduktion zusammenfällt·

Aufgabe der Erfindung ist deshalb ein Verfahren zur Meßung des Betrags der Reduktion eines Rasterfilms, bei dem selbst dann, wenn die Meßstelle während des Messens des Reduktionsbetrages sich ändert, die Genauigkeit der Meßung kaum beeinflußt wird, so daß die Meßung auf einfache Weise und in kurzer Zeit durchgeführt werden kann. Außerdem ist Aufgabe der Erfindung eine Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens.

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Die Lösung dieser Aufgabe ist in den Patentansprüchen gekennzeichnet.

Auf der Zeichnung zeigen:

Fig. 1(a) ein Erläuterungsdiagramm eines Rasterpunkts vor seiner

Reduktion,
Fig. 2(a) ein Erläuterungsdiagramm eines Rasterpunkts nach seiner Reduktion,

Fig. 1 (b) grafische Darstellungen der Lichtdurchlässigkeit vor und 2(b)

und nach Reduktion,

Fig. 3 eine grafische Darstellung der spektralen Durchlässigkeit des einer Reduktion unterworfenen Bereiches eines Rasterfilms,

Fig. 4 eine grafische Darstellung der spektralen Durchlässigkeit eines einer Reduktion unterworfenen Rasterfilms,

Fig. 5 eine grafische Darstellung der Veränderungen der spektralen Durchlässigkeit bei Veränderung des Reduktionsbetrags ,

Fig. 6 eine grafische Darstellung des Verhältnisses zwischen einem Reduktionsbetrag ΛΑ und der Licht-Durchlässigkeitsdifferenz ΔΤ,

Fig. 7 grafische Darstellungen des Verhältnisses zwischen Re- und 8

duktionszeit und Rasterpunkt-Prozentsatz (%) ,

Fig. 9 /1A₁ Blockdiagramme einiger Beispiele von Vorrichtungen zur

bis 16

Durchführung eines Verfahrens der Meßung des Betrags der Reduktion eines Rasterfilms gemäß der Erfindung,

Fig.11(a), Diagramme zur Erläuterung einiger Beispiele eines opti-12(a)+13

sehen Systems für die Erzeugung eines Lichtstrahles in zwei verschiedenen Bereichen optischer Wellenlänge, und

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Fig.11(b), grafische Darstellungen des Verhältnisses zwischen der

1 2(b)+12 (c)

Wellenlänge des durch das optische System hindurchgehenden Lichtes und seiner Lichtdurchlässigkeit.

Die Erfindung basiert auf der Tatsache, daß der Betrag der Reduktion am besten durch den oben beschriebenen Schwächungsbereich 12 des Rasterfilms ausdrückbar ist. Deshalb ist es am zweckmäßigsten, die Fläche des Schwächungsbereiches 12 mit geeigneten Mitteln zu messen.

Als Ergebnis zahlreicher Untersuchungen und Studien zur Meßung der Fläche des Schwächungsbereiches ergaben sich folgende Erkenntnisse.

(1) Die spektrale Durchlässigkeit des Schwächungsbereiches 12 ist so wie in Fig. 3 dargestellt. Im nahen Ultraviolettbereich ist also die Lichtdurchlässigkeit gering. Im sichtbaren Bereich steigt dann die Lichtdurchlässigkeit mit steigender optischer Wellenlänge an. Im nahen Infrarotbereich schließlich erreicht die Lichtdurchlässigkeit einen Maximalwert.

(2) Die spektrale Gesamtdurchlässigkeit eines einer Reduktion unterworfenen Rasterfilms verhält sich wie in Fig. 4 dargestellt. Diese Kennkurve wurde durch Licht erhalten, welches aus zwei Lichtanteilen bestand, nämlich einem Anteil, der durch einen originär transparenten Bereich zwischen den Rasterpunkten hindurchging, und

der

durch einen Anteil,/durch einen gelb-braunen, aber durch die Reduktion transparent gemachten Bereich hindurchging. Aus Fig. 4 ist ersichtlich, daß die Durchlässigkeit T,, des Lichts im nahen Infrarotbereich sich deutlich von der Durchlässigkeit T₁ des Lichts im nahen Ultraviolett-Bereich unterscheidet, und zwar durch den Effekt des durch den gelb-braunen Bereich hindurchgehenden Lichtes

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selbst bei einem Rasterfilm.

( Δ T = T₂ - T₁)

(3) Der Betrag der Reduktion kann im proportionalen Verhältnis zum Wert ΛT (Fig. 5 und 6) angenähert werden.

(4) Wenn es sich bei den Rasterpunkten um weiche Punkte handelt, dann bleibt der Reduktionsbetrag im wesentlichen unverändert, wenn der Rasterpunkt-Prozentsatz zwischen etwa 20% und etwa 60% liegt und die Reduktionszeit dieselbe ist (Fig. 7). Dies bedeutet, daß selbst dann, wenn die Position der Meßung im Abstufungsbereich sich etwas verschiebt, die Meßung der Fläche des gelb-braunen Bereiches richtig bleibt.

(5) Wenn es sich bei den Rasterpunkten um harte Punkte handelt, dann ist bei unterschiedlichem Rasterpunkt-Prozentsatz der Reduktionsbetrag selbst dann unterschiedlich, wenn die Reduktionszeit die gleiche ist. Unter der Bedingung jedoch, daß die Reduktion die gleiche ist, wird jedoch dieser Unterschied im Reduktionsbetrag wesentlich kleiner sein als der Unterschied zwischen dem Rasterpunkt^-Prozentsatz (Fig. 8) . Wenn also beispielsweise die Reduktionszeit 80 Sekunden beträgt und die Rasterpunkt-Prozentsätze bei 25% und 45% liegen, dann ergibt sich somit eine Differenz zwischen den beiden Rasterpunkt-Prozentsätzen von etwa 20% während die Differenz zwischen den zugehörigen Reduktionsbeträgen lediglich bei etwa 2% liegt. Selbst wenn also die Meßstelle mehr oder weniger im Gradationsbereich verschoben wird, so wird doch die Meßung des Reduktionsbetrages dadurch nicht sehr wesentlich beeinflußt.

Fig. 9 zeigt ein Beispiel einer Vorrichtung zum Messen des Reduktionsbetrages eines Rasterfilms gemäß der Erfindung. Die Vorrichtung enthält gemäß Fig. 9 eine Lichtquelle 14, Kodensorlinsen 16

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und 18 sowie ein optisches System 22, das von der Lichtquelle kommendes Licht in zwei Lichtanteile B.. und B„ unterteilt, wobei der Lichtanteil B₁ aus Licht im oben erwähnten langen Wellenbereich besteht, vorzugsweise Licht im nahen Infrarotbereich (einschließlich dem Infrarotbereich benachbartes sichtbares Licht>,und wobei der Lichtanteil B„ Licht im oben erwähnten kurzen Wellenlängenbereich enthält, vorzugsweise Licht im nahen Ultraviolett-Bereich, einschließlich nahe dem Ultraviolett-Bereich liegendes sichtbares Licht. Weiterhin enthält die Vorrichtung fotoelektrische Umsetzer 24 und 26 zur Feststellung der Lichtmengen des entsprechenden Wellenlängenbereiches, einen Datenverarbeitungsabschnitt 28 und einen Anzeigeabschnitt 30. Das Bezugszeichen 20 bezeichnet in Fig. 9 eine Probe, die ein Rasterpositiv oder ein Rasternegativ sein kann.

Es ist wesentlich, daß die Lichtquelle 14 eine stabile spektrale Emissionscharakteristik aufweist und daß sich die abgegebene Lichtmenge mit der Zeit nur unwesentlich ändert, so daß die Meßwerte nicht durch Änderungen der Menge an von der Lichtquelle abgegebene: Licht beeinflußt werden. Deshalb wird beispielsweise als Lichtquelle eine Halogenlampe oder eine Xenonlampe verwendet, betrieben durch eine stabilisierte Gleichstromquelle.

Der Licht-Empfangsabschnitt der Vorrichtung von Fig. 9 ist im einzelnen in Fig. 10 dargestellt.

Der Licht-Empfangsabschnitt 4 ist innerhalb eines Meßtisches 2 angeordnet, der im allgemeinen mit einer lichtdurchlässigen Glasplatte versehen ist. Die Lichtquelle 14 befindet sich stationär oberhalb des Empfangsabschnittes 4, so daß der Abschnitt 4 von der Quelle 14 ausgestrahltes Licht aufnehmen kann. Der Abschnitt 4 enthält einen an einem Ende offenen Zylinderkopf 4a und ein Licht-

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aufnahmeelement 24, etwa einen fotoelektrischen Umsetzer zur Aufnahme des durch ein zu messendes Objekt 1 (Rasterpositiv oder Rasternegativ 20) hindurchgegangenen Lichtes. Der Abschnitt 4 ist derart innerhalb des Meßtisches 2 angeordnet, daß die öffnung des Kopfes 4a mit der oberen Oberfläche des Tisches 2 fluchtet. Die untere Oberfläche des Objektes 1 wird auf den Tisch 2 gelegt und berührt somit die öffnung des Kopfes 4a.

Das Lichtempfangselement 4 ist elektrisch über den Datenabschnitt 2 8 mit dem Anzeigeabschnitt 30 verbunden, so daß die Menge an Licht, welches durch das Objekt 1 hindurchgegangen und vom Aufnahmeabschnitt 4 empfangen worden ist, am Anzeigeabschnitt 30 angezeigt werden kann.

Mit dieser Vorrichtung wird der Reduktionsbetrag des Objekts 1 in folgender Weise gemessen. Zunächst wird der zu messende Bereich des Objekts über die Öffnung des Kopfes 4a gebracht. Dann wird Licht vorgegebener Intensität von der Lichtquelle durch die Linsen 16 und 18 auf das Objekt 1 gestrahlt, so daß die Menge des durch das Objekt 1 hindurchgehenden Lichtes vom Element 24 aufgenommen und am Anzeigeabschnitt 30 angezeigt wird. Sowohl die Lichtquelle 14 als auch das Objekt 1 befinden sich außerhalb eines Gehäuses, d.h. sie werden beide dem äußeren Umgebung sucht ausgesetzt. Es besteht deshalb die Gefahr, daß die Meßung durch das äußere Umgebungslicht beeinflußt wird. Um diese Schwierigkeit zu umgehen, wird nur das nicht sichtbare infrarote und das nicht sichtbare ultraviolette Licht der Lichtquelle 14 verwendet, zu welchem Zweck im Licht-Aufnahmeabschnitt in den optischen Weg zwischen Objekt 1 und Element 24 gemäß Fig. 10 ein Infrarotfilter eingesetzt ist und außerdem als Element 24 eine Silizium-Fotodiode

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verwendet wird, die ausreichend empfindlich für Infrarotstrahlen ist. DAdurch wird es möglich, die Meßung frei von Einflüssen durch sichtbares Licht zu machen und bei der Feststellung der ultravioletten Strahlen den Effekt des sichtbaren Lichtes auszuschalten.

Bei dem beschriebenen Beispiel fluchtet die Öffnung des Abschnittes 4 mit der oberen Oberfläche des Meßtisches 2. Der Lichtempfangsabschnitt 4 kann aber auch so abgewandelt werden, daß seine Öffnung sich nicht an der unteren Oberfläche des Meßtisches 2 befindet. .

Das oben erwähnte optische System zum Aufteilen des Lichtes in Lichtstrahlen B.. und B„ unterschiedlicher Wellenlängenbereiche kann so beschaffen sein, wie in den Fig. 11, 12 und 13 dargestellt ist.

In Fig. 11 ist mit 32 ein Strahlenaufteiler bezeichnet, während die Bezugszeichen 34 und 36 Filter bezeichnen. Der Filter 34 filtert aus dem von der Lichtquelle kommenden Licht den nahen Infrarotbereich und damit den Lichtstrahl B₁ aus, der Filter 36 das im nahen Ültraviolett-Bereich (den Teil b von Fig. 11) aus, also den Lichtstrahl B .

Im optischen System von Fig. 12 ist auf der Seite der Lichtquelle ein zusätzlicher Filter 38 vorgesehen, so daß die Lichtstrahlen B- und B~ der beiden Wellenlängenbereiche durch ihn hindurchgehen, wie in Teil b von Fig. 12 angedeutet ist. Die Wellenlängen-Charakteristik des Filters 38 ist vergleichsweise flach. Die beiden Lichtstrahlen verlassen dann den Strahlteiler 32. Dabei ist

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es so, daß beim Verlassen des Strahlteilers 32 in jedem der beiden Lichtstrahlen der jeweils andere Lichtstrahl des anderen Wellenbereiches unterdrückt ist. Mit anderen Worten, die Lichtstrahlen werden in die beiden Lichtstrahlen B.. und B„ von jeweils Wellenlängenbereichen umgewandelt, die im Teil (c) von Fig. 12 dargestellt sind, wobei diese Strahlen dann auf zwei unterschiedliche Umwandlungselemente 24 bzw. 26 gegeben werden. Diese Umwandlungselemente sind jeweils für den jeweiligen Wellenlängenbereich empfindlich.

Beim optischen System nach Fig. 13 wird anstelle der oben erwähnten Strahlenteiler und Filter ein Prisma 40 verwendet. Mit 42 ist ein Doppelspalt bezeichnet und 24 und 26 sind fotoelektrische Umwand lung selemente zur Aufnahme der vom Doppelspalt 42 voneinander abgesonderten Strahlen B₁ und B„.

Anstelle der beschriebenen optischen Systeme kann zum Aufteilen der Strahlen auch ein halbdurchlässiger Spiegel verwendet werden, der einen Lichtstrahl reflektiert und einen Lichtstrahl durchläßt, und zwar abhängig von der Wellenlänge, so daß es auch damit möglich ist, zwei Lichtstrahlen unterschiedlicher Wellenlänge zu erhalten, die sich auf zwei verschiedenen optischen Wegen fortpflanzen. Anstelle des Prismas kann beispielsweise auch ein optisches Gitter verwendet werden.

Die erwähnte Datenverarbeitungseinrichtung 28 dient dazu, den Reduktionsbetrag aus elektrischen Daten zu errechnen, die von den beiden fotoelektrischen Umsetzern 24 und 26 zugeführt werden, welche die Lichtmengen der unterschiedliche Wellenlängenbereiche beinhaltenden Lichtstrahlen B₁ und B₂ in elektrische Signale umsetzt.

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Zunächst wird ein Film mit einer Rasterpunkt-Prozentsatz Null (oder ein noch nicht reduzierter Film) als Probe verwendet, wobei die Lichtmengen der hindurchgegangenen Lichtstrahlen B- und B in den entsprechenden Wellenlängenbereichen aufgenommen, durch die fotoelektrischen Umsetzer in elektrische Daten I_ und I. umgesetzt und diese Daten in der Verarbeitungseinrichtung 28 gespeichert werden. Daraufhin wird ein reduzierter Film als Probe verwendet, wobei elektrische Daten I- und I„ entsprechend den Mengen der hindurchgegangenen Lichtstrahlen B- und B„ in den betreffenden Wellenlängenbereichen erhalten werden. Damit ergibt sich folgende Gleichung:

ΔΤ' = (-— =2- j χ 100 (%)

V ^Χ3 4 /'

Daraufhin wird die nächste Berechnung durchgeführt, um eine Annäherung des Wertes ^T¹ proportional zum Betrag der Reduktion /\A zu erhalten.

wobei K eine Konstante ist, die dann im Bereich zwischen 2 und 2,5 liegt, wenn die Wellenlängenbereiche der beiden Lichtstrahlen B- und B„ so gewählt sind, daß sie im nahen Infrarot und im nahen Ultraviolett liegen, wobei dann a etwa zwischen 1 und 2 liegt.

Wenn dann das Verhältnis zwischen den Werten AA und ^T' durch eine Funktion zweiten oder höheren Grades angenähert ist, dann kann ein Wert ΔΑ mit hoher Genauigkeit erreicht werden. Der Wert ΔΑ wird dann digital oder analog auf der Anzeigeeinrichtung angezeigt.

Wenn die Oberfläche der Probe trocken ist, dann kann es infolge des durch die Objektoberfläche reflektierten Lichtes zu Interfe-

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renzerscheinungen kommen, mit der Folge, daß die spektrale Durchlässigkeit beeinflußt wird. Wird jedoch die Oberfläche der Probe mit einer transparenten Flüssigkeit angefeuchtet und die Probe dann zum Zweck der Meßung mit einer transparenten Platte kontaktiert, dann ist die Menge des reflektierten Lichtes wesentlich vermindert, was zur Verbesserung der Meßgenauigkeit beiträgt.

Die Beeinflussung der spektralen Durchlässigkeit durch Interferenzerscheinungen des von der Oberfläche eines Filmes reflektierten Lichtes kann durch ein Verfahren verhindert werden, bei dem die Wellenlängen-Bandbreite der zu messenden Durchlässigkeit vergrössert wird, mit der Folge einer Mittelung der Schwankungen der spektralen Durchlässigkeit infolge der Interferenzerscheinungen. Bei diesem Verfahren ist es jedoch wesentlich, daß die Lichtquelle eine vergleichsweise kontinuierliche spektrale Emission in jedem zu messenden Wellenlängenbereich aufweist und kein Spektrum mit intensiven Spektrallinien besitzt.

Die Probe kann auf ein weißes Papier oder dergleichen gelegt werden, so daß Licht, welches durch die Probe hindurchgeht, durch das weiße Papier reflektiert wird, worauf das reflektiert»Licht in das optische System eingeführt wird. In diesem Fall befindet sich die Lichtquelle neben dem optischen System (auf der Zeichnung nicht dargestellt).

Fig. 14 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel der Vorrichtung zum Messen des Betrags der Reduktion. Diese Vorrichtung wird dann verwendet, wenn die Menge des von der Lichtquelle emittierten Lichts sich mit der Zeit ändert, die spektrale Emissionscharakteristik dagegen vergleichsweise stabil ist.

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In Fig. 14 ist mit 44 eine Lichtquelle bezeichnet, nämlich eine Xenonlampe oder eine Xenon-Blitzlichtlampe. Zwischen der Lichtquelle 44 und einer Probe 34 befindet sich ein Strahlaufteiler 32. Ein Filter 46 und ein fotoelektrischer Umsetzer 48 sind in den vom Strahlenteiler 32 abgehenden optischen Weg eingesetzt. Wird als Lichtquelle 44 eine Xenonlampe verwendet, dann ist es erforderlich, in der Endstufe der fotoelektrischen Umsetzer 24,26 und 48 einen Abtast-Haltekreis vorzusehen. Der Abtast-Haltekreis hält die elektrischen Daten in Synchronisation mit dem von der Xenon-Blitzlampe abgegebenen intermittierenden Licht. Der Abtast-Haltekreis kann auch in der Datenverarbeitungseinrichtung 28 untergebracht sein.

Der Filter kann alle Wellenlängenbereiche des von der Lichtquelle abgegebenen Lichtes durchlassen oder nur bestimmte Wellenlängenbereiche.

Bei diesem Beispiel wird das von der Lichtquelle 44 abgegebene Licht in zwei Lichtstrahlen unterteilt, die sich auf zwei unterschiedlichen optischen Wegen fortpflanzen, wobei die Aufteilung durch den Strahlenteiler erfolgt. Der Lichtstrahl des einen optischen Weges wird auf die Probe 34 gegeben, worauf der Lichtstrahl nach Durchlaufen der Probe in einen Lichtstrahl B₁ im nahen Infrarotbereich und einen Lichtstrahl B„ im nahen Ultraviolettbereich aufgeteilt wird, und zwar durch ein optisches System 22. Die Mengen der Lichtstrahlen B.. und B„ werden dann mittels fotoelektrischer Umsetzer 24 und 26 in elektrische Daten umgesetzt.

Die Lichtmenge des längs des anderen optischen Weges verlaufenden

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Lichtstrahles wird in Form eines elektrischen Signals durch den fotoelektrischen Umsetzer 48 abgegeben.

In einem Rechenkreis wird die folgende Gleichung ausgerechnet:

dabei sind die elektrischen Daten L , I_ und I. proportional zur Lichtmenge in dem durch den Strahlenteiler aufgeteilten optischen Weg, und zwar dann, wenn ein Film mit einem Rasterpunkt-Prozentsatz Null als Probe verwendet wird, bzw. proportional zu den Lichtmengen der Lichtstrahlen B₁ und B„ in den entsprechenden Wellenlängenbereichen. Die elektrischen Daten L, I₁ und I sind proportional den oben erwähnten Lichtmengen, wenn ein reduzierter Rasterfilm als Probe verwendet wird. Durch die Ausrechnung wird der Wert von ,\A erhalten und dieser Wert dann auf der Anzeigeeinrichtung angezeigt.

Fig. 15 zeigt ein drittes Ausführungsbeispiel einer Vorrichtung zur Meßung des Reduktionsbetrages. Dieses Ausführungsbeispiel wird dann verwendet, wenn die von der Lichtquelle abgegebene Lichtmenge sich mit der Zeit ändert und außerdem die spektrale Emissionscharakteristik instabil ist.

In Fig. 15 ist mit 50 eine Lichtquelle bezeichnet. Dabei ist in» auch beim Beispiel nach Fig. 14 vorhandenen, zusätzlichen optischen Weg ein optisches System 52 eingesetzt. Außerdem befinden sich in diesem optischen Weg fotoelektrische Umsetzer 54 und 56. Durch das optische System 52 werden die Lichtmengen entsprechend denjenigen der Lichtstrahlen B₁ und B₂ im nahen Infrarotbereich und im nahen Ultraviolettbereich als elektrische Daten L₁ und L-

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aus dem Licht dieses optischen Weges ermittelt. Diese elektrischen Daten dienen als Bezugswerte für die Datenverarbeitungseinrichtung 28, in welcher sie mit den elektrischen Daten I. und I- verglichen werden, wobei letztere den Lichtmengen in den Wellenlängenbereichen entsprechen, die im ersten optischen Weg ermittelt werden, so daß die Differenz T¹ errechenbar ist, worauf der Reduktionsbetrag A berechnet wird. Der Wert A wird in der Einrichtung 30 angezeigt, so daß der Retuscheur über den Grad der Reduktion informiert ist.

Bei allen beschriebenen Beispielen kann als Lichtquelle (14,44 oder 50) die Kombination einer stark im Ultravioletten strahlenden FluoreszeiELampe und einer stark im Infraroten strahlenden Wolframlampe Verwendung finden.

Die beiden zu untersuchenden Wellenlängenbereiche sind nicht auf das nahe Ultraviolett und das nahe Infrarot begrenzt. Wie sich aus Fig. 3 ergibt, ist es jedoch wünschenswert, die beiden Wellenlängenbereiche auf das nahe Ultraviolett und das nahe Infrarot zu begrenzen, weil dann der Wert T¹ leicht ermittelt werden kann.

Die erwähnte Datenverarbeitungsvorrichtung 28 kann einen analogen oder einen digitalen Rechner erhalten. Im Fall der obigen Vorrichtung führt die Datenverarbeitungseinrichtung folgende Rechnung durch

Δ.Τ¹ = (θ. χ -=1 C₀ -=2- ) χ 100

\ 1 L₁ 2 L₂ J

und errechnet dann den Annäherungswert ΔΑ' des Reduktionsbetrags aus folgender Gleichung

i\A' = a + ΚΛΤ¹ oder ΔΑ¹ = K_Q + K₁ AT¹ +K₂ (AT')²

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In dieser Gleichung stellen C₁ und C„ Konstante zur Korrektur der Schwächungsbeträge der Lichtmengen in den entsprechenden optischen Wegen dar und sind durch die nachfolgenden Gleichungen ermittelbar, und zwar unter Verwendung der Werte L₁, L , I₁ und I₂ t wenn diese auf einen Film als Probe bezogen sind, der einen Rasterpunkt-Prozentsatz Null aufweist:

Aus obigen Ausführungen ergibt sich, daß gemäß der Erfindung die Fläche eines Bereiches gemessen werden kann, der durch Reduktion eine gelb-braune Färbung angenommen hat, woraus dann der Reduktionsbetrag sehr exakt ermittelt werden kann.

Im Fall weicher Rasterpunkte ändert sich der Reduktionsbetrag des gelb-braun gewordenen Bereiches kaum, wenn die Reduktionszeit dieselbe ist, selbst dann nicht, wenn eine große Änderung des Rasterpunkt-Prozentsatzes aufgetreten ist. Selbst wenn sich also vor und nach Reduktion beim Messen des Reduktionsbetrages eines Gradationsbereiches eine gewisse Verschiebung der Meßstelle aufgetreten ist, bleibt die Meßung sehr genau. Dies bedeutet aber, daß die Messung in sehr kurzer Zeit durchgeführt werden kann.

Im Fall harter Rasterpunkte ist bei gleicher Reduktionszeit die Differenz der Fläche des gelb-braun gewordenen Bereiches kleiner als die Differenz des Rasterpunkt-Prozentsatzes. Selbst wenn sich also im Gradationsbereich die Meßstelle etwas verschiebt, kann trotzdem, wie bei den weichen Rasterpunkten, ein Meßergebnis hoher Genauigkeit erhalten werden.

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Claims

PATENTANSPRÜCHE

' 1.j Verfahren zum Messen des Betrages der Reduktion eines Rasterfilms, dadurch gekennzeichnet, daß der Rasterfilm mit Licht bestrahlt wird, daß aus dent durch den Rasterfilm hindurchgegangenen Licht eine Lichtmenge eines langwelligen Bereiches und eine Lichtmenge eines kurzwelligen Bereiches abgesondert werden und daß die Differenz zwischen diesen beiden Lichtmengen bestimmt und daraus der Reduktionsbetrag ermittelt und angezeigt wird.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Rasterfilm mit einem Licht bestrahlt wird, das aus Licht vergleichsweisen hohen ültraviolettanteils und Licht vergleichsweise hohen Infrarotanteils kombiniert wird.

3. Verfahren nach Anspruch T, dadurch gekennzeichnet, daß das durch den Rasterfilm hindurchgegangene Licht durch einen Strahlteuer und durch Filter hindurchgeleitet wird, wodurch das Licht in zwei Lichtstrahlen der beiden Wellenlängenbereiche aufgeteilt wird, worauf die beiden Lichtstrahlen jeweils fotoelektrischen Umsetzern zugeführt werden.

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Bankhaus Merck. Finck & Co.. München
(BLZ 700304QO) Konto-Nr. 254649

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Bankhaus H. Aufhäuser. München (BLZ 70O3O600) Konto-Nr. 26t300

Telegrammadresse: Patentsenior

Postscheck: München

(BLZ 70010O80) Konto-Nr. 20904-800

4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, 'daß das durch den Rasterfilm hindurchgegangene Licht durch ein Prisma und durch eine Schlitzanordnung hindurchgeleitet und dabei in zwei Lichtstrahlen der beiden Wellenlängenbereiche unterteilt wird, worauf die beiden Lichtstrahlen jeweils fotoelektrischen Umsetzern zugeführt werden.

5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Differenz zwischen den beiden Lichtmengen im proportionalen Verhältnis zum Reduktionsbetrag angenähert wird und daß dann der Reduktionsbetrag durch Multiplikation der angenäherten Differenz mit einer Konstanten errechnet wird.

6. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Verhältnis zwischen der Differenz der beiden Lichtmengen und dem Reduktionsbetrag durch eine Funktion angenähert wird, die zumindest zweiten Grades ist.

7. Verfahren zur Messung des Betrages der Reduktion eines Rasterfilms, dadurch gekennzeichnet, daß von einer Lichtquelle abgegebenes Licht in einen ersten, längs eines ersten optischen Weges verlaufenden Lichtstrahl und einen zweiten, längs eines zweiten optischen Weges verlaufenden Lichtstrahl unterteilt wird, daß der erste Lichtstrahl auf den Rasterfilm gegeben wird, daß aus dem den Rasterfilm durchsetzt habenden Licht die Lichtmenge eines langen Wellenlängenbereiches und die Lichtmenge eines kurzen Wellenlängenbereiches abgesondert werden, daß aus der Differenz zwischen diesen beiden Lichtmengen der Reduktionsbetrag errechnet wird und daß die Menge des zweiten Lichtstrahles bei der Berechnung als Bezugs- und Vergleichswert herangezogen wird, worauf dann der Reduk-

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tionsbetrag angezeigt wird.

8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Bezugswert die Menge des Lichtes aller Wellenlängenbereiche oder eines bestimmten Wellenlängenbereichs der Lichtquelle ist und daß die Lichtmenge in einem langwelligen Bereich und die Lichtmenge in einem kurzwelligen Bereich des ersten optischen Weges mit dem Bezugswert verglichen werden, um so eine Differenz der Lichtmengen zu erhalten.

9. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß der im zweiten optischen Weg verlaufende zweite Lichtstrahl seinerseits unterteilt ist in einen sich längs eines dritten optischen Weges erstreckenden dritten Lichtstrahls und einen sich längs eines vierten optischen Weges erstreckenden vierten Lichtstrahl unterteilt ist, daß aus den im dritten und im vierten optischen Weg verlaufenden Lichtstrahlen die Lichtmengen von Licht kurzer Wellenlänge und Licht langer Wellenlänge ausgesondert werden, daß diese ausgesonderten Lichtmengen als Bezugswerte herangezogen werden und daß die Lichtmengen des langwelligen Bereiches und des kurzwelligen Bereiches des Lichtes des ersten optischen Weges mit den Bezug swerten zur Erzielung einer exakten Differenz verglichen werden.

10. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß zur Bestrahlung des Rasterpunktbildes Licht verwendet wird, das eine Kombination aus stark ultraviolettem Licht und stark infrarotem Licht darstellt.

11. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß das

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durch den Rasterfilm hindurchgegangene Licht durch einen Strahlteiler und durch Filter hindurchgeleitet und dabei in Lichtstrahlen der beiden Wellenlängenbereiche aufgeteilt wird und daß die beiden Lichtstrahlen jeweils fotoelektrischen Umwandlern zugeführt werden.

12. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß das durch den Rasterfilm hindurchgegangene Licht durch einen Strahlteiler und durch Filter hindurchgeleitet und damit in Lichtstrahlen der beiden Wellenlängenbereiche unterteilt wird, worauf diese Lichtstrahlen jeweils fotoelektrischen Umwandlern zugeführt werden.

13. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß das durch den Rasterfilm hindurchgegangene Licht durch einen Strahlteiler und durch Filter hindurchgeleitet und dabei in Lichtstrahlen der beiden Wellenlängenbereiche unterteilt wird, worauf die beiden Strahlen jeweils fotoelektrischen Umsetzern zugeführt werden.

14. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß das durch den Rasterfilm hindurchgegangene Licht durch ein Prisma und durch eine Schlitzanordnung hindurchgeleitet und dabei in Lichtstrahlen der beiden Wellenlängenbereiche unterteilt wird, worauf die beiden Lichtstrahlen jeweils fotoelektrischen Umwandlern zugeführt werden.

15. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß das durch den Rasterfilm hindurchgegangene Licht durch ein Prisma und durch eine Schlitzanordnung hindurchgeleitet und dabei in Lichtstrahlen der beiden Wellenlängenbereiche unterteilt wird, worauf die beiden Lichtstrahlen jeweils fotoelektrischen Umsetzern züge-

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führt werden.

10* Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß das durch den Rasteifilm hindurchgegangene Licht durch ein Prisma und durch eine Schlitzanordnung hindurchgeleitet und dabei in Lichtstrahlen der beiden Wellenlängenbereiche unterteilt wird, worauf die beiden Lichtstrahlen jeweils fotoelektrischen Umwandlern zugeführt werden.

17. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Differenz zwischen den Lichtmengen proportional zum Reduktionsbetrag angenähert und der Reduktionsbetrag dadurch errechnet wird, daß die Differenz zwischen den Lichtmengen mit einer Konstanten vervielfacht wird.

18. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß das Verhältnis der Differenz zwischen den Lichtmengen und dem Reduktionsbetrag durch eine Funktion mindestens zweiten Grades angenähert wird.

19. Vorrichtung zur Meßung des Reduktionsbetrages eines Rasterfilms, gekennzeichnet durch einen zylindrischen Lichtaufnahmeabschnitt (4) mit einer Öffnung (4a), die mit der oberen Oberfläche eines Meßtisches fluchtet, wobei der Lichtaufnahmeabschnitt innerhalb des Meßtisches angeordnet ist, und durch einen Lichtabgabeabschnitt, der Licht auf das zu messende, auf dem Meßtisch befindliche Objekt strahlt, wobei der Lichtabgäbeabschnitt dem Lichtaufnahmeabschnitt zugewandt ist und der Reduktionsbetrag des Objekts aus der durch das Objekt hindurchgehenden Lichtmenge ermittelt wird.

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