DE2858765C2 - Rasterpunktprozentsatz-messvorrichtung - Google Patents
Rasterpunktprozentsatz-messvorrichtungInfo
- Publication number
- DE2858765C2 DE2858765C2 DE19782858765 DE2858765A DE2858765C2 DE 2858765 C2 DE2858765 C2 DE 2858765C2 DE 19782858765 DE19782858765 DE 19782858765 DE 2858765 A DE2858765 A DE 2858765A DE 2858765 C2 DE2858765 C2 DE 2858765C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- light
- percentage
- halftone
- dot percentage
- measuring device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 28
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 22
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 9
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 24
- 238000000034 method Methods 0.000 description 20
- 238000011946 reduction process Methods 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 4
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 4
- 238000011161 development Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000013522 chelant Substances 0.000 description 2
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 2
- ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 7553-56-2 Chemical compound [I] ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011630 iodine Substances 0.000 description 1
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41F—PRINTING MACHINES OR PRESSES
- B41F33/00—Indicating, counting, warning, control or safety devices
- B41F33/0036—Devices for scanning or checking the printed matter for quality control
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
- G01N21/5907—Densitometers
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F5/00—Screening processes; Screens therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Rasterpunktprozentsatz-Meßvorrichtung.
Die Tonabstufung einer Halbtonkopie, beispielsweise einer
Fotografie, wird beim Druck durch Rasterpunkte unterschiedlicher
Größe dargestellt. Dabei wird die Halbtonkopie mittels Fotografie
durch einen Raster oder einen Kontaktraster hindurch auf einen
Film übertragen, der als Rasternegativ oder als Rasterpositiv
bezeichnet wird, wobei die Tonabstufung der Kopie durch Rasterpunkte
unterschiedlicher Größe wiedergegeben wird, worauf
dann von diesem Film eine Druckplatte hergestellt wird.
Der Ausdruck "Rasterpunktprozentsatz" soll hier den Prozentsatz
der Gesamtfläche der Rasterpunkte bezüglich einer Einheitsfläche
eines solchen Rasterpositivs oder Rasternegativs oder eines
mit Rasterpunkten bedruckten Materials bezeichnen. Der Betrag
des Rasterpunktprozentsatzes beeinflußt wesentlich die Tönung
und Graduation von bedrucktem Material.
Unterscheidet sich der erhaltene Rasterpunktprozentsatz von einem
vorausbestimmten Prozentsatz, so kann er korrigiert werden,
und zwar dadurch, daß das Rasterpositiv oder das Rasternegativ
einem Reduktionsvorgang unterworfen wird, wobei diese Reduktion
eines der bekannten Verfahren zur Korrektur des Rasterprozentsatzes
darstellt. Bei der Reduktion wird der fotografierte Film
mit einem Reduktionsmittel abgewaschen, um die Dichte des Bildes
zu vermindern. Bei einem mit Rasterpunkten bedruckten Material
ergibt sich dabei der Effekt, daß ein Randbereich um die Rasterpunkte,
der eine niedrige Dichte besitzt und als Randbereich bezeichnet
wird, transparent wird; das bedeutet, daß der Rasterpunktprozentsatz
zur Korrektur des bedruckten Materials vermindert wird.
Beim Drucken mit Rasterpunkten stellt der Rasterpunktprozentsatz
einen der wesentlichen Faktoren dar, welche die Qualität des bedruckten
Materials bestimmen, und demgemäß ist es wesentlich, den
Rasterpunktprozentsatz während des gesamten Druckvorgangs von der
Herstellung der Vorlage bis zum Drucken zu überprüfen.
Bei einem Offset-Retuschierverfahren ist es notwendig, den Rasterpunktprozentsatz
nach erfolgter Reduktion zu messen und die
Gestalt der Rasterpunkte zu beobachten, insbesondere, ob die Rasterpunkte
deformiert worden sind oder nicht.
Wenn die Rasterpunkte durch sehr starke Reduktion sehr klein werden
oder wenn die Messungen kleinere Rasterpunkte ergeben, dann
ist es erforderlich, daß die Rasterpunkte nochmals fotografiert
und mit den ursprünglichen Rasterpunkten verglichen werden. Bisher
werden die Rasterpunkte im allgemeinen durch visuelles Beobachten
überwacht. Die visuelle Beobachtung hat jedoch Nachteile
in der Weise, daß subjektive Fehler auftreten, und es ist deshalb
notwendig, für diese visuelle Beobachtung äußerst geschulte Personen
einzusetzen. Durch Rasterpunkt-Fotografie erzeugte Rasterpunkte
sind sehr weich und weisen Randzonen auf, so daß die
Beobachtungspersonen die Größe der Rasterpunkte in seinem Gesichtsfeld
einschließlich der Randzonen ermittelt, mit der Folge, daß
eine Rasterpunktgröße festgestellt wird, die größer ist als die
Rasterpunkte tatsächlich sind.
Obwohl die bei der Reduktion tatsächlich erforderlichen Werte
nicht den absoluten Prozentwert betreffen, sondern die Differenz
zwischen den Rasterpunktprozentsatz vor und dem Rasterpunktprozentsatz
nach Reduktion, gibt es bisher keine Vorrichtung, welche
den Reduktionsbetrag anzeigt.
Ein übliches Gerät zur Messung des Rasterpunktprozentsatzes ist aus der US-33 75 751 bekannt und
in Fig. 1(A) dargestellt. Dabei ist ein Lichtemissionsabschnitt
3 innerhalb eines Meßtisches 2 vorgesehen, auf welchen das zu messende
Objekt 1, beispielsweise ein Film, gelegt wird. Außerdem
ist ein Lichtaufnahmeabschnitt 4 vorgesehen, der beweglich oberhalb
des Meßtisches 2 angeordnet ist, derart, daß er in Gegenüberstellung
mit dem Lichtemissionsabschnitt 3 gebracht werden
kann. Der Lichtaufnahmeabschnitt 4 besteht aus einem zylindrischen
Kopf 4 a, der an einem Ende offen ist, und aus einem Lichtaufnahmeelement
4 b, etwa einem fotoelektrischen Umsetzer. Beim
Messen des Rasterpunktprozentsatzes mit dieser bekannten Vorrichtung
wird das zu messende Objekt 1 auf den Meßtisch 2 gelegt und
ein zu messender Bereich dieses Objekts 1 in einem bestimmten Meßbereich
der Vorrichtung gebracht, etwa in den Bereich der den Abschnitt
3 mit dem Abschnitt 4 verbindenden Linie. Daraufhin wird
der Lichtaufnahmeabschnitt 4 in Richtung des Pfeiles P abgesenkt,
um den Lichtaufnahmeabschnitt 3 in die in Fig. 1(B) dargestellte
Gegenüberstellung zu bringen, wobei dann die obere Öffnungskante
des Kopfes 4 a sich in direktem Kontakt mit dem zu messenden
Bereich des Objekts 1 befindet. Wenn das Außenlicht abgeschirmt
wird, dann sendet der Lichtemissionsabschnitt 3 vorgegebenes
Licht auf die untere Oberfläche des Objekts 1 in Richtung
des Kurzpfeiles Q von Fig. 1(B), so daß das Lichtaufnahmeelement
4 b im Abschnitt 4 nur solches Licht empfängt, welches durch das
Objekt 1 hindurchgegangen ist. Der Rasterpunktprozentsatz der
Dichte des Objekts 1 wird dann durch ein nicht dargestelltes Anzeigegerät
angezeigt, welches elektrisch mit dem Lichtaufnahmeelement
4 b verbunden ist.
Diese bekannte Meßvorrichtung weist jedoch mehrere Nachteile auf.
Der Aufbau der Meßvorrichtung ist kompliziert, weil die Vorrichtung
so gestaltet ist, daß der Lichtaufnahmeabschnitt gegen den
Lichtemissionsabschnitt, wie vorher erläutert, bewegt werden muß.
Die Bedienung der Meßvorrichtung ist beschwerlich und mühsam, weil
vor der Messung der zu messende Bereich des Objekts 1 genau in
die richtige Stellung und die obere Öffnungskante
des Kopfes 4 a in Berührung mit dem Meßbereich des Objekts 1
gebracht werden muß. Wenn somit der Rasterpunktprozentsatz gemessener
Dichte durch Reduktion korrigiert werden muß, dann ist es
erforderlich, in folgender Weise vorzugehen. Nachdem das Objekt 1
vom Meßtisch 2 abgenommen und an einem Waschtisch oder dergleichen
reduziert worden ist, muß das Objekt 1 erneut auf den Meßtisch
2 gelegt werden. Dies erhöht den Arbeitsaufwand und vermindert
die Effektivität.
Eine Messung des Rasterpunktprozentsatzes wird auch bei den Verfahren
der Rasterpunktfotografie und -entwicklung vorgenommen.
Dabei kann die Messung des Rasterpunktprozentsatzes mit der beschriebenen
bekannten Vorrichtung vorgenommen werden. Die bekannte
Meßvorrichtung ist jedoch nicht dazu geeignet, eine mehrfache
Durchführung der Messung vorzunehmen. Der Grund dafür ist, daß der
Meßabschnitt der üblichen Vorrichtung sich im unteren Bereich des
Gerätegehäuses befindet, so daß sich der Meßbereich außerhalb des
Gesichtsfeldes der Bedienungsperson befindet, was es sehr erschwert,
den Lichtmeßabschnitt exakt am zu messenden Bereich des Objektes
anzubringen. Für die Messung der Filmdichte ist es zwar nur erforderlich,
den erwähnten Einstellvorgang einmal vorzunehmen, bei der
Messung des Rasterpunktprozentsatzes jedoch muß die Bedienungsperson
den Lichtmeßabschnitt in sehr unbequemer Weise an den zu
messenden Bereich heranbringen, was für den Bedienenden sehr mühsam
ist.
Für die Messung des Rasterpunktprozentsatzes sind in der Praxis
zwei Verfahren bekannt. Bei dem ersten Verfahren wird die Tonabstufung
eines Rasterpunktfilms in ein elektrisches Signal umgesetzt,
beispielsweise durch eine Vidikon-Röhre, womit die Fläche
eines Bereiches des Films, wo die Dichte höher ist als einem vorgegebenen
Wert entsprechend, gemessen wird; dadurch erfolgt bei
diesem Verfahren die Messung des Rasterpunktprozentsatzes. Beim
zweiten Verfahren wird die Lichtdurchlässigkeit des zu messenden
Bereiches des Rasterpunktfilmes gemessen und daraus auf den Rasterpunktprozentsatz
geschlossen. Das erste Verfahren hat den Vorteil,
daß es von Randbereichen um die Rasterpunkte herum nicht beeinflußt
wird und deshalb die Messung theoretisch mit hoher Genauigkeit
erfolgen kann; nachteilig dabei ist jedoch, daß die Meßvorrichtung
groß und teuer und deshalb für den praktischen Einsatz
wenig geeignet ist. Der Nachteil des zweiten Verfahrens besteht
darin, daß es durch die erwähnten Randbereiche beträchtlich
beeinflußt wird und deshalb bei Rasterfotografie-Filmen mit großen
Randzonenbereichen wesentliche Fehler auftreten.
Im allgemeinen kann gesagt werden, daß der durch die Randzonen
entstehende Fehler bei Rasterpunktprozentsätzen von etwa 0% und
von etwa 100% klein oder gar Null ist, bei Rasterpunktprozentsätzen
um 50% dagegen groß ist. Um diesen Fehler zu korrigieren,
wird beim zweiten oben erwähnten Verfahren der Multiplikationsfaktor
des Anzeigegerätes feinjustiert oder das zu messende Durchgangslicht
einer fotoelektrischen Umsetzung unterworfen und dann
der Verstärkungsfaktor des sich ergebenden elektrischen Signals
feinjustiert. Bei diesem Korrekturverfahren wird ein Film mit bekanntem
Rasterpunktprozentsatz von vorzugsweise 5% hergestellt
und die Feinjustierung so vorgenommen, daß der angezeigte Wert
des Films mit dem tatsächlichen bekannten Wert übereinstimmt. Bei
einer derartigen Korrektur wird der sich aus den Randzonen ergebende
Fehler bei Rasterpunktprozentsätzen von etwa 0% und etwa
100% zufriedenstellend korrigiert, bei Rasterpunktprozentsätzen
von etwa 50% ist jedoch der Fehler immer noch sehr groß, wie aus
Fig. 2 verständlich wird. Die Relation zwischen dem Rasterpunktprozentsatz
und der Lichtdurchlässigkeit ist nicht linear, und
zwar aufgrund des Einflusses der erwähnten Randzonen, d. h., die
Relation kann durch eine Kennlinie ausgedrückt werden, die im Bereich
von 50% gekrümmt ist, wie sich aus den Fig. 3 und 4 ergibt.
Trotz dieser Tatsache gehen die vorbekannten Korrekturverfahren
davon aus, daß die Beziehung zwischen dem Prozentsatz und der
Lichtdurchlässigkeit linear ist und nehmen eine Feineinstellung
vor, welche eine geade Kennlinie voraussetzt. Wie gesagt bleibt
deshalb bei den bekannten Korrekturverfahren ein vergleichsweise
großer Fehler im Bereich von 50% bei erfolgter Fehlerkorrektur
bei den Prozentsätzen 0% und 100%.
Wenn ein Rasterpunktfilm einer Reduktion mit einem Eisenchelatreduktionsmittel
unterworfen wird, dann tritt eine Gelb-Braun-
Färbung dieses Bereichs auf. Wenn nun dieser Bereich nach dem
zweiten erwähnten Verfahren gemessen wird, dann wird die Lichtdurchlässigkeit
durch den angefärbten Bereich verändert, und die
Rasterpunktprozentsatz-Messung enthält einen Fehler. Dieser Fehler
hängt von der Stärke der Reduktion ab, und deshalb kann mit
dem zweiten Verfahren keine einwandfreie Korrektur erzielt werden.
Aufgabe der Erfindung ist deshalb, den Rasterprozentsatz eines
Rasterpunktfilms und
den Betrag der Reduktion eines
Rasterpunktfilms
genau und schnell messen zu können, wobei
der Effekt der Randzonen auf dem Rasterpunktfilm
bezüglich der Lichtdurchlässigkeit korrigiert wird, so daß
ein Meßergebnis hoher Genauigkeit entsteht.
Die Korrektur soll
dabei weiterhin durch einen Korrekturkreis einfachen Aufbaus bewirkt werden
können.
Die Lösung dieser Aufgabe ergibt sich aus den in den Patentansprüchen
gekennzeichneten Merkmalen.
Auf der Zeichnung zeigt
Fig. 1(A) eine Skizze zur Erläuterung einer bekannten Vorrichtung
zur Messung des Rasterpunktprozentsatzes,
Fig. 1(B) eine Skizze zur Erläuterung der Betriebsweise der Vorrichtung
nach Fig. 1(A),
Fig. 2 eine grafische Darstellung von Meßwerten, die mit einem
bekannten Korrekturverfahren erhalten werden,
Fig. 3 und 4 grafische Darstellungen korrigierter Lichtdurchlässigkeiten,
Fig. 5 eine perspektivische Ansicht einer Ausführungsform
einer Rasterpunktprozentsatz-
Meßvorrichtung nach der Erfindung,
Fig. 6 eine grafische Darstellung der optischen
Wellenlänge bezüglich der Lichtdurchlässigkeit,
Fig. 7 bis 10 Diagramme zur Erläuterung der erfindungsgemäßen
Korrektur,
Fig. 11 ein Diagramm zur Erläuterung einer weiteren
Ausführungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung,
Fig. 12 ein Schaltbild eines Teils der Meßvorrichtung,
Fig. 13 bis 15 grafische Darstellungen zur Erläuterung des
Betriebes der Meßvorrichtung von Fig. 11 und
Fig. 16 eine grafische Darstellung des Verhältnisses
zwischen Rasterpunktprozentsatz und Lichtdurchlässigkeit
sowie der Fehler bei der
tatsächlichen Messung.
Eine erste Ausführungsform einer Rasterpunktprozentsatz-Meßvorrichtung
nach der Erfindung ist in Fig. 5 dargestellt. Die Vorrichtung
weist einen langgestreckten Mikroskopkörper 10, mit dessen
Hilfe ein mit Rasterpunkten versehener Probestreifen 6 von
oben her beobachtet ist, sowie einen halbzylindrischen, den Rasterpunktprozentsatz
anzeigenden Körper 20 auf, der den mittleren
Bereich des Mikroskopkörpers 10 haltert und den Rasterpunktprozentsatz
an einem Meßgerät 22 anzeigt, das eine gleichmäßige
Skala aufweist. An der Außenwand des Körpers 20 sind ein Schalter
24 und ein Knopf 25 für die Nulljustierung vorgesehen.
Wird der Rasterpunktprozentsatz gemessen, dann kann aus diesem
Wert die Rasterpunktdichte rechnerisch ermittelt werden. Wird umgekehrt
die Dichte gemessen, dann kann daraus der Rasterpunktprozentsatz
rechnerisch ermittelt werden.
Wird für die Bestimmung des Rasterpunktprozentsatzes das durch
den messenden Körper hindurchgehende Licht gemessen, dann können
sich Fehler infolge einer Abnahme der Lichtdurchlässigkeit ergeben,
wobei diese Abnahme der Lichtdurchlässigkeit auf Randzonen
und auf die Gelb-Braun-Färbung beim Reduktionsvorgang beruht. Die
Abnahme der Lichtdurchlässigkeit infolge von Randzonen ist im
wesentlichen konstant, wenn die Bedingungen der Rasterfotografie
und -entwicklung konstant sind; eine Korrektur kann deshalb mit
einem vorbestimmten Wert erfolgen. Nimmt jedoch die Lichtdurchlässigkeit
zusätzlich noch infolge eines Reduktionsvorganges ab, so
ist es schwierig, einen genauen Korrekturwert für die Lichtdurchlässigkeit
des einer Reduktion unterworfenen Rasterfilmes festzulegen.
In Fig. 6 ist das Ergebnis von Messungen der spektralen
Lichtdurchlässigkeit eines Bereiches dargestellt, der sich bei einem
Reduktionsvorgang mit Eisenchelat braun gefärbt hat. Gemäß
Fig. 6 ist dabei die Lichtdurchlässigkeit derart, daß im Ultraviolettbereich
das braune Testobjekt kaum noch eine Durchlässigkeit
zeigt, daß im sichtbaren Bereich die Durchlässigkeit abrupt
ansteigt und schließlich im Infrarotbereich über 80% beträgt. Demgemäß
wird also die Rasterpunktprozentsatz-Messung mit Licht im
Ultraviolettbereich und im sichtbaren Bereich durch die bei der
Reduktion gefärbten Bereiche stark beeinflußt. Bei Verwendung
von Infrarotlicht dagegen wird die Rasterpunktprozentsatz-Messung
durch solche gefärbte Bereiche wesentlich weniger beeinflußt.
Dies wird sich noch deutlicher anhand der Fig. 7, 8, 9 und 10
zeigen lassen.
Ein erstes Beispiel ist in den Fig. 7 und 8 gezeigt, wobei eine
Jodlampe als Lichtquelle und eine Silizium-Fotodiode als Lichtaufnahmekörper
verwendet sind. Ein zweites Beispiel ist in den
Fig. 9 und 10 dargestellt, wobei zusätzlich zu den Elementen des
ersten Beispiels ein optischer Filter verwendet ist, der für das
ultraviolette und das sichtbare Licht undurchlässig ist. Die Fig.
7 und 9 zeigen die Kurve relativer Empfindlichkeit der Fotodiode
bezüglich der verwendeten Wellenlänge des übertragenen Lichtes.
Die Fig. 8 und 10 zeigen die sich durch die Reduktion ergebende
Fehlergröße. Aus der grafischen Darstellung ergibt sich deutlich,
daß beim ersten Beispiel die größte Empfindlichkeit bezüglich
des infraroten Lichtes besteht, daß aber auch eine Empfindlichkeit
gegenüber dem sichtbaren Licht vorhanden ist. Demgemäß
ist beim ersten Beispiel ein Einfluß der beim Reduktionsverfahren
angefärbten Bereiche vorhanden, mit der Folge, daß der Meßfehler
mit steigendem Reduktionsbetrag ebenfalls ansteigt. Beim zweiten
Beispiel, bei dem zusätzlich ein optischer Filter verwendet ist,
welcher die Empfindlichkeit der Fotodiode bezüglich des ultravioletten
und des sichtbaren Lichtes herabsetzt, wird die Rasterpunktprozentsatz-Messung
von den beim Reduktionsprozeß angefärbten
Bereichen nur sehr wenig beeinflußt, und darüber hinaus wird
eine Veränderung des Meßfehlers infolge Anstiegs des Reduktionsbetrages
im wesentlichen unterdrückt, wie dies aus Fig. 10 ersichtlich
ist. Derselbe Effekt kann auch dadurch erhalten werden,
daß man eine Lichtquelle verwendt, welche kein ultraviolettes
und kein sichtbares Licht aussendet. Wird also zur Fehlerstabilisierung
der Einfluß der Reduktion auf diese Weise ausgeschaltet,
dann kann der Lichtdurchlässigkeit bzw. den sich darauf beziehenden
Daten eine Fehlerfunktion gemäß Fig. 4 (die Fehlerkurve
ist derart, daß die Lichtdurchlässigkeit bei 0% und 100% gering,
dagegen bei etwa 50% maximal ist) als Korrekturfunktion bzw.
in Form von Korrekturdaten hinzugefügt werden, mit der Folge,
daß für den Rasterpunktprozentsatz sehr exakte Meßergebnisse erhalten
werden.
Eine Vorrichtung, mit deren Hilfe eine derartige Korrektur vorgenommen
werden kann, ist in Fig. 11 dargestellt.
Bei der Vorrichtung nach Fig. 11 wird von einer Lichtquelle 121
ausgesendetes Licht durch einen Testkörper 122 hindurchgeleitet
und dann durch ein Linsensystem 123 und ein Filter 124 hindurch
auf einen fotoelektrischen Umsetzer 125 gegeben, dessen Ausgang
dann elektrische Daten über die Menge des durch den Testkörper
hindurchgegangenen Lichtes darstellt. Da der Filter 124 nur Infrarotlicht
hindurchläßt, wird der Einfluß der Reduktion ausgeschaltet.
Der Ausgang des fotoelektrischen Umsetzers 125 wird verstärkt,
das heißt durch den Verstärker 126 auf den Betriebspegel eines
damit verbunden Korrekturkreises 127 angehoben. Nach Durchführung
der oben beschriebenen Korrektur wird dann der Rasterpunktprozentsatz
auf einer Anzeigevorrichtung 128 angezeigt. Wird die
Lichtquelle 121 mit Wechselstrom betrieben, dann sollte zweckmäßigerweise
ein auf der Zeichnung nicht dargestellter Kreis vorgesehen
werden, der von Lichtschwankungen hervorgerufene Schwankungen
zwischen Verstärker 126 und Korrekturkreis 127 unterdrückt.
Im allgemeinen ist der Einfluß der erwähnten Randbereiche im wesentlichen
dann konstant, wenn die Bedingungen der Rasterfotografie
und -entwicklung fest sind. Der Einfluß der Randbereiche
kann deshalb durch Voreinstellung von Korrekturdaten korrigiert
werden. Solche Korrektionsdaten können dadurch gewonnen werden,
daß man die Daten von Fig. 4 denjenigen Daten hinzuaddiert, welche
proportional zur Lichtdurchlässigkeit sind.
Ein Schaltkreis zur Erzeugung solcher Korrekturdaten ist in Fig. 12
dargestellt. Dieser Schaltkreis besteht aus Operationsverstärker
OP 1 und OP 2, einer Diode D und aus Widerständen R 1 bis R 5. Der
Ausgang Vr des Betriebsverstärkers OP 1 wird bezüglich seines Verstärkungsfaktors
bei der Eingangsspannung · V B geändert,
wie es in Fig. 13 dargestellt ist, d. h. die Kennlinie ist polygonal.
Werden die eine solche Kennlinie aufweisende Spannung Vr
und die Eingangsspannung Vs in einem geeigneten Verhältnis im Betriebsverstärker
OP 2 addiert, dann wird gemäß Fig. 14 ein Signal
erhalten, das angenähert die gewünschte Korrektur aufweist. mit
anderen Worten, die Eingangsspannung Vs ist ein der Lichtdurchlässigkeit
proportionales elektrisches Signal, während die Spannung
V D ein elektrisches Signal ist, welches angenähert den Korrekturbetrag
für die Lichtdurchlässigkeit (Fig. 4) darstellt.
Wird das Korrektursignal in einem geeigneten Verhältnis dem der
Lichtdurchlässigkeit proportionalen Signal hinzuaddiert, wie es
in Fig. 15 dargestellt ist, dann kann der Betrag der Lichtdurchlässigkeit
im Bereich von 50% in gewünschter Weise korrigiert
werden, ohne dabei die Beträge bei 0% und bei 100% zu beeinflussen.
Der Betrag Vo ist somit der oben erwähnte Vorgabe-Korrekturwert.
Die auf tatsächlichen Messungen beruhende Kurve von Fig. 16
zeigt, welche tatsächlichen Fehler bei der auf Lichtdurchlässigkeitsmessungen
beruhenden Rasterpunktprozentsatz-Messung auftreten.
Diese Kurve ist dadurch erhalten worden, daß die Testergebnisse
von etwa 30 Proben gemittelt wurden. Der Fehlerbetrag wird
dabei folgendermaßen definiert. Als Bezugswert wird dabei ein
Meßwert verwendet, der gemäß der oben beschriebenen Methode erhalten
worden ist. Der Betrag der Abweichung eines aus der Gleichung
Ap = (1-T) · 100% (wobei Ap der Rasterpunktprozentsatz und T die
Lichtdurchlässigkeit ist) errechneten Wertes vom obigen Bezugswert
soll dabei den Fehlerbetrag darstellen. Die eine Korrekturfunktion
darstellende, strichpunktierte Linie ist eine polygonale
Länge mit nur einem Knickpunkt, so daß die Fehlerbeträge bei den
Rasterpunktprozentsätzen Ap = 5%, 45% und 100% zusammenfallen.
Diese strichpunktierte Korrekturfunktionskurve weist beträchliche
Fehler von über 1% in den Bereichen der Prozentsätze Ap 70
bis 90% auf. Diese Fehler könnten zwar dadurch vermindert werden,
daß man den Knickpunkt in die Nähe von Ap = 55 bis 60% legt, jedoch
wird in diesem Fall dann ein Fehler von mehr als 1% in der
Nähe von Ap = 35 bis 45% auftreten. Zur Erhöhung der Genauigkeit
ist es deshalb erforderlich, die Zahl von Knickpunkten zu erhöhen.
Die gestrichelte Linie von Fig. 16 besitzt einen zusätzlichen
Knickpunkt bei Ap = 80%, womit dann die Fehler im Bereich zwischen
Ap = 70 bis 90% vermindert werden. Das heißt, die gestrichelte
Linie stellt eine polygonale Linie mit zwei Knickstellen
dar, welche sich der tatsächlichen Meßkurve - ausgezogene Linie -
besser annähert. Mit der Erhöhung der Anzahl von Knickstellen
wird aber andererseits auch die Anzahl der Einstellpunkte erhöht.
Sind also zwei Knickpunkte vorhanden, so müssen sechs Faktoren
eingeführt werden, weil jeder Einstellpunkt für die Annäherung
drei Positionen in einer Ebene repräsentiert.
Claims (3)
1. Rasterpunktprozentsatz-Meßvorrichtung, mit welcher
die Lichtdurchlässigkeit eines bestimmten Bereiches
eines als Testobjekt verwendeten Rasterfilms gemessen und daraus
der Rasterpunktprozentsatz ermittelt wird, gekennzeichnet
durch einen Filter (62), der in den optischen Weg der
Vorrichtung eingesetzt ist und nur infrarotes Licht hindurchläßt.
2. Rasterpunktprozentsatz-Meßvorrichtung nach Anspruch 1,
gekennzeichnet durch einen Korrekturkreis (127) zum Umsetzen
eines Signals, dessen Fehler bei einer Lichtdurchlässigkeit von
0% und von 100% klein oder Null ist und bei einer Lichtdurchlässigkeit
von etwa 50% groß bzw. maximal ist, in ein Signal,
das bezüglich der Lichtdurchlässigkeit die richtige lineare Abhängigkeit
aufweist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß der Rasterpunktprozentsatz durch die Funktion
Ap = (1 - α T + β T m ) × 100angenähert wird, wobei Ap den Rasterpunktprozentsatz und T
die durch den Ausdruck (0≦T≦1) definierte Lichtdurchlässigkeit
ist und m (≧1) sowie α, β (≧0) Konstanten sind.
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11015077A JPS5443767A (en) | 1977-09-13 | 1977-09-13 | Device for measuring area ratio of net crossings |
| JP1978038440U JPS6229922Y2 (de) | 1978-03-25 | 1978-03-25 | |
| JP10018878A JPS5527909A (en) | 1978-08-17 | 1978-08-17 | Measuring instrument for area ratio of mesh point |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE2858765C2 true DE2858765C2 (de) | 1989-10-26 |
Family
ID=27289828
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19782839692 Granted DE2839692A1 (de) | 1977-09-13 | 1978-09-12 | Rasterpunktprozentsatz-messvorrichtung |
| DE19782858765 Expired DE2858765C2 (de) | 1977-09-13 | 1978-09-12 | Rasterpunktprozentsatz-messvorrichtung |
Family Applications Before (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19782839692 Granted DE2839692A1 (de) | 1977-09-13 | 1978-09-12 | Rasterpunktprozentsatz-messvorrichtung |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4264210A (de) |
| DE (2) | DE2839692A1 (de) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19842573A1 (de) * | 1998-09-17 | 2000-04-13 | Heidelberger Druckmasch Ag | Verfahren zur farbadaptiven Kopierretusche bei der elektronischen Farbbildreproduktion |
| DE10312457A1 (de) * | 2003-03-20 | 2004-09-30 | Fogra Forschungsgesellschaft Druck E.V. | Verfahren zur Bestimmung der auf einem Trägermaterial erzielten Pixelgröße eines Schreibstrahls sowie dessen Verwendung zur Bestimmung des absoluten Tonwerts |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56154605A (en) * | 1980-05-01 | 1981-11-30 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Measuring method and device for mesh image density or mesh area rate |
| JPS56154604A (en) * | 1980-05-01 | 1981-11-30 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Measuring method and device for mesh image density or mesh area rate |
| JPS5793347A (en) * | 1980-12-01 | 1982-06-10 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Correcting circuit in measuring device for halftone dot area rate |
| DE3380097D1 (en) * | 1982-12-20 | 1989-07-27 | Gretag Ag | Transmission densitometer |
| US4749213A (en) * | 1985-11-04 | 1988-06-07 | The Standard Register Co. | Secure financial instrument |
| DE3723701A1 (de) * | 1987-07-17 | 1989-02-02 | Krzyminski Harald | Handmessgeraet zur optischen reflexionsmessung |
| DE4305968C2 (de) * | 1993-02-26 | 1996-04-04 | Techkon Elektronik Gmbh | Handmeßgerät für Remissionsmessungen an farbigen Kontrollfeldern von Druckbogen |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3375751A (en) * | 1964-03-16 | 1968-04-02 | Barnes Eng Co | Negative and print densitometer |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3053181A (en) * | 1958-10-30 | 1962-09-11 | Lithographic Technical Foundat | Method for controlling print quality for lithographic presses |
| US3393602A (en) * | 1963-11-22 | 1968-07-23 | David S. Stouffer | Light density scanning device |
| US4029958A (en) * | 1975-07-25 | 1977-06-14 | Crown Cork & Seal Company, Inc. | Apparatus for inspecting containers |
-
1978
- 1978-09-11 US US05/941,174 patent/US4264210A/en not_active Expired - Lifetime
- 1978-09-12 DE DE19782839692 patent/DE2839692A1/de active Granted
- 1978-09-12 DE DE19782858765 patent/DE2858765C2/de not_active Expired
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3375751A (en) * | 1964-03-16 | 1968-04-02 | Barnes Eng Co | Negative and print densitometer |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19842573A1 (de) * | 1998-09-17 | 2000-04-13 | Heidelberger Druckmasch Ag | Verfahren zur farbadaptiven Kopierretusche bei der elektronischen Farbbildreproduktion |
| DE10312457A1 (de) * | 2003-03-20 | 2004-09-30 | Fogra Forschungsgesellschaft Druck E.V. | Verfahren zur Bestimmung der auf einem Trägermaterial erzielten Pixelgröße eines Schreibstrahls sowie dessen Verwendung zur Bestimmung des absoluten Tonwerts |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4264210A (en) | 1981-04-28 |
| DE2839692A1 (de) | 1979-03-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0020855B1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Eichung eines Farbkopiergerätes | |
| DE3441162C2 (de) | Einrichtung zum Korrigieren von Kontrastverlusten bei angiographischen Bilddarstellungen | |
| DE2858765C2 (de) | Rasterpunktprozentsatz-messvorrichtung | |
| DE19830395A1 (de) | Verfahren zur berührungslosen Messung von strangförmigem Fasergut | |
| DE3117337C2 (de) | ||
| EP0586773B1 (de) | Verfahren zur Erstellung von Kopien von fotografischen Kopiervorlagen | |
| DE962940C (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Messung paralleler Kanten an feststehendem oder durchlaufendem Gut, vorzugsweise bandfoermigem Gut | |
| DE2914534C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Betrags der Reduktion eines Rasterfilms | |
| DE3105297C2 (de) | Laser-Messer | |
| DE1522866B2 (de) | Verfahren zur Steuerung der Belichtung bei der Herstellung photographischer Kopien | |
| DE3048729A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur automatischen belichtungssteuerung in einem fotografischen farbkopiergeraet | |
| DE2426840C3 (de) | Meßstreifen | |
| EP0197093B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum eichen eines fotografischen farbvergrösserungs- oder kopiergerätes | |
| DE69213940T2 (de) | Verfahren zur Kalibrierung einer mit Röntgenstrahlung arbeitenden Schichtdickenmesseinrichtung | |
| DE69325111T2 (de) | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der feld-grösse und feld-forme des strahlungskonus von ionisierender strahlungsquelle | |
| DE3211059C2 (de) | ||
| DE1698168A1 (de) | Einrichtung zur selbsttaetigen Messung fehlerhafter Stellen in einem sich bewegenden Band | |
| DE2700959C2 (de) | Verfahren zur Messung der photographischen Dichte | |
| DE1042374B (de) | Verfahren zur Herstellung von Farbkopien | |
| DE4217050C1 (de) | Vorrichtung zum digitalisieren auf einem bildtraeger aufgenommener bilder | |
| DE2703415C3 (de) | Fotografisches Kopiergerät | |
| CH655183A5 (de) | Verfahren und vorrichtung zur farbauftragsbestimmung einer aufsichtsbildvorlage. | |
| DE827585C (de) | Vorrichtung zum Messen der Lichtdurchlaessigkeit photographischer Negative beim Kopieren | |
| DE2455188A1 (de) | Eichgeraet fuer die helligkeit einer scintillationskamera | |
| DE1639385C3 (de) | Gerät zum Bestimmen der Verteilung radioaktiver Stoffe in einem Körper durch mäanderformige Abtastung |