DE2839692A1 - Rasterpunktprozentsatz-messvorrichtung - Google Patents

Rasterpunktprozentsatz-messvorrichtung

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Description

Firma DAI NIPPON INSATSU KABUSHIKI KAISHA, 12, Kaga-Cho 1-Chome, Ichigaya, Shinjuku-Ku, Tokyo-To, Japan
Rasterpunktprozentsatz-Meßvorrichtung
Die Erfindung betrifft eine Rasterpunktprozentsatz-Meßvorrichtung. Die Tonabstufung einer Halbtonkopie, beispielsweise einer Fotografie, wird beim Druck durch Rasterpunkte unterschiedlicher Größe dargestellt. Dabei wird die Halbtonkopie mittels Fotografie durch einen Raster oder einen Kontaktraster hindurch auf einen Film übertragen, der als Rasternegativ oder als Rasterpositiv bezeichnet wird, wobei die Tonabstufung der Kopie durch Rasterpunkte unterschiedlicher Größe wiedergegeben wird, worauf dann von diesem Film eine Druckplatte hergestellt wird.
Der Ausdruck "Rasterpunktprozentsatz" soll hier den Prozentsatz der Gesamtfläche der Rasterpunkte bezüglich einer Einheitsfläche eines solchen Rasterpositivs oder Rasternegativs oder eines mit Rasterpunkten bedruckten Materials bezeichnen. Der Betrag des Rasterpunktprozentsatzes beeinflußt wesentlich die Tönung und Graduation von bedrucktem Material.
Unterscheidet sich der erhaltene Rasterpunktprozentsatz von einem vorausbestimmten Prozentsatz, so kann er korrigiert werden,
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und zwar dadurch, daß das Rasterpositiv oder das Rasternegativ einem Reduktionsvorgang unterworfen wird, wobei diese Reduktion eines der bekannten Verfahren zur Korrektur des Rasterprozentsatzes darstellt. Bei der Reduktion wird der fotografierte Film mit einem Reduktionsmittel abgewaschen, um die Dichte des Bildes zu vermindern. Bei einem mit Rasterpunkten bedruckten Material ergibt sich dabei der Effekt, daß ein Randbereich um die Rasterpunkte, der eine niedrige Dichte besitzt und als Randbereich bezeichnet wird, transparent wird; das bedeutet, daß der Rasterpunktprozentsatz zur Korrektur des bedruckten Materials vermindert wird. Beim Drucken mit Rasterpunkten stellt der Rasterpunktprozentsatz einen der wesentlichen Faktoren dar, welche die Qualität des bedruckten Materials bestimmen,und demgemäß ist es wesentlich, den Rasterpunktprozentsatz während des gesamten Druckvorgangs von der Herstellung der Vorlage bis zum Drucken zu überprüfen.
Bei einem Offset-Retuschierverfahren ist es notwendig, den Rasterpunktprozentsatz nach erfolgter Reduktion zu messen und die Gestalt der Rasterpunkte zu beobachten, insbesondere, ob die Rasterpunkte deformiert worden sind oder nicht.
Wenn die Rasterpunkte durch sehr starke Reduktion sehr klein werden oder wenn die Messungen kleinere Rasterpunkte ergeben, dann ist es erforderlich, daß die Rasterpunkte nochmals fotografiert und mit den ursprünglichen Rasterpunkten verglichen werden. Bisher werden die Rasterpunkte im allgemeinen durch visuelles Beobachten überwacht. Die visuelle Beobachtung hat jedoch Nachteile in der Weise, daß subjektive Fehler auftreten und es ist deshalb notwendig, für diese visuelle Beobachtung äußerst geschulte Per-
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-8-
sonen einzusetzen. Durch Rasterpunkt-Fotografie erzeugte Rasterpunkte sind sehr weich und weisen Randzonen auf, so daß die Beobachtungsperson die Größe der Rasterpunkte in seinem Gesichtsfeld einschließlich der Randzonen ermittelt, mit der Folge, daß eine Rasterpunktgröße festgestellt wird, die größer ist als die Rasterpunkte tatsächlich sind.
Obwohl die bei der Reduktion tatsächlich erforderlichen Werte nicht den absoluten Prozentwert betreffen, sondern die Differenz zwischen dem Rasterpunktprozentsatz vor und dem Rasterpunktprozentsatz nach Reduktion, gibt es bisher keine Vorrichtung, welche den Reduktionsbetrag anzeigt.
Ein übliches Gerät zur Messung des Rasterpunktprozentsatzes ist in Fig. 1(A) dargestellt. Dabei ist ein Lichtemissionsabschnitt 3 innerhalb eines Meßtisches 2 vorgesehen, auf welchei das zu messende Objekt 1, beispielsweise ein Film, gelegt wird. Außerdem ist ein Lichtaufnahmeabschnitt 4 vorgesehen, der beweglich oberhalb des Meßtisches 2 angeordnet ist, derart, daß er in Gegenüberstellung mit dem Lichtemissionsabschnitt 3 gebracht werden kann. Der Lichtaufnahmeabschnitt 4 besteht aus einem zylindrischen Kopf 4a, der an einem Ende offen ist, und aus einem Lichtaufnahmeelement 4b, etwa einem fotoelektrischen Umsetzer. Beim Messen des Rasterpunktprozentsatzes mit dieser bekannten Vorrichtung wird das zu messende Objekt 1 auf den Meßtisch 2 gelegt und ein zu messender Bereich dieses Objekts 1 in einem bestimmten Meßbereich der Vorrichtung gebracht, etwa in den Bereich der den Abschnitt 3 mit dem Abschnitt 4 verbindenden Linie« Daraufhin wird der Lichtaufnahmeabschnitt 4 in Richtung des Pfeiles P abgesenkt,
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um den Lichtaufnahmeabschnitt 3 in die in Fig. 1(B) dargestellte Gegenüberstellung zu bringen, wobei dann die obere Öffnungskante des Kopfes 4a sich in direktem Kontakt mit dem zu messenden Bereich des Objekts 1 befindet. Wenn das Außenlicht abgeschirmt wird, dann sendet der Lichtemissionsabschnitt 3 vorgegebenes Licht auf die untere Oberfläche des Objekts 1 in Richtung des Kurzpfeiles Q von Fig. 1(B), so daß das Lichtaufnahmeelement 4b im Abschnitt 4 nur solches Licht empfängt, welches durch das Objekt 1 hindurchgegangen ist. Der Rasterpunktprozentsatz der Dichte des Objekts 1 wird dann durch ein nicht dargestelltes Anzeigegerät angezeigt, welches elektrisch mit dem Lichtaufnahmeelement 4b verbunden ist.
Diese bekannte Meßvorrichtung weist jedoch mehrere Nachteile auf. Der Aufbau der Meßvorrichtung ist kompliziert, weil die Vorrichtung so gestaltet ist, daß der Lichtaufhahmeabschnitt gegen den Lichtemissionsabschnitt, wie vorher erläutert, bewegt werden muß. Die Bedienung der Meßvorrichtung ist beschwerlich und mühsam, weil vor der Messung der zu messende Bereich des Objekts 1 genau in die richtige Stellung * und die obere Öffnungskante des Kopfes 4a in Berührung mit dem Meßbereich des Objekts 1 gebracht werden muß. Wenn somit der Rasterpunktprozentsatz gemessener Dichte durch Reduktion korrigiert werden muß, dann ist es erforderlich, in folgender Weise vorzugehen. Nachdem das Objekt vom Meßtisch 2 abgenommen und an einem Waschtisch oder dergleichen reduziert worden ist, muß das Objekt 1 erneut auf den Meßtisch 2 gelegt werden. Dies erhöht den Arbeitsaufwand und vermindert die Effektivität.
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Eine Messung des Rasterpunktprozentsatzes wird auch bei den Verfahren der Rasterpunktfotografie und -entwicklung vorgenommen. Dabei kann die Messung des Rasterpunktprozentsatzes mit der beschriebenen bekannten Vorrichtung vorgenommen werden. Die bekannte Meßvorrichtung ist jedoch nicht dazu geeignet, eine mehrfache Durchführung der Messung vorzunehmen. Der Grund dafür ist, daß der Meßabschnitt der üblichen Vorrichtung sich im unteren Bereich des Gerätegehäuses befindet, so daß sich der Meßbereich außerhalb des Gesichtsfeldes der Bedienungsperson befindet, was es sehr erschwert, den Lichtmeßabschnitt exakt am zu messenden Bereich des Objektes anzubringen. Für die Messung der Filmdichte ist es zwar nur erforderlich, den erwähnten Einstellvorgang einmal vorzunehmen, bei der Messung des Rasterpunktprozentsatzes jedoch muß die Bedienungsperson den Lichtmeßabschnitt in sehr unbequemer Weise an den zu messenden Bereich heranbringen, was für den Bedienenden sehr mühsam ist.
Für die Messung des Rasterpunktprozentsatzes sind in der Praxis zwei Verfahren bekannt. Bei dem ersten Verfahren wird die Tonabstufung eines Rasterpunktfilms in ein elektrisches Signal umgesetzt, beispielsweise durch eine Vidikon-Röhre, womit die Fläche eines Bereiches des Films, wo die Dichte höher ist als einem vorgegebenen Wert entsprechend, gemessen wird; dadurch erfolgt bei diesem Verfahren die Messung des Rasterpunktprozentsatzes. Beim zweiten Verfahren wird die Lichtdurchlässigkeit des zu messenden Bereiches des Rasterpunktfilmes gemessen und daraus auf den Rasterpunktprozentsatz geschlossen. Das erste Verfahren hat den Vorteil, daß es von Randbereichen um die Rasterpunkte herum nicht beeinflußt wird und deshalb die Messung theoretisch mit hoher Genauigkeit erfolgen kann; nachteilig dabei ist jedoch, daß die Meß-
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vorrichtung groß und teuer und deshalb für den praktischen Einsatz wenig geeignet ist. Der Nachteil des zweiten Verfahrens besteht darin, daß es durch die erwähnten Randbereiche beträchtlich beeinflußt wird und deshalb bei Rasterfotografie-Filmen mit grossen Randzonenbereichen wesentliche Fehler auftreten.
Im allgemeinen kann gesagt werden, daß der durch die Randzonen entstehende Fehler bei Rasterpunktprozentsätzen von etwa 0% und von etwa 100% klein oder gar Null ist, bei Rasterpunktprozentsätzen um 50% dagegen groß ist. Um diesen Fehler zu korrigieren, wird beim zweiten oben erwähnten Verfahren der Multiplikationsfaktor des Anzeigegerätes feinjustiert oder das zu messende Durchgangslicht einer fotoelektrischen Umsetzung unterworfen und dann der Verstärkungsfaktor des sich ergebenden elektrischen Signals feinjustiert. Bei diesem Korrekturverfahren wird ein Film mit bekanntem Rasterpunktprozentsatz von vorzugsweise 5% hergestellt und die Feinjustierung so vorgenommen, daß der angezeigte Wert des Films mit dem tatsächlichen bekannten Wert übereinstimmt. Bei einer derartigen Korrektur wird der sich aus den Randzonen ergebende Fehler bei Rasterpunktprozentsätzen von etwa 0% und etwa 100% zufriedenstellend korrigiert, bei Rasterpunktprozentsätzen von etwa 50% ist jedoch der Fehler immer noch sehr groß, wie aus Fig. 2 verständlich wird. Die Relation zwischen dem Rasterpunktprozentsatz und der Lichtdurchlässigkeit ist nicht linear, und zwar aufgrund des Einflusses der erwähnten Randzonen, d.h., die Relation kann durch eine Kennlinie ausgedrückt werden, die im Bereich von 50% gekrümmt ist, wie sich aus den Fig. 3 und 4 ergibt. Trotz dieser Tatsache gehen die vorbekannten Korrekturverfahren davon aus, daß die Beziehung zwischen dem Prozentsatz und der Lichtdurchlässigkeit linear ist und nehmen eine Feineinstellung
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vor, welche eine gerade Kennlinie voraussetzt. Wie gesagt bleibt deshalb bei den bekannten Korrekturverfahren ein vergleichsweise großer Fehler im Bereich von 50% bei erfolgter Fehlerkorrektur bei den Prozentsätzen 0% und 100%-
Wenn ein Rasterpunktfilm einer Reduktion mit einem Eisenchelatreduktionsmittel unterworfen wird, dann tritt eine Gelb-Braun— Färbung dieses Bereichs auf. Wenn nun dieser Bereich nach dem zweiten erwähnten Verfahren gemessen wirdr dann wird die Lichtdurchlässigkeit durch den angefärbten Bereich verändert und die Rasterpunktprozentsatz-Messung enthält einen Fehler- Dieser Fehler hängt von der Stärke der Reduktion ab, und deshalb kann mit dem zweiten Verfahren keine einwandfreie Korrektur erzielt werden.
Aufgabe der Erfindung ist deshalb, den Rasterprozentsatz eines Rasterpunktfilms genau und schnell messen zu können, wobei in der Meßvorrichtung ein Lichtaufnahmeabschnitt und ein Anzeigeabschnitt eine Einheit bilden. Der Betrag der Reduktion eines Rasterpunktfilms und dessen Rasterpunktprozentsatz sollen auf einfache Weise ebenfalls messbar sein. Ferner sollen durch einfache und zeitsparende Vorgänge beim Druckvorgang der Rasterpunktprozentsatz und der Reduktionsbetrag exakt festgestellt werden können. Dabei soll der Effekt der Randzonen auf dem Rasterpunktfilm bezüglich der Lichtdurchlässigkeit korrigiert werden, so daß ein Meßergebnis hoher Genauigkeit entsteht. Die Korrektur soll dabei durch einen Korrekturkreis einfachen Aufbaus bewirkt werden können.
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Die Lösung dieser Aufgabe ergibt sich aus den in den Patentansprüchen gekennzeichneten Merkmalen.
Auf der Zeichnung zeigen:
Fig. 1(A) eine Skizze zur Erläuterung einer bekannten Vorrichtung zur Messung des Rasterpunktprozentsatzes,
Fig. 1(B) eine Skizze zur Erläuterung der Betriebsweise der Vorrichtung nach Fig. 1(A),
Fig. 2 eine grafische Darstellung von Meßwerten, die mit einem bekannten Korrekturverfahren erhalten werden,
Fig. 3 grafische Darstellungen korrigierter Lichtdruchlässig- und 4
keiten,
Fig. 5 eine perspektivische Ansicht einer ersten.Ausführungsform einer Rasterpunktprozentsatz-Meßvorrichtung nach
der Erfindung,
Fig. 6 eine Skizze, teilweise als Blockschaltbild, zur Erläuterung des Innenaufbaus der Vorrichtung nach Fig. 5,
Fig. 7 eine perspektivische Darstellung einer Abwandlungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung mit zusätzlicher Anzeige des Reduktionsbetrages,
Fig. 8 Skizzen, teilweise als Blockschaltbilder, zur Erläute- und 9 '
rung des Innenaufbaus der Vorrichtung von Fig. 7,
Fig. 10 eine Erläuterungsskizze einer weiteren Ausführungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung,
Fig.11 perspektivische Darstellungen verschiedener Ausführungsbis 14
formen der erfindungsgemäßen Meßvorrichtung,
Fig.15 einen Querschnitt nach der Linie V-V von Fig. 11,
Vertikalschnitte durch versch:
eines Lichtaufnahmezylinders,
Fig.16(A) Vertikalschnitte durch verschiedene Ausführungsformen
16(B) und
16(C)
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Fig.17 Querschnitte durch Abwandlungsformen des Zylinders und 18
von Fig. 11,
Fig.19 ein Blockschaltbild des Signalverarbeitungskreises, Fig.20 einen positiven und negativen Schaltkreis, Fig.21 eine grafische Darstellung der optischen Wellenlänge bezüglich der Lichtdurchlässigkeit,
Fig.22 Diagramme zur Erläuterung der erfindungsgemäßen Korrekbis 25
tür,
Fig.26 ein Diagramm zur Erläuterung einer weiteren Ausführungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung, Fig.27 ein Schaltbild eines Teils der Meßvorrichtung von Fig.26,
Fig.28 grafische Darstellungen zur Erläuterung des Betriebs bis 30
der Meßvorrichtung von Fig. 26,
Fig.31 eine grafische Darstellung des Verhältnisses zwischen Rasterpunktprozentsatz und Lichtdurchlässigkeit sowie der Fehler bei der tatsächlichen Messung,
Fig.32 ein Diagramm zur Erläuterung eines wieteren Ausführungsbeispiels der erfindungsgemäßen Meßvorrichtung,
Fig.33 ein Schaltbild einer Ausführungsform eines optischen Detektors für die Vorrichtung von Fig. 32,
Fig.34 ' ein Blockschaltbild eines Beispiels eines Konturkreises nach der Erfindung,
Fig.35 Diagramme weiterer Beispiele von Meßvorrichtungen und 36
nach der Erfindung,
Fig.37 ein Blockschaltbild einer weiteren Ausführungsform eines Korrekturkreises nach der Erfindung,
Fig.38 eine grafische Darstellung des Verhältnisses zwischen dem Rasterpunktprozentsatz und dem Fehler tatsächlicher Meßwerte bei Verwendung des Korrekturkreises von Fig.37,
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Fig.39 Blockschaltbilder weiterer Beispiele für Korrektur- und 41
kreise nach der Erfindung, und
Fig.40 grafische Darstellung der Korrekturkennlinien der Korund 42
rekturkreise der Fig. 39 und
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Eine erste Ausführungsforrai einer Rasterponktprazentsatz-Meßvorrichtung nach der Erfindung ist in Fig. 5 dargestellt. Die Vorrichtung weist einen langgestreckten Mikroskopkörper TO, mit dessen Hilfe ein mit Rasterpunkten versehener Probestreifen 6 von oben her beobachtbar ist, sowie einen halbzylindrischen, den Rasterpunktprozentsatz anzeigenden Körper 20 auf, der den mittleren Bereich des Mikroskopkörpers 10 haltert und den Rasterpunktprozentsatz an einem Meßgerät 22 anzeigt, das eine gleichmäßige Skala aufweist. An der Außenwand des Körpers 20 sind ein Schalter 24 und ein Knopf 25 für die Nulljustierung vorgesehen. Der Innenaufbau dieser Vorrichtung ist in Fig. 6 dargestellt. Nach Fig. 6 weist der Mikroskopkörper 10 eine Objektivlinse 11, einen halbdurchlässigen Spiegel 12 und ein Okular 13 auf. Der den Rasterpunktprozentsatz anzeigende Körper 20 besteht aus einem fotoelektrischen umsetzer 23, der die vom Spiegel 12 reflektierte Lichtmenge in elektrische Daten umsetzt, und dem Meßgerät 22, das auf seiner gleichmäßige Abstände aufweisenden Skala die elektrischen Daten anzeigt. Während der Beobachtung wird der Teststreifen 6 durch eine Lampe 7 oder vom natürlichen Licht beleuchtet.
Wenn die Rasterpunkte auf dem Teststreifen durch ein Reduktionsmittel einer Reduktion unterworfen werden, dann werden die Rastbereiche rund um den Rasterpunkt einer Veränderung unterworfen, welche zu Falschmessungen führt, weil es für das Lampenlicht schwierig ist, durch den veränderten Randbereich hindurchzudrin-
Licht gen, das heißt die Rastbereiche führen dazu, daß beim Drucken/auf
die Druckplatte gelangt und sich keine Rasterpunkte bilden.
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Bei den Entwicklungsarbeiten zia vorliegender Erfindung hat sich gezeigt» daB Licht einer Wellenlänge im Infrarotbereich durch die veränderten Randbereiche hindurchzudringen vermag, nicht jedoch sichtbares Licht and ultraviolettes Licht- Es ist deshalb wünschenswert, wenn der halbdurchlässige Spiegel 12 des Mikroskopkörpers 10 aus einem Interferenzfilter besteht, welches infrarotes Licht auf den fotoelektrischen Umsetzer 23 reflektiert, sichtbares Licht und Licht anderer Wellenlänge dagegen durchläßt, so daß dieses zum Okular 13 gelangt- Ein für Infrarotlicht durchlässiger Filter kann auch im Lichtweg zwischen dem Spiegel 12 und dem Umsetzer 23 angeordnet werden. Vorzugsweise weist der fotoelektrische Umsetzer 23 ein lichtelektrisches Element auf, welches auf Infrarotlicht zufriedenstellend anspricht, wie dies etwa bei Silizium-Fotodioden der Fall ist. Auch kann die Lampe 7 ein Infrarotstrahler sein, jedoch erschwert dies die visuelle Beobachtung.
Für den Betrieb wird die Vorrichtung mittels des Schalters 24 eingeschalte^ und der Teststreifen 6 wird unterhalb des Mikroskopkörpers 10 angebracht. Durch den Teststreifen 6 hindurchgegangenes Licht trifft auf die Objektivlinse 11, wobei dann ein Teil davon bzw. das sichtbare oder ultraviolette Licht, nach Durchqueren der Objektivlinse das Okular 13 erreicht, so daß der Beobachter 8 die Gestalt der Rasterpunkte auf dem Teststreifen 6 feststellen kann. Ein anderer Teil bzw. das infrarote Licht .des die Objektivlinse durchsetzenden Lichtes wird durch den Halbspiegel 12 reflektiert und gelangt nach seiner Ablenkung um 90° zum fotoelektrischen Umsetzer 23, wo das Licht in elektrische Daten umgesetzt wird, welche der Menge des einfallendes Lichtes entsprechen. Die elektrischen Daten werden durch das Meßgerät 22, beispielsweise ein Voltmeter, angezeigt. Nachdem das durch den Teststreifen 6 hindurch-
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tretende Licht proportional dem Rasterpunktprozentsatz ist, besteht auch eine Proportionalität zwischen dem vom Meßgerät 22 angezeigten Wert und dem Rasterpunktprozentsatz. Wenn beispielsweise der Teststreifen 6 vollständig schwarz ist, dann zeigt das Meßgerät 100% an; wenn dagegen der Teststreifen 6 völlig durchlässig ist, dann ergibt sich die Anzeige 0%. Die Prozentanzeige auf dem Meßgerät 22 kann mittels „des Knopfes 25 justiert werden, etwa entsprechend der Menge der von der Lichtquelle abgegebenen Lichtmenge oder der optischen Durchlässigkeit des den Teststreifen bildenden Filmes.
Gemäß Fig. 7 kann die Rasterpunktprozentsatz-Vorrichtung zusätzlich mit einer Anzeigeeinrichtung für den Reduktionsbetrag versehen werden. Dabei speichert der Speicherschalter 26 zeitweise den Rasterpunktprozentsatz und wird zur Feststellung des Reduktionsbetrages betätigt. Der Innenaufbau dieser Vorrichtung ist in Fig. 8 dargestellt. Der Mikroskopkörper 10 weist eine Objektivlinse 11, einen halbdurchlässigen Spiegel 12 und ein Okular 13 auf. Die Einrichtung 20 besteht aus einem fotoelektrischen Umsetzer 23 zum Umsetzen des vom Spiegel 12 reflektierten Lichtes in elektrische Daten, aus einem Verstärker 28 zum Verstärken der vom Umsetzer 23 gelieferten Daten, aus einem Meßgerät 22 zur Anzeige des Ausgangs des Verstärkers 28 auf einer gleichmäßige Abstände aufweisenden Skala, aus einem Speicherkreis 29 zum Speichern des Ausgangs des Verstärkers 28 bei Betätigung des Speicherschalters 26, aus einem subtrahierenden Vergleichskreis 30, welcher den im Speicher 29 gespeicherten Wert mit dem Wert des Ausgangs des Verstärkers 28 vergleicht und die beiden Werte voneinander abzieht, so daß ein Reduktionswert erhalten wird, und schließlich aus einem Meßgerät
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4 0 zur Anzeige des Ausgangs des Vergleichs-Subtraktions-Kreises als Reduktionswert oder eines Änderungswertes für den Rasterpunktprozentsatz .
Diese Vorrichtung arbeitet folgendermaßen. Zunächst wird mittels des Schalters 24 das Gerät eingeschaltet und der Teststreifen 6 unterhalb des Mirkoskops 10 angeordnet. Durch den Teststreifen hindurchtretendes Licht erreicht die Objektivlinse 11 und ein Teil (bzw. das sichtbare Licht oder das ultraviolette Licht) des durch die Objektivlinse hindurchgegangenen Lichtes erreicht das Okular 13, wodurch der Beobachter 8 die Gestalt der Rasterpunkte auf dem Teststreifen 6 feststellen kann. Der andere Teil (bzw. das infrarote Licht) des durch die Objektivlinse 11 hindurchgegangenen Lichtes wird vom Halbspiegel 12 in eine Richtung senkrecht zur Einfallsrichtung reflektiert und gelangt auf den fotoelektrischen Umsetzer 23, wo es in elektrische Daten entsprechend der Lichtmenge umgesetzt wird. Die elektrischen Daten werden durch den Verstärker 28 verstärkt. Die verstärkten elektrischen Daten werden vom Meßgerät 22, etwa einem Voltmeter, angezeigt. Weil das durch den Teststreifen hindurchgehende Licht proportional zum Rasterpunktprozentsatz ist, steht auch der am Meßgerät 22 angezeigte Wert in einem Proportionalverhältnis zum Rasterpunktprozentsatz. Der Ausgang des Verstärkerkreises 28 wird aber auch auf den Speicherkreis 29 und den Vergleichs-Subtraktions-Kreis 30 gegeben, wobei jedoch der Ausgang des Speicherkreises 29 gleich seinem Eingang ist, wenn der Speicherschalter 26 nicht betätigt worden ist. Demgemäß werden also auf die beiden Eingänge des Vergleichs-Subtraktions-Kreises 30 dieselben Signale gegeben, mit der Folge, daß der Ausgang des Kreises 30 Null ist, was vom Meßgerät 4 0 angezeigt wird. Wird dagegen der
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Speicherschalter 26 betätigt, also niedergedrückt, dann speichert der Speicherkreis 29 den Äusgangswert des Verstärkers 28 Wird nun der Rasterpunktprozentsatz durch Bewegen des Teststreifens 6 oder durch Verwendung eines anderen Teststreifens verändert, so ändert sich auch der durch den Teststreifen 6 hindurchgehende Lichtbetrag, und der Ausgang des Verstärkers 28 wird ebenfalls einen anderen Wert aufweisen. In diesem Fall sind dann, -der Ausgangswert des Speicherkreises 29 bleibt ja unverändert— die beiden Eingänge des Vergleichs-Subtraktions-Kreises 30 unterschiedlich in ihrer Pegelhöhe pnä. somit wird vom Kreis 30 ein. Signal abgegeben, welches der Differenz der beiden Eingangswerte entspricht; dieses Differenzsignal wird dann am Meßgerät 40 angezeigt.
Mit der eben beschriebenen Vorrichtung kann somit sowohl die Gestalt der Rasterpunkte durch das Mikroskop festgestellt als auch der Rasterpunktprozentsatz durch das Meßgerät angezeigt werden. Darüberhinaus aber können vom Meßgerät auch Reduktionsdaten bzw. Rasterpunkt-Änderungen angezeigt werden. Dies erleichtert die Offset-Retusche beträchtlich. Der Speicher 29 kann durch nochmaliges Niederdrücken des Speicherschalters wieder gelöscht werden.
Ein weiteres Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen Vorrichtung wird nun anhand der Fig. 9 beschrieben, wobei diejenigen Teile, die gleich denen der Fig. 8 sind, mit den gleichen Bezugszeichen versehen sind. Bei dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 9 wird der Ausgang des Vergleichs-Subtraktions-Kreises 30 auf einen Vergleichsverstärker 31 gegegeben, wo die Signale verstärkt werden, und dann auf den Speicherkreis 29.'Wenn der Speicherschalter 26 nicht gedrückt wird, dann gelangt der Eingang des Speicherkreises
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39 unverändert zum Vergleichs-Subtraktions-Kreis 30. Wenn die beiden Eingänge des Kreises 30 unterschiedliche Pegelhöhe aufweisen, dann wird vom Kreis 30 ein der Differenz der beiden Pegelhöhen entsprechendes Signal abgegeben und auf das Meßgerät 4 geleitet. Die Differenz zwischen dem Ausgang des Speicherkrei-ses 29 und dem Ausgang des Verstärkerkreises 28 wird somit am Meßgerät angezeigt.
Wenn dann der Schalter 26 betätigt wird, so daß er den Ausgang des Verstärkers 31 mit dem Eingang des Speichers 29 verbindet, dann unterscheiden sich die beiden Eingänge des Vergleichs-Subtraktions-Kreises 30 in ihrer Pegelhöhe voneinander, so daß ein Signal entsprechend der Differenz am Ausgang des Kreises 30 auftritt und auf den Verstärker 31 gegeben wird, mit der Folge, daß der Verstärker 31 ein Signal abgibt, derart, daß die beiden Eingänge gleich werden. Wird nun der Schalter 26 nochmals betätigt,
mit
dann stimmt das Ausgangssignal des Speicherkreises 29/dem Ausgangssignal des Verstärkers 28 überein. Wird der Speicherkreis geöffnet, dann wird das Ausgangssignal des Verstärkers 31 nicht mehr auf den Speicherkreis gegeben( und deshalb speichert der Speicherkreis 29 denjenigen Signalwert, der beim Öffnen des Schalters 26 aufgetreten ist.
Ähnlich wie beim vorher beschriebenen Ausführungsbeispiel wird sich bei einer Änderung des Rasterpunktprozentsatzes auch der Ausgang des Verstärkers 28 ändern. Die Folge davon ist, daß die beiden Eingänge zum Kreis 30 unterschiedlich werden und ein Signal entsprechend deren Differenz auftritt und vom Meßgerät 40 angezeigt wird, wobei die Anzeige dem Reduktionswert bzw. dem Ände-
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rungswert entspricht.' Mit der Vorrichtung nach FIg. 9 können also dieselben Werte und Ergebnisse erhalten werden, wie beim Beispiel nach Fig. 8.
Eine Äbwandlungsform der Rasterpunktprozentsatz-Meßvorrichtung ist in Fig. 10 dargestellt. Die Vorrichtung besteht aus einem Lichtaufnahmeabschnitt 54 mit Meßtisch 52 und aus einem Lichtabgabeabschnitt 53, der oberhalb des Abschnittes 54 angeordnet ist, derart, daß sich die beiden Abschnitte 53 und 54 gegenüberstehen. Der Abschnitt 54 besteht aus einem zylindrischen, einseitig offenen Kopf 54a, einem fotoelektrischen Umsetzer 54b zur Aufnahme des von einem Objekt 51 abgegebenen Lichtes, wobei das Objekt 51 nachfolgend als Testkörper 51 bezeichnet wird, und aus einem Rohr 54c, welches das durch die Öffnung des Kopfes eindringende Licht dem Element 54b zuführt. Der Abschnitt 54 ist derart angeordnet, daß die Oberkante der Öffnung des Kopfes 54a und die Oberkante des Rohres 54 mit der Oberfläche des Meßtisches 52 fluchten. Wenn somit der Testkörper 51 auf den Meßtisch 52 gelegt wird, dann berührt die untere Oberfläche des Teststückes 51 die Oberkanten von Kopföffnung und Rohr 54. Das Element 54b ist elektrisch mit einem Anzeigeabschnitt 55 verbunden, so daß die durch das Teststück 51 hindurchgehende Lichtmenge vom Element 54b aufgenommen und vom Abschnitt 55 angezeigt wird.
Zur Messung des Rasterpunktprozentsatzes wird der Testkörper 51 so auf den Meßtisch gelegt, daß er auf der Öffnung des Kopfes 54a und des Rohres 54c liegt. Dann wird Licht vorgegebener Intensität durch eine Kondensorlinse 56 hindurch, die sich am Auslaß des Lichtabgabeabschnittes 53 befindet, auf den Testkörper 51 gegeben,
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so daß der fotoelektrische Umformer 54b im Lichtaufnahmeabschnitt 54 mit Licht bestrahlt wird^ welches durch den Testkörper 51 hindurchgegangen ist. Die.Menge des vom Element 54b aufgenommenen Lichtes wird durch den-Abschnitt 55 angezeigt» Daj sowohl der Emissionsabschnitt 53 als:auch der; Testkörper 51 uhabgeschirmt sind, kann die Messung durch, äußeres Fremdlicht beeinflußt werden. Zur Überwindung dieser Schwierigkeit wird vom Abschnitt 53. anderes als sichtbares Lichtr nämlich Infrarotlicht (oder Ultraviolettlicht):abgegeben und in den optischen Weg zwischen Testkörper 51 und Lichtempfänger 54b. ein Infrarotfilter (ein für Infrarotlicht durchlässiger Filter) eingesetzt. Ferner wird eine auf Infrarotstrahlen ansprechende Silizium-Fotodiode als Lichtempfänger verwendet. Damit wird es auch möglich, den Einfluß von äußerem Fremdlicht auf das Auge des Beobachters auszuschalten. Wird dagegen Ultraviolettlicht verwendet, so kann es erforderlich sein, Abschirmungen gegen das Fremdlicht (sichtbares Licht) vorzusehen.
Die Vorrichtung von Fig. 10 kann in einem Waschtisch für den Reduktionsprozeß eingebaut sein. In diesem Fall kann dann nach erfolgter Reduktion das Teststück 51 sofort wieder untersucht und der Reduktionsbetrag festgestellt werden. Dies bedeutet eine beträchtliche Zeitersparnis.
In den Fig. 11 bis 14 sind verschiedene andere Ausführungsbeispiele der erfindungsgemäßen Vorrichtung dargestellt. Jede dieser Vorrichtungen ist vergleichsweise leicht und klein, so daß sie einfach zu betätigen und zu handhaben ist und von der Bedienungsperson getragen werden kann. Diese Vorrichtungen sind nicht nur in der Lage, den Rasterpunktprozentsatz zu messen, sondern darüberhinaus auch die Rasterpunktdichte. Jede dieser Vorrichtun-
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gen weist ein Gehäuse 60 auf, das aus einer oberen und einer unteren Hälfte besteht, die bei Bedarf voneinander getrennt werden können. Außen am Gehäuse 60 befindet sich ein Draht 62 für die Null-Justierung. Ferner sind ein Einschalter 64 und ein Anzeigefenster 66 vorgesehen, durch welches hindurch der Meßwert erkennbar ist. In einen bestimmten Wartungsbereich des Gehäuses ist eine Ausnehmung 68 (70 oder 72) eingeformt. In der Ausnehmung 68 ist mittels eines Tragarms 76 ein Lichtaufnahmezylinder 74 gehaltert, welcher das von einem Testkörper reflektierte und hindurchgelassene Licht aufnimmt. Unter "Testkörper" wird hier ein zu messendes Objekt verstanden, das mit einer Abbildung aus Rasterpunkten oder einer Halbton-Abbildung versehen ist, beispielsweise ein Rasternegativ, ein Rasterpositiv, bedrucktes Material, ein fotografischer Film oder dergleichen.
Beim Ausführungsbeispiel nach Fig. 11 befindet sich die Ausnehmung 68 an einer Ecke des Gehäuses 60. Der Lichtempfangszylinder 54 und der Tragarm 76 befinden sich in der Ausnehmung 68, die durch die -gedachte- Verlängerung der Gehäuseseitenwände begrenzt ist. Dabei sind der Tragarm 76 und der Zylinder 74 so gestaltet, daß sie durch den Testkörper hindurchgegangenes Licht aufnehmen; selbstverständlich könnte die Anordnung auch so sein, daß vom Testkörper reflektiertes Licht aufgenommen wird, wie dies in Fig. 16(A) dargestellt ist. Wesentlich ist jedoch, daß Lichtquelle und Lichtempfänger so angeordnet sind, daß regulär reflektiertes Licht nicht auf den Lichtempfänger gelangt. Diese Forderung wird von der Vorrichtung nach Fig. 16(B) erfüllt.
Der Testkörper 88 ist in diesen Fällen ein undurchsichtiges, bedrucktes Material. Als Lichtleiter werden fiberoptische Fasern ver-
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wendet,, wobei die Fasern mittels eines Halters 96 in zwei Bündel 90 und 92 im Liehtaufiiiahmezyliiider 94 enterteilt sind. Das Faserbündel 9© ist aaif eine Lichtquelle 98, das Faserbündel 92 auf ein Lichtaufnahmeelement 10Ö gerichtet.
Anstelle der fiberoptischen Faserleiter könnten auch reflektierende Spiegel, Prismen, halbdurchlässige Spiegel oder dergleichen verwendet werden. Fig. 16(C) zeigt den Fall, daß in Kombination ein reflektierender Spiegel und ein halbdurchlässiger Spiegel verwendet werden. In Fig. 16(C); ist mit 91 ein Spiegel, mit 93 eine Linse und mit 95 ein halbdurchlässiger Spiegel bezeichnet.
Der lichtaufnehmende Zylinder 74 bzw. 94 kann auch so gehaltert sein, wie dies in den FIg. 17 und 18 dargestellt ist. Die Konstruktionen nach den Fig. 17 und 18 sind so gewählt, daß während der Messung keine Stöße auf den Zylinder 74 bzw. 94 übertragen werden können.
Bei der Anordnung nach Fig. 17 ist der Tragarm 76 durch einen Stoßdämpfer 102, etwa eine Feder oder einen Gummiblock (nicht gezeichnet) ersetzt.
Bei dem Beispiel nach Fig. 18 bilden der Tragarm 76, der Lichtaufnahmezylinder 74 und ein Teil der oberen Hälfte des Gehäuses eine Einheit. Dabei ist der betreffende Teil der oberen Hälfte des Gehäuses mittels eines Gelenks 104 mit dem übrigen Teil der oberen Hälfte des Gehäuses verbunden. Ein Teil, welcher dem Tragarm des einstückigen Gebildes entspricht, ist mit der unteren Hälfte des Gehäuses über eine Schraube 106 und einen elastischen Körper 102, etwa eine Feder, verbunden.
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Beim Ausführungsbeispiel· nach Fig. 12 befindet sich die Ausnehmung 70 im Mitteiteil· der Seitenwand des Gehäuses, wobei der Zyiinder 74 so gehaitert sein kann, wie dies in den Fig. 15, 17 oder 18 dargestellt^ In diesem Fall· befindet sich aiso der Zylinder 74 innerhalb der Seitenwandung des Gehäuses oder fiuchtet mit diesem. Dabei ist die Gefahr, daß beispielsweise die Hand des Beobachters gegen den Lichtaufnahmezylinder stößt, kleiner als bei der Anbringung des Zylinders gemäß Fig. 11, so daß im letzteren Fall Beschädigungen des Zyiinders nicht völlig auszuschiießen sind. Andererseits jedoch ist zu sagen, daß dann, wenn die Ausnehmung sich an einer Ecke des Gehäuses befindet, wie dies bei Fig. 11 der Fail· ist, die Bedienungsperson den Zylinder leichter in der Hand halten kann.
Die Ausnehmung 70 von Fig. 13 besitzt dieselbe Gestalt wie die Ausnehmung von Fig. 12, jedoch steht der Tragarm von einer Seitenwand der Ausnehmung ab; dies ist dann zweckmäßig, wenn eine Kombination mit einem elektrischen Schaltkreis in der Meßvorrichtung erfoigen soll.
Bei dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 14 ist die Ausnehmung 72
sie
so gestaltet, daß/sich von der Seitenwand des Gehäuses bis zu dessen Bodenwand erstreckt. Dies steht im Gegensatz zu den Ausnehmungen 68 oder 70, weiche sich von der Oberseite des Gehäuses bis zur Unterseite erstrecken.
Bei dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 14 befindet sich der Lichtaufnahmezylinder 74 unter der Abdeckwand der Ausnehmung 72, so daß es hier schwieriger ist als bei den anderen Ausführungsbeispielen, den Testkörper zu beobachten. Andererseits jedoch ist der Zylinder
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74 beim Ausführungsbeispiel nach Fig. 14 durch die Seitenwände und die Deckwand sehr gut gegen Beschädigungen geschützt.
Die Betriebsweise der Vorrichtungen nach den Fig. 11, 12, 13 und 14 soll nun anhand der Fig. 19 und 20 beschrieben werden.
Wenn zur Feststellung der Rasterpunktprozentsätze das Licht herangezogen wird, welches einen transparenten Film 80, etwa einen Raster-Positivfilm, durchsetzt hat, dann ist es zweckmäßig, eine besondere Meßstellung kenntlich zu machen, etwa dadurch, daß besondere Punkte eines Lichttisches 110 mit runden Markierungspunkten 112 versehen werden, um so Meßfehler zu eliminieren, die sich daraus ergeben können, daß die Lichtintensität des Lichttisches 110, auf welchem sich der zu messende Film befindet, nicht über dessen gesamte Oberfläche gleich ist. Zunächst wird dann ein Teil des Testkörpers 80 zwischen die Markierungen 112 gelegt, welcher einen Rasterpunktprozentsatz von 0% aufweist. Daraufhin wird das Gerät mittels des Schalters 64 eingeschaltet und das Rad 62 für die Nulljustierung solange gedreht, bis die digitale Anzeige 66 auf Null steht.
Daraufhin wird dann ein zu messender Bereich des Testkörpers 80 zwischen die Markierungen 112 gebracht und die Meßvorrichtung derart eingestellt, daß sich der Zylinder 74 direkt über dem zu messenden Filmbereich befindet. Daraufhin kann der Beobachter am Anzeigegerät 66 einen bestimmten Rasterpunktprozentsatz ablesen. Diese Messung des Rasterpunktprozentsatzes wird dann nacheinander für verschiedene Bereiche des Films durchgeführtf und die sich ergebenden Daten werden aufgezeichnet. Liegen die sich ergebenden Daten höher als der gewünschte Wert, dann wird der Meßkörper ei-
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nem Reduktionsvorgang ausgesetzt, so daß sich der Rasterpunktprozentsatz vermindert. Ist dann der sich ergebende Wert kleiner als gewünscht, dann muß nochmals fotografiert werden.
Andererseits wird im Fall einer Dichtemessung die Nulljustierung direkt am Lichttisch zwischen den Markierungen durchgeführt und dann ein zu messender Bereich des Teststreifens zwischen die Markierungen gelegt.
Handelt es sich beim Testkörper 88 um ein undurchsichtiges, bedrucktes Material, dann wird der Testkörper nicht auf den Lichttisch sondern auf irgendeine andere flache Oberfläche gelegt und die Messung mit einer Vorrichtung durchgeführt, die einen Lichtaufnahmezylinder 94 gemäß Fig. 16 besitzt; die Messung selbst erfolgt dann in ähnlicher Weise wie oben beschrieben worden ist.
In der Vorrichtung von Fig. 19 ist ein Gleichstrom-Filter vorgesehen, der zur Ausschaltung von Lichtschwankungen dient, die sich aufgrund einer Wechselstrom-Energiequelle ergeben; damit wird die Meßgenauigkeit erhöht. Gemäß Fig. 20 kann ein Negativ-Positiv-Umschalter 114 vorgesehen werden, um so positive und negative Werte ablesen zu können. Wird der Schalter 114 eingeschaltet, dann kann ein positiver Rasterpunktprozentsatz bzw. eine positive Dichte abgelesen werden; wird dagegen der Schalter ausgeschaltet, dann zeigt die Anzeige einen negativen Prozentsatz bzw. eine negative Dichte an.
Die elektrische Stromquelle 116 ist auf der Zeichnung als in das Gehäuse eingesetzte Batterie dargestellt; selbstverständlich kann sich die Batterie auch außerhalb des Gehäuses befinden, wobei dann
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-29-die Verbindung zum "Gerät durch ein Anschlußkabel erfolgt.
Wird der Hasterpunktprozentsatz gemessen, dann kann aus diesem Wert die Rasterpunktdichte rechnerisch ermittelt werden. Wird umgekehrt die Dichte gemessen, dann kann daraus der Rasterpunktprozentsatz rechnerisch ermit-Lelt werden.
Wird für die Bestimmung des Rasterpunktprozentsatzes "das durch den messenden Körper hindurchgehende Licht gemessen, dann können sich Fehler infolge einer Abnahme der Lichtdurchlässigkeit ergeben, wobei diese Abnahme der Lichtdurchlässigkeit auf Randzonen und auf die Gelb-Braun-Färbung beim Reduktionsvorgang beruht. Die Abnahme der Lichtdurchlässigkeit infolge von Randzonen ist im wesentlichen konstant, wenn die Bedingungen der Rasterfotografie und -entwicklung konstant sind; eine Korrektur kann deshalb mit einem vorbestimmten Wert erfolgen. Nimmt jedoch die Lichtdurchlässigkeit zusätzlich noch infolge eines Reduktionsvorganges ab, so ist es schwierig, einen genauen Korrekturwert für die Lichtdurchlässigkeit des einer Reduktion unterworfenen Rasterfilmes festzulegen. In Fig. 21 ist das Ergebnis von Messungen der spektralen Lichtdurchlässigkeit eines Bereiches dargestellt, der sich bei einem Reduktionsvorgang mit Eisenchelat braun gefärbt hat. Gemäß Fig. 21 ist dabei die Lichtdurchlässigkeit derart, daß im Ultraviolettbereich das braune Testobjekt kaum noch eine Durchlässigkeit zeigt, daß im sichtbaren Bereich die Durchlässigkeit abrupt ansteigt und schließlich im Infrarotbereich über 80% beträgt. Demgemäß wird also die Rasterpunktpirozentsatz-Messung mit Licht im Ultraviolettbereich und im sichtbaren Bereich durch die bei der Reduktion gefärbten Bereiche starke beeinflußt. Bei Verwendung von Infrarotlicht dagegen wird die Rasterpunktprozentsatz-Messung
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durch solche gefärbte Bereiche wesentlich weniger beeinflußt. Dies wird sich noch deutlicher anhand der Fig. 22, 23, 24 und 25 zeigen lassen.
Ein erstes Beispiel ist in den Fig. 22 und 23 gezeigt, wobei eine Jodlampe als Lichtquelle und eine Silizium-Fotodiode als Lichtaufnahmekörper verwendet sind. Ein zweites Beispiel ist in den Fig. 24 und 25 dargestellt, wobei zusätzlich zu den Elementen des ersten Beispiels ein optischer Filter verwendet ist, der für das ultraviolette und das sichtbare Licht undurchlässig ist. Die Fig. 22 und 24 zeigen die Kurve relativer Empfindlichkeit der Fotodiode bezüglich der verwendeten Wellenlänge des übertragenen Lichtes. Die Fig. 23 und 25 zeigen die sich durch die Reduktion ergebende Fehlergröße- Aus der grafischen Darstellung ergibt sich deutlich, daß beim ersten Beispiel die größte Empfindlichkeit bezüglich des infraroten Lichtes besteht, daß aber auch eine Empfindlichkeit gegenüber dem sichtbaren Licht vorhanden ist. Demgemäß ist beim ersten Beispiel ein Einfluß der beim Reduktionsverfahren angefärbten Bereiche vorhanden, mit der Folge, daß der Meßfehler mit steigendem Reduktionsbetrag ebenfalls ansteigt. Beim zweiten Beispiel, bei dem zusätzlich ein optischer Filter verwendet ist, welcher die Empfindlichkeit der Fotodiode bezüglich des ultravioletten und des sichtbaren Lichtes herabsetzt, wird die Rasterpunktprozentsatz-Messung von den beim Reduktionsprozess angefärbten Bereichen nur sehr wenig beeinflußt, und darüberhinaus wird eine Veränderung des Meßfehlers infolge Anstiegs des Reduktionsbetrages im wesentlichen unterdrückt, wie dies aus Fig. 25 ersichtlich ist. Derselbe Effekt kann auch dadurch erhalten werden, daß man eine Lichtquelle verwendet, welche kein ultraviolettes und kein sichtbares Licht aussendet. Wird also zur Fehlerstabi-
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lisierung der Einfluß der Reduktion auf diese Weise ausgeschaltet, dann kann der Lichtdurchlässigkeit bzw. den sich darauf beziehenden Daten eine Fehlerfunktion gemäß Fig. 4 (die Fehlerkurve ist derart, daß die Lichtdurchlässigkeit bei 0% und 100% gering, dagegen bei etwa 50% maximal ist) als Korrektur- ,funktion bzw. inform von Korrektur- daten hinzugefügt werden, mit der Folge, daß für den Rasterpunktprozentsatz sehr exakte Meßergebnisse erhalten werden.
Eine Vorrichtung, mit deren Hilfe eine derartige Korrektur vorgenommen werden kann, ist in Fig. 26 dargestellt.
Bei der Vorrichtung nach Fig. 26 wird von einer Lichtquelle 121 ausgesendetes Licht durch einen Testkörper 121 hindurchgeleitet und dann durch ein Linsensystem 123 und ein Filter 124 hindurch auf einen fotoelektrischen Umsetzer 125 gegeben, dessen Ausgang dann elektrische Daten über die Menge des durch den Testkörper hindurchgegangenen Lichtes darstellt. Da der Filter 124 nur Infrarotlicht hindurchläßt, wird der Einfluß der Reduktion ausgeschaltet. Der Ausgang des fotoelektrischen Umsetzers 125 wird verstärkt, das heißt durch den Verstärker 126 auf den Betriebspegel eines damit verbundenen Korrekturskreises 127 angehoben. Nach Durchführung der oben beschriebenen Korrektur wird dann der Rasterpunktprozeiisatz auf einer Anzeigevorrichtung 128 angezeigt. Wird die Lichtquelle 121 mit Wechselstrom betrieben, dann sollte zweckmässigerweise ein auf der Zeichnung nicht dargestellter Kreis vorgesehen werden, der von LichtSchwankungen hervorgerufene Schwankungen zwischen Verstärker 126 und Korrekturkreis 127 unterdrückt.
Im allgemeinen ist der Einfluß der erwähnten Randbereiche im we-
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sentlichen dann konstant r wenn die Bedingungen der Rasterfotografie und -entwicklung fest sind. Der Einfluß der Randbereiche kann deshalb durch Voreinstellung von Korrektur- daten korrigiert werden. Solche Korrektionsdaten können dadurch gewonnen werden, daß man die Daten von Fig. 4 denjenigen Daten hinzuaddiert, welche proportional zur Lichtdurchlässigkeit sind.
Ein Schaltkreis zur Erzeugung solcher Korrekturdaten ist in Fig.27 dargestellt. Dieser Schaltkreis besteht aus Operationsverstärker OP1 und 0P2, einer Diode D und aus Widerständen Rl bis R5. Der
Ausgang Vr des Betriebsverstärkers OP1 wird bezüglich seines Verio-i -f-T?2 Stärkungsfaktors bei der Eingangs spannung —=τ^— · V geändert, wie es in Fig. 28 dargestellt ist, d.h. die Kennlinie ist polygonal. Werden die eine solche Kennlinie aufweisende Spannung Vr und die Eingangsspannung Vs in einem geeigneten Verhältnis im Betriebsverstärker 0P2 addiert, dann wird gemäß Fig. 29 ein Signal erhalten, das angenähert die gewünschte Korrektur aufweist. Mit anderen Worten, die Eingangsspannung Vs ist ein der Lichtdurchlässigkeit proportionales elektrisches Signal, während die Spannung V ein elektrisches Signal ist, welches angenähert den Korrekturbetrag für die Lichtdurchlässigkeit (Fig. 4) darstellt.
Wird das Korrektursignal in einem geeigneten Verhältnis dem der Lichtdurchlässigkeit proportionalen Signal hinzuaddiert, wie es in Fig. 30 dargestellt ist, dann kann der Betrag der Lichtdurchlässigkeit im Bereich von 50% in gewünschter Weise korrigiert werden, ohne dabei die Beträge bei 0% und bei 100% zu beeinflussen. Der Betrag Vo ist somit der oben erwähnte Vorgabe-Korrekturwert.
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Die auf tatsächlichen Messungen beruhende Kurve von Fig. 31 zeigt, welche tatsächlichen Fehler bei der auf Lichtdurchlässigkeitsines sungen beruhenden Rasterpunktprozentsatz-Messung auftreten. Diese Kurve ist dadurch erhalten worden, daß die Testergebnisse von etwa 30 Proben gemittelt wurden. Der Fehlerbetrag wird dabei folgendermaßen definiert. Als Bezugswert wird dabei ein Meßwert verwendet, der gemäß der oben beschriebenen Methode erhalten worden ist. Der Betrag der Abweichung eines aus der Gleichung Ap=(I-T) · 100% (wobei Ap der Rasterpunktprozentsatz und T die Lichtdurchlässigkeit ist) errechneten Wertes vom obigen Bezugswert soll dabei den Fehlerbetrag darstellen. Die eine Korrekturfunktion darstellende, strichpunktierte Linie ist eine polygonale Länge mit nur einem Knickpunkt, so daß die Fehlerbeträge bei den Rasterpunktprozentsätzen Ap = 5%, 45% und 100% zusammenfallen. Diese strichpunktierte Korrekturfunktxonskurve weist beträchtliche Fehler von über 1 % in den Bereichen der Prozentsätze Ap 70 bis 90% auf. Diese Fehler könnten zwar dadurch vermindert werden, daß man den Knickpunkt in die Nähe von Ap = 55 bis 6 0% legt, jedoch wird in diesem Fall dann ein Fehler von mehr als 1 % in der Nahe von Ap = 35 bis 45% auftreten. Zur Erhöhung der Genauigkeit ist es deshalb erforderlich, die'Zahl von Knickpunkten zu erhöhen. Die gestrichelte Linie von Fig. 31 besitzt einen zusätzlichen Knickpunkt bei Ap = 80%, womit dann die Fehler im Bereich zwischen Ap = 70 bis 90% vermindert werden. Das heißt, die gestrichelte Linie stellt eine polygonale Linie mit zwei Knickstellen dar, welche sich der tatsächlichen Meßkurve -ausgezogene Liniebesser annähert. Mit der Erhöhung der Anzahl von Knickstellen wird aber andererseits auch die Anzahl der Einstellpunkte erhöht. Sind also zwei Knickpunkte vorhanden, so müssen sechs Faktoren eingeführt werden, weil jeder Einstellpunkt für die Annäherung
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drei Positionen in einer Ebene repräsentiert, was die Erstellung der polygonalen Korrekturlinie erschwert.
Als Ergebnis der Untersuchung vieler praktischer Meßwerte hat sich ergeben, daß bei der Messung des Rasterpunktprozentsatzes eines Rasterfilms unter Verwendung des durch den Film hindurchgehenden Lichtes eine Kennlinie zum Übertragen der Lichtdurchlässigkeit in den Rasterpunktprozentsatz vergleichsweise einfach mit einer quadratischen Funktion sehr genau angenähert werden kann, welche Erkenntnis beim nachfolgenden Ausführungsbeispiel Anwendung findet.
Bei diesem Ausführungsbeispiel wird vorzugsweise eine Lichtquelle verwendet, die frei \ron Frequenz Schwankungen ist und deren ausgestrahlte Lichtmenge konstant bleibt, also beispielsweise eine Jodlampe, die durch eine stabile Gleichstromquelle gespeist wird. Nach Hindurchgehen durch einen Testkörper oder einen Rasterfilm 133 errreicht das von der Lichtquelle ausgestrahlte Licht einen Blendenmechanismus 134. Diese Blende vergrößert oder verkleinert den Querschnitt des Lichtstrahls entsprechend der Veränderung der Lichtintensität der Lichtquelle 131, wodurch Meßfehler infolge von Intensitätsänderungen der Lichtquelle ausgeschaltet werden. Wird beispielsweise als Testobjekt ein Film mit einem Rasterpunktprozentsatz von 60% verwendet, dann wird die Blende 134 so eingestellt, daß am Anzeigeinstrument 135 tatsächlich der Wert Null angezeigt wird. Die Blende kann aber auch in anderer Weise gesteuert werden, und zwar unter Verwendung eines Films, dessen Rasterpunktprozentsatz bekannt ist und vorzugsweise etwa 5% beträgt, wobei dann die Blende derart eingestellt wird, daß das Anzeigegeräte 135 tatsächlich den vorbekannten Wert anzeigt. Ein optischer De-
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tektor 136 empfängt das durch die Blende 134 hindurchgegangene Licht und setzt dieses in ein elektrisches Signal T um, welches proportional der Menge des empfangenen Lichtes ist. Als optischer Detektor 136 kann eine fotoelektrische Röhre, ein fotoleitendes Element oder eine.Fotodiode verwendet werden.
Fig. 33 zeigt ein Beispiel eines optischen Detektors 136, der aus einer Fotodiode 261 besteht. Die Fotodiode 261 ist zwischen die positive und die negative Eingangsklemme eines Betriebsverstärkers 262 gelegt und ein Rückkopplungs-Widerstand 263 liegt zwischen den Eingangs- und Ausgangsklemmen des Verstärkers 262. Das vom optischen Detektor 136 erzeugte elektrische Signal T ist proportional der mittleren Durchlässigkeit des gemessenen Filmbereichs, und der Proportionalitätsfaktor wird durch die Blende 134 festgelegt. Das elektrische Signal T wird auf einen Korrekturkreis 137 gegeben, der den sich durch den Einfluß von Randbereichen oder Fehlpunkten ergebenden Meßfehler bei etwa 50% korrigiert. Fig. 34 zeigt als Blockdiagramm ein Ausführungsbeispiel des Korrekturkreises 137. Wird dabei das Eingangssignal T durch 0=T=1 ausgedrückt, dann ergibt sich bei diesem Kreis für das korrigierte Ausgangssignal Tc:
Tc = a^ - a2Tm s (1)
Nach Vervielfachung um den Faktor a., in einem Vervielfacher wird das Eingangssignal T der einen Eingangsklemme eines Addierkreises 272 zugeführt. Zusätzlich wird das Eingangssignal T nach einer Umsetzung in log T in einem logarithimischen Umsetzer 272 multipliziert, und zwar in einem Vervielfacher 274 um den Faktor m. Der Ausgang m log T des Eelementes 274 wird durch ei-
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nen Umkehr-Logarfoitmusumsetzer 275 in den Wert Tm umgesetzt, der
dann in einem Multiplikator 276 mit dem Faktor -a~ multipliziert^ Der sich ergebende Wert -a„T wird auf die andere Eingangsklemme des Addierkreises 272 gegeben» Damit wird das Korrektursignal Tc von Gleichung (1) erhalten, und zwar als Ausgang des Addierkreises 272. Das Signal Tc stellt die korrigierte Durchlässigkeit dar und wird dann in den Rasterpunktprozentsatz Ap umgerechnet, und zwar in einem Rechenkreis 138 gemäß folgender Gleichung:
Ap = (1 - Tc) χ 100 (2)
Das dem Rasterpunktprozentsatz des Testkörpers proportionale Signal Ap wird als 0% am Meßgerät 135 angezeigt, wenn es Null ist, und als 100%, wenn es 100 ist. Auf diese Weise kann der korrigierte Rasterpunktprozentsatz des Testkörpers 133 erhalten werden.
Fig. 35 zeigt das Blockschaltbild einer weiteren Ausführungsform der Erfindung, wobei das von der Lichtquelle emittierte Licht FrequenzSchwankungen unterworfen ist, wie dies beispielsweise bei einer in einem Lichttisch untergebrachten Fluoreszenzlampe der Fall ist. Zur Vermeidung des Einflusses dieser Frequenzschwankungen wird ein Gleichstromfilter 139 oder ein Niederpaßfilter verwendet. Das Ausgangssignal des optischen Detektors 136 wird somit erst dann auf den Korrekturkreis 137 gegeben, wenn durch den Gleichstromfilter 139 die Wechselstromkomponenten ausgeschieden worden sind. Da der Ausgang des Korrekturkreises 137 nicht linear zu seinem Eingang ist, wird ein Wert, der durch Eingabe nur der Gleichstromkompone.nte eines Wechselstromkomponenten enthaltenden Signals erhalten wird nicht zu einer Koinzidenz mit einem Signal führen, das durch Eingeben desselben Signals di-
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rekt in den Korrekturkreis 137 erhältlich ist. Deshalb ist es notwendig, den Gleichstromfxlter 139 vor den Korrekturkreis 137 zu legen.
Fig. 36 zeigt ein weiteres Beispiel einer Meßvorrichtung, bei welcher keine Blende verwendet wird. In diesem Fall ist es notwendig, das Signal auf eine vorgegebene Pegelhöhe zu verstärken oder zu erniedrigen, und zwar mit einem Regelkreis 140, der eine Vorstufe des Korrekturkreises 137 darstellt; das Signal gelangt also über den Regelkreis 140 zum Korrekturkreis 137. Da die Kennlinie des Korrekturkreises 137 von der Linearität abweicht, würde das Ausgangssignal des Korrekturkreises 137, das durch Einführen eines mit einer Konstanten mulitplizierten Signals erhalten wird, sich vom Wert eines Signals unterscheiden, das dadurch entsteht, daß ein Ausgangssignal des Korrekturkreises 137, erhalten durch Eingeben des nicht geriegelten Signals, mit derselben Konstanten multipliziert wird. Deshalb ist es notwendig, die Regelung vor dem Korrekturkreis 137 vorzunehmen.
Als Regelkreis 140 von Fig. 36 kann ein veränderbarer Widerstand mit vielen Windungen vorgesehen werden. Diese veränderlichen Widerstände sind jedoch teuer und groß und sollten deshalb auch aus Platzgründen nicht in kleinen Meßvorrichtungen verwendet werden. Bei kleinen Meßvorrichtungen ist es deshalb erforderlich, einen veränderbaren Widerstand zu verwenden, der klein ist und den gesamten Bereich mit einer einzigen Windung erfaßt. Dabei stellt sich jedoch ein Problem. Bei einer kleinen Meßvorrichtung mit Lichttisch als Lichtquelle ist der erforderliche Justierungsbereich relativ groß, er beträgt das Dreifache bis Vierfache bezüglich des Regelverhältnisses, und zwar deshalb, weil das vom
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Lichttisch abgegebene Licht stark schwankt. Wenn nun mit nur einer einzigen Windung eines kleinen veränderbaren Widerstands der gesamte Einstellbereich erfaßt werden soll, dann ist es ziemlich schwierig, eine Feinjustierung vorzunehmen. In diesem Fall ist es dann günstiger, für die Blende einen Schraubenantrieb und für die Justierung einen veränderbaren Widerstand mit mehreren Windungen zu verwenden, wobei dann mit letzterem die Feinjustierung über den gesamten Justierbereich einwandfrei auch bei kleinen Meßvorrichtungen vorgenommen werden kann.
Wenn bei der Vorrichtung von Fig. 36 der Regelkreis 140 so gestaltet ist, daß er zumindest zwei Justierbereiche aufweist, die durch einen äußeren Umschalter wählbar sind, dann kann die Justierung noch schneller vorgenommen werden.
Die Meßvorrichtungen nach den Fig. 32, 35 und 36 sind bezüglich des Falles beschrieben worden, daß die Korrektur entsprechend der obigen Gleichung (1) vorgenommen wird. Die Genauigkeit kann jedoch durch die nachfolgende Gleichung (3) noch erhöht werden, in welcher die Zahl der verwendeten Therme erhöht ist.
Tc = T. a.Tmi (3)
In Fig. 37 ist ein Beispiel eines Korrekturkreises dargestellt, welcher dieser Funktion folgt. Zum Verständnis der Fig. 37 kann die Fig. 34 herangezogen werden.
Ein Beispiel einer derartigen Korrektur ist in Fig. 38 dargestellt, die mit Fig. 31 verglichen werden soll. Gemäß Fig. 38
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-39-wird folgende Korrekturfunktion verwendet:
Tc = 1.23T - 0.2T2 (4)
dabei ist in Fig. 38 die tatsächlich gemessene Kurve durch eine starr ausgezogene Linie dargestellt. Dabei sind lediglich drei
Korrektur faktoren erforderlich, nämlich die Faktoren m, a. und -. ^ ι
a2· Trotzdem ist die erhaltene Annäherung sehr gut, wie sich aus der grafischen Darstellung von Fig. 38 ergibt.
Fig. 39 zeigt ein Blockschaltbild einer Vorrichtung, mit deren Hilfe die oben beschriebene Korrektur vorgenommen werden kann. Die Vorrichtung ist so ausgelegt, daß die Justierung schnell durchgeführt werden kann.
Bei diesem Verfahren wird ein Signal T, welches die Durchlässigkeit repräsentiert und mittels eines Regelkreises die vorgegebene Pegelhöhe erreicht hat, um einen Faktor tX multipliziert, so daß ein Wert et T entsteht, womit dann eine Korrektur bezüglich einer Film-Grunddichte und eines Fehlerrasterpunkts durchgeführt wird, wobei die folgende Funktion bei T= 0.1 zu Null wird und bei T = 0.5 ihren Maximalwert erreicht.
T - Tm (5)
Die Funktion wird um einen Faktor /3 multiplizier^und das Ergebnis wird dem oben erwähnten Wert <X1 hinzuaddiert, womit ein Signal Tc erreicht wird, das die Durchlässigkeit repräsentiert und im Mittelbereich korrigiert ist. Dann wird die nachfolgende Berechnung durchgeführt, um ein dem Rasterpunktprozentsatz proportionales Signal Ap zu erhalten.
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Ap = (1 - Tc) χ 100
Die Diagramme A und B von Fig. 40 zeigen auf diese Weise erhaltene Korrekturkurven.
Der in Fig. 41 dargestellte Schaltkreis führt Korrekturen aus ähnlich denjenigen, die anhand der Fig. 39 erläutert worden sind. Dabei wird der Bereich <tT = 1 nicht beeinflußt. Auf diese Weise erhaltene Korrekturkurven sind in den Diagrammen A und B von Fig. 42 dargestellt. Einer der Vorteile dieser Methode besteht darin, daß -der Faktor cc wird vorab eingestellt- der Schaltkreis zum Multiplizieren des Faktors cf ersetzt werden kann durch den Blendenmechanismus und den Regelkreis.
Aus der obigen Beschreibung ist ersichtlich, daß bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Feststellung des Rasterpunktprozentsatzes der Lichtaufnahmeabschnitt und der Rasterpunktprozentsatz-Anzeigeabschnitt als eine Einheit ausgebildet sind. Deshalb kann die Rasterpunktauswertung schnell und exakt durchgeführt werden, und die Meßvorrichtung ist schnell betriebsbereit und trotzdem in ihrem Aufbau sehr einfach.
Darüberhinaus ist bei der Erfindung der Lichtaufnahmeabschnitt im Meßtisch derart angeordnet, daß die Oberkante der Öffnung des Lichtaufnahmeabschnittes mit der oberen Oberfläche des Meßtisches fluchtet. Der Lichtemissionsabschnitt, welcher das gewünschte Licht auf den zu messenden, auf dem Meßtisch liegenden Testkörper ausstrahlt, befindet sich in Gegenüberstellung zum Lichtaufnahmeabschnitt. Der bei den eingangs beschriebenen vorbekannten Meßeinrichtungen erforderliche Mechanismus zum vertikalen Bewegen
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des Lichtaufnahmeabschnittes in die Gegenüberstellung zum Lichtemissionsabschnitt kann somit bei der Erfindung weggelassen werdenDie Konstruktion der Meßvorrichtung ist deshalb wesentlich
einfacher und die Einstellzeit wird verkürzt.
Wesentlich sind bei der Erfindung auch die einen Teil der Meßvorrichtung darstellende Ausnehmung mit darin angeordnetem Lichtaufnahmezylinder- Durch diese Anordnung wird erreicht, daß das Gesichtsfeld des Beobachters bei der Messung nicht eingeschränkt
wird, wie dies bei den vorbekannten Meßvorrichtungen zwangsläufig der Fall war- Dabei kann der Lichtaufnahmezylinder einfach und
schnell über den gewünschten Bereich des zu messenden Testkörpers gebracht werden. Im allgemeinen werden ja derartige Messungen
an vielen Bereichen eines bestimmten Testkörpers vorgenommen und
darüberhinaus sind meist viele Testkörper zu untersuchen. Deshalb ist es von besonderem Vorteil, daß der Lichtaufnahmezylinder derart einfach zu betätigen ist, so daß der Beobachter viele Messungen schnell und ermüdungsfrei durchführen kann.
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Claims (1)

  1. DIPL.-ING. KLAUS BEHN 2839892
    DIPL.-PHYS. ROBERT MÜNZHUBEK
    PATENTANWÄLTE
    WIDENMAYERSTRASSE 6 D.8000 MÜNCHEN 22 TEL. (089) 222530-295192
    12. September 1978 A 18178 Mü/ib
    PATENTANSPRÜCHE
    (IJ Rasterpunktprozentsatz-Meßvorrichtung, gekennzeichnet durch einen Detektorabschnitt (74) , der über einen Konsolarm (76) mit dem Gerätekörper (60) verbunden ist.
    2. Rasterprozentsatz-Meßvorrichtung, gekennzeichnet durch einen Lichtaufnahmeabschnitt (10) und durch einen Rasterpunktprozentsatz-Anzeigeabschnitt (20) zum Umsetzen des vom Lichtaufnahmeabschnitt (10) aufgenommenen Lichtes in elektrische,, durch ein Meßgerät anzeigbare Daten, wobei der Lichtaufnahmeabschnitt (10) und der Rasterpunktprozentsatz-Anzeigeabschnitt (20) eine Einheit darstellen und das Meßgerät (22) den Rasterpunktprozentsatz eines Untersuchungskörpers anzeigt.
    3. Rasterpunktprozentsatz-Meßvorrichtung, gekennzeichnet durch einen Lichtaufnahmeabschnitt (10),einen fotoelektrischen Umsetzer (23) zum Umsetzen des vom Lichtaufnahmeabschnitt (10) aufgenommenen Lichtes in elektrische Daten, durch einen Speicher (29) zum Speichern des Ausgangs des Umsetzers (23) , durch einen Vergleichs-Subtraktionskreis (30), welcher den Ausgang des fotoelektrischen Umsetzers (23) und den vom Speicher (29) gespeicherten Wert miteinander vergleicht und voneinander subtrahiert, und durch
    Bankhaus Merck. Finck & Co. München Bankhaus H Aufhauser München Postscheck München —2"
    (BLZ 700 30400) Konto Nr 23464SJ (BLZ 70030600) Konto Nr 261300 (BLZ lOOIOOHOj Konto Nr ?(]<l(M nun
    Telegrammadresse Patenlsenior
    'or 9098 12/1008
    ORIGINAL INSPECTED
    ein Anzeigegerät (40) zur Anzeige des Ausgangs des Vergleichs-Subtraktionskreises (30), wobei am Meßgerät (40) der Betrag der Rasterpunktprozentsatz-Änderung anzeigbar ist.
    4. Rasterpunktprozentsatz-Meßvorrichtung, gekennzeichnet durch einen innerhalb eines Meßtisches angeordneten Lichtaufnahmeabschnitt (10) und durch einen Lichtemissionsabschnitt (7), der vorbestimmtes Licht zur Bestrahlung des auf dem Meßtisch zu messenden Objekts abgibt, wobei der Lichtemissionsabschnitt (7) starr gegenüber dem Lichtaufnahmeabschnitt angeordnet ist, derart, daß der Rasterpunktprozentsatz des Objekts aus der Menge an durch das Objekt hindurchgegangenen Lichtes bestimmbar ist.
    5. Tragbare Rasterpunkt-Meßvorrichtung, dadurch gekennzeichnet, daß in einen Bereich der Seitenwand des Gerätegehäuses (60) eine Ausnehmung eingeformt ist, die sich bis zum Gehäuseboden erstreckt, und daß in dieser Ausnehmung ein Lichtaufnahmezylinder (74) zur Aufnahme von durch das Meßobjekt hindurchgegangenen oder von diesem reflektierten Lichtes konsolenartig gehaltert ist.
    6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausnehmung sich an einer Ecke des Gehäuses (60) befindet.
    7. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausnehmung sich im mittleren Wandungsbereich des Gehäuses (60) befindet.
    8. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausnehmung sich von der oberen Oberfläche des Gehäuses bis zum Gehäuseboden erstreckt.
    9 0 9 ° -1 Λ Ί 0 0 S
    9. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch'!gekennzeichnet, daß die Ausnehmung sich von der oberen Oberfläche des Gehäuses bis zu dessen Boden erstreckt.
    10. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausnehmung sich von der oberen Oberfläche des Gehäuses bis zum Gehäuseboden erstreckt.
    11. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß sich die Ausnehmung von einer Seitenwand des Gehäuses bis zur Gehäusebodenwand erstreckt.
    12. Vorrichtung nach ANspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausnehmung sich von einer Seitenwand des Gehäuses bis zum Gehäuseboden erstreckt.
    13. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß sich die Ausnehmung von einer Seitenwand des Gehäuses bis zur Gehäusebodenwand erstreckt.
    14. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Lichtaufnähmezylinder zur Aufnahme von hindurchgegangenem oder reflektiertem Licht in der Ausnehmung mittels eines Stoßdämpfers gehaltert ist.
    15. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Lichtaufnähmezylinder zur Aufnahme von hindurchgegangenem oder reflektiertem Licht in seiner Gänze aus elastischem Material hergestellt ist.
    90 9·' ! / 1 0OB
    16. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der untere Teil des Lichtaufnahmezylinders zur Aufnahme von hindurchgegangenem oder reflektiertem Licht aus elastischem Material hergestellt ist.
    17. Rasterpunktprozentsatz-Meßvorrichtung, mit welcher die Lichtdurchlässigkeit eines bestimmten Bereiches eines als Testobjekt verwendeten Rasterfilms gemessen und daraus der Rasterpunktprozentsatz ermittelt wird, gekennzeichnet durch einen Filter (62), der in den optischen Weg der Vorrichtung eingesetzt ist und nur infrarotes Licht hindurchläßt.
    18. Rasterpunktprozentsatz-Meßvorrichtung, bei welcher die Lichtdurchlässigkeit eines Meßbereiches eines als Testobjekt verwendeten Rasterpunktfilmes gemessen und daraus der Rasterpunktprozentsatz ermittelt wird, gekennzeichnet durch einen in den optischen Weg eingesetzten Filter, der nur Infrarotlicht hindurchläßt und durch einen Korrekturkreis (127), zum Umsetzen eines Signals, dessen Wert bei einer Licht-durchlässigkeit von 0% und von 100% klein oder Null ist und bei einer Lichtdurchlässigkeit von 50% groß bzw. maximal ist, in ein Signal, das bezüglich der Lichtdurchlässigkeit eine lineare Abhängigkeit aufweist.
    19. Rasterpunktprozentsatz-Meßvorrichtung, bei welcher die mittlere Lichtdurchlässigkeit eines Meßbereiches eines als Testobjekt verwendeten Rasterpunktfilms ermittelt und daraus der Rasterpunktprozentsatz ermittelt wird, dadurch gekennzeichnet, daß das Verhältnis zwischen Lichtdurchlässigkeit und Rasterpunktprozentsatz des Filmes mit einer linearen Kombinationsfunktion angenähert ist, die sich aus einer Konstanten, einer ganzzahligen Gros-
    909812/10OS
    se und einer nicht-ganzzahligen Größe zusammensetzt, derart, daß ein Rasterpunktprozentsatz gemäß dieser linearen Kombinationsfunktion aus der Lichtdurchlässigkeit erhältlich ist.
    20. Vorrichtung nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß der Rasterpunktprozentsatz durch die Funktion
    Ap = (1 - T + Tm) χ 100
    angenähert ist, wobei Ap den Rasterpunktprozentsatz, T die durch den Ausdruck (0=T=1) definierte Lichtdurchlässigkeit und m (=1)
    eine Konstante darstellt.
    909812/100
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2495357A1 (fr) * 1980-12-01 1982-06-04 Dainippon Screen Mfg Circuit correcteur equipant un detecteur de surface proportionnelle de points de simili

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56154605A (en) * 1980-05-01 1981-11-30 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Measuring method and device for mesh image density or mesh area rate
JPS56154604A (en) * 1980-05-01 1981-11-30 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Measuring method and device for mesh image density or mesh area rate
EP0114030B1 (de) * 1982-12-20 1989-06-21 GRETAG Aktiengesellschaft Transmissionsdensitometer
US4749213A (en) * 1985-11-04 1988-06-07 The Standard Register Co. Secure financial instrument
DE3723701A1 (de) * 1987-07-17 1989-02-02 Krzyminski Harald Handmessgeraet zur optischen reflexionsmessung
DE4305968C2 (de) * 1993-02-26 1996-04-04 Techkon Elektronik Gmbh Handmeßgerät für Remissionsmessungen an farbigen Kontrollfeldern von Druckbogen
DE19842573A1 (de) * 1998-09-17 2000-04-13 Heidelberger Druckmasch Ag Verfahren zur farbadaptiven Kopierretusche bei der elektronischen Farbbildreproduktion
DE10312457A1 (de) * 2003-03-20 2004-09-30 Fogra Forschungsgesellschaft Druck E.V. Verfahren zur Bestimmung der auf einem Trägermaterial erzielten Pixelgröße eines Schreibstrahls sowie dessen Verwendung zur Bestimmung des absoluten Tonwerts

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3375751A (en) * 1964-03-16 1968-04-02 Barnes Eng Co Negative and print densitometer
US3393602A (en) * 1963-11-22 1968-07-23 David S. Stouffer Light density scanning device

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3053181A (en) * 1958-10-30 1962-09-11 Lithographic Technical Foundat Method for controlling print quality for lithographic presses
US4029958A (en) * 1975-07-25 1977-06-14 Crown Cork & Seal Company, Inc. Apparatus for inspecting containers

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3393602A (en) * 1963-11-22 1968-07-23 David S. Stouffer Light density scanning device
US3375751A (en) * 1964-03-16 1968-04-02 Barnes Eng Co Negative and print densitometer

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Der Polygraph 10-76, S. 725 *
Offsetpraxis 7-69, S. 7,12,13 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2495357A1 (fr) * 1980-12-01 1982-06-04 Dainippon Screen Mfg Circuit correcteur equipant un detecteur de surface proportionnelle de points de simili

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