DE1946209C - Verfahren und Vorrichtung zur punktweisen Messung der Dichtewerte von Reproduktionsvorlagen - Google Patents

Description

lung des Objektivs der Aufnahmekamera. Durch Streulichtbestimmungen am Reprogerat, für das die

Spiegelung zwischen den Linsenflächen, durch un- betreffende Programmierung angewendet werden

vermeidbaren Staubbefall der Außenlinsen sowie soll. Die Messung der integralen Dichte erfolgt in

feinste Oberflächenrauhigkeit (ζ. B. verursacht durch bekannter Weise dadurch, daß die Gesamtheit des

unsachgemäße Reinigung) wird das Objektiv selbst 5 von der Vorlage reflektierten Lichts von einer

zum Strahler, und es gelangt Licht auf die zu expo- Photozelle erfaßt wird, nachdem das Gerat zunächst

nierende Schicht auch an jenen Stellen, an denen genullt, d.h. so eingestellt wurde, daß bei einem

besonders dunkle Vorlagenpartien abgebildet wer- völlig weißen Bogen die integrale Dichte Null ange-

den. Durch das der eigentlichen optischen Abbildung zeigt wird. Der erwähnte Streulichttest gibt Auskunft

überlagerte ""eulicht wird allgemein der Kontrast io darüber, welcher Simulationsbetrag bei einer solchen

reduziert, d. ■ das »ankommende« Bild hat kleine- Vorlage eingestellt werden muß. Die Einstellung

ren Dichteumfang als die Vorlage. selbst erfolgt bei gegen den Prüfling völlig abgebien-

Bei der dunklen Vorlage entsteht dagegen prak- deter Meßzelle durch Regulierung der Zusatzhcht-

tisch kein Streulicht, der Dichteumfang der Vorlage oder Strom-Intensität.

ist praktisch gleich dem Kontrast des ankommenden 15 In der einfachsten Ausführung des erfindungs-

Bildes. Die Belichtungsprogrammierung nur auf gemäßen Dichtemeßgerätes ist also in Ergänzung des

Grund der D₁₁₁₁₁,- und D„,_a,-Messung der Vorlage ist Spezial-MeCkopfes ein Regler für die manuelle Em-

also ungenügend. gäbe des Streulicht-Simulationsv tes vorgesehen

Diesen Nachteil bei der Belichtungs- bzw. Oichtc- wobei es gleichgültig ist, ob die integrale Dichte de:

messung von Reproduktionsvorlagen zu beheben, ist ao Vorlage geschätzt oder gemäß vorstehender Be

Aufgabe der vorliegenden Erfindung. Diese Aufgabe Schreibung gemessen wurde.

ist nach der Erfindung mit einem Verfahren der ein- In einer weiter vervollkommneten Ausführung der gangs genannten Art derart gelöst, daß zu dem auf erfindungsgemäßen Dichtemeßeinrichtung wird diedie Photozelle fallenden Meßlicht oder zu der von manuelle Eingabe durch eine automatische Nachfüh der Photozelle erzeugten elektrischen Größe optisch as rung ersetzt: Das von der Integral-Dichtemeßvoi bzw. elektrisch eine Zusatzgröße als Korrektur- richtung gelieferte Signal wird gespeichert und bc größe addiert wird, die dem Produkt aus inteeraler der anschließenden Durchführung der D_nii„- un : Dichte der Vorlage und experimentell bestimmter D,,,,,-Messung unter Berücksichtigung der Streulich; Streulichtquote der für die «pätere Reproduktion quote der Kamera selbsttätig eingegeben, zu benutzenden Aufnahmeapparatur proportional 30 Weitere Einzelheiten werden nachfolgend an Han.i ist. einer beispielsweisen zeichnerischen Darstelluiu

Die Vorrichtung, die aus einem Dichtemeßgerät näher erläutert:

mit Meßlichtquelle, Optik und Photozelle besteht, ist In dieser Darstellung zeigt schematisch

zur Durchführung des Verfahrens derart ausgebildet, Fig. 1 eine helle Bildvorlage,

daß dem Dichtemeßgerät Regeleinrichtungen für die 35 Fig. 2 eine dunkle Bildvorlage und

Addition der 7usatzgröße zugeordnet sind, welche Fig. 3 ein Dichtemeßgerät für Aufsichtsmessuni:

mit einer Zusatzlichtquelle 11 bzw. Zusatzstrom- Die beiden Vorlagen in den Fig. 1 und 2 haben

quelle gekoppelt sind. bei gleichen D₁₁₁₁,,- und D_111n,-Werten eine unter

Erfindungsgemäß wird also das Dichtemeßgerät schiedliche Gesamthelligkeit bzw. integrale Dichte

zur Durchführung des Verfahrens so eingerichtet, 40 Bei der dunklen Vorlage gemäß Fig. 2 entsteht

daß die bei der späteren Reproduktionsaufnahme praktisch kein Streulicht, während, wie einleitend

entstehende Streulichtwirkung bei der dichternäßigen bereits erläutert, die helle Vorlage gemäß Fig. 1 zu

Messung einzelner Stellen der Vorlage simuliert und einer starken Aufhellung des Objektivs der Auf-

dadurch im Meßwert mit erfaßt wird. nahmekamera führt. Mit dem Gerät nach Fig. 3,

Diese Streulicht-Simulation kann optisch und/oder 45 das eine mögliche Ausführungsform darstellt, kann elektrisch erfolgen: Bei der optischen Streulicht-Simu- die ungenügende Belichtungsprogrammierung, die lation läßt man auf die Photozelle des Meßgerätes nur auf einer D_mi„- und D₁₁₁,,-Messung basiert, in der außer dem von der Meßstelle der Vorlage ausgehen- beschriebenen Art vervollkommnet werden, den Licht noch ein zusätzliches Lichtbündel regel- Bei d:eser Meßanordnung sind im einzelnen bebarer Intensität auftriffen, z. B. durch Einspiegelung 50 zeichnet mit 1 eine Aufstellfläche (Tisch), mit 2 das über teildurchlässige Spiegel. Gehäuse des Aukichtsmeßkopfes, mit 3 die Meß-

Bei der elektrischen Streulicht-Simulation wird lichtquelle mit dem Glühwendel 4 und mit 5 eine

dem Meßstrom, gegebenenfalls auch dem verstärkten mehrlinsige Kondensoranordnung, die das Licht in

Meßstrom, ein Zusatzstrom zugeschaltet und dem den Meßpunkt 6 ö~.r Vorlage 7 bündelt. Eine Optik 8

Anzeige-Instrument mit zugeführt. Die Streulicht- 55 bildet den Meßfleck auf die Photozelle 9 ab. 10 ist

Simulation kann sowohl bei Dichtemeßgeräten für die Lampe mit der Wendel 11 für das Zusatzlicht.

Aufsichtsmessung als auch bei Geräten für Durch- Das mit 16 bezeichnete Lichtbündel wird durch den

Sichtsmessung erfolgen. Umlenkspiegel 17 ebenfalls auf die Zelle gerichtet.

Grundlage für die Dosierung des Zusatzlichts Dabei ist die Intensität des Zusatzlichtes durch den

(oder Zusatzstroms) für die Streulicht-Simulation ist 60 Drehkeil 12 zu regein, der über den Drehknopf 14 zu

einerseits die Messung der integralen Dichte der verstellen ist. Der eingestellte Wert wird auf der

Vorlage, andererseits das Ergebnis von üblichen Skala 15 abgelesen.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (8)

. Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Patentansprüche: Vorrichtung zur" punktweisen Messung der Dichte-

1. Verfahren zur punktweisen Messung der werte von Reproduktionsvorlagen zwecks anschlie-Dichtewerte von Reproduktionsvorlagen zwecks Bender Belichtungsprogrammierung, wobei em Meßanschließender Belichtungsprogrammferune, wo- 5 lichtstrahl auf bzw. durch die Vorlage gerichtet und bei ein Meßlichtstrahl auf bzw. durch die Vor- das von der Meßstelle der Vorlage reflektierte bzw. lage gerichtet und das von der Meßstelle der durchgelassene Licht von einer Photozelle aufgpnom-Vorlage reflektierte bzw. durchgelassene Licht men wird. Der Photozellenstrom wird dann, gegevon einer Photozelle aufgenommen wird, d a - benenfalls verstärkt, einem Anzeige-Instrument oder durch gekennzeichnet, daß zu dem auf io einer Digitalanzeige zugeleitet.

die Photozelle fallenden Meßlicht oder zu der Bei Rasteraufnahmen nach Halbtonvorlagen be-

von der Photozelle erzeugten elektrischen Größe steht eine Besonderheit darin, daß in den meisten optisch bzw. elektrisch eine Zusatzgröße als Fällt..! eine zweistufige Belichtung gegeben werden Korrekturgröße addiert wird, die dem Produkt muß, und zwar vor oder nach der eigentlichen Bildaus integraler Dichte der Vorlage und experi- 15 belichtung. Man spricht hierbei von »Hauptbelichmentell bestimmter Streulichtquote der für die tungen« und einer zusätzlichen »Hilfsbelichtung«. spätere Reproduktion zu benutzenden Aufnahme- Für die richtige Dosierung der »Hauptbelichtunc;

appjratur proportional ist. genügt dabei die Messung des D_min-VVerts der VOr-

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch ge- lage, also die Bestimmung der Dichte der hellsten kennzeichnet, daß die Zusatzgröße durch regel- 30 Vorlagestelle. Bei Anwendung der so bestimmten bare Einwirkung von Licht auf die Meßzelle Hauptbelichtung werden a-if dem erzeugten Rastenzusätzlich zum eigentlichen Meßlicht addiert negativ die »Lichtpunkte« die gewünschte Größe wird. zeigen. Die »Tiefen«, also die dunkelsten Partien de;

3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch ge- Vorlage, werden jedoch auf dem Rastes negativ nicht kennzeichnet, daß die Zusatzgröße durch regel- 25 durchgezeichnet und ohne Tiefenpunkte erscheinen bare Koppelung zum Meßstrom addiert wird. Man weiß nämlich, daß das Dichteüberbrückung*-

4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch ge vermögen des Rasters im allgemeinen nicht ausreich!, kennzeichnet, daß die zu addierende Zusatzgröße um mit der Hauptbelichtung allein in allen Tonin der Weise bestimmt wird, daß zunächst die wertstufen der Vorlage eine Rasterpunktstruktu: integrale Dichte der Vorlage mit einem Integral- 30 hervorzubringen. Erst die zusätzlich gegebene »Hilfs-Dichtemeßgerät festgestellt wird, worauf dieser belichtung«, die nicht bildmäßig, sondern auf der Wert mit der experimentell ermittelten Streu- ganzen Filmfläche gleichmäßig wirkt, erweitert dk lichtquote der zur Reproduktion zu verwenden- Dichteüberbrückung des Rasters auf die gesamte den Apparatur multipliziert und daß dann dieses Tonwertskala der Vorlage, wobei sich der Effekt Produkt direkt oder über einen Speicher selbst- 35 der Hiifsbelichtung unterschwellig zu dem Effekt der tätig zum Meßwert des Dichtemeßgerätes addiert Hauptbelichtung in der Emulsion addiert und ein wird. entwickelbares latentes Bild aufbaut.

5. Vorrichtung zur Durchführung des Verfah- Wird andererseits die Hiifsbelichtung falsch rens nach Anspruch 1, bestehend aus einem dosiert, so entstehen bei zu kurzer Hilfsbelichtuni: Dichtemeßgerät mit Meßlichtquelle, Optik und 40 wiederum zeichnungslose Tiefen im Rasternegativ Photozelle, dadurch gekennzeichnet, daß dem Bei zu langer Hiifsbelichtung dagegen werden die Dichtemeßgerät Regeleinrichtungen für die Addi- Tiefen und dunkleren Mitteltöne aufgehellt, und tion der Zusatzgröße zugeordnet sind, welche kraftlose, graue Tiefenpartien sind die Folge.

mit einer Zusatzlichtquelle bzw. Zusatzstrom- Der richtigen Dosierung der Hiifsbelichtung

quelle gekoppelt sind. 45 kommt also entscheidende Bedeutung für die Quali-

6. Vorrichtung nach Ansprüchen 2 und 5, da- tat der Rasteraufnahme zu. Die übliche Methode durch gekennzeichnet, daß im Dichtemeßgerät zur Dosierung der Hiifsbelichtung besteht darin, daß eine Zusatzlichtquelle (10) mit einstellbarem man außer dem oben erwähnten D„„_n-Wert auch den Drehkeil (12) angeordnet ist, wobei hinter dem D₁₁₁₃,-Wert (also die Dichte der dunkelsten Vor-Drehkeil ein Spiegel (17) zur Umlenkung des Zu- 5° lagenstelle) bestimmt, dann die Differenz von D₁₁₁..,,,— satzlichtstrahls in die Photozelle (9) angeordnet D_lllin bildet, wobei man vom Dichteumfang der Vorist, lage spricht, und von diesem Dichteumfang das

7. Vorrichtung nach Ansprüchen 3 und 5, da- experimentell gefundene Dichteüberbrückungsverdurch gekennzeichnet, daß dem Dichtemeßgerät mögen des Rasters abzieht. Das Resultat dieser Subeine zusätzliche Stromquelle mi*. Regeleinrich- 55 traktion wird als »Dichteüberschuß« bezeichnet, tung, wie regelbarer Widerstand od. dgl., züge- und dieser Dichteüberschuß ist der Ausgangswert ordnet ist, deren Anschlüsse mit den Anschlüs- für die Dosierung der Hiifsbelichtung.

sen der Photozelle in Verbindung stehen. Die Praxis hat nun gezeigt, daß die nach entspre-

8. Vorrichtung nach jedem der Ansprüche 5 chenden Formeln allein aus dem Dichteüberschuß bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß dem Dichte- 60 ermittelten Hilfsbelichtungszeiten nicht immer zum meßgerät ein Dichtemeßgerät zur Bestimmung erwarteten Erfolg führen, wobei festgestellt wurde, der integralen Dichte der Vorlage zugeordnet ist, daß die Hauptursache vorkommender Fehler in dem wobei das integrale Dichtemeßgerät bzw. dessen jeweils mehr oder weniger stark auftretenden Streu-Photozelle mit der Regeleinrichtung bzw. der licht liegt.

Anzeige des anderen Dichtemeßgerätes unter 65 Geht man beispielsweise von zwei Vorlagen aus, Zwischenschaltung eines Speichers in Verbin- die gleiche D_nHn- und D_max-Werte aufweisen, jedoch dung steht. verschiedene Gesamthelligkeit oder »integrale Dichte«,

so führt die helle Vorlage zu einer starken Aufhel-