DE2853458A1

DE2853458A1 - Verfahren und vorrichtung zur messung der helligkeit von mahlprodukten einer muehle, insbesondere von mehl

Info

Publication number: DE2853458A1
Application number: DE19782853458
Authority: DE
Inventors: Emanuel Kummer
Original assignee: Buehler AG
Current assignee: Buehler AG
Priority date: 1978-09-29
Filing date: 1978-12-11
Publication date: 1980-04-03
Also published as: AR223687A1; DE2853458C3; ES484441A1; BR7906269A; US4260263A; ZA794782B; JPS5570725A; SU938754A3; DD146342A5; DE2853458B2

Description

GEYER, HAGEMANN & PARTNER

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Gebrüder Bühler AG, Uzwil / Schweiz
u.Z.: Pat 71/17-78E GM 71/18-78E

G-

München, den

11. Dezember 1978 vS/6/da

VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR MESSUNG DER HELLIGKEIT

VON MAHLPRODUKTEN EINER MÜHLE, INSBESONDERE VON MEHL

Beanspruchte Priorität: Datum:

Land: Aktenzeichen:

Schweiz 10189/78-1

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CEYER_yHAGEMANN & PARTNER.

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Gebrüder Bühler AG, München, den

Uzwil/Schweiz .11· Dezember 1978

u.Z.: Pat 71/17-78E vS/6/da GM 71/18-78E

Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Helligkeit

von Mahlprodukten einer Mühle, insbesondere von Mehl

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Messung der Helligkeit von Mahlprodukten einer Mühle, insbesondere von Mehl, mittels eines lichtempfindlichen Elements zur Umwandlung von Lichtstrahlen in elektrische Signale, wobei wenigstens ein Lichtstrahl in wenigstens einen ersten Teilstrahl und einen zweiten Teilstrahl aufgespalten wird, wobei weiterhin der erste Teilstrahl (Referenz-Strahl) zur Referenzwertbildung auf das lichtempfindliche Element gelenkt wird, und der zweite Teilstrahl (Meß-Strahl) zur Meßwertbildung auf die Oberfläche einer Mehlschicht gelenkt und der diffus remittierte Anteil ebenfalls auf das lichtempfindliche Element gelenkt wird, worauf die durch den Referenz-Strahl und die durch den Meß-Strahl hervorgerufenen elektrischen Ausgangssignale des Wandlers bzw. lichtempfindlichen Elements zur Ermittlung des Helligkeitswerts des Meß-Strahls in Bezug auf den Referenz—Strahl einer Auswertungs- und Anzeigeeinrichtung

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zugeführt werden.

Das Ziel bei der Herstellung von Mehl, insbesondere Getreidemehl, ist die höchstmögliche Ausbeute an hellen Mehlen, d.h. weißen und dunklen Mehlen einerseits und möglichst mehlfreien Schalen bzw. Grüsch andererseits. Der eigentliche Mehlkörper hat einen Anteil von ca. 82,5 % eines Weizenkornes. In der Praxis werden heute etwa 8 2 % helle Hehle, davon 60 % weiße Mehle angestrebt. Durch den komplizierten Aufbau des Getreidekornes und der IQ "Massen"-Vermahlung bedingt, muß eine leichte Vermischung der Fraktionen - insbesondere die dunklen Mehle enthalten Schalenteile und die Grüsch enthält Mehlteile - in Kauf genommen werden.

Der Grad der Vermischung beeinflußt unmittelbar die resultierende Mehl-Helligkeit und ist ein wichtiges Qualitätskriterium für die Mahlprodukte. Die Preisdifferenz zwischen Grüsch und Weißmehl beträgt ca. 1 : 2, woraus sich das Streben nach möglichst exakter Trennung der Fraktionen ergibt, welche sich unter anderem besonders vorteilhaft durch Kontrolle der Mehl-Helligkeit überwachen läßt. In der Praxis wird die Mehl-Helligkeit vielfach mit der sogenannten Pekar-Probe festgestellt.

Bei der ebenfalls gebräuchlichen Aschenprobe ergeben die Schalenteile höhere Aschenwerte im Verhältnis zum reinen Mehlkörper. Der Mehlkörper ist hell bzw. gelblich-weiß. Die Schalenteile sind dagegen dunkel und geben dem Mehl die Dunkelfärbung. Auf dem Umweg über die Asche kann deshalb bestimmt werden, wie hoch in einem Mehlmuster der Schalenanteil ist, und daraus wiederum kann ein gewisser Rückschluß gezogen werden auf die Helligkeit des Mehles. Nachteilig bei der Aschenprobe ist die Zeit, die dafür gebraucht wird, z.B. 6 und mehr

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Stunden. Mit der Aschenprobe kann deshalb nur rückblickend Helligkeitsgrad und Mühleneinstellung ermittelt werden. Eine Sofortaussage über den momentanen Stand der Mahlprodukte gestattet die Aschenprobe nicht, so daß sie für eine kontinuierliche Überwachung oder Regelung der Mühle nicht geeignet ist.

Die Pekar-Probe ist deshalb heute allgemein gebräuchlich zur Prüfung der Mehlhelligkeit. Dabei wird ein Kontrollmuster sowie ein zu prüfendes Mehlmuster auf einen Spachtel nebeneinander gesetzt, durch Abstreifen der Oberfläche egalisiert und sodann das Ganze befeuchtet. Die Probenvorbereitung ist sehr einfach und nimmt kaum eine Minute in Anspruch. Die Pekarprobe erlaubt durch Betrachten mit dem bloßen Auge eine erstaunlich feine Erfassung der Helligkeitsnuancen zwischen Probe und Muster.

Es sind auf dem Markt Helligkeitsmeßgeräte vorhanden, mit denen im Rahmen bestimmter technischer Normen Absolutwerte für die Helligkeit festgestellt werden können. Solche Helligkeitsmeßgeräte sind in vielen Anwendungsgebieten,ζ.B. der Papier- und Textilindustrie oder bei der Herstellung von Belagsmaterialien oder in der FarbstoffIndustrie unentbehrlicher Bestandteil von Produktionsanlagen.

Für die Helligkeitsmessung von Mehl konnten sich derartige Meßgeräte nicht durchsetzen. Dies liegt insbesondere daran, daß die Mehrzahl der bekannten Meßgeräte und Meßverfahren entweder nach dem Prinzip des Vergleichs der Meßwerte einer opto-elektrischen Meßzelle und einer opto-elektrischen Vergleichszelle arbeiten. Diese Geräte sind für exakte Prüfungen zu ungenau, sie müssen häufig geeicht werden und sind für

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den kontinuierlichen Einsatz, z.B. als Kontroll- oder Regelgeräte ungeeignet. Die Schweizer Patentschrift 414 205 der Anmelderin zeigt ein derartiges bekanntes Meßverfahren.

Ein anderes bekanntes Remissionsgerät zur Helligkeitsbestimmung weist eine Lichtquelle auf, deren Abstrahlung optisch in zwei Teilstrahlen zerlegt wird, welche daraufhin durch eine Modulationsanordnung in intermittierende Lichtstrahlen unterschiedlicher Frequenz umgewandelt werden. Einer der modulierten Teilstrahlen wird direkt einem lichtempfindlichen Element zugeführt, der andere wird auf eine zu messende Farbfläche gelenkt und das remittierte Licht sodann ebenfalls dem lichtempfindlichen Element zugeführt. Dieses gibt dementsprechend elektrische Signale ab, deren Frequenzen den Frequenzen der beiden 5 Teilstrahlen entsprechen und deren Amplitude proportional zur Amplitude des Referenz-Teilstrahls bzw. des remittierten Meß-Teilstrahls ist. Durch Frequenz-Filteranordnungen werden die Meß- und Referenz-Signale aus dem Ausgang-Signal des lichtempfindlichen Elements herausgefiltert und sodann wird durch Differenzbildung oder Quotientenbildung die Amplitude des Meß-Signals im Vergleich zur Amplitude des Referenz-Signals, und damit der relative Helligkeitswert der gemessenen Farbfläche erm.ittelt.

Durch die Verwendung einer einzigen Lichtquelle für Meß-Strahl und Referenz-Strahl sowie den Einsatz eines einzigen lichtempfindlichen Elements werden ersichtlicherweise wesentliche Fehlerquellen bekannter Geräte ausgeschaltet. So wirkt sich z.B. eine Helligkeitsschwankung der Lichtquelle gleichermaßen auf den Meß-Strahl und den Referenz-Strahl aus, was beim Vergleich bzw. der Quotientenbildung der beiden Ausgangs-Signale wieder kompensiert wird. Gleiches gilt für AlterungsSchwankungen des lichtempfindlichen Elementes oder für Spannungsschwankungen

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oder Schwankungen in etwa'vorgesehenen Verstärkerschaltungen .

Der Nachteil dieses bekannten Remissionsmeßgeräts liegt insbesondere darin, daß durch die Modulation der Lichtsignale bzw', die spätere Trennung der beiden Signalfrequenzen ein außerordentlich großer technischer Aufwand bedingt wird. Dies deshalb, weil von der exakten Trennung der beiden Signalfrequenzen unter Beibehaltung der den Lichtwerten entsprechenden, Amplitudenwerte die Genauigkeit des Meßergebnisses abhängt. Dies bedingt teuere Frequenzfilter. Außerdem ist das bekannte Remissionsgerät durch das gewählte Modulationsverfahren störanfällig: Ersichtlicherweise führt jede Drehzahländerung der Modulationsscheibe zu einer Frequenzänderung des bzw. der Lichtstrah- len, was wiederum zu Auswertungsfehlern in den Bandfiltern oder den Frequenzfiltern führen kann.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Nachteile des bekannten zu vermeiden, insbesondere also ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Helligkeitsmessung von Mehl oder anderen Mahlprodukten einer Mühle zu schaffen, das bei einfachem Aufbau zuverlässige Meßresultate liefert und sowohl zur Helligkeitsmessung im Labor als auch insbesondere zur kontinuierlichen Helligkeitsmessung im Rahmen der Qualitätskontrolle oder der Regelung einer Mühle verwendet werden kann.

Erfindungsgemäß wird dies in erster Linie dadurch erreicht, daß der Strahlengang des Referenz-Strahls und/oder des Meßstrahls zyklisch in wenigstens zwei zeitlich verschobenen Heß-Phasen derart unterbrochen wird, daß von den beiden Teilstrahlen während einer ersten Anzahl von Meß-Phasen nur jeweils einer der beiden Teilstrahlen das lichtempfindliche Element bzw, den opto-elektrischen Wandler beaufschlagt, und daß vährend

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einer zweiten Anzahl von Meß-Phasen jeweils wenigstens der andere Teilstrahl das lichtempfindliche Element beaufschlagt, und daß jeweils wenigstens ein Ausgangs-Signal des lichtempfindlichen Elements während der ersten Anzahl von Meß-Phasen zwischengespeichert und mit wenigstens einem darauffolgenden Ausgangssignal der zweiten Anzahl von Meß-Phasen verglichen wird.

Erfindungsgemäß wird dabei ersichtlicherweise keine Modulation der Lichtstrahlen durchgeführt, sondern es wird wenigstens einer der Teilstrahlen intermittierend abgelenkt, so daß der andere Teilstrahl während dieser Meß-Phase allein das lichtempfindliche Element beaufschlagt. Auf diese Weise tritt keine "Vermischung" der beiden Teilstrahlen am opto-elektrischen Wandler ein, die eine aufwendige Trennung und Siebung erforderlich machen würde.

Vielmehr läßt sich druch Messung der Ausgangs-Signale des lichtempfindlichen Elements in den einzelnen Meß-Phasen ein Wert ermitteln, der unmittelbar proportional zum Meßwert bzw. zum Referenzwert ist. Der konstruktive Aufwand der Anordnung läßt sich besonders gering halten, wenn lediglich einer der beiden Teil-Strahlen abgelenkt bzw. unterbrochen wird, während der andere Teil-Strahl kontinuierlich auf das Element fällt.

Besonders zuverlässige Trennung der Signale,d.h. besonders zuverlässige Resultate lassen sich erreichen, wenn Maß-Strahl und Referenz-Strahl abwechselnd auf das lichtempfindliche Element gelenkt werden.

Dabei werden viele Einflüsse, z.B. durch Schwankungen der Lichtquelle oder des lichtempfindlichen Elements besonders gut kompensiert, wenn zur Auswertung der Ausgangs-Signale der Quotient aus dem Signal, welches der Helligkeit des Meß-Strahls entspricht und dem Signal, welches der Helligkeit des Referenz-Strahls entspricht, gebildet wird.

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Besonders einfach läßt sich das erfindungsgemäße Verfahren in einem Meßgerät realisieren, welches eine Ablenkeinrichtung zur Unterbrechung des Strahlcngangs wenigstens eines Teilstrahls sowie eine an den Ausgang des lichtempfindlichen Elements angeschaltete Umschalteinrichtung aufweist, deren einer Ausgang an einen ersten Speicher zur Zwischenspeicherung von Meßwert-Signalen und deren zweiter Ausgang an einen zweiten Speicher zur Zwischenspeicherung von Referenzwert-Signalen angeschlossen ist, und das weiterhin eine jeweils die erste und zweite Meß-Phase ermittelnde überwachungseinrichtung zur Ansteuerung der Umschalteinrichtung aufweist. Ersichtlicherweise wird dadurch gewährleistet, daß im Verfahrensablauf wenigstens einer der Teilstrahlen unbeeinflußt vom zweiten Teilstrahl am lichtempfindlichen Element anliegt, und daß darüberhinaus durch die Überwachungseinrichtung eine einwandfreie Trennung der Meß-Phasen gewährleistet wird, so daß die Signalwerte in den beiden Speichern jeweils zuverlässig proportional zu den Meßwert-Signalen bzw. den Referenzwert-Signalen sind.

Besonders störungssicher und einfach läßt sich die Überwachungseinrichtung realisieren, wenn diese unmittelbar an der Ablenkeinrichtung vorgesehen ist, welche die Unterteilung des oder der Teil-Strahlen in den einzelnen Meß-Phasen durchführt. In der Praxis hat sich dabei eine opto-elektrische Überwachungseinrichtung zur Positionsüberwachung der Blendenanordnung besonders bewährt, da sich auf diese Weise die Steuerimpulse für die Überwachungseinrichtung durch die gleiche Blende erzeugen lassen, welche die Unterbrechung des Meß-Strahls und/oder des Referenz-Strahls durchfuhrt. Auf diese Weise ist besonders zuverlässige Synchronisation der Meß-Phasen bzw. der Auswertung sichergestellt.

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Sofern die Ansteuerung der Umschalteinrichtung zur Trennung von Meßwert-Signalen und Referenzwert-Signalen elektronisch durchgeführt werden soll, haben sich Schwellwert-Meßanordnungen besonders bewährt, welche an den Ausgang des opto-elektrischen Wandlers angeschlossen sind und in Abhängigkeit von der Amplitude des dort anliegenden Signals die Umschalteinrichtung ansteuern.

Das erfindungsgemäße Verfahren läßt sich sowohl für Meßverfahren mit Fremdlichteinfall als auch ohne Fremdlichteinfall verwirklichen. Besonders einfach ist dies dadurch zu erreichen, daß die Strahlengänge von Referenz-Strahl und Meß-Strahl derart abwechselnd unterbrochen werden, daß während einer Anzahl von Meß-Phasen nur einer der Teilstrahlen sowie der Fremdlichtstrahl das lichtempfindliche Element beaufschlagen, daß während der zweiten Anzahl von Meßphasen wenigstens der andere Teilstrahl und der Fremdlicht-Strahl das lichtempfindliche Element beaufschlagen, daß während der dritten Anzahl von Meß-Phasen beide Teilstrahlen unterbrochen werden, so daß nur der Fremdlichtstrahl das lichtempfindliche Element beaufschlagt, daß wenigstens jeweils ein Ausgangs-Signal des lichtempfindlichen Elements während der ersten und während der zweiten Anzahl von Meß-Phasen zwischengespeichert und" daß die Signale miteinander sowie mit wenigstens einem Ausgangssignal während der dritten Anzahl von Meß-Phasen verglichen werden. Auf diese Weise lassen sich die Fremdlicht-, Referenzlicht- und Meßlichtstrahlen vorteilhaft trennen und durch Vergleich bzw. Differenzbildung kann der Fremdlichteinfall eliminiert und das Verhältnis von Referenz-Strahl und Meß-Strahl ermittelt werden. Dies ist besonders für Labormessungen bei vollem Umgebungslicht vorteilhaft.

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Gemäß der Erfindung werden also bevorzugt die Strahlengang© derart unterbrochen, daß das lichtempfindliche Element (Bauteil) während zeitlich verschobenen Phasen von verschiedenen Licht- bzw. Teillichtstrahlen beleuchtet, wobei der Referenz- und der Meßstrahl vorzugsweise aus Gleichlicht gebildet, und die zu den einzelnen Phasen gehörenden elektrischen Ausgangssignale des lichtempfindlichen Bauteiles soweit als erforderlich zwischengespeichert und der Auswertungs- und ggf. Anzeigeeinrichtung zugeführt werden.

Als eigentlich überraschend hat sich ergeben, daß die Erfindung auf einem einfachen und trotzdem sicheren Weg sowohl die probeweise Helligkeitsmessung im Labor, wie auch die kontinuierliche Helligkeitsmessung bzw. Überwachung im Rahmen der Qualitätskontrolle oder der Regelung einer Mühle ermöglicht.

In der Fachwelt war bisher die Meinung vorherrschend, daß für die Behandlung von zwei derart verschiedenen Problemen wie eine Labormessung und eine Produktionsüberwachung, das teure Verfahren, nämlich das Laborverfahren zusätzlich noch an die Bedingungen der Produktionsanlage angepaßt werden muß. Konkret heißt das, daß ein Laborgerät gewünscht wird, bei dem die zu prüfende Probe oder die zu vergleichenden Proben bei vollem Umgebungslicht unter den-Optikkopf gesetzt und gemessen werden kann. Dies hat hier zur Folge, daß das Umgebungslicht mittels mechanischer, optischer und elektronischer Zusatzeinrichtungen wieder unschädlich gemacht wird.

Im Falle der Produktionsüberwachung bei einem Schüttgut wie Mehl, das unvermeidbar Staubprobleme gibt, müßte eine frei in der Anlage aufgelegte Probe, auch wenn sie unter Glas wäre, ständig zusätzlich noch vom Umgebungsstaub be-

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freit werden, da sonst ein völlig falsches Resultat vorgetäuscht würde. Die bloße Verwendung von Wechscllicht, um das Umgebungslicht unschädlich machen zu können, hilft nicht mit, um das Staubproblem zu lösen. Das Staubproblem muß mit einer zusätzlichen Abschirmung von der Umgebungsluft, durch völlige Einkapselung gelöst werden, was letztlich jedoch die Verwendung von Wechsellicht unnötig machen würde.

Die Erfindung erlaubt verschiedene sehr sinnvolle und vorteilhafte Ausgestaltungen, wobei von einem Grundbausatz aus entweder ein allgemein verwendbares Gerät, oder aber mit dem minimal erforderlichen Aufwand ein dem besonderen Fall angepaßtes und deshalb preisgünstiges Gerät entsprechend dem Verfahren gebaut werden kann. Zum Beispiel für die Labormessung, unter vollem Umgebungslicht ist es sehr vorteilhaft, wenn während zeitlich verschobenen Phasen erst der Referenzstrahl, dann der ließstrahl und in der dritten Phase Referenzstrahl und Meßstrahl gleichzeitig unterbrochen werden. Hierbei ist es zweckmäßig, den Meßstrahl, z.B. mit einer flachen, drehenden Scheibe entsprechender Form, vor _l; dem Auftreffen auf die Mehloberfläche zu unterbrechen, wobei dann in der dritten Phase nur das von der Mehloberfläche remittierte Umgebungsiicht auf das lichtempfindliche Bauteil gelenkt wird.

In diesem Fall ist es mit relativ geringem Aufwand möglich, den Quotienten aus dem elektrischen Signal, welches der Helligkeit des Meßstrahles allein (SM) entspricht, und dem Signal, das der Helligkeit des Referenz-Strahles allein (SR) entspricht, zu bilden, und als Maß für die Mehlhelligkeit auszuwerten bzw. anzuzeigen.

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Dasselbe Verfahren kann aber auch jzur kontinuierlichen Messung bzw. Kontrolle der ständigen Produktion angewendet, und ohne Nachteil das Umgebungslicht durch Einkapselung von mindestens der Meß-Stelle mit Meßkopf abgeschirmt oder auch freigelassen werden. Dies gilt auch für die dritte Phase. Offensichtlich kann das Verfahren für die eine oder die andere Anwendung ohne überflüssige Verfahrensschritte Verwendung finden, wodurch nicht zuletzt die Störanfälligkeit durch etwaigen Fremdlich, te infall infolge von Beschädigungen oder Fehlbedienung verringert wird.

Ist es von_fvorneherein festgelegt, daß das Umgebungslicht ausgeschlossen bleibt, was selbstverständlich auch im Falle der Probemessung im Labor, z.B. durch schubladenartiges Einschieben der Probe in eine Meßstelle, zutreffen kann, so wird zur Zeit als optimal betrachtet, wenn während einer Phase der Referenz-Strahl und während einer zweiten Phase der Referenz- und der Meß-Strahl auf das lichtempfindliche Element gelenkt werden, oder während einer Phase der Meß-Strahl und während einer zweiten Phase der Meß- und der Referenz-Strahl auf das lichtempfindliche Element bzw. den opto-elektrischen Wandler gelenkt werden.

Es kann hier der vom Mehl remittierte Lichtstrahl oder Meß-Strahl vor dem Auftreffen auf die Mehlschicht unterbrochen werden, und, wie weiter oben erklärt, der Quotient aus dem elektrischen Signal, welches der Helligkeit des Meß-Strahles (SM) allein entspricht, und dem Signal, welches der Helligkeit des Referenz-Strahles (SR) allein entspricht, gebildet werden.

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Da es sich bei der, der Erfindung zugrunde gelegten Aufgabe der Messung der Helligkeit von Mehl, un eine der wichtigsten Kontrollfunktionen in der Mühle selbst handelt, und ferner die Helligkeit von der Vermahlung, d.h. Einstellung der Walzenstühle, der Reinigung, der Mahlvorbereitung usw. beeinflußt wird, tritt regelmäßig ein gewisser Streubereich der Helligkeitswerte auf. Ein weiterer Teil der erfindungsgemäßen Aufgabe bestand nun aber darin, den Einfluß des Streubereichs, d.h. kurzzeitige HelligkeitsSchwankungen auf die Meßwerte zu eliminieren, bzw. "in den Griff" zu bekommen. Vorzugsweise wird dazu noch vor der Quotientenbildung der Mittelwert des Signales, welches der Helligkeit des Meß-Strahles oder der Helligkeit der Überlagerung von Meß-Strahl und Referenz-

T5 Strahl entspricht, über zwei oder eine Anzahl Meßzyklen gebildet. Das Resultat der Quotientenbildung wird nun vorteilhafterweise in Prozenten in Bezug auf ein Eichnormal angezeigt, registriert und auf Über- oder Unterschreiten von festlegbaren Grenzen untersucht. Bei Über- oder Unterschreiten der Grenzen kann ein Alarm ausgelöst, oder z.B. bei Über- oder Unterschreiten der Grenzen in den Verarbeitungsprozeß der Mühle eingegriffen werden. -

Von der rein praktischen Seite der Meßwertanzeige her hat es sich als verblüffend und ausgesprochen vorteilhaft erwiesen, daß ein derartig gewonnenes Resultat der Quotientenbildung unmittelbar in Prozenten in Bezug auf ein Eichnormal als Linienzug angezeigt und daß die Mittelwertsbildung und die Empfindlichkeit der Aufzeichnung des Linienzuges so gewählt werden, daß bei Normallauf der Mühle eine gerade Linie aufgezeichnet werden kann. Eine Abweichung des registrierten Quotienten von einer geraden Linie kann unmittelbar als eine Abweichung der Helligkeit des gemessenen Produktes signalisiert werden.

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Wenn der ganze Fabrikationsvorgang in der Mühle genau eingeregelt wurde, erlaubt die beschriebene Darstellung eines Linienzuges bzw. die gerade Linie eine starke und positive Aussage über den Gleichlauf der ganzen Mühle.

Es hat sich ferner noch als zweckmäßig erwiesen, die elektrischen Ausgangssignale des lichtempfindlichen Bauteiles jeder einzelnen Phase während einer oder mehrerer Perioden der Netzfrequenz aufzuintegrieren.

Wenn der Obermüller bei seinem Kontrollgang die mit dem richtigen Wert verlaufende Linie sieht, hat er, sofern nicht andersartige, z.B. rein mechanische Störungen festgestellt werden, das beruhigende Gefühl, die Mühle läuft jetzt gut; mit der Konstanz der Farbe ist insbesondere aber auch die Konstanz der Asche sichergestellt.

Damit ist es aber erstmalig gelungen, die Mehlhelligkeit so wie es in der Praxis in der Mühle erforderlich ist, zu messen und zu überwachen. Diese, insbesondere für Getreidemehl-Mühlen erstmalig aufgezeigte Anwendungsmöglichkeit einer praxisgerechten, insbesondere genauen, störunanfälligen und kontinuierlichen Mehlhelligkeitsmessung stellt einen beachtlichen Fortschritt dar.

Alle Einflußfaktoren und Störgrößen sind auf einfachste Weise berücksichtigt, z.B. die Schwankungen der Lichtquelle oder des lichtempfindlichen Elementes (Bauteiles), auch opto-elektrischer Wandler genannt, sowie Temperatur und Fremdlichtstörungen, von Wechsel- oder Gleichlicht. Praktisch läßt sich die Einrichtung zur Unterbrechung des Strahlengangs besonders einfach und störungssicher realisieren, wenn die Ablenkeinrichtung aus einer rotierenden Trommel besteht, welche im Strahlengang wenigstens eines Teilstrahls angeordnet ist, wobei die Trommelwand zur

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zyklischen Freigabe des Strahlengangs wenigstens ein Fenster aufweist, das sich vorzugsweise über etwa 180° des Trommelumfanges erstreckt.

Die Erfindung lehrt also bei einem Verfahren und einer Vorrichtung zum Messen von Mahlprodukten, insbesondere von Mehl, bei welchem die Oberfläche einer Mehlschicht beleuchtet, die remittierte Lichtmenge einem opto-elektrischen Wandler zugeführt, und zur Beleuchtung eine Lichtquelle verwendet wird, deren Lichtstrahl in wenigstens zwei Teilstrahlen (Referenz-Strahl und Meß-Strahl) optisch zerlegt wird, im Betrieb wenigstens einen der Teilstrahlen zyklisch zu unterbrechen bzw. abzulenken, so daß während einer Anzahl von Meß-Phasen nur einer der Teilstrahlen am opto-elektrischen Wandler anliegt. Hierbei werden ferner die Ausgangssignale des Wandlers einer Speicheranordnung zugeführt, welche die Ausgangssignale einer Meß-Phase zwischenspeichert, bis die Ausgangssignale der nächsten Meß-Phase anliegen, so daß beide Ausgangssignale gleichzeitig einer Auswertungsanordnung zugeführt werden können.

Die Erfindung ermöglicht damit auf einfachste Weise erstmalig den seit langem gewünschten Einsatz von Helligkeitsmeßgeräten in Mühlen. Ersichtlicherweise wird der technische Fortschritt und der erfinderische Inhalt des Anmeldungsgegenstandes sowohl durch die neuen Einzelmerkmale als auch insbesondere durch Kombination und ünterkombination der Verwendung findenden Merkmale gewährleistet.

Die Erfindung ist im folgenden in Ausführungsbeispielen anhand der Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:

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Fig. "T- den schematischen Aufbau, eines Mehlhellig-

keits—Meßgeräts mit den Merkmalen der : Erfindung,;

Fig. 2 . den Signalverlauf an verschiedenen Punkten der Anordnung gemäß Fig. 1 _r Fig. 3 ein abgewandeltes Äusfuhrungsbeispiel einer

Überwachungseinrichtung gemäß Fig. 1,

Fig. 4 einen abgewandelten Kurven verlauf der Ausgangs—Signale des lichtempfindlichen -[O Elements gemäß Fig. 5,

Fig. 5 eine abgewandelte Ausführung der Trommelblende gemäß Fig. 1,

Fig. 6 den schematischen Aufbau eines abgewandelten Meßgeräts mit drei Meß-Phasen und Fremdlichteinfall,

Fig. 7 den Signalverlauf am Ausgang des lichtempfindlichen Elements und

ig. 8 die Abblendanordnung des Meßgeräts gemäß Fig. 6.

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Gemäß Fig. T weist ein Mehlhelligkeits-Meßgerät eine Lampe 1 auf, welche einen Lichtstrahl Ta abgibt, der über eine Sammellinse 2 auf einen halbdurchlässigen Spiegel 3 gelenkt wird. Der Spiegel 3 zerlegt den Lichtstrahl 1a ■5 in zwei Teil-Strahlen, nämlich einen ersten Teilstrahl 4 und einen zweiten Teilstrahl 5. Der erste Teilstrahl 4 wird unmittelbar auf ein Fotoelement 7 abgelenkt, während der zweite Teilstrahl 5 den Spiegel 3 durchtritt und auf eine Meßfläche 8 fällt, die durch eine Mehlschicht gebildet wird, welche durch eine Glasscheibe abgedeckt ist. Von der Meßfläche 8 wird in Abhängigkeit vom Helligkeitswert das Licht des zweiten Teilstrahls 5 remittiert und durch Linsen 9 gebündelt und auf das Fotoelement 7 gelenkt.

Das Fotoelement 7 ist durch eine rotierende Trommel 6 umgeben, welche auf einer Seite mit einer Zylinderwand 6a versehen ist, während die andere Seite freigelassen ist. Je nach Stellung der Trommel 6, die durch eine nicht dargestellte Antriebseinrichtung angetrieben wird, wird deshalb der durch die Linsen 9 gesammelte Anteil des zweiten Teilstrahls 5 auf das Fotoelement 7 gelassen oder aber von der Zylinderwand 6a abgeschirmt. Während demnach der erste Teilstrahl bzw. Referenz-Strahl 4 kontinuierlich auf das Fotoelement 7 fällt, wird der zweite Teilstrahl bzw. Meß-Strahl 5 durch die Trommel 6 zyklisch unterbrochen. Konstruktiv hat sich die Anordnung der Trommel 6 als besonders einfach erwiesen, doch ist selbstverständlich eine Unterbrechung durch andere geeignete Blendenanordnungen oder Ablenkeinrichtungen möglich, sofern diese im Strahlengang nach dem Spiegel 3 angeordnet sind.

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Der Ausgang des Fotoelementes 7 ist an den Eingang eines Verstärkers 11 angeschlossen, dessen Ausgang an eine Umschalteinrichtung 12 angeschaltet ist. Der Steuereingang der Umschalteinrichtung 12 ist an eine fotoelektrische überwachungseinrichtung 10 angeschlossen, die um 180° versetzt zum Lichteinfall von der Linse 9 vorgesehen ist. Im Betriebsablauf erzeugt deshalb die Trommel- bzw. Zylinderwand 6a immer dann in der Überwachungseinrichtung 10 ein Abschaltsignal, wenn der Strahlengang für den Meß-(wert)-Strahl 5 von der Linse 9 her freigegeben wird.

Sobald sich die Trommel 6 um 180° weitergedreht hat und den Strahlengang des zweiten Teilstrahls wieder unterbricht, wird die Lichtschranke 10a der überwachungseinrichtung 10 wieder freigegeben und ein Steuerimpuls an die Umschalteinrichtung 12 abgegeben.

Nachstehend ist die Funktion der Anordnung im Zusammenhang mit dem Signal-Diagramm gemäß Fig. 2 erläutert. Das Signaldiagramm soll dabei lediglich prinzipiell den Signalverlauf erläutern, ohne daß dabei auf die Signalart (z.B. digital oder analog) Bezug genommen wird, und ohne daß die dargestellten Amplitudenwerte oder die Kurvenverläufe und Zeitverläufe wirklichkeitsgetreu dargestellt sind.

Während der Meß-Phase T₁ wird der Meß—Strahl 5 durch die Trommelwand 6a unterbrochen, so daß auf das Fotoelement 7 lediglich der Referenz-Strahl 4 auffällt. Dementsprechend gibt das Fotoelement 7 ein dem Referenz-Strahl 4 entsprechendes Signal ab, welches im Verstärker 11 verstärkt wird und an die Umschalteinrichtung 12 angelegt wird. Sobald nach einer Drehung der Trommel 6 um 180° die .Trommelwand 6a den Meß-Strahl 5 freigibt, erhöht sich der Lichteinfall am Fotoelement 7 um einen dem Meß-Strahl 5 entsprechenden Wert, welcher über die.gesamte Dauer der Meß-

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Phase Ty erhalten bleibt. Nach einer weiteren Drehung um 180° fällt der Ausgangswert am Fotoelement 7 wieder ab, weil die Trommelwand 6a wieder in den Strahlengang des ließ-Strahls 5 eintritt. Der Kurvenverlauf am Eingang der Umschalteinrichtung 12 ist in Fig. 2 mit A bezeichnet. Das während der Meßphase T₁ anliegende Signal S₁ entspricht demgemäß dem Referenz-Signal S_, während das während der

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Meß-Phase T_ anliegende Signal dem Referenz-Signal S_n plus Meßwert-Signal S entspricht. Die überwachungseinrichtung 10 schaltet die Umschalteinrichtung 12 mit der Phase T₁ auf einen ersten Zwischenspeicher 13 und während der zweiten Meß-Phase T„ auf einen zweiten Zwischenspeicher 14. Am Ausgang des ersten Zwischenspeichers 13 liegt das Signal D an, welches durch den Zwischenspeicher 13 während der zweiten Meß-Phase T_ erhalten bleibt, obwohl am Ausgang des Verstärkers 11 bereits das Signal S_? erscheint. Am Ausgang des zweiten Zwischenspeichers 14 liegt während der gleichen Zeit das Signa] S- an, so daß in der zweiten Meß-Phase T_ am Eingang der Rechenschaltung 15 gleichzeitig das Signal S₁ und das Signal S^ erscheint. In der Rechenschaltung 15 wird die Differenz aus dem Signal S„ und dem Signal S₁ gebildet, was ersichtlicherweise das Meßwert-Signal S entstehen läßt, welches an den ersten Eingang einer Auswertungsschaltung 16 gelegt wird. Der zweite Eingang der Auswertungsschaltung 16 ist mit dem Ausgang des ersten Zwischenspeichers 13 verbunden, so daß dort das Referenz-Signal S₁, anliegt. In der Auswertungsschaltung 16 wird ein Anzeigewert A dadurch gebildet, daß das Meßwert-Signal S durch das Referenz-Signal S dividiert wird und das Ergebnis mit einer Anzeigekonstante K multipliziert wird. Die Anzeigekonstante K ergibt sich aus der Art der gewünschten Anzeige durch ein Instrument 17 in bekannter Weise. Ersiehtlicherweise ist damit der Anzeigewert A auf jeden Fall dem Quotienten aus dem Lichtwert des Referenz-Strahls 4 und des Meß-Strahls 5 proGebrüder Bühler AG, - 24 Pat 71/17-78E, GM 71/18-78E

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portional. Etwaige Helligkeitsschwankungen der Lampe 1 oder Empfindlichkeitsschwankungen des Fotoelements 7 werden durch die Quotientenbildung eliminiert. Zur Rückstellung bzw. zur Aktivierung der einzelnen Bauelemente, insbesondere der Zwischenspeicher 13 und 14, der Rechenschaltung 15. sowie der Auswertungsanordnung bzw. -schaltung 16, sind diese mit einer nicht dargestellten Synchronisations- und Steuerschaltung verbunden, welche nach dem Ablauf der einzelnen Meß-Phasen T₁ bzw. T_ die Bauelemente aktivieren bzw. auf Null zurückstellen, um eine neue Meß-Phase einzuleiten. Die Ausgestaltung dieser Bauelemente ist dem Fachmann im übrigen bekannt und geläufig, so daß hier auf nähere Darstellung verzichtet wird.

Fig. 3 zeigt ein etwas abgewandeltes Ausführungsbeispiel, bei welchem eine überwachungseinrichtung 10b vorgesehen ist. Diese ist unmittelbar mit dem Eingang der Umschalteinrichtung 12 verbunden, so daß sie ebenfalls die Signale S und Sp (Fig. 2) empfängt. Die Überwachungseinrichtung 10b weist eine bekannte Schwellwert-Meßanordnung auf, deren Schwellwert derart eingestellt ist, daß beim Anliegen eines Eingangssignals, welches den Wert S überschreitet ein Signal an die Steuerleitung 10c abgegeben wird, die ihrerseits mit dem Steuereingang der Umschalteinrichtung 12 verbunden ist. Dementsprechend wird die Umschalteinrichtung 12 jedesmal umgeschaltet, sobald beim Wechsel von der Meß-Phase T₁ auf die Meß-Phase T_ der Signalwert am Eingang der Überwachungseinrichtung 10b ansteigt. Auf diese Weise kann auf die fotoelektrische Überwachung der Trommel 6 gemäß Fig. 1 verzichtet werden. Im übrigen ist die Funktionsweise der Anordnung identisch mit dem Ausführung sbeispiel gemäß Fig. 1.

Fig. 4 zeigt den schematischen Signalverlauf der Signale S_M und S bei einer modifizierten Ausbildung der Trommel

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6 gemäß Fig. 5. Gemäß Fig. 5 weist die Trommel 6 zwei Fenster 6b und 6c auf, die etwa um 180° am Trommelumfang versetzt sind. Wenn die Trommel 6 im Betrieb wie beim Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 1 rotiert, werden ersichtlicherweise abwechselnd der Referenz-Strahl 4 freigegeben und der Meß-Strahl 5 unterbrochen bzw. der Referenζ-Strahl 4 unterbrochen und der Meß-Strahl 5 freigegebeil. Dementsprechend ergibt sich ein Signalverlauf S, und S gemäß Fig. 4, bei welchem der Meßwert S„ unmittelbar und ohne Differenzbildung vorliegt. In der Auswertungs- und Anzeigeeinrichtung kann dementsprechend die Rechenschaltung 15 (Fig. 1) entfallen. Statt der in den Ausführungsbeispielen gezeigten Trommelblenden können selbstverständlich auch Scheibenblenden oder andere beliebige Abblendeinrichtungen oder intermittierende Ablenkspiegel vorgesehen werden, ohne daß dadurch der Rahmen der Erfindung verlassen würde. Auch die Ausgestaltung der Schaltungsanordnung ist dem Fachmann geläufig und es sind dabei vor allem in Anpassung an die verwendeten Bauelemente Modifikationen möglieh, ohne daß dadurch der Rahmen der Erfindung verlassen würde.

Fig. 6"zeigt einen Meßgerät-Aufbau entsprechend Fig. 1, wobei jedoch statt der Trommel 6 eine Blendenscheibe 20 vorgesehen ist, die durch einen Motor 21 angetrieben wird.

Wie aus Fig. 8 ersichtlich ist, weist die Blendenscheibe 20 eine segmentförniige Aussparung 20a auf, die etwa 90° beträgt. Die Blendenscheibe 20 unterbricht deshalb sowohl den Meß-Strahl 5 als auch den Referenz-Strahl 4 zyklisch. Dadurch wird der Meßablauf in drei Phasen unterteilt:

In der Blendenstellung gemäß Fig. 6 trifft nur der Meß-Strahl 5 auf das Fotoelement 7 auf. Sobald sich die Blendenscheibe 20 weiterdreht, wird der Meß-Strahl 5 unterbrochen, ohne daß bereits der Referenz-Strahl 4 freigegeben wurde. In dieser Phase trifft auf das Fotoelement 7

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lediglich schematisch bei 22 angedeutetes/Fremdlicht (Umgebungslicht) auf. In der nächsten Phase wird der Referenz-Strahl 4 freigegeben, wogegen der Meß-Strahl 5 immer noch unterbrochen-bleibt. Der Signalverlauf am Ausgang des Fotoelements" 7 ist aus Fig. 7 ersichtlich: Solange die beiden Teilstrahlen 4 und 5 unterbrochen sind, wird lediglich das Signal S geliefert. Sobald der zweite Teilstrahl 5 freigegeben wird, addiert sich zum Signal S das Meßwert-Signal S . Danach wird der zweite Teilstrahl 5 wieder unterbrochen und das Ausgangssignal fällt auf den Wert S_n ab. In der nächsten Meß-Phase wird der erste Teilstrahl 4 freigegeben, so daß das Ausgangs-Signal auf den Wert S _T plus S ansteigt. Für die einzelnen Meß-Phasen ergeben sich dementsprechend drei verschiedene Werte, die dem Umgebungslicht, dem Referenzlicht sowie dem Meßlicht proportional sind. Da der Anteil des Umgebungslichts bei Äbdunklung beider Teilstrahlen alleine vorliegt, kann durch- Vergleich bzw. durch Subtraktion in den Meß-Phasen T₁ und T- der Wert der Referenz-Signale S_,

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bzw. der Meß-Signale' S. ermittelt werden. Die Schaltung

ist selbstverständlich auch betriebsfähig, wenn kein Fremdlichteinfall vorliegt, da durch das Fremdlicht lediglich der Grundwert des .Kurvenverlaufs S~ beeinflußt wird. Die ■ultung ist deshalb besonders störungssicher und eröffnet einen weiteren Bereich praktischer Anwendungsmöglichkeiten.

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Claims

■-■"'-. - PATENTA N W-a ITE Destouchesstraße 60 ■ Postfach 400745 · 8000München 40 "Telefon 089/30407V -Telex 5-216136 hage d -Telegramm hägeypalent · Telekopierer 089/304071 Gebrüder Bühler AG, München, den Uzwil/Schweiz 11. Dezember 1978 u.Z.: Pat 71/17-78E . vS/6/mi GM 71/18-78E ANSPRÜCHE

1.) Verfahren zur Messung der Helligkeit von Mahlproduk- ;ea einer Mühle, insbesondere von Mehl, mittels eines lichtempfindlichen Elementes zur Umwandlung von Lichtstrahlen in elektrische Signale, wobei wenigstens ein Lichtstrahl in wenigstens einen ersten Teilstrahl und einen zweiten Teilstrahl aufgespalten wird, wobei weiterhin der erste Teilstrahl" (Referenz-Strahl) zur Referenzwertbildung auf das lichtempfindliche Element gelenkt wird, und der zweite Teilstrahl (Mess-Strahl) zur Meßwertbildung auf die Oberfläche einer Mehlschicht gelenkt und der diffus remittierte Anteil ebenfalls auf das lichtempfindliche Element gelenkt wird, worauf die durch den Referenz-Strahl und die durch den Meß-Strahl hervorgerufenen elektrischen Ausgangssignale des licht-

emfpindlichen Elements zur Ermittlung des relativ Helligkeitswerts des Meß-'Strahls in Bezug auf den Referenz-Strahl einer Auswertungs- und Anzeigeeinrichtung zugeführt werden, dadurch gekennzeichnet ,
daß der Strahlengang des Refrenz-Strahls und/oder des Meß-Strahls zyklisch in wenigstens zwei zeitlich verschobenen Meß-Phasen derart unterbrochen wird, daß von den beiden Teilstrahlen während einer ersten Anzahl von Meß-Phasen nur jweils einer der beiden Teilstrahlen das lichtempfindliche Element beaufschlagt, und daß während

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einer zweiten Anzahl von Meß-Phasen jeweils wenigstens der andere Teilstrahl das lichtempfindliche Element beaufschlagt/ und daß jeweils wenigstens ein Ausgangs-Signal des Elements während der ersten Anzahl von Meß-.5 Phasen zwischengespeichert und mit wenigstens einem darauffolgenden Ausgangssignal der zweiten Anzahl von Meß-Phasen verglichen wird.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß während der ersten Anzahl von Meß-Phasen der Referenz-Strahl kontinuierlich auf das lichtempfindliche Element gelenkt wird, und daß während der zweiten Anzahl von Meß-Phasen der Meß-Strahl intermittierend und jeweils den Referenz-Strahl überlagernd auf das lichtempfindliche Element gelenkt wird.

3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Meß-Strahl und der Referenz-Strahl während aufeinanderfolgender Meß-Phasen abwechselnd auf das lichtemfpindliche Element gelenkt werden.

4. Verfahren nach Anspruch 1 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Quotient aus dem Signal des lichtempfindlichen Elements, welches der Helligkeit des Meß-Strahls entspricht (S), und dem Signal des lichtempfindlichen Elements, das der Helligkeit des Referenz-Strahls entspricht (S), gebildet wird.

5. Verfahren nach Anspruch 1 oder 4, bei welchem die Strahlen wenigstens einer Fremdlichtquelle (Fremdlicht-Strahlen) das lichtempfindliche Element (Bauteil) beaufschlagen und bei welchem die Messung in wenigstens drei Meß-Phasen unterteilt ist, dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlengänge von Refernz-Strahl und Meß-Strahl derart abwechselnd unterbrochen werden, daß während einer

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Anzahl von Meß-Phasen nur einer der Teilstrahlen sowie der Fremdlicht-Strahl das lichtempfindliche Element beaufschlagen, daß während der zweiten Anzahl von Meß-Phasen wenigstens der andere Teilstrahl und der Premdlicht-Strahl das lichtempfindliche Element beaufschlagen, daß wenigstens jeweils ein Ausgangssignal des lichtempfindlichen Elements während der ersten und während der zweiten Anzahl von Meß-Phasen zwischengespeichert und daß die Signale miteinander sowie mit wenigstens einem Ausgangssignal der dritten Anzahl von Meß-Phasen verglichen werden.

6. Verfahren nach Anspruch 1 oder folgende, dadurch gekennzeichnet, daß der Meß-Strahl vor dem Auftreffen auf die Oberfläche der Mehlschicht unterbrochen wird.

7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß das Umgebungslicht gegenüber dem lichtempfindlichen Element (Bauteil) abgeschirmt wird.

8. Verfahren nach Anspruch 4 oder folgende, dadurch gekennzeichnet, daß das Resultat der Quotientenbildung in Prozenten in Bezug auf ein Eichnormal angezeigt, registriert und auf Über- und Unterschreiten von festlegbaren Grenzen untersucht wird.

9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß das Resultat der Quotientenbildung in Prozenten 5 in Bezug auf ein Eichnormal als Linienzug aufgezeichnet wird.

10. Verfahren nach Anspruch 1 oder folgende, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrischen Ausgangssignale des lichtempfindlichen Elements (Bauteils) in den einzelnen Meß-Phasen zu jeweils einem dem Lichteinfall der

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Teilstrahlen bzw. der Fremdlicht-Strahlen proportionalen Mittelwert aufintegriert werden*

11 · Verfahren nach Anspruch 4 oder folgende, dadurch gekennzeichnet, daß die Quotienten aus den Mittelwerten gebildet werden.

12. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine Ablenkeinrichtung (6; 20) zur Unterbrechung des Strahlenganges wenigstens eines Teilstrahls (4; 5), eine an den Ausgang des lichtempfindlichen Elements (7) angeschaltete Umschalteinrichtung (12), deren einer Ausgang an einem ersten Speicher (13) zur Zwischenspeicherung von Referenz-Signalen und deren zweiter Ausgang an einen zweiten Speicher (14) zur Zwischenspeicherung von Meß-Signalen angeschlossen ist, sowie weiter gekennzeichent durch eine jeweils die erste und zweite Meß-Phase ermittelnde Überwachungseinrichtung (10; 10b) zur Ansteuerung der Umschalteinrichtung (12).

13. Vorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Überwachungseinrichtung (10) zur Ermittlung der jeweiligen Betriebsstellung der Ablenkeinrichtung (6; 20) vorgesehen ist.

14. Vorrichtung nach Anspruch 13 mit einer rotierenden Blendenanordnung im Strahlengang wenigstens eines Teil-Strahls, dadurch gekennzeichnet, daß eine opto-elektrische Überwachungseinrichtung zur Positionsüberwachung der Blendenanordnung vorgesehen ist, und daß der Ausgang der Überwachungseinrichtung an den Steuereingang der Umschalteinrichtung (12) angeschlossen ist.

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15. Vorrichtung nach Anspruch 12 mit einer Ablenkeinrichtung zur Unterbrechung des Strahlengangs eines Teilstrahls, dadurch gekennzeichnet, daß die Überwachungseinrichtung (10b) eine Schwellwert-Meßanordnung aufweist, die derart mit dem Ausgang des lichtempfindlichen Elements (7) verbunden ist, daß der Signalabfall und/oder der Signalanstieg am Ausgang des Elements (7) bei Unterbrechung des Strahlengangs eines Teilstrahls (5) ermittelbar ist.

16. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 12, 13 oder 15, dadurch gekennzeichent, daß die Ablenkeinrichtung (6) aus einer rotierenden Trommel besteht, welche im Strahlengang wenigstens eines Teilstrahles (5) angeordnet ist, wobei die Trommelwand (6a) zur zyklischen Freigabe des Strahlengangs wenigstens ein Fenster (6b, 6c) aufweist, das sich vorzugsweise über etwa 180° des Trommelumfangs erstreckt.

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