DE2817333A1 - Photometrische vorrichtung - Google Patents
Photometrische vorrichtungInfo
- Publication number
- DE2817333A1 DE2817333A1 DE19782817333 DE2817333A DE2817333A1 DE 2817333 A1 DE2817333 A1 DE 2817333A1 DE 19782817333 DE19782817333 DE 19782817333 DE 2817333 A DE2817333 A DE 2817333A DE 2817333 A1 DE2817333 A1 DE 2817333A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- light
- signal
- circuit
- wavelength
- signals
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 claims description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 7
- 238000005375 photometry Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- 241001580017 Jana Species 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- 238000004445 quantitative analysis Methods 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000010421 standard material Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
- G01J3/427—Dual wavelengths spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
PATENTANWÄLTE A. GRÜNECKER
tJIPt. INCi
H. KINKELDEY
DR ING
W. STOCKMAIR
— UH-IISKi -AitE 1'ALTF-CH)
-" K. SCHUMANN
Oft HF Ft NAT - DIK. I1HYS
P. H. JAKOB
EMPL-INCi
G. BEZOLD
C*< ΠΞΗ ΜΛΓ- DiPl. CHM
G MÜr-i
MAXIMILIANSTRASSE
20. April 1978
PH 12 672
OLYMPUS OPTICAL COIlPAtTY LIMITED
Ko. 43-2, 2-Chome, Hatagaya, Shibuya-ku, Tokyo, Japan
Photometrische Vorrichtung
Die Erfindung betrifft eine photometrische Vorrichtung, die eine verbesserte Arbeitsweise zeigt, indem jede Art von Rauschsignalen
beseitigt ist.
Um den Einfluss der Absorption t der Streuung und ähnlicher Erscheinungen,
die durch Kratzer oder Flecken des Detektors, beispielsweise einer Photometerzelle, oder durch Fremdstoffe
oder ähnliches in einer bei einer quantitativen Analy.se mittels eines kolorimetrischen Verfalirens zu bestimmenden Lösung hervorgerufen werden,zu vei
meiden, wird eine Zweiwellenlängen-Photometrie verwandt. Die Zweiwellenlängen-Photometrie verwendet zwei verschiedene Wellenlängen,
beispielsweise eine Wellenlänge X1 mit maximaler Absorption
der Probe und eine Wellenlänge ^„ mit einer geringeren Absorption
809850/0615
TELEFON (OBS) 033862 TELEX O6-293BO TELEGRAMME MONAPAT TELEKOPIEREH
der Probe und als Lichtabsorption der tatsächlichen Probe wird die Lichtabsorption im Falle der Wellenlänge \~ von der Lichtabsorption
im Falle der Wellenlänge ^1 abgezogen, wird der
Unterschied dazwischen ermittelt und wird die Lichtabsorption " bei der Wellenlänge ^ - der tatsächlichen Probe erhalten.
Fig= 1a der zugehörigen Zeichnung zeigt ein Ausführungsbeispiel
der Wellenform des Ausgangssignales im Falle der Aufnahme von Licht mit einer Wellenlänge ^ - und von Licht mit einer Wellenlänge
λ 2 mittels eines einzigen Detektors in einer photometrischen
Einrichtung, die nach dem Zweiwellenlängenverfahren arbeitet, wobei der Anteil der Wellenlänge /\ .. und der Anteil der Wellenlänge
Tl 2 abwechselnd in passenden Intervallen auftreten.
Unter Verwendung eines in Fig. 1b dargestellten Wellenlängenunterscheidungssignals
erfolgt eine Unterscheidung der Wellenlänge durch eine Schaltung, deren Aufbau in Fig. 2 dargestellt
ist. In Fig. 2 sind mit 1 ein Detektor, mit 2 eine ein Unterscheidungssignal
erzeugende Schaltung und mit 3 ein Schalter bezeichnet, der durch ein Ausgangssignal der Schaltung 2 umgeschaltet
wird, um zwei Ausgangssignale zu erhalten= D.h., dass
dann, i-ienn ein Kontakt 3a des Schalters 3 geschlossen wird,
das Ausgangssignal für die Wellenlänge Lf das in Fig. 1c dargestellt
ist, erhalten wird, !fahrend dann, wenn ein Kontakt 3b
des Schalters 3 geschlossen wird, das Ausgangssignal für die Wellenlänge Ti9 erhalten wird, das in Fig. 1d dargestellt ist.
Diese Signale enthalten einen Schattenanfceil, der sich nicht
mit der Amplitude des photometrischen Signals ändert. Wenn dieser Schattenanteil vorhanden ist, kann selbst dann, wenn
die Amplituden der photometrischen Signale für die Wellenlängen ]i .j und /ip sich im selben Verhältnis ändern„ das Verhältnis
JJ1/ TU nicht konstant gehalten werden, was zur Folge hat, daß die
Linearität der Kennlinie als Ganzes der phobomeiirischen. Einrichtung
gestört V7ird.
"~ 3
8Q9850/OS1S
Das Auftreten des Schattenanteils beruht auf dem Streulicht des optischen Systems oder dem Dunkelstrom des Detektors. Es gibt
auch ein Verfahren, den Schattenanteil unter Verwendung eines Vorverstärkers ansteile einer direkten Wellenlängenunterscheidung
des Detektorausgangssignals zu beseitigen, in diesem Fall V7ird jedoch der Temperaturdrift dar Verstärkerschaltung oder
die Verschiebung der Justierung zu einem Problem. Der Dunkelstrom des Detektors und das Streulicht werden weiterhin durch
die Umgebungsverhältnisse beeinflusst und haben nicht immer einen gegebenen Wert. Es gibt ein weiteres Verfahren zum Unterscheiden
einer Wellenlänge durch das Herausgreifen und Festhalten eines Punktes X und eines Punktes Y in Fig. 1a, in diesem
Fall kann jedoch der oben beschriebene Nachteil nicht überwunden werden.
Es ist das Ziel der Erfindung, die oben beschriebenen Mangel
des herkömmlichen Verfahrens zu beseitigen.
Ein weiteres Ziel der Erfindung ist eine photometrische Vorrichtung
zur Durchführung einer Photometrie mit hoher Leistungsfähigkeit, indem jede Art von Rauschsignalen, die durch den
Dunkelstrom des Detektors, den Drift des Verstärkers, das Streulicht des optischen Systems oder ähnliches hervorgerufen
werden, be seitigt wird.
Die erfindungsgemässe photometrische Vorrichtung umfasst ein photometrisches optisches System, das Licht mit verschiedener
vorbestimmter Wellenlänge ausgibt, indem es das Licht von einer Lichtquelle zu einer zu messenden Probe über verschiedene Lichtwege
überträgt, von denen jeder einen Filter enthält, einen Detektor zum Umwandeln jedes ausgegebenen Lichtes in ein elektrisches
Signal, einen Schalter zum Ableiten erster elektrischer Signale für eine vorbestimmte Wellenlänge und zweiter elektrischer
Signale für eine andere vorbestimmte Wellenlänge aus den Ausgangssignalen des Detektors und eine Signalverarbextungsschaltung
809850/0615
zum Verarbeiten der ersten und zweiten elektrischen Signale,
um einen Lichtabsorptionswert der Probe zu bekommen. Einer der Lichtwege umfasst einen Drehspiegel, reflektierende Spiegel,
ein erstes Filter, das Licht mit einer ersten vorbestimmten Wellenlänge überträgt und einen Halbspiegel, während der andere
Lichtwag einen Drehspiegel, ein zweites Filter, das Licht mit einer zweiten vorbestimmten Wellenlänge überträgt und den Halbspiegel
umfasst. Die Signalverarbeitungsschaltung enthält zwei Signalwege und eine Differenzschaltung, die die Differenz zwischen
den Ausgangssignalen der beiden Signalwege bildet. Jeder Signalweg umfasst eine Tastspeicherschaltung, die den Pegel
des anliegenden Signales hält, ein Hochpassfilter, eine Gleichrichterschaltung,
ein Tiefpassfilter, eine Nullpunkteinstellschaltung und eine logarithmische Umformungsschaltung, die in
der beschriebenen Reihenfolge angeordnet sind.
Im folgenden werden anhand der zugehörigen Zeichnung bevorzugte Ausführungsbeispiele der Erfindung näher erläutert:
Fig. 1 zeigt in einem Wellenformendiagramm die Arbeitsweise
einer bekannten photometrischen Vorrichtung, die nach dem Verfahren der Zweiwellenlängenphotometrie
arbeitet.
Fig. 2 zeigt das Blockschaltbild einer Wellenlängenunterscheidungsschaltung
der gleichen Vorrichtung.
Fig. 3 zeigt das Blockschaltbild eines Ausführungsbeispiels der erfindungsgemässen photometrischen Vorrichtung,
die nach dem Zweiwellenlängenphotometrie-Verfahren arbeitet.
Fig. 4 zeigt in einem Wellenformendiagramm die Arbeitsweise der in Fig. 3 dargestellten Vorrichtung.
809850/0615
Fig. 5 zeigt das Schaltbild eines Ausführungsbeispiels eines Bypass filters oder Umgehungsfilters, das bei
einem Ausführungsbeispiel der erfindungsgemässen Vorrichtung verwandt wird.
Fig. 6 zeigen in Wellenformendiagraiiimen weitere Beispiele
eines Signales, das durch die anhand von Fig. 4 beschriebene Vorrichtung verarbeitet werden kann.
In den Fig. 3 und 4 ist ein Ausführungsbeispiel der erfindungsgemässen
photometrischen Vorrichtung dargestellt. Bei dem in Fig. 3 dargestellten photometrischen optischen System 11 wird
das Licht, das von einer Lichtquelle 12 übertragen wird und
durch eine Linse 13 geht, durch einen Drehspiegel 14 reflektiert
und tritt das Licht über einen reflektierenden Spiegel 15,
ein erstes Filter 16a, das Licht mit einer Wellenlänge λ*
durchlässt, einen reflektierenden Spiegel 17 und einen Halbspiegel
18 in eine Probe 19 ein.
Das Licht von der Lichtquelle 12 geht andererseits durch die
Lage des Drehspiegels 14 hindurch und tritt über ein zweites
Filter 16b, das Licht mit einer Wellenlänge ^2 durchlässt,
und den Halbspiegel 18 in die Probe 19 ein. Der Drehspiegel
umfasst Bereiche zum Reflektieren des Lichtes und Bereiche zum Durchlassen des Lichtes, die abwechselnd angeordnet sind, so
dass Licht mit der Wellenlänge ^1 und /J2 erhalten wird, das
über zwei Lichtwege einschliesslich des -ersten Filters 16a
und des zweiten Filters 16b durch die Probe 19 hindurchgeht.
Ein einziger Detektor 20 empfängt dieses Licht, wandelt es in elektrische Signale um und verstärkt es über einen Verstärker
21. Das Ausgangssignai am Ausgang A des Verstärkers 21 hat die
in Fig. 4a dargestellte Wellenform.
809850/0615
Eine Lichtquelle 22 und ein Lichtaufnahmeelement 23 sind einander gegenüber so angeordnet, dass sich der Drehspiegel 14 dazwischen
befindet, wodurch ein Wellenlängenunterscheidungssignal erhalten wird. Mit diesem Signal erzeugt ein Synchronsignalgenerator
24 ein Synchronsignal, das in Fig. 4b dargestellt ist.
Es ist eine Wellenlängenunterscheidungsschaltung 25 zum Unterscheiden
der Signale für die beiden Wellenlängen λ., und ^„
aus den Signalen an der Ausgangsklemme des Verstärkers 21 vorgesehen. Die Wellenlängenunterscheidungsschaltung 25 umfasst
einen Schliesserkontakt 25a und einen Öffnerkontakt 25b, die durch das Synchronsignal angesteuert werden. Der Schliesserkontakt
25a wird beim Vorliegen eines hohen Pegels des Synchronsignals geschlossen und beim Vorliegen eines niedrigen Pegels
des Synchronsignals geöffnet.Der Öffnerkontakt 25b arbeitet
genau umgekehrt. Ein Signal an der Ausgangsklemme C der Wellenlängenunterscheidungsschaltung 25 hat daher die in Fig. 4c
dargestellte Wellenform, während ein Signal an der anderen Ausgangsklemme D die in Fig. 4d dargestellte Wellenform hat.
Eine Tastspeicherschaltung 26a besteht aus einem Kondensator
und einem. Verstärker, wobei dann, wenn der Schliesserkontakt 25a geschlossen ist, ein Signal in der vorliegenden Form ausgegeben
wird, während dann, wenn der Kontakt 25a geöffnet ist, der Signalpegel zum Zeitpunkt der öffnung des Signalweges
beibehalten wird.
Ein Hochpassfilter 27a, das mit der Tastspeicherschaltung 26a
verbunden ist, empfängt dieses Signal und erzeugt ein Au-^-jana153-signal,
das die in Fig„ 4e dargestellte Wellen^rm haL.
Wenn der Zyklus, mit dem die Lichtsignale abwechselnd durch das photometrische optische System 11 ausgegeben werden raid die
Grenzfrequenz de<* Hochpassfilters 27a in passender Weise ge-
809850/061 5
wählt sind, können die Einflüsse, die nicht nur vom Streulicht, das ira optischen System Vi erzeugt wird, vom Dunkelstrom des
Dataktors. 20 und vom Drift und der Verschiebung der Justierung das Verstärkers stammen, sondern auch die Brummstörungen, die
dem Signal überls.gert sind, beseitigt werden. Daher sind die
verschiedenen Einflussfaktoren, die für eine Herabsetzung der
photomatrischen Leistungsfähigkeit verantwortlich sind, beseitigt
worden und kann eine ausgezeichnete photometrische Vorrichtung verwirklicht werden, die eine Linearität zeigt, ohne
dass irgendwelche Einflüsse aus der Umgebung aufgenommen werden. Fig. 5 zeigt ein Ausführungsbeispiel für den Aufbau des Hochpassfilters
27a mehr im einzelnen.
Bei dem in Fig. 3 dargestellten Ausführungsbeispiel ist das Hochpassfilter
27a mit einer Gleichrichterschaltung 28a, einem Tiefpassfilter 29a, einer Nullpunktseinstellschaltung 30a und einer
logarithmischen Umformungsschaltung 31a in Kaskade geschaltet, x-jährenä dar Öffnerkontakt 25b mit einer Tastspeicherschaltung 26b,
einen Hochpassfilter 27b, einer Gleichrichterschaltung 28a, einem Tiefpassfilter 2Sb4, einer Nullpunktseinstellschaltung 30b
und einer logarithmischen Umformungsschaltung 31b in Kaskade geschaltet
ist. An einer Differenzschaltung 37 wird die Differenz
zwischen den Ausgangssignalen der beiden logarithmischen Umformungsschaltungen
31a und 31b gebildet und anschliessend wird das Signal der Zweiwellenlängenphotometrie verarbeitet, woraus
sich ein Lichtabsorptionswert für die Wellenlänge X., der Probe
19 ergibt.
Die Nullpunktseinstellschaitungen 30a und 30b dienen als Schaltungen
zur Korrektur der Nullpunktseinstellung der Messchaltung durch ein Standardmaterial mit einer bekannten Konzentration vor
der Messung der Konzentration eines unbekannten Materials.
8 -
&09850/061 5
Die logarithmischen Umformungsschaltungen 31a, 31b dienen als
Schaltungen zum Umformen der Lichtdurchlässigkeit der Probe in das Absorptiongsvermögen (optische Konsentration) und das
Lichtabsorptionsvermögen steht in der Beziehung log= zur Durchlässigkeit,
wenn mit T die Durchlässigkeit bezeichnet wird.
Als Signale, die durch dieses Ausführungsbeispiel der erfindungsgemässen
photometrischen Vorrichtung, die nach dem Zweiwellenlängenverfahren
arbeitet, verarbeitet werden können„ werden
vorzugsweise nicht nur die in Fig. 4a dargestallten Signale„
sondern auch die in Fig* 6 und 7 dargestellten Signale verwandt»
Bei dem dargestellten Ausführungsbeispiel ist die Wellenlängenunterscheidungsschaltung
25 als mechanischer Schalter aus Gründen der Einfachheit dargestellt, ein stationärer Schalter, beispielsweise
ein Halbleiterschalter, kann jedoch gleichfalls verwandt werden.
Die vorliegende Erfindung ist nicht auf die oben beschriebenen Äusführungsbeispiele beschränkt, da diese Ausführungsbeispiele
beispielsweise in der folgenden Weise abgewandelt werden können..
Das obige Ausführungsbaispiel zeigt beispielsweise dan Fail einer
Zweiwellenphotoitietrie, die vorliegende Erfindung kann jedoch
auch im Fall einer Mehrwellenlängenphotometria angewandt werden, in dem ein optisches System, ein Synchronsignalgenerator und
eine Wellenlängenunterscheidungsschaltung entsprechend ausgelegt werden.
Wenn in Fig. 4 die Nullpunktseinsteilschaltungen 30a und 30b
und die logarithmischen Umformungsschaltungen 31a und 31b fehlen„
kann die Vorrichtung für die Durchlassigkeitsphotometrie angewandt
v/erden und die erfindungsgemässe Vorrichtung kann als Beleuchtungsmesser für zwei Wellenlängen verwandt werden, indeia
ein optisches System entsprechend ausgelegt wird.
— 9 —
: ^: * ; '"'■■' ■ 809850/0615
Wie es oben beschrieben wurde, wird durch die vorliegende Erfindung
eine photometrische Vorrichtung geliefert, bei der alle Arten von Stör- oder Rauschsignalen, die vom Streulicht, dem
Dunkelstrom des Detektors und dem Drift des Verstärkers oder ähnlichem hervorgerufen werden, beseitigt sind.
8098B0/06 15 ORIGINAL INSPECTED
- iZ-
OR1GlNAL INSPECTED
Claims (4)
- PATENTANWÄLTE A. GRÜNECKER»PL-ING.H. KINKELDEYW. STOCKMAIRDfI-IMa - AeE (CALTCCH)K. SCHUMANNDFl PER PJAT D1PL.-PHY3P. H. JAKOBDIPU-IMGG, BEZOLDDRF^RNAT. OPL-CHbM8 MUNCHBN 2MAXIMILIAN^ ΓRAS-SIiPH 12 672Photometrische VorrichtungPATENTANSPRÜCHEPhotometrische Vorrichtung , gekennzeichnet durch ein photometrisches optisches System (11), das Licht mit verschiedenen vorbestimmten Wellenlängen ausgibt, indem es das Licht von einer Lichtquelle (12) über verschiedene Lichtwege, von denen jeder ein Filter (16a, 16b) enthält, zur zu messenden Probe (19) überträgt, durch einen Detektor (20) zum Umwandeln des ausgegebenen Lichtes in ein elektrisches Signal, durch einen Schalter (25) zum Ableiten erster elektrischer Signale für eine vorbestimmte Wellenlänge und zweiter elektrischer Signale für eine andere vorbestimmte Wellenlänge aus den Ausgangssignalen des Detektors (20) und durch eine Signalverarbeitungsschaltung zum Verarbeiten der ersten und zweiten50/06 15 .^—^- ^TELEFON (O88) 33 28 63 TELEX OC-2O38O TELEGRAMME MONAPAT TELEKOPIERER2b 17333elektrischen Signale, um einen Lichtabsorptiongswert der Probe (19) zu erhalten.
- 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der eine Lichtweg einen Drehspiegel (14), reflektierende Spiegel (15,17), ein üräbü FiI car (i6a) zum übertragen von Licht mit einer ersten vorbestimmten Wellenlänge und einen Halbspiegel (18) umfasst, während der andere Lichtweg den Drehspiegel (14), ein zweites Filter (16b) zum Übertragen von Licht mit einer zweiten vorbestimmten Wellenlänge und den Halbspiegel (18) umfasst.
- 3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , dass die Signalverarbeitungsschaltung zwei Signalwege und eine Differenzschaltung (32) umfasst, um die Differenz zwischen den Ausgangssignalen der beiden Signalwege zu erhalten.
- 4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet , dass jeder Signalweg eine Tastspeicherschaltung (26a, 26b) zum Halten des Pegels des anliegenden Signals, ein Hochpassfilter (27a, 27b), eine Gleichrichterschaltung (28a,28b), ein Tiefpassfilter (29a, 29b), eine Nullpunktseinstellschaltung (30a, 30b) und eine logarithmische Umformungsschaltung (31a, 31b) aufweist, die in dieser Reihenfolge angeordnet sind.809850/0615
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP52045432A JPS5937767B2 (ja) | 1977-04-20 | 1977-04-20 | 測光装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2817333A1 true DE2817333A1 (de) | 1978-12-14 |
Family
ID=12719134
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19782817333 Ceased DE2817333A1 (de) | 1977-04-20 | 1978-04-20 | Photometrische vorrichtung |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4248536A (de) |
JP (1) | JPS5937767B2 (de) |
DE (1) | DE2817333A1 (de) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0020877A1 (de) * | 1979-06-15 | 1981-01-07 | Bodenseewerk Geosystem GmbH | Signalauswerterschaltung für ein Messgerät zur Messung der Extinktion |
DE3033735A1 (de) * | 1980-09-08 | 1982-04-22 | Vdo Adolf Schindling Ag, 6000 Frankfurt | Einrichtung zur alterungs- und temperaturkompensierten optoelektronischen messung einer groesse |
DE3152252A1 (de) * | 1980-08-14 | 1982-09-23 | Panametrics | Method and apparatus for photometric detection in fluids |
EP0475211A2 (de) * | 1990-08-29 | 1992-03-18 | Shimadzu Corporation | Absorptionsdetektor |
DE102011118607A1 (de) * | 2011-09-14 | 2013-03-14 | Friedrich-Schiller-Universität Jena | Verfahren und Anordnung zur Streulichtmessung |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2451573A1 (fr) * | 1979-03-15 | 1980-10-10 | Commissariat Energie Atomique | Analyseur spectral d'absorption lumineuse d'une solution |
US4371785A (en) * | 1980-08-14 | 1983-02-01 | Panametrics, Inc. | Method and apparatus for detection and analysis of fluids |
JPS58103604A (ja) * | 1981-12-16 | 1983-06-20 | Teijin Ltd | フイルムの厚さ測定方法及び測定装置 |
US4637729A (en) * | 1983-12-14 | 1987-01-20 | Carrier Corporation | Fiber optic moisture analysis probe |
JPS60165537A (ja) * | 1984-02-09 | 1985-08-28 | Oki Electric Ind Co Ltd | 光透過率測定装置の信号検出方式 |
JPS6190490A (ja) * | 1984-10-09 | 1986-05-08 | アイシン・エィ・ダブリュ株式会社 | 配線用基盤 |
JPS62118221A (ja) * | 1985-11-19 | 1987-05-29 | Shimadzu Corp | 周波数変調測光方法 |
US5064282A (en) * | 1989-09-26 | 1991-11-12 | Artel, Inc. | Photometric apparatus and method for measuring hemoglobin |
US5013155A (en) * | 1989-09-26 | 1991-05-07 | Chemetrics, Inc. | Portable spectrophotometric instrument having vial holder and light integrator |
JPH04243278A (ja) * | 1991-01-18 | 1992-08-31 | Canon Inc | プロセスカートリッジのトナーシール構造 |
JPH04113062U (ja) * | 1991-03-20 | 1992-10-01 | 横河電機株式会社 | 自動補正回路付吸光度計 |
JP3931875B2 (ja) * | 2003-10-29 | 2007-06-20 | 財団法人雑賀技術研究所 | 分光光度計 |
US8003405B2 (en) * | 2005-12-16 | 2011-08-23 | Artel, Inc. | Calibrating dispensing device performance for complex and/or non-aqueous liquids |
US7772008B2 (en) * | 2006-01-06 | 2010-08-10 | Artel, Inc. | Method and apparatus for determining liquid volume |
US7998747B2 (en) * | 2006-09-15 | 2011-08-16 | Artel, Inc. | Quantitative dual-dye photometric method for determining dilution impact |
US7791716B2 (en) * | 2008-04-07 | 2010-09-07 | Artel, Inc. | System and method for liquid delivery evaluation using solutions with multiple light absorbance spectral features |
US8404158B2 (en) | 2008-04-07 | 2013-03-26 | Artel, Inc. | System and method for liquid delivery evaluation using solutions with multiple light absorbance spectral features |
CN103392006B (zh) | 2010-07-20 | 2015-12-16 | 生物梅里埃有限公司 | 具有比色传感器的血液培养瓶的探测器装置 |
CN103069259B (zh) * | 2010-08-18 | 2016-01-20 | 株式会社岛津制作所 | 分光光度计 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3089382A (en) * | 1957-07-01 | 1963-05-14 | Shell Oil Co | Method and apparatus for analyzing fluids |
JPS5540809B1 (de) * | 1970-03-31 | 1980-10-20 | ||
US3805074A (en) * | 1973-01-02 | 1974-04-16 | Texas Instruments Inc | Spectral scan air monitor |
-
1977
- 1977-04-20 JP JP52045432A patent/JPS5937767B2/ja not_active Expired
-
1978
- 1978-04-20 DE DE19782817333 patent/DE2817333A1/de not_active Ceased
-
1979
- 1979-06-18 US US06/049,164 patent/US4248536A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0020877A1 (de) * | 1979-06-15 | 1981-01-07 | Bodenseewerk Geosystem GmbH | Signalauswerterschaltung für ein Messgerät zur Messung der Extinktion |
DE3152252A1 (de) * | 1980-08-14 | 1982-09-23 | Panametrics | Method and apparatus for photometric detection in fluids |
DE3033735A1 (de) * | 1980-09-08 | 1982-04-22 | Vdo Adolf Schindling Ag, 6000 Frankfurt | Einrichtung zur alterungs- und temperaturkompensierten optoelektronischen messung einer groesse |
EP0475211A2 (de) * | 1990-08-29 | 1992-03-18 | Shimadzu Corporation | Absorptionsdetektor |
EP0475211A3 (en) * | 1990-08-29 | 1992-10-28 | Shimadzu Corporation | Absorbance detector |
DE102011118607A1 (de) * | 2011-09-14 | 2013-03-14 | Friedrich-Schiller-Universität Jena | Verfahren und Anordnung zur Streulichtmessung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4248536A (en) | 1981-02-03 |
JPS53130085A (en) | 1978-11-13 |
JPS5937767B2 (ja) | 1984-09-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2817333A1 (de) | Photometrische vorrichtung | |
DE2727976C3 (de) | Vorrichtung zur Messung der Konzentration mindestens einer Komponente eines Gasgemisches und Verfahren zum Eichen derselben | |
EP0075767B1 (de) | Verfahren zum Erfassen und Auswerten photometrischer Signale und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE2452500C3 (de) | Derivativspektrometer | |
DE2920276C2 (de) | Nephelometrisches Immunbestimmungsverfahren und Nephelometer zur Durchführung des Verfahrens | |
EP0174496B1 (de) | Verfahren zur Bestimmung der Strahlungswellenlänge und der wellenlängenkorrigierten Strahlungsleistung monochromatischer Lichtquellen, sowie Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
EP0011723A1 (de) | Verfahren und Einrichtung zur interferometrischen Messung von sich ändernden Schichtdicken | |
DE2535543C3 (de) | Vorrichtung zur Feststellung von Herstellungsfehlern in einer bewegten Materialbahn | |
DE3006421A1 (de) | Analysegeraet zum kennzeichnen eines besonderen bestandteils in einer probe | |
DE10008517A1 (de) | Optisches Meßsystem | |
DE2656520B2 (de) | Verfahren zur Ermittlung des Verhältnisses von Kernradius zu Mantelradius einer ummantelten optischen Faser | |
DD146342A5 (de) | Verfahren und vorrichtung zur messung der mehlhelligkeit | |
DE2247205C3 (de) | Vorrichtung zum Vergleich der spektralen Remission farbiger Flächen | |
DE2738575C2 (de) | ||
DE3590026T (de) | Vorrichtung zur Messung von Fluoreszenzabkling-Charakteristiken von Materialien | |
DE19509822A1 (de) | Ölkonzentrations-Meßgerät | |
DE3238179C2 (de) | ||
EP0123672A2 (de) | Verfahren zur Bestimmung der Massen von absorbierenden Anteilen einer Probe und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE2905230A1 (de) | Zweistrahl-wechsellicht-kolorimeter | |
DE69829845T2 (de) | Datenerfassung für die Spektroskopie | |
EP0136591A1 (de) | Verfahren zum Messen niederfrequenter Signalverläufe innerhalb integrierter Schaltungen mit der Elektronensonde | |
DE2138519C3 (de) | Vorrichtung zur kontinuierlichen, fotometrischen Messung | |
DE2738574A1 (de) | Densitometer | |
DE3010559C2 (de) | Einrichtungen zur Feststellung von Fehlern in regelmäßigen Mustern | |
EP0052812A2 (de) | Verfahren zum Feststellen von Signal-Abweichungen unter Zuhilfenahme eines integrierenden Differenzverstärkers |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OAP | Request for examination filed | ||
OD | Request for examination | ||
8131 | Rejection |