JPS62118221A - 周波数変調測光方法 - Google Patents
周波数変調測光方法Info
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- JPS62118221A JPS62118221A JP60259214A JP25921485A JPS62118221A JP S62118221 A JPS62118221 A JP S62118221A JP 60259214 A JP60259214 A JP 60259214A JP 25921485 A JP25921485 A JP 25921485A JP S62118221 A JPS62118221 A JP S62118221A
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- Japan
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- circuit
- delay time
- signal
- synchronous rectifying
- delay
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- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 8
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims abstract description 24
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 7
- 238000005375 photometry Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000009499 grossing Methods 0.000 abstract description 6
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 11
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
- G01J1/16—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J2001/4242—Modulated light, e.g. for synchronizing source and detector circuit
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、紫外・可視分光光度計や赤外分光光度計など
において、定められた周波数に変調された光信号を周波
数弁別し、変調動作に同期して復調する手段を用いて光
信号を同ＷＪＪｍ光する方法に関するものである。
において、定められた周波数に変調された光信号を周波
数弁別し、変調動作に同期して復調する手段を用いて光
信号を同ＷＪＪｍ光する方法に関するものである。
（従来の技術）
光をオン・オフする変調手段を用いる場合において、光
束の機械的寸法が回転チゴッパなどの変調手段の機械的
寸法に比して無視できない大きさを持っているとき、試
料などにより光束の大きさと変調手段にたいする相対位
置が変化すると同期整流信号の最適な位相も変化する。
束の機械的寸法が回転チゴッパなどの変調手段の機械的
寸法に比して無視できない大きさを持っているとき、試
料などにより光束の大きさと変調手段にたいする相対位
置が変化すると同期整流信号の最適な位相も変化する。
同期整流信号は、変調手段の回転動作をフォトカプラな
どの検出手段により検出して得ているが、その同期整流
信号の位相はフォトカプラなどの検出手段の機械的位置
合せにより調整していた。
どの検出手段により検出して得ているが、その同期整流
信号の位相はフォトカプラなどの検出手段の機械的位置
合せにより調整していた。
（Ｒ明が解決しようとする問題点）
例えば、第４回に示されるように、変調手段としての回
転チョッパ２に対し、大きな試料などで制限された光束
４が実線で示される大きさと位置を持っており、小さな
試料などで制限された光束６が破線で示される大きさと
位置を持っているものとする。
転チョッパ２に対し、大きな試料などで制限された光束
４が実線で示される大きさと位置を持っており、小さな
試料などで制限された光束６が破線で示される大きさと
位置を持っているものとする。
第５図（Ａ）に示される同期整流信号が光束４に最適な
ように位相が決められているとすると、この同期整流信
号で光束４を同期整流すると第５図（Ｂ）に示される信
号が得られる。しかし、試料が変わったりして、光束の
位置と大きさが光束４から光束６に変わった場合、光束
６を同じ同図（Ａ）の同期整流信号で同期整流すると、
その整流された信号は同図（Ｃ）に示されるようになる
。
ように位相が決められているとすると、この同期整流信
号で光束４を同期整流すると第５図（Ｂ）に示される信
号が得られる。しかし、試料が変わったりして、光束の
位置と大きさが光束４から光束６に変わった場合、光束
６を同じ同図（Ａ）の同期整流信号で同期整流すると、
その整流された信号は同図（Ｃ）に示されるようになる
。
同図（Ｃ）のように整流された信号は見掛は上水さい信
号として検出され、検出器などによる雑音が一定である
ならばＳ／Ｎ比（信号対ノイズの比）は悪化する。
号として検出され、検出器などによる雑音が一定である
ならばＳ／Ｎ比（信号対ノイズの比）は悪化する。
しかし、従来の方法では変調手段の回転動作を検出する
フォトカプラなどの位置を調整し固定してしまうので、
同期整流信号の位相が固定されてしまい、第４図のよう
に光束が変化した場合に同期整流信号の位相を調整する
ことができなかった。
フォトカプラなどの位置を調整し固定してしまうので、
同期整流信号の位相が固定されてしまい、第４図のよう
に光束が変化した場合に同期整流信号の位相を調整する
ことができなかった。
本発明は、測定される光束が変化した場合にも測定に先
立って同期整流信号の位相を最適化できる測光方法を提
供することを目的とするものである。
立って同期整流信号の位相を最適化できる測光方法を提
供することを目的とするものである。
（問題点を解決するための手段）
本発明は、変調手段により変調された光信号を周波数弁
別し、変調動作に同期して復調する測光方法において、
前記変調手段による光のオン・オフ動作に対し予め決定
された遅延時間の後に同期整流パルスを発生する遅延回
路を設け、測定開始に先立って同期整流パルスの遅れを
変化させて測定試料に最適な整流パルスの位相を決定す
るようにした周波数変調測光方法である。
別し、変調動作に同期して復調する測光方法において、
前記変調手段による光のオン・オフ動作に対し予め決定
された遅延時間の後に同期整流パルスを発生する遅延回
路を設け、測定開始に先立って同期整流パルスの遅れを
変化させて測定試料に最適な整流パルスの位相を決定す
るようにした周波数変調測光方法である。
（実施例）
第１図は本発明を実施する測光系の一例を示すものであ
る。第１図の回路の各部の信号へ〜Ｄを第２図に示す。
る。第１図の回路の各部の信号へ〜Ｄを第２図に示す。
変調手段の回転チョッパ２により変調された光信号は、
検出器及びプリアンプ８で検出と増幅が行なわれた後、
変調周波数に同調された狭帯域増幅器１０により選択増
幅されてＳ／Ｎ比が向上させられて信号Ａとなる。狭帯
域増幅器１０で選択増幅された後の信号Ａはｓｉｎ波と
なっている。
検出器及びプリアンプ８で検出と増幅が行なわれた後、
変調周波数に同調された狭帯域増幅器１０により選択増
幅されてＳ／Ｎ比が向上させられて信号Ａとなる。狭帯
域増幅器１０で選択増幅された後の信号Ａはｓｉｎ波と
なっている。
１２は回転チョッパ２の回転動作を検出するフォトカプ
ラであり１回転チョッパ２の回転動作は信号Ｃに示され
るようなパルス信号として出力される。１４は変調同期
信号Ｃを任意の遅延時間Ｔを経た後に同期整流信号りと
して出力する遅延回路である。１６は遅延回路１４から
の同期整流信号りを受けて信号Ａを同期整流する同期整
流回路であり、同期整流された信号Ｂは平滑回路１８を
経て出力される。２０はＣＰＵシステムであり、インタ
ーフェイス２２から遅延回路１４に遅延時間を順次変え
て送出するとともに、それぞれの遅延時間での平滑回路
１８からの出力ＥをＡ／Ｄ変換器２４を経て入力し、平
滑回路１８からの出力Ｅが最大になる遅延時間を決定す
る。
ラであり１回転チョッパ２の回転動作は信号Ｃに示され
るようなパルス信号として出力される。１４は変調同期
信号Ｃを任意の遅延時間Ｔを経た後に同期整流信号りと
して出力する遅延回路である。１６は遅延回路１４から
の同期整流信号りを受けて信号Ａを同期整流する同期整
流回路であり、同期整流された信号Ｂは平滑回路１８を
経て出力される。２０はＣＰＵシステムであり、インタ
ーフェイス２２から遅延回路１４に遅延時間を順次変え
て送出するとともに、それぞれの遅延時間での平滑回路
１８からの出力ＥをＡ／Ｄ変換器２４を経て入力し、平
滑回路１８からの出力Ｅが最大になる遅延時間を決定す
る。
ＣＰＵシステム２０はそのような機能を行なうために、
ＣＰＵ２６の他、さらにプログラムメモリ２８、各遅延
時間ごとの平滑回路１８の出力を記憶するデータメモリ
３０及び後述のパラメータＮ、Ｔ、Ｘを記憶する演算用
メモリ３２を備えている。
ＣＰＵ２６の他、さらにプログラムメモリ２８、各遅延
時間ごとの平滑回路１８の出力を記憶するデータメモリ
３０及び後述のパラメータＮ、Ｔ、Ｘを記憶する演算用
メモリ３２を備えている。
次に本実施例において、最適な遅延時間を決定する手順
を第３図のフローチャートにより説明する。
を第３図のフローチャートにより説明する。
遅延時間Ｔ、遅延時間を変える回数Ｎを初期設定（Ｔ＝
Ｏ，Ｎ＝０）する（ステップＳＬ）。
Ｏ，Ｎ＝０）する（ステップＳＬ）。
まず、遅延回路１４へ遅延時間Ｔ＝Ｏを出力し。
そのときの平滑回路１８からの出力Ｅｏをデータとして
入力し、０番地のメモリに記憶する（ステップ８２〜Ｓ
４）。
入力し、０番地のメモリに記憶する（ステップ８２〜Ｓ
４）。
次に、Ｎを１だけ増加させ、遅延時間ＴをＴ＝（Δｔ／
ｍ）Ｎ として計算する（ステップＳ６，５７）。Δｔは遅延時
間の最大値である。
ｍ）Ｎ として計算する（ステップＳ６，５７）。Δｔは遅延時
間の最大値である。
このように設定された遅延時間を用いて、同様に検出を
行ない、順次データをメモリに記憶していく。
行ない、順次データをメモリに記憶していく。
Ｎ ＝ ｍとなると、遅延時間を変えることを停止し、
メモリに記憶されているデータＥｏ＝Ｅｍの比較を行な
って最大値となるＮをＸとする（ステップＳ５→Ｓ８）
。
メモリに記憶されているデータＥｏ＝Ｅｍの比較を行な
って最大値となるＮをＸとする（ステップＳ５→Ｓ８）
。
Ｔ＝（Δｔ／ｍ）Ｘ
として求められる遅延時間が平滑回路１８からの出力を
最大にする遅延時間、すなわちそのときの光信号に最適
な遅延時間である。
最大にする遅延時間、すなわちそのときの光信号に最適
な遅延時間である。
この最適遅延時間を遅延回路１４へ出力する遅延時間Ｔ
と設定し、以後の測定動作に移行する（ステップＳ９）
。
と設定し、以後の測定動作に移行する（ステップＳ９）
。
このように、遅延時間Ｔは０〜Δｔの間で変化させられ
、最適なものが設定される。
、最適なものが設定される。
上記例は一周波数に対する例であるが、二層波によるダ
ブルビーム動作に構成し北側光を実現することもできる
。
ブルビーム動作に構成し北側光を実現することもできる
。
（発明の効果）
本発明では、測定開始に先立って同期整流パルスの遅れ
を変化させて最適位相を決定するので。
を変化させて最適位相を決定するので。
試料に対する測光条件が最適化される効果がある。
また、測光条件最適化のための同期信号検出の位置合せ
を自動化することができる。
を自動化することができる。
第１図は本発明を実施する測光系の一例を示すブロック
図、第２図は第１図の測光系の各部の信号を示す波形図
、第３図は一実施例の動作を示すフローチャート、第４
図は回転チョッパと光束の関係を示す正面図、第５図は
同期整流信号と、変調波を同期整流した信号を示す波形
図である。 ２・・・・・・変調手段としての回転チョッパ、１２・
・・・・・フォトカプラ、 １４・・・・・・遅延回路。 １６・・・・・・同期整流回路。 ２０・・・・・・ＣＰＵシステム。
図、第２図は第１図の測光系の各部の信号を示す波形図
、第３図は一実施例の動作を示すフローチャート、第４
図は回転チョッパと光束の関係を示す正面図、第５図は
同期整流信号と、変調波を同期整流した信号を示す波形
図である。 ２・・・・・・変調手段としての回転チョッパ、１２・
・・・・・フォトカプラ、 １４・・・・・・遅延回路。 １６・・・・・・同期整流回路。 ２０・・・・・・ＣＰＵシステム。
Claims (1)
- （１）変調手段により変調された光信号を周波数弁別し
、変調動作に同期して復調する測光方法において、 前記変調手段による光のオン・オフ動作に対し予め決定
された遅延時間の後に同期整流パルスを発生する遅延回
路を設け、 測定開始に先立って同期整流パルスの遅れを変化させて
測定試料に最適な整流パルスの位相を決定することを特
徴とする周波数変調測光方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60259214A JPS62118221A (ja) | 1985-11-19 | 1985-11-19 | 周波数変調測光方法 |
| US06/932,025 US4807993A (en) | 1985-11-19 | 1986-11-18 | Method and apparatus for measuring light by frequency modulation using a time-variable synchronous rectification signal |
| DE3639350A DE3639350C2 (de) | 1985-11-19 | 1986-11-18 | Verfahren und Gerät zur Lichtmessung mittels Frequenzmodulation |
| CN86107777A CN1014827B (zh) | 1985-11-19 | 1986-11-19 | 调频测光法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60259214A JPS62118221A (ja) | 1985-11-19 | 1985-11-19 | 周波数変調測光方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62118221A true JPS62118221A (ja) | 1987-05-29 |
Family
ID=17330979
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60259214A Pending JPS62118221A (ja) | 1985-11-19 | 1985-11-19 | 周波数変調測光方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4807993A (ja) |
| JP (1) | JPS62118221A (ja) |
| CN (1) | CN1014827B (ja) |
| DE (1) | DE3639350C2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07335918A (ja) * | 1994-06-09 | 1995-12-22 | Natl Res Inst For Metals | 耐放射線性・不純物補償型光検知器 |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4991106A (en) * | 1983-03-02 | 1991-02-05 | Alfa-Laval Ab | Method and apparatus for aligning and analyzing sample and control signals |
| DE4041851A1 (de) * | 1990-12-24 | 1992-07-02 | Wandel & Goltermann | Verfahren zum messen der leistung einer optischen strahlung, anordnung zur durchfuehrung des verfahrens, und temperaturmessquarz zur verwendung in der anordnung zur durchfuehrung des verfahrens |
| JP3757854B2 (ja) | 2001-12-06 | 2006-03-22 | 株式会社島津製作所 | 複数の蛍光物質を含む試料の分析方法及び装置 |
| CN104501954B (zh) * | 2014-12-10 | 2016-06-22 | 四川大学 | 基于脉冲同步测量技术的光谱特性测试仪 |
| CN107219062A (zh) * | 2017-06-20 | 2017-09-29 | 南京航空航天大学 | 相位调制器的频响测量方法及装置 |
| WO2021009228A1 (en) * | 2019-07-17 | 2021-01-21 | Ams International Ag | Hold operations for light-to-frequency sensors |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6070318A (ja) * | 1983-09-27 | 1985-04-22 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3345907A (en) * | 1963-06-17 | 1967-10-10 | Wada Akiyoshi | Dichroism spectroscopes |
| US4171913A (en) * | 1972-12-20 | 1979-10-23 | Varian Techtron Proprietary Limited | Spectrophotometer |
| GB1455774A (en) * | 1974-02-07 | 1976-11-17 | Pye Ltd | Radiation detecting system |
| JPS5937767B2 (ja) * | 1977-04-20 | 1984-09-12 | オリンパス光学工業株式会社 | 測光装置 |
| JPS59162424A (ja) * | 1983-03-05 | 1984-09-13 | Japan Spectroscopic Co | 位相補償型レシオ式分光光度計 |
| US4577106A (en) * | 1983-09-12 | 1986-03-18 | Japan Spectroscopic Co., Ltd. | Spectrophotometer |
| DD228058A1 (de) * | 1984-11-01 | 1985-10-02 | Zeiss Jena Veb Carl | Phasensynchronisationseinrichtung fuer schrittantriebgesteuerte modulationseinrichtungen |
-
1985
- 1985-11-19 JP JP60259214A patent/JPS62118221A/ja active Pending
-
1986
- 1986-11-18 US US06/932,025 patent/US4807993A/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-11-18 DE DE3639350A patent/DE3639350C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1986-11-19 CN CN86107777A patent/CN1014827B/zh not_active Expired
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6070318A (ja) * | 1983-09-27 | 1985-04-22 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
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| JPH07335918A (ja) * | 1994-06-09 | 1995-12-22 | Natl Res Inst For Metals | 耐放射線性・不純物補償型光検知器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN1014827B (zh) | 1991-11-20 |
| DE3639350C2 (de) | 1995-06-01 |
| CN86107777A (zh) | 1987-07-15 |
| US4807993A (en) | 1989-02-28 |
| DE3639350A1 (de) | 1987-05-21 |
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