JPS6070318A - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
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- JPS6070318A JPS6070318A JP17965683A JP17965683A JPS6070318A JP S6070318 A JPS6070318 A JP S6070318A JP 17965683 A JP17965683 A JP 17965683A JP 17965683 A JP17965683 A JP 17965683A JP S6070318 A JPS6070318 A JP S6070318A
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- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims abstract description 20
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 14
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 9
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract description 6
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 abstract description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
- G01J1/20—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle
- G01J1/22—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle using a variable element in the light-path, e.g. filter, polarising means
- G01J1/24—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle using a variable element in the light-path, e.g. filter, polarising means using electric radiation detectors
Landscapes
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
本発明は赤外分光光度計に関し、特に感度を最大に調整
するだめの感度自動調整装置に関する。
するだめの感度自動調整装置に関する。
（ロ）従来技術
赤外分光光度計に用いられる赤外用光検出器（例えばザ
ーモカソプル）は応答速度が遅い。三光束方式の赤外分
光光度計では、参照光と試料光とをセクターミラーでＱ
ノ換えて交互に光検出器に入射させている。しかし上述
したように赤外用光検出器は応答が遅いので、三光束の
切換え位相と光検出信号の位相との間には相当のずれが
ある。この関係を第１図に示す。この図でＡは三光束の
切換え状態を示し、ｒは参照光が検出器に入射している
期間、Ｓは試料光が検出器に入射している期間を示す。
ーモカソプル）は応答速度が遅い。三光束方式の赤外分
光光度計では、参照光と試料光とをセクターミラーでＱ
ノ換えて交互に光検出器に入射させている。しかし上述
したように赤外用光検出器は応答が遅いので、三光束の
切換え位相と光検出信号の位相との間には相当のずれが
ある。この関係を第１図に示す。この図でＡは三光束の
切換え状態を示し、ｒは参照光が検出器に入射している
期間、Ｓは試料光が検出器に入射している期間を示す。
Ｂは光検出器の出力信号でΔとの間には時間差でＴ２だ
けの位相遅れがある。とのＢの信号において山と谷の高
さの差ｄが試料による吸収を表わしている。この差を測
定するためＢの信号を同期整流して直流信号を得ている
が、三光束の切換え位相と一致した位相を有するＣのよ
うな同期整流信号でＢの信号を整流するとＤのような波
形が得られ、この波形を平均化した直流レベルど はＤに点線で示しだようになり、直流出力は〆と云うこ
とになる。同期整流信号の位相をＥのようにずらせてＢ
の信号と位相を一致させて同期整流したときの波形はＦ
のようになり、このときの直流レベルは１１となって、
ｈ）δであり、このとき感度は最大である。
けの位相遅れがある。とのＢの信号において山と谷の高
さの差ｄが試料による吸収を表わしている。この差を測
定するためＢの信号を同期整流して直流信号を得ている
が、三光束の切換え位相と一致した位相を有するＣのよ
うな同期整流信号でＢの信号を整流するとＤのような波
形が得られ、この波形を平均化した直流レベルど はＤに点線で示しだようになり、直流出力は〆と云うこ
とになる。同期整流信号の位相をＥのようにずらせてＢ
の信号と位相を一致させて同期整流したときの波形はＦ
のようになり、このときの直流レベルは１１となって、
ｈ）δであり、このとき感度は最大である。
このため赤外分光光度計では感度最大となるように同期
整流信号の位相を調整する必要があるが、従来はこの調
整は全く手動的に行われていた。即ち同期整流信号はセ
クターミラーの角位置を検出するホトカプラの出力信号
から得ているが、このホトカプラの位置を手動的に微妙
に調整していた。
整流信号の位相を調整する必要があるが、従来はこの調
整は全く手動的に行われていた。即ち同期整流信号はセ
クターミラーの角位置を検出するホトカプラの出力信号
から得ているが、このホトカプラの位置を手動的に微妙
に調整していた。
この調整は多くの時間を要しかつ微妙なもので、しかも
赤外分光光度計を組立てたときに一回行えばよいと云っ
たものでなく、光検出器及び他の回路要素等の経年変化
のため時々再調整が必要であり、ユーザにとってはこの
調整は大へんな負担であった。
赤外分光光度計を組立てたときに一回行えばよいと云っ
たものでなく、光検出器及び他の回路要素等の経年変化
のため時々再調整が必要であり、ユーザにとってはこの
調整は大へんな負担であった。
（ハ） 目 的
本発明は赤外分光光度計で感度を最大にするだめの調整
を自動的に行うようにすることを目的とする。
を自動的に行うようにすることを目的とする。
（ニ）構 成
本発明は三光束を切換えるセクターミラーの位置を検出
する位置検出器の検出信号によってスタートし任意に設
定可能な時間後に信号を出力するタイマーの出力信号に
よって同期整流信号の位相を制御せしめ、上記設定時間
を自動的に変化させて同期整流出力最大となる時間を検
出し、上記タイマーの設定時間をその時間に固定するよ
うにした赤外分光光度計を提供する。
する位置検出器の検出信号によってスタートし任意に設
定可能な時間後に信号を出力するタイマーの出力信号に
よって同期整流信号の位相を制御せしめ、上記設定時間
を自動的に変化させて同期整流出力最大となる時間を検
出し、上記タイマーの設定時間をその時間に固定するよ
うにした赤外分光光度計を提供する。
（ホ）実施例
第２図は本発明の一実施例を示す。Ｌは光源、Ｒは参照
セル、Ｓは試料セルで、ｒが参照光束、Ｓが試料光束で
ある。１はセクターミラーで、パルスモータ２によって
回転せしめられ、３はセクターミラーの位置検出用ホト
カプラである。４はモノクロメータでセクターミラーの
回転により参照光と試料光とが交互に入射せしめられる
。この実施例は光学的零位法を用いた構成で、参照光と
試料光の夫々の検出出力が等しくなるように即ち同期整
流出力が０になるように参照光束ｒ内にウェッジＷを出
入させ、その出入量を以って測定出力とするものである
。モノクロメータ４の出射光は赤外検出器５に入射せし
められ、検出器５の出力は増幅器６で増幅されて、同期
整流回路７により同期整流され、この整流出力がサーボ
コントローラ１２に入力される。サーボコントローラ１
２はこの入力信号に応じてサーボモータＭを駆動してウ
ェッジＷを出入され、サーボコントローラへの上記入力
信号がＯになるように動作する。ウェッジＷの駆動量が
ポテンショメータＰで電圧信号に変換され、試料の吸収
スペクトルとして記録される。
セル、Ｓは試料セルで、ｒが参照光束、Ｓが試料光束で
ある。１はセクターミラーで、パルスモータ２によって
回転せしめられ、３はセクターミラーの位置検出用ホト
カプラである。４はモノクロメータでセクターミラーの
回転により参照光と試料光とが交互に入射せしめられる
。この実施例は光学的零位法を用いた構成で、参照光と
試料光の夫々の検出出力が等しくなるように即ち同期整
流出力が０になるように参照光束ｒ内にウェッジＷを出
入させ、その出入量を以って測定出力とするものである
。モノクロメータ４の出射光は赤外検出器５に入射せし
められ、検出器５の出力は増幅器６で増幅されて、同期
整流回路７により同期整流され、この整流出力がサーボ
コントローラ１２に入力される。サーボコントローラ１
２はこの入力信号に応じてサーボモータＭを駆動してウ
ェッジＷを出入され、サーボコントローラへの上記入力
信号がＯになるように動作する。ウェッジＷの駆動量が
ポテンショメータＰで電圧信号に変換され、試料の吸収
スペクトルとして記録される。
９は制御用コンピュータ（ＣＰＵ）で前述した調整動作
その他の制御動作を行っている。ＩＱはプログラマブル
クロックタイマで、トリガノくルス沙′。
その他の制御動作を行っている。ＩＱはプログラマブル
クロックタイマで、トリガノくルス沙′。
ｌ入力されると、ＣＰＵ９によって設定された遅れ時間
の後、同じ（ＣＰＵ９で設定された時間幅（第１図のＴ
Ｉ）の信号を出力し、これが同期整流信号となって同期
整流回路７に入力される。セクターミラーｌの位置を検
出するホトカプラー３の出力が増幅Ｗｅ １３を介して
ＣＰＵ９に入力され、ＣＰＵ９はホトカプラーの出力の
タイミングを基準にしてプログラマブルクロックタイマ
ー１０を制御し、所定の位相で同期整流信号を出力させ
る。
の後、同じ（ＣＰＵ９で設定された時間幅（第１図のＴ
Ｉ）の信号を出力し、これが同期整流信号となって同期
整流回路７に入力される。セクターミラーｌの位置を検
出するホトカプラー３の出力が増幅Ｗｅ １３を介して
ＣＰＵ９に入力され、ＣＰＵ９はホトカプラーの出力の
タイミングを基準にしてプログラマブルクロックタイマ
ー１０を制御し、所定の位相で同期整流信号を出力させ
る。
以上の構成において、ＣＰＵは以下述べるような制御動
作を行っている。第３図は第１図Ａにおける時間Ｔｌ（
参照光入射期呻或はＴ３（試料光入射期間）の測定を行
う場合のフローチャートである。測定回数Ｎを例えば１
０回と設定しておく。
作を行っている。第３図は第１図Ａにおける時間Ｔｌ（
参照光入射期呻或はＴ３（試料光入射期間）の測定を行
う場合のフローチャートである。測定回数Ｎを例えば１
０回と設定しておく。
動作をスタートさせると、メモリの所定アドレスにＮ＝
：ｔ Ｏを設定（イ）シ、セクターミラー１を回転させ
、ホトカプラ３の出力ＯＦＦを検出（ロ）し、引続きホ
トカプラの出力ＯＮを検出？））シてタイマ１０をスタ
ートさせる（二）。次いでホトカプラの出力ＯＦＦを検
出（ホ）したら、そのときのタイマ時間を読取シ（へ）
、読取りデータをメモリしくト）、ＮをＮ−１としくチ
フ、動作はＸに戻り、以下同じ動作を９回繰返すとＮ
＝ ０となるから・、タイマ時間の読取りデータを平均
してＴ１をめメモリの所定アドレスに格納して動作を終
る。Ｔ３の測定はホトカプラの出力ＯＦＦから次のＯＮ
までの時間計測で、動作は上述フローと全く同じである
。時間ＴＩ。
：ｔ Ｏを設定（イ）シ、セクターミラー１を回転させ
、ホトカプラ３の出力ＯＦＦを検出（ロ）し、引続きホ
トカプラの出力ＯＮを検出？））シてタイマ１０をスタ
ートさせる（二）。次いでホトカプラの出力ＯＦＦを検
出（ホ）したら、そのときのタイマ時間を読取シ（へ）
、読取りデータをメモリしくト）、ＮをＮ−１としくチ
フ、動作はＸに戻り、以下同じ動作を９回繰返すとＮ
＝ ０となるから・、タイマ時間の読取りデータを平均
してＴ１をめメモリの所定アドレスに格納して動作を終
る。Ｔ３の測定はホトカプラの出力ＯＦＦから次のＯＮ
までの時間計測で、動作は上述フローと全く同じである
。時間ＴＩ。
Ｔ３の測定が終れば次に第２図における遅れ時間Ｔ２の
検出動作を行う。Ｔ２の検出は同期整流出力が最大とな
るＴ２を決定する動作で、この動作中はウェッジＷは一
定位置にあって駆動されない。
検出動作を行う。Ｔ２の検出は同期整流出力が最大とな
るＴ２を決定する動作で、この動作中はウェッジＷは一
定位置にあって駆動されない。
第４図はＴ２決定の動作のフローチャートである。
Ｔ２検出動作をスタートさせるとまず初期イヒ何）カニ
行われる。ホトカプラ３のＯＮ、ＯＦＦと三光束切換え
の位相とは構造上略一致させてあり、ホトカプラのＯＮ
、ＯＦＦ出力は第１図Ａの波形と略同位相であり、ＣＰ
Ｕ９はこのｏＮ、ＯＦＦのタイミングを基準にしてＴ２
’＋τなる時間おくれでプログラマブルクロックタイマ
ｌＯから同期信号を出力させる。こＸでＴ２′は固定で
τを変化させＴ ２１＋τ−Ｔ２となるように調整を行
う。従ってτを変える方向には＋１−の２方向がある。
行われる。ホトカプラ３のＯＮ、ＯＦＦと三光束切換え
の位相とは構造上略一致させてあり、ホトカプラのＯＮ
、ＯＦＦ出力は第１図Ａの波形と略同位相であり、ＣＰ
Ｕ９はこのｏＮ、ＯＦＦのタイミングを基準にしてＴ２
’＋τなる時間おくれでプログラマブルクロックタイマ
ｌＯから同期信号を出力させる。こＸでＴ２′は固定で
τを変化させＴ ２１＋τ−Ｔ２となるように調整を行
う。従ってτを変える方向には＋１−の２方向がある。
初期化動作ではτ−０．τの変化方向＋、フラグ○ＦＦ
にする。次いで測定動作を開始（ロ）する。こ＼でＣＰ
Ｕ９は先に測定したＴｌ、Ｔ３のデータを用いてタイマ
１０を制御し同期整流信号を出力させる。当初三光束の
切換えに対する同期整流信号の遅れ時間ばＴ４であると
する。測定動作を開始したら整流出力を測定し、Ａ／Ｄ
変換器（第２図８）でＡ ／ Ｄ変換して読取りメモリ
に格納（ハ）する。
にする。次いで測定動作を開始（ロ）する。こ＼でＣＰ
Ｕ９は先に測定したＴｌ、Ｔ３のデータを用いてタイマ
１０を制御し同期整流信号を出力させる。当初三光束の
切換えに対する同期整流信号の遅れ時間ばＴ４であると
する。測定動作を開始したら整流出力を測定し、Ａ／Ｄ
変換器（第２図８）でＡ ／ Ｄ変換して読取りメモリ
に格納（ハ）する。
次にての変化方向をチェック（ニ）し、当初方向は十で
あるからτに微少時間ｌを加え（ホ）、整流出力を読取
り（へ）、先にメモリに格納した整流出力と比較して出
力ｕｐ（ＹＥＳ）なら（ト）、フラグをＯＮ（チ）し、
動作はＹに戻り、同じ動作が繰返され、ステップ（ト）
の判定がＮＯになったら整流出力が最大になったのであ
るからフラグＯＮ、ＯＦＦを確め（す）、フラグ０１，
１であればＴ２の決定は終了する。Ｔ２（Ｔ ４の場合
は測定動作開始後−回目の動作でステップ（ト）の判定
がＮｏとなるからステップ（す）でフラグのＯＮ、ＯＦ
Ｆを検すると、フラグはＯＦＦのま＼であり、この場合
、（す）の判定はＮｏで、ステップ（ヌ）に進みτの変
化方向が変換されて動作はＹに戻る。以後ステップ（ニ
）の判定はＮ Ｏとなるから動作ステップは四を経てて
一τ−］−となってステップ（へ）に進む。以後動作は
（へ）（））ＬＦ−ＩＹと進んで繰返され、この間にフ
ラグはＯＮとなるから、遂にステップ（ト）の判定がＮ
Ｏになったときは先の場合と同様ステップ（す）の判定
がＹＥＳとなってＴ２の決定動作が終る。これらの動作
によって決定されたＴｌ、Ｔ３． τはメモリに保持さ
れ、以後の測定でＣ，ＰＵ９はこのＴＩ、Ｔ３． τを
用いてタイマ１０を制御する。
あるからτに微少時間ｌを加え（ホ）、整流出力を読取
り（へ）、先にメモリに格納した整流出力と比較して出
力ｕｐ（ＹＥＳ）なら（ト）、フラグをＯＮ（チ）し、
動作はＹに戻り、同じ動作が繰返され、ステップ（ト）
の判定がＮＯになったら整流出力が最大になったのであ
るからフラグＯＮ、ＯＦＦを確め（す）、フラグ０１，
１であればＴ２の決定は終了する。Ｔ２（Ｔ ４の場合
は測定動作開始後−回目の動作でステップ（ト）の判定
がＮｏとなるからステップ（す）でフラグのＯＮ、ＯＦ
Ｆを検すると、フラグはＯＦＦのま＼であり、この場合
、（す）の判定はＮｏで、ステップ（ヌ）に進みτの変
化方向が変換されて動作はＹに戻る。以後ステップ（ニ
）の判定はＮ Ｏとなるから動作ステップは四を経てて
一τ−］−となってステップ（へ）に進む。以後動作は
（へ）（））ＬＦ−ＩＹと進んで繰返され、この間にフ
ラグはＯＮとなるから、遂にステップ（ト）の判定がＮ
Ｏになったときは先の場合と同様ステップ（す）の判定
がＹＥＳとなってＴ２の決定動作が終る。これらの動作
によって決定されたＴｌ、Ｔ３． τはメモリに保持さ
れ、以後の測定でＣ，ＰＵ９はこのＴＩ、Ｔ３． τを
用いてタイマ１０を制御する。
上述第３＋ 第４図のフローチャートで示した動電
作は７源ＯＮのたびに自動的に行われるがオペレータが
任意に始動させてもよい。例えば毎回の測定に先立って
行ってもよく、何回か測定を繰返す度に行ってもよい。
任意に始動させてもよい。例えば毎回の測定に先立って
行ってもよく、何回か測定を繰返す度に行ってもよい。
上述した実施例は光学的零位法を用いた分光光度計であ
るが、直接参照光と試料光の測光出力の比を取る方式に
おいても上と全く同様の調整動作が適用される。更に一
ヒの実施例ではＴＩ、Ｔ３の測定動作を行っているが、
セクターミラーを駆動するパルスモータ２がＣＰＵ９か
ら供給されるクロックパルスで動いているときはＣＰＵ
９にとってＴｌ、Ｔ３は既知の量となるから、Ｔｌ、、
Ｔ３の測定は行わないようにプログラムを構成するとと
ができる。また同期整流信号形成手段は任意で、例えば
ホトカプラの出力のＯＮ、ＯＦＦを検知して始動するタ
イマーによって遅れ時間を設定し同タイマーの出力でフ
リップフロップをトリガすると云うような構成も可能で
ある。
るが、直接参照光と試料光の測光出力の比を取る方式に
おいても上と全く同様の調整動作が適用される。更に一
ヒの実施例ではＴＩ、Ｔ３の測定動作を行っているが、
セクターミラーを駆動するパルスモータ２がＣＰＵ９か
ら供給されるクロックパルスで動いているときはＣＰＵ
９にとってＴｌ、Ｔ３は既知の量となるから、Ｔｌ、、
Ｔ３の測定は行わないようにプログラムを構成するとと
ができる。また同期整流信号形成手段は任意で、例えば
ホトカプラの出力のＯＮ、ＯＦＦを検知して始動するタ
イマーによって遅れ時間を設定し同タイマーの出力でフ
リップフロップをトリガすると云うような構成も可能で
ある。
（へ）効 果
本発明は上述したような構成で装置製造の際、ホトカプ
ラ３の位置調整の必要がないから調整コストが低減でき
、ユーザ側でも以後の調整作業が不要とｔす、しかも任
意に再調整ができるので常に最高感度で測定を行うこと
ができる。
ラ３の位置調整の必要がないから調整コストが低減でき
、ユーザ側でも以後の調整作業が不要とｔす、しかも任
意に再調整ができるので常に最高感度で測定を行うこと
ができる。
第１図は調整の意味を説明するタイムチャート、第２図
は本発明の一実施例のブロック図、第３図及び第４図は
ＣＰＵの制御動作のフローチャートである。 Ｌ・・・光源、ｒ・・・参照光束、Ｓ・・・試料光束、
ｌ・・・セクターミラー、２・・・セクターミラー駆動
用パルスモータ、３・・・セクターミラーの位置検出用
ホトカプラ、Ｗ・・ウェッジ、ＩＡ・・ザーボモータ、
Ｐ・・ポテンショメータ。 代理人 弁理士 昧 浩 介
は本発明の一実施例のブロック図、第３図及び第４図は
ＣＰＵの制御動作のフローチャートである。 Ｌ・・・光源、ｒ・・・参照光束、Ｓ・・・試料光束、
ｌ・・・セクターミラー、２・・・セクターミラー駆動
用パルスモータ、３・・・セクターミラーの位置検出用
ホトカプラ、Ｗ・・ウェッジ、ＩＡ・・ザーボモータ、
Ｐ・・ポテンショメータ。 代理人 弁理士 昧 浩 介
Claims (1)
- 参照光と試料光とを切換え、測光出力を上記参照光と試
料光との切換えと同期させて同期整流する構成において
、同期整流信号発生回路に該同期整流信号の位相を可変
する手段を設け、始動操作により、上記位相を変えつ＼
、上記同期整流出力が最大になる位相を検出してその位
相に固定する制御手段を設けたことを特徴とする分光光
度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17965683A JPS6070318A (ja) | 1983-09-27 | 1983-09-27 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17965683A JPS6070318A (ja) | 1983-09-27 | 1983-09-27 | 分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6070318A true JPS6070318A (ja) | 1985-04-22 |
Family
ID=16069580
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17965683A Pending JPS6070318A (ja) | 1983-09-27 | 1983-09-27 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6070318A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62118221A (ja) * | 1985-11-19 | 1987-05-29 | Shimadzu Corp | 周波数変調測光方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52125382A (en) * | 1975-12-30 | 1977-10-21 | Perkin Elmer Ltd | Demodulator |
-
1983
- 1983-09-27 JP JP17965683A patent/JPS6070318A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52125382A (en) * | 1975-12-30 | 1977-10-21 | Perkin Elmer Ltd | Demodulator |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62118221A (ja) * | 1985-11-19 | 1987-05-29 | Shimadzu Corp | 周波数変調測光方法 |
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