CN1014827B - 调频测光法 - Google Patents

调频测光法

Info

Publication number
CN1014827B
CN1014827B CN86107777A CN86107777A CN1014827B CN 1014827 B CN1014827 B CN 1014827B CN 86107777 A CN86107777 A CN 86107777A CN 86107777 A CN86107777 A CN 86107777A CN 1014827 B CN1014827 B CN 1014827B
Authority
CN
China
Prior art keywords
signal
synchronous rectification
circuit
delay time
delay
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
CN86107777A
Other languages
English (en)
Other versions
CN86107777A (zh
Inventor
中村健次
德原康隆
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Publication of CN86107777A publication Critical patent/CN86107777A/zh
Publication of CN1014827B publication Critical patent/CN1014827B/zh
Expired legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
    • G01J1/16—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J2001/4242—Modulated light, e.g. for synchronizing source and detector circuit

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明涉及对调制装置调制的光信号进行鉴频，并与调制同步地解调的测光方法。在本发明中设有将旋转遮光器旋转给出的同步整流信号[脉冲信号]进行延时的延时电路，可在测试开始之前将同步整流信号加以延时，以使滤波电路输出最大时的延时时间定为最佳延时时间，从而确定出同步整流信号的最佳相位。本发明可使各种测试样品的测光条件达到最佳化。

Description

本发明涉及紫外、可见分光光度计和红外分光光度计等仪器中对给定频率进行调制的光信号鉴频，并使用与调制相同步的解调装置对光信号进行同步测试的方法。
过去，在使用光“通-断”调制装置的情况下，当光束的几何尺寸与旋转遮光器等调制装置的几何尺寸相比不容忽略时，如果根据测试样品等的不同而改变光束大小及其对调制装置的相对位置，则同步整流信号的最佳相位将发生变化。
这里，同步整流信号可借助光耦合器等检测装置检测出调制装置的旋转动作而得到，而同步整流信号的相位可通过光耦合器等检测装置的机械对位进行调整。
图4中相对于调制装置旋转遮光器2而言，由大测试样品等限定的光束4的大小和位置如实线所示，由小测试样品等限定的光束6的大小和位置如虚线所示。
如果图5（A）所示的同步整流信号确定出光束4的最佳相位，用此同步整流信号对光束4进行同步整流，即可得到图5（B）所示的信号。然而，在改变测试样品使光束的位置和大小由光束4变为光束6时，若以图5（A）的同步整流信号对光束6进行同步整流，则整流的信号如图5（C）。图5（C）所示的整流信号从表面上看检出的信号是小的。如果检测器等的杂波一定，则信杂比（S/N）将下降。
但是，在先前的方法中，检测调制装置旋转动作的光耦合器等的 位置经调整好后是固定的，因而同步整流信号的相位也是固定的，如图4所示那样光束变化时，无法调整同步整流信号的相位。
本发明的目的在于提供一种测光的方法，以便被测光束变化时能在测试前使同步整流信号的相位最佳化。
本发明的调频测光法是在对调制装置调制的光信号进行鉴频，并与调制同步地解调的测光中，在对应于上述调制装置中光“通-断”动作所预先确定的延时时间之后，设有产生改变整流脉冲的延时电路，可在测试开始前改变同步整流脉冲的延时，而对测试样品确定最佳的整流脉冲相位。
图1示出本发明测光系统的一个实施例的框图;
图2为图1测光系统中A～D信号的波形图;
图3是实施例的操作流程图;
图4是表明旋转遮光器与光束关系的正视图;
图5示出同步整流信号经同步整流的调制波的信号波形图。
如图1和图2所示，由调制装置旋转遮光器2调制的光信号经检测器和前置放大器8检出并放大后，通过调谐于调制频率的窄带放大器10进行选频放大，得到提高了信杂比的信号A。由窄带放大器10选频放大的信号A为正弦波。
光耦合器12检测旋转遮光器2的旋转动作。由旋转遮光器2的旋转动作输出以信号C表示的脉冲信号。延时电路14使用调制同步信号C经任意延时时间T后输出同步整流信号D。同步整流电路16接收到延时电路来的同步整流信号D，用它对信号A进行同步整流。同步整流得到的信号B经滤波电路18后输出。20为中央处理器（CPU）系统，由接口22向延时电路14传输，延时电路依次改变延时时间，与此同时，将各个延时时间下由滤波电路18输出的信 号E经模/数（A/D）转换器24输入，由此确定使滤波电路18的输出信号E成为最大时的延时时间。
为了实现这样的功能，CPU系统20中除CPU20外，还设有程序存贮器28、存贮各延时时间下滤波电路18输出数据用的存贮器30和存贮下面所述的N、T、X参数以供运算用的存贮器32。
现在通过图3的流程说明本实施例中确定最佳延时时间的步骤。
设定延时时间T和延时时间变动次数N的初始值（T＝0、N＝0）（步骤S1）。
首先，向延时电路14输出延时时间T＝0，将此时由滤波电路18输出的E0作为输入数据，存入0号地址存贮器中（步骤S2～S4）。
然后，将N加1，按下列计算延时时间T（步骤S6、S7）：
T＝（△t/m）N
式中，△t为延时时间的最大值。
对这种方法给出的延时时间进行相同的检测，依次将数据存入数据存贮器。
当N＝m时，停止改变延时时间，对存入于存贮器内的数据E0～Em进行比较，令最大值时的N为X（步骤S5～S8），并按下式求出的延时时间就是可使滤波电路18的输出为最大时的延时时间：
T＝（△t/m）X
这就是对这时的光信号而言的最佳延时时间。
将这一最佳延时时间定为向延时电路14输出的延时时间T，然后可转入下一步的测试（步骤S9）。
这样，可使延时时间T在0～△t之间变化，确定出最佳延时时间。
上述实施例为对应于一个频率的例子，也可由两个频率构成双光束，实现比较测光。
由于本发明中在测试开始之前改变同步整流脉冲的延时来确定最佳相位，所以可使测试样品的测光条件达到最佳化。
此外，为使测光条件最佳化的同步信号检测位置的定位是自动化的。

Claims (1)

1、一种用旋转遮光器对要测量的光束进行调制的调频测光方法，包括：
(1)在信号输出的同步整流电路(16)与鉴频器(12)之间设置一受输出信号控制的延迟电路(14)，以向整流电路发出同步整流脉冲信号；
(2)使经整流电路(16)输出的光一电信号经滤波电路输出以获得某一测量输出信号(E)；
(3)在上述输出信号控制下逐步改变延迟时间，以获得在特定样品下有最大输出信号值的最佳延迟时间；
(4)固定该最佳延迟时间以确定最佳整流脉冲相位，并在这种状态下对前述特定样品进行正式地测量。
CN86107777A 1985-11-19 1986-11-19 调频测光法 Expired CN1014827B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60259214A JPS62118221A (ja) 1985-11-19 1985-11-19 周波数変調測光方法
JP259214/85 1985-11-19

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN86107777A CN86107777A (zh) 1987-07-15
CN1014827B true CN1014827B (zh) 1991-11-20

Family

ID=17330979

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN86107777A Expired CN1014827B (zh) 1985-11-19 1986-11-19 调频测光法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4807993A (zh)
JP (1) JPS62118221A (zh)
CN (1) CN1014827B (zh)
DE (1) DE3639350C2 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107219062A (zh) * 2017-06-20 2017-09-29 南京航空航天大学 相位调制器的频响测量方法及装置

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4991106A (en) * 1983-03-02 1991-02-05 Alfa-Laval Ab Method and apparatus for aligning and analyzing sample and control signals
DE4041851A1 (de) * 1990-12-24 1992-07-02 Wandel & Goltermann Verfahren zum messen der leistung einer optischen strahlung, anordnung zur durchfuehrung des verfahrens, und temperaturmessquarz zur verwendung in der anordnung zur durchfuehrung des verfahrens
JP2884037B2 (ja) * 1994-06-09 1999-04-19 科学技術庁金属材料技術研究所長 耐放射線性・不純物補償型光検知器
JP3757854B2 (ja) * 2001-12-06 2006-03-22 株式会社島津製作所 複数の蛍光物質を含む試料の分析方法及び装置
CN104501954B (zh) * 2014-12-10 2016-06-22 四川大学 基于脉冲同步测量技术的光谱特性测试仪
WO2021009228A1 (en) * 2019-07-17 2021-01-21 Ams International Ag Hold operations for light-to-frequency sensors

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3345907A (en) * 1963-06-17 1967-10-10 Wada Akiyoshi Dichroism spectroscopes
US4171913A (en) * 1972-12-20 1979-10-23 Varian Techtron Proprietary Limited Spectrophotometer
GB1455774A (en) * 1974-02-07 1976-11-17 Pye Ltd Radiation detecting system
JPS5937767B2 (ja) * 1977-04-20 1984-09-12 オリンパス光学工業株式会社 測光装置
JPS59162424A (ja) * 1983-03-05 1984-09-13 Japan Spectroscopic Co 位相補償型レシオ式分光光度計
US4577106A (en) * 1983-09-12 1986-03-18 Japan Spectroscopic Co., Ltd. Spectrophotometer
JPS6070318A (ja) * 1983-09-27 1985-04-22 Shimadzu Corp 分光光度計
DD228058A1 (de) * 1984-11-01 1985-10-02 Zeiss Jena Veb Carl Phasensynchronisationseinrichtung fuer schrittantriebgesteuerte modulationseinrichtungen

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107219062A (zh) * 2017-06-20 2017-09-29 南京航空航天大学 相位调制器的频响测量方法及装置

Also Published As

Publication number Publication date
DE3639350C2 (de) 1995-06-01
JPS62118221A (ja) 1987-05-29
DE3639350A1 (de) 1987-05-21
US4807993A (en) 1989-02-28
CN86107777A (zh) 1987-07-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101105501A (zh) 风扇转速测试系统及方法
CN1052548A (zh) 用于测定涂层厚度的扫频涡流系统
EP1093680B1 (en) Adaptive sampling rate based on power system frequency
CN1014827B (zh) 调频测光法
CN111934760B (zh) 信号处理传输延时特性检测装置、方法及终端设备
EP0097041B1 (en) Correlation of noise signals
EP0086097A1 (en) Detecting apparatus and method
CN1024593C (zh) 外差干涉仪信号处理——相位和相位整数测量方法及其装置
CN1059404A (zh) 吸光度检测器
CN107783084A (zh) 恒虚警检测及数据处理平台
EP0295720A2 (en) Laser speckel velocity-measuring apparatus
JP3498683B2 (ja) 分析装置
CN2711990Y (zh) 光学玻璃膜厚测量信号处理仪
SU1245663A2 (ru) Устройство дл измерени скорости движени твердой фазы пульпы земснар да
JP2508226B2 (ja) 信号発生装置
SU1076869A1 (ru) Способ измерени групповой задержки
SU1206640A1 (ru) Способ контрол качества оптических систем и устройство дл его осуществлени
CN107783097A (zh) 目标配对及数据处理平台
GB2044940A (en) Testing of induction motors
RU2028629C1 (ru) Способ выделения детерминированных составляющих сигнала
Clarke An electronic probability density machine
WO1989009412A1 (en) Transition condition detector and measuring instrument utilizing the same
RU2179312C2 (ru) Электромагнитный многочастотный структуроскоп
KR900005165A (ko) 온-라인 종이쉬이트 포오메이션 특징화 방법 및 장치
SU1522125A1 (ru) Способ определени амплитудно-фазового распределени пол антенны

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C13 Decision
GR02 Examined patent application
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C19 Lapse of patent right due to non-payment of the annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee