JPS60165537A - 光透過率測定装置の信号検出方式 - Google Patents
光透過率測定装置の信号検出方式Info
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- JPS60165537A JPS60165537A JP2085784A JP2085784A JPS60165537A JP S60165537 A JPS60165537 A JP S60165537A JP 2085784 A JP2085784 A JP 2085784A JP 2085784 A JP2085784 A JP 2085784A JP S60165537 A JPS60165537 A JP S60165537A
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明は相互測定方式の光透過率測定装置において、自
己及び相手側の投受光器からの２方向の光を光電変換し
た各信号を検出する方式である。
己及び相手側の投受光器からの２方向の光を光電変換し
た各信号を検出する方式である。
（技術的背景）
第１図社光透過率測定装置を示す光路及び回路図である
。第１図において、同一構造の第１．第２の投受光器１
，１１をほぼ同一軸上に配置し、これら投受光器１，１
１間の透過率を測定する。
。第１図において、同一構造の第１．第２の投受光器１
，１１をほぼ同一軸上に配置し、これら投受光器１，１
１間の透過率を測定する。
投受光器１および１１はそれぞれ光源２および１２．１
／４波長板３および１３、第１の偏光ビームスｆ ＋７
ツター４および１４．第１の１７４波長板６および１６
、第１の反射鏡５および１５、第２の偏光ビームスグリ
ツタ−７および１７、第２の１／４波長板８および１８
、第２の反射鏡９およびＩ９ならびに光電変換素子ｌθ
および２０から構成されている。光源２および１２は、
それぞれドライブ回路２１および２２により壓動芒れ、
単波長を発光する発光ダイオードまたはレーザーダイオ
ード等金用い、それぞれ第２図に示すようなりＲＶＪ信
号およびＤＲＶ２信号によシ発光時間か°制御される。
／４波長板３および１３、第１の偏光ビームスｆ ＋７
ツター４および１４．第１の１７４波長板６および１６
、第１の反射鏡５および１５、第２の偏光ビームスグリ
ツタ−７および１７、第２の１／４波長板８および１８
、第２の反射鏡９およびＩ９ならびに光電変換素子ｌθ
および２０から構成されている。光源２および１２は、
それぞれドライブ回路２１および２２により壓動芒れ、
単波長を発光する発光ダイオードまたはレーザーダイオ
ード等金用い、それぞれ第２図に示すようなりＲＶＪ信
号およびＤＲＶ２信号によシ発光時間か°制御される。
したがって投受光器１の光源２が発光している時間Ｌ１
では投受光器１ノの光源１２０発光量ｌ−１：Ｏであり
、時間ｔ２ではその投受光器１の光源２の発光量が０と
なる。以後このようにして継続的に交互に繰返される。
では投受光器１ノの光源１２０発光量ｌ−１：Ｏであり
、時間ｔ２ではその投受光器１の光源２の発光量が０と
なる。以後このようにして継続的に交互に繰返される。
動作機能を第１の投受光器Ｉについて説明すると、光源
２は直線偏光の偏光特性をもつ光源であシ、１／４波長
板３を通過して円偏光に変り、偏光ビームスシリツタ−
４で透過光と反射光に分離さムスノリッター１７を透過
して元瞥笈侠系すΔυに入光し、増幅回路２３により増
幅きれ、電圧Ｅ ２／を出力する。一方、第１の投受光
器ｌ内の第１の偏光ビームスフ０リツター４においては
、反射光は反射鏡５を付けた１／４波長板６に入光して
戻り、第１の偏光ビームスグリツタ−４を透過し、さら
に第２の偏光ビームスノリ、ターフを透過し、反射鏡９
を付けた１４波長板８に入光して戻り、前記第２の偏光
ビームスシリツタ−７で反射して光電変換素子１ｏに入
光し、増幅回路Ｚ４にょシ増幅され重圧Ｆ：１ を出力
する。
２は直線偏光の偏光特性をもつ光源であシ、１／４波長
板３を通過して円偏光に変り、偏光ビームスシリツタ−
４で透過光と反射光に分離さムスノリッター１７を透過
して元瞥笈侠系すΔυに入光し、増幅回路２３により増
幅きれ、電圧Ｅ ２／を出力する。一方、第１の投受光
器ｌ内の第１の偏光ビームスフ０リツター４においては
、反射光は反射鏡５を付けた１／４波長板６に入光して
戻り、第１の偏光ビームスグリツタ−４を透過し、さら
に第２の偏光ビームスノリ、ターフを透過し、反射鏡９
を付けた１４波長板８に入光して戻り、前記第２の偏光
ビームスシリツタ−７で反射して光電変換素子１ｏに入
光し、増幅回路Ｚ４にょシ増幅され重圧Ｆ：１ を出力
する。
また、同様だして第２の投受光器１１の光源１２からの
光は１／４波長板１３−第１の偏光ビームス７’ ＩＪ
ソック１４−媒体一第工の投受光器Ｉの第２の偏光ビー
ムスグリツタ−７−光電変換素子１０の経路で入光し゛
電圧Ｅ １／を出力する。一方、第２の投受光器１ノに
おいて、光源１２がらの光は第１の偏光ビームスシリツ
タ−Ｉ４で反射して、さらに第１の１ハ波長板−第１の
反射鏡１５−第１の１／４波長板−第１の偏光ビームス
グリ、ター１４−第２の偏光ビームスシリツタ−１７−
第２の１／４波長板１８−第２の反射鏡１９−第２の１
／４波長板Ｊ８−第２の偏光ビームスプリッタ−１７−
光電変換素子２ｏの経路で入光し電圧Ｅ２を出力する。
光は１／４波長板１３−第１の偏光ビームス７’ ＩＪ
ソック１４−媒体一第工の投受光器Ｉの第２の偏光ビー
ムスグリツタ−７−光電変換素子１０の経路で入光し゛
電圧Ｅ １／を出力する。一方、第２の投受光器１ノに
おいて、光源１２がらの光は第１の偏光ビームスシリツ
タ−Ｉ４で反射して、さらに第１の１ハ波長板−第１の
反射鏡１５−第１の１／４波長板−第１の偏光ビームス
グリ、ター１４−第２の偏光ビームスシリツタ−１７−
第２の１／４波長板１８−第２の反射鏡１９−第２の１
／４波長板Ｊ８−第２の偏光ビームスプリッタ−１７−
光電変換素子２ｏの経路で入光し電圧Ｅ２を出力する。
これらの電圧Ｅｌ ＃ Ｅ２ ｔ Ｅｌ’ ｐ Ｅ２／
の４つの電圧から投受光器ｌと投受光器１１間の光透過
率τは次の（１）式によってめられる。
の４つの電圧から投受光器ｌと投受光器１１間の光透過
率τは次の（１）式によってめられる。
以上が、相互測定方式の測定原理である。
従来、この相互測定方式光透過率測定装置における信号
検出は、第３図に示す波形図で行なわれていた。第１図
で説明した第１の投受光器ｌの光源２と第２の投受光器
１１の光源１２は、第３図においては図のように、光源
２が発光している時間ｔ１において光源１２は発光を休
止しており、ｙｔ源ノ２が発光している時間ｔ２におい
ては光源２は休止し、ている。以後、このような状態が
交互に繰返される。光源２および光源１２の交互発光に
より、第１の投受光器Ｉの光電変換素子ノ。には、第３
図に示すように自分側の第１の投受光器１の光源２の発
光する光すなわち自分光Ｓと相手側の第２の投受光器１
ノの光源１２０発光する光すなわち相手光０が交互に入
光し自分光成分のＥＩおよび相手光成分Ｅ１′の電圧が
交互に発生する。同様にして投受光器Ｊ１の光電変換素
子２゜にも、第３図の光電変換素子１ｏの出力電圧のＳ
と０とを入れ替えた（Ｓと００位置を逆にした）Ｃに圧
が、得らり、る。
検出は、第３図に示す波形図で行なわれていた。第１図
で説明した第１の投受光器ｌの光源２と第２の投受光器
１１の光源１２は、第３図においては図のように、光源
２が発光している時間ｔ１において光源１２は発光を休
止しており、ｙｔ源ノ２が発光している時間ｔ２におい
ては光源２は休止し、ている。以後、このような状態が
交互に繰返される。光源２および光源１２の交互発光に
より、第１の投受光器Ｉの光電変換素子ノ。には、第３
図に示すように自分側の第１の投受光器１の光源２の発
光する光すなわち自分光Ｓと相手側の第２の投受光器１
ノの光源１２０発光する光すなわち相手光０が交互に入
光し自分光成分のＥＩおよび相手光成分Ｅ１′の電圧が
交互に発生する。同様にして投受光器Ｊ１の光電変換素
子２゜にも、第３図の光電変換素子１ｏの出力電圧のＳ
と０とを入れ替えた（Ｓと００位置を逆にした）Ｃに圧
が、得らり、る。
この光電変換素子出力を第１図に示す増幅回路２３およ
び２４でそれぞれ増幅する。回路的に両増幅回路２３と
２４は全く同一であるので、光電変換素子１０側の増幅
回路２４について説明する。
び２４でそれぞれ増幅する。回路的に両増幅回路２３と
２４は全く同一であるので、光電変換素子１０側の増幅
回路２４について説明する。
光電変換素子１０の自分光出力電圧Ｅｌは主に光源２の
発光量や光学部品の汚れ等にょシ変化し、相手光出力電
圧Ｅ１′は主に第１及び第２の投受光器ノ及び１１間の
透過率にょシ変化する。従って透過率値によっては相手
光出力電圧Ｅ、／が自分光出力電圧Ｅ１に等しくなる場
合があシ、このようなとき光電変換素子ｌθの出方電圧
は完全な直流電圧となる。このため、増幅回路は直流増
幅回路とすることが必要であり、その回路構成は第４図
（ａ）。
発光量や光学部品の汚れ等にょシ変化し、相手光出力電
圧Ｅ１′は主に第１及び第２の投受光器ノ及び１１間の
透過率にょシ変化する。従って透過率値によっては相手
光出力電圧Ｅ、／が自分光出力電圧Ｅ１に等しくなる場
合があシ、このようなとき光電変換素子ｌθの出方電圧
は完全な直流電圧となる。このため、増幅回路は直流増
幅回路とすることが必要であり、その回路構成は第４図
（ａ）。
（ｂ）に示すような構成となる。第４図（、）の場合は
光電変換素子ノ０の出力゛電圧を直流増幅回路１により
直流増幅し、その出力をサンプルホールド回路４２ノに
供給する自分光Ｓに同期したクロックφＩ （第３図）
によシサンプリングし自分光Ｓ出力を得る。同様にサン
プルホールド回路４３ノに供給する相手光０に同期した
クロックφ２（第３図）によりサンプリングし相手光Ｏ
出力を得る。
光電変換素子ノ０の出力゛電圧を直流増幅回路１により
直流増幅し、その出力をサンプルホールド回路４２ノに
供給する自分光Ｓに同期したクロックφＩ （第３図）
によシサンプリングし自分光Ｓ出力を得る。同様にサン
プルホールド回路４３ノに供給する相手光０に同期した
クロックφ２（第３図）によりサンプリングし相手光Ｏ
出力を得る。
このようにして、自分光Ｓ出力と相手光０出力を分離し
個別出力を得るが、この第４図（、）の回路の場合はサ
ンプルホールド回路が自分光用と相手光用とに別々のも
のを使用しているため、第１図で説明した相互測定方式
の原理に必要な条件の１つである「増幅回路は自分光と
相手光を共通増幅回路を使用する」に反するため、一般
に第４図（ｂ）に示す回路構成としている。この回路構
成によればφ１ 、φ２のクロックを切換スイッチ４４
２で切換えてサンプルホールド回路４２２に加え、自分
光Ｓと相手光０を交互に出力するもので自分光と相手光
が完全に共通回路により処理されるため相互測定方式の
原理に反しない方法となる。しかしながら以上の方法に
よれば、直流増幅回路を使用しているため、光電変換素
子１０に投受光器１ノの光源１２より発光する信号光以
外の外乱光たとえば太陽光や照明光のような直流的な光
が入射すると光電変換素子１０電圧出力に第３図に示す
ようにオフセット電圧Ｅ。が生じ測定結果に誤差を生ず
る。また、直流信号を処理するため光源１２の点滅周期
の周波数に一致したバンドパスフィルターをかけ信号周
波数成分のみを取シ出すことが出来ず、交流的外乱光た
とえば螢光灯の光などが光電変換素子に入光しても測定
結果に誤差が生ずる等の欠点があった。
個別出力を得るが、この第４図（、）の回路の場合はサ
ンプルホールド回路が自分光用と相手光用とに別々のも
のを使用しているため、第１図で説明した相互測定方式
の原理に必要な条件の１つである「増幅回路は自分光と
相手光を共通増幅回路を使用する」に反するため、一般
に第４図（ｂ）に示す回路構成としている。この回路構
成によればφ１ 、φ２のクロックを切換スイッチ４４
２で切換えてサンプルホールド回路４２２に加え、自分
光Ｓと相手光０を交互に出力するもので自分光と相手光
が完全に共通回路により処理されるため相互測定方式の
原理に反しない方法となる。しかしながら以上の方法に
よれば、直流増幅回路を使用しているため、光電変換素
子１０に投受光器１ノの光源１２より発光する信号光以
外の外乱光たとえば太陽光や照明光のような直流的な光
が入射すると光電変換素子１０電圧出力に第３図に示す
ようにオフセット電圧Ｅ。が生じ測定結果に誤差を生ず
る。また、直流信号を処理するため光源１２の点滅周期
の周波数に一致したバンドパスフィルターをかけ信号周
波数成分のみを取シ出すことが出来ず、交流的外乱光た
とえば螢光灯の光などが光電変換素子に入光しても測定
結果に誤差が生ずる等の欠点があった。
（発明の目的）
九
本発明は前述した太陽光や照明光等の外≠光による測定
誤差や増幅回路で発生するオフセット電圧による測定誤
差を極力少なくし外乱光のある場所でも外乱光に影響さ
れることなく長時間高精度で安定に透過率の測定が行な
えるようにしたものである。
誤差や増幅回路で発生するオフセット電圧による測定誤
差を極力少なくし外乱光のある場所でも外乱光に影響さ
れることなく長時間高精度で安定に透過率の測定が行な
えるようにしたものである。
（発明の構成）
本発明は、投受光器間の媒体の光透過率を測定する装置
の信号検出方式であって、自己の光源及び相手の光源の
２方向からの光を交互に１個の光電変換素子に入射させ
るに際し、第１の偏光ビームスシリツタ−にょシ自己の
光源からの光の一部を反射し、残量を相手投受光器側に
透過し、前記反射光は自己投受光器において第１の波長
板を通過して第１の反射鏡で反射させ、再び前記第１の
波長板を通過して前記第１の偏光ビームスシリツタ−を
透過させた後、第２の偏光ビームスノリツタ−を透過し
第２の波長板を通過して第２の反射鏡で反射させ、再び
前記第２の波長板を通過して前記第２の偏光ビームスシ
リツタ−で全反射して光電変換素子に入射させるととも
に、同一軸上に配置した相手投受光器の光源からの媒体
を経た透過光を自己の投受光器の前記第２の偏光ビーム
スグリツタ−に入光し、該第２の偏光ビームスプリ学タ
ーを透過して光電変換素子において各入射光を変換した
電気信号を検出する光透過率測定装置の信号検出方式に
おいて、前記両光源の交互の発光の間に両光源とも発光
しないブランキング時間を設けたことを特徴とする光透
過率測定装置の信号検出方式である。
の信号検出方式であって、自己の光源及び相手の光源の
２方向からの光を交互に１個の光電変換素子に入射させ
るに際し、第１の偏光ビームスシリツタ−にょシ自己の
光源からの光の一部を反射し、残量を相手投受光器側に
透過し、前記反射光は自己投受光器において第１の波長
板を通過して第１の反射鏡で反射させ、再び前記第１の
波長板を通過して前記第１の偏光ビームスシリツタ−を
透過させた後、第２の偏光ビームスノリツタ−を透過し
第２の波長板を通過して第２の反射鏡で反射させ、再び
前記第２の波長板を通過して前記第２の偏光ビームスシ
リツタ−で全反射して光電変換素子に入射させるととも
に、同一軸上に配置した相手投受光器の光源からの媒体
を経た透過光を自己の投受光器の前記第２の偏光ビーム
スグリツタ−に入光し、該第２の偏光ビームスプリ学タ
ーを透過して光電変換素子において各入射光を変換した
電気信号を検出する光透過率測定装置の信号検出方式に
おいて、前記両光源の交互の発光の間に両光源とも発光
しないブランキング時間を設けたことを特徴とする光透
過率測定装置の信号検出方式である。
（実施例）
第５図は、本発明の一実施例を説明するだめの波形図、
第６図は一実施例の回路図である。第５図において第１
図で説明した第１の゛投受光器１の光源２と第２の投受
光器１１の光源ノ２について、光源２ｉ時間ｔ１だけ発
光しｔ２＋ｔ３＋Ｌ４の時間は発光を休止する。光源ノ
２は時間ｔ３だけ発光しｊｔｔｔ２ ＋ｔ４の時間は発
光を休止する。
第６図は一実施例の回路図である。第５図において第１
図で説明した第１の゛投受光器１の光源２と第２の投受
光器１１の光源ノ２について、光源２ｉ時間ｔ１だけ発
光しｔ２＋ｔ３＋Ｌ４の時間は発光を休止する。光源ノ
２は時間ｔ３だけ発光しｊｔｔｔ２ ＋ｔ４の時間は発
光を休止する。
以後この状態が光源２および１２とも周期ｔ。で交互に
繰返さＸように点滅の制御を行なう。光源２および光源
１２の交互発光にょシ第１の投受光器ノの光電変換素子
１０には自分側（′第１）の投受光器１の光源２の発光
する自分光Ｓと相手側（第２）の投受光器１１の光源２
の発光する相手光０が両光源とも発光していないブラン
キング時間ｔ２また（ｃｌｔ、＜をはさんで交互に入光
し、自分光成分の出力電圧Ｅ、と相手光成分の出力電圧
Ｆ２．Ｉの′電圧が交互に発生する。この゛電圧を直流
増幅回路６）で増幅し、直流成分カット用のコンデンサ
６２を通し、各光源２，１２と同期したクロックφｌま
たはφ２によって動作するアナログスイッチロ３により
自分光Ｓだけまたは相手光Ｏだけを切り出す。このよう
にすると、Ｓ１０切換スイツチ５４がφ１を選択してい
るときは周期１／ｌ Ｏで振幅Ｅ１のパルス出力を得、
Ｓ１０切換スイツチ６４がφ２を選択しているときは周
期１／ｌｏで振幅Ｅ、／の・ぞルス出力を得る。この出
力を中心周波数ｆ ｏ ＝ １ ／ ｔ（１のパンＰ／
Ｐスフィルタ（ＢＰＦ）６５を通すことにより自分光お
よび相手光ともに正弦波に近い完全な交流電圧がパント
ノ９スフイルタ出力として得られる。従ってＳ１０切換
スイ、チロ４を時間Ｔ１ （但しＴ＋＞ｔｏ）だけφｌ
に切換えた後、時間Ｔ２ （但しＴ２＞ｔＯ）だけφｚ
Ｋすれば第５図のＳ１０出力に示すようにパントノ９ス
フイルタ出力に自分光Ｓと相手光Ｏの交流信号′電圧が
交互に得られる。
繰返さＸように点滅の制御を行なう。光源２および光源
１２の交互発光にょシ第１の投受光器ノの光電変換素子
１０には自分側（′第１）の投受光器１の光源２の発光
する自分光Ｓと相手側（第２）の投受光器１１の光源２
の発光する相手光０が両光源とも発光していないブラン
キング時間ｔ２また（ｃｌｔ、＜をはさんで交互に入光
し、自分光成分の出力電圧Ｅ、と相手光成分の出力電圧
Ｆ２．Ｉの′電圧が交互に発生する。この゛電圧を直流
増幅回路６）で増幅し、直流成分カット用のコンデンサ
６２を通し、各光源２，１２と同期したクロックφｌま
たはφ２によって動作するアナログスイッチロ３により
自分光Ｓだけまたは相手光Ｏだけを切り出す。このよう
にすると、Ｓ１０切換スイツチ５４がφ１を選択してい
るときは周期１／ｌ Ｏで振幅Ｅ１のパルス出力を得、
Ｓ１０切換スイツチ６４がφ２を選択しているときは周
期１／ｌｏで振幅Ｅ、／の・ぞルス出力を得る。この出
力を中心周波数ｆ ｏ ＝ １ ／ ｔ（１のパンＰ／
Ｐスフィルタ（ＢＰＦ）６５を通すことにより自分光お
よび相手光ともに正弦波に近い完全な交流電圧がパント
ノ９スフイルタ出力として得られる。従ってＳ１０切換
スイ、チロ４を時間Ｔ１ （但しＴ＋＞ｔｏ）だけφｌ
に切換えた後、時間Ｔ２ （但しＴ２＞ｔＯ）だけφｚ
Ｋすれば第５図のＳ１０出力に示すようにパントノ９ス
フイルタ出力に自分光Ｓと相手光Ｏの交流信号′電圧が
交互に得られる。
ング時間ｔ２およびｔ４を設け、両型変換素子ＪＯの自
分光Ｓおよび相手光Ｏの出力をノ４ルス信号とし直流増
幅した後、コンデンサにより太陽光や押切光の様な直流
的外乱光や回路のオフセット電圧により発生する直流オ
フセット電圧Ｅｏ を除去し、さらにアナログスイッチ
により自分光と相手光を分離し、自分光または相手光の
繰返し周波数と同一の中心周波数をもつバンド・母スフ
イルターを通すことにより螢光灯のような交流的外乱光
の影響ヲもなくするようにしたもので、これらの実施に
より直流的または交流的な外乱光の影響や回路のオフセ
ット電圧による影響を受けなくすることができる。
分光Ｓおよび相手光Ｏの出力をノ４ルス信号とし直流増
幅した後、コンデンサにより太陽光や押切光の様な直流
的外乱光や回路のオフセット電圧により発生する直流オ
フセット電圧Ｅｏ を除去し、さらにアナログスイッチ
により自分光と相手光を分離し、自分光または相手光の
繰返し周波数と同一の中心周波数をもつバンド・母スフ
イルターを通すことにより螢光灯のような交流的外乱光
の影響ヲもなくするようにしたもので、これらの実施に
より直流的または交流的な外乱光の影響や回路のオフセ
ット電圧による影響を受けなくすることができる。
（発明の効果）
本発明によれば、太陽光や照明光に影響されない信号を
検出すをことができ、煙道の排ガス中や大気中に浮遊す
を微量な「ばいじん」を高精度で測定する「微量煤塵濃
度計」やトンネル内を通行する自動車の排ガス濃度や屋
外の霧発生を検知する「煙霧透過率計」さらには火災報
知機の高感度煙センサに利用することができる。
検出すをことができ、煙道の排ガス中や大気中に浮遊す
を微量な「ばいじん」を高精度で測定する「微量煤塵濃
度計」やトンネル内を通行する自動車の排ガス濃度や屋
外の霧発生を検知する「煙霧透過率計」さらには火災報
知機の高感度煙センサに利用することができる。
第１図は相互測定方式光透過率測定装置の光路及び回路
図、第２図は第１図の動作原理を説明するタイムチャー
ト、第３図、第４図は従来の光透過率測定装置の信号検
出方式を説明する図であシ、第３図は波形図、第４図は
回路図、第５図、第６図は本発明の詳細な説明する図で
あり、第５図は波形図、＠６図は回路図である。 １．１１・・・投受光器、２，１２・・・光源、４，７
゜１４．１７・・・偏光ビームスグリツタ−１５，９゜
７５．１９・・・反射鏡、６，１１，１６．１８・・・
１／４波長板、１ｏ、２ｏ・・・光゛電変換素子、２１
、２２・・・ドライブ回路、５１・・・直流増幅回路
、５．２・・・コンデンサ、５３中アナログスイツチ、
５４・・・Ｓ１０切換スイツチ、５５・・・パントノや
スフィルタ。 第２図 會１ 第３図
図、第２図は第１図の動作原理を説明するタイムチャー
ト、第３図、第４図は従来の光透過率測定装置の信号検
出方式を説明する図であシ、第３図は波形図、第４図は
回路図、第５図、第６図は本発明の詳細な説明する図で
あり、第５図は波形図、＠６図は回路図である。 １．１１・・・投受光器、２，１２・・・光源、４，７
゜１４．１７・・・偏光ビームスグリツタ−１５，９゜
７５．１９・・・反射鏡、６，１１，１６．１８・・・
１／４波長板、１ｏ、２ｏ・・・光゛電変換素子、２１
、２２・・・ドライブ回路、５１・・・直流増幅回路
、５．２・・・コンデンサ、５３中アナログスイツチ、
５４・・・Ｓ１０切換スイツチ、５５・・・パントノや
スフィルタ。 第２図 會１ 第３図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 投受光器間の媒体の光透過率を測定する装置の信号検出
方式であって、自己の光源及び相手の光源の２方向から
の光を交互に１個の光電変換素子に入射させるに際し、
第１の偏光ビームスグリ。 ターにより自己の光源からの光の一部を反射し、残量を
相手投受光器側に透過し、前記反射光は自己投受光器に
おいて第１の波長板を通過して第１の反射鏡で反射させ
、再び前記第１の波長板を通過して前記第１の偏光ビー
ムスシリツタ−を透過させた後、第２の偏光ビームスシ
リツタ−を透過し航２の波長板を通過して第２の反射鏡
で反射させ、再び前記第２の波長板を通過して前記第２
の偏光ビームスプリッタ−で全反射して光電変換素子に
入射させるとともに、同一軸上に配置した相手投受光器
の光源からの媒体を経た透過光を自己の投受光器の前記
第２の偏光ビームスプリッタ−に入光し、該第２の偏光
ビームスグリ、ターを透過して光電変換素子において各
入射光を変換した電気信号を検出する光透過率測定装置
の信号検出方式において、前記両光源の交互の発光の間
に両光源とも発光しないブランキング時間を設けたこと
を特徴とする光透過率測定装置の信号検出方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2085784A JPS60165537A (ja) | 1984-02-09 | 1984-02-09 | 光透過率測定装置の信号検出方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2085784A JPS60165537A (ja) | 1984-02-09 | 1984-02-09 | 光透過率測定装置の信号検出方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60165537A true JPS60165537A (ja) | 1985-08-28 |
| JPH0514220B2 JPH0514220B2 (ja) | 1993-02-24 |
Family
ID=12038780
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2085784A Granted JPS60165537A (ja) | 1984-02-09 | 1984-02-09 | 光透過率測定装置の信号検出方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60165537A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03148047A (ja) * | 1989-11-02 | 1991-06-24 | Oki Electric Ind Co Ltd | 光透過率測定装置の測定レンジ拡大方法 |
| WO1999008490A1 (de) * | 1997-08-12 | 1999-02-18 | Patent-Treuhand-Gesellschaft für elektrische Glühlampen mbH | Verfahren zum erzeugen von impulsspannungsfolgen für den betrieb von entladungslampen und zugehörige schaltungsanordnung |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53130085A (en) * | 1977-04-20 | 1978-11-13 | Olympus Optical Co Ltd | Photometric device |
-
1984
- 1984-02-09 JP JP2085784A patent/JPS60165537A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53130085A (en) * | 1977-04-20 | 1978-11-13 | Olympus Optical Co Ltd | Photometric device |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03148047A (ja) * | 1989-11-02 | 1991-06-24 | Oki Electric Ind Co Ltd | 光透過率測定装置の測定レンジ拡大方法 |
| WO1999008490A1 (de) * | 1997-08-12 | 1999-02-18 | Patent-Treuhand-Gesellschaft für elektrische Glühlampen mbH | Verfahren zum erzeugen von impulsspannungsfolgen für den betrieb von entladungslampen und zugehörige schaltungsanordnung |
| US6225758B1 (en) | 1997-08-12 | 2001-05-01 | Patent-Treuhand-Gesellschaft Fuer Elektrische Gluehlampen Mbh | Method for producing impulse voltage sequences to operate discharge lamps and circuit pertaining thereto |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0514220B2 (ja) | 1993-02-24 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |