JPH03148047A - 光透過率測定装置の測定レンジ拡大方法 - Google Patents

光透過率測定装置の測定レンジ拡大方法

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JPH03148047A
JPH03148047A JP28688389A JP28688389A JPH03148047A JP H03148047 A JPH03148047 A JP H03148047A JP 28688389 A JP28688389 A JP 28688389A JP 28688389 A JP28688389 A JP 28688389A JP H03148047 A JPH03148047 A JP H03148047A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は光学的測定装置により光透過率を測定するに際
し、その測定レンジの拡大方法に関するものである。
[従来の技術] 従来の光透過率測定装置は、例えば特公平1−2257
6号公報に記載されるものが知られており、第2図はそ
の概略構成を示すブロック図である。
光透過率測定装置は投光器1と受光器5とから構成され
る。投光器1内には、タングステンランプ、発光ダイオ
ードあるいはレーザダイオード等からなる光源2が設け
られており、この光源2から発光した光は投光レンズ3
を介して空間に出射され、投光器1と受光器5との間に
介在する媒体4で減衰を受け、受光器5の受光レンズ6
を介して光電変換素子7に集光する。
以下の説明上、光電変換素子7で電気信号に変換された
出力電圧をEとする。
第3図(a)は従来の光透過率測定装置のさらに具体的
構成を示したブロック図である。1対の投受光器]0.
20が対向配置され、それぞれの投受光器内には、光源
l】、2J、干渉フィルタ12.22、投光レンズ13
.23が配置されている。
また、光源11からの光をP偏向成分の光17とS偏向
成分の光18とに直交分離する偏向ビ11スプリッタ1
4、および光源2】からの光をI)偏向成分の光27と
S偏向成分の光28とに直交分離する偏向ビームスプリ
ッタ24も各々の投受光器内に配置されている。
さらに、直交して入射する光27と光18とを同一の光
路19へ導びく集光器]5および直交入射する光17と
光28とを同一の光路29へ導びく集光器25、さらに
光電変換素子16および26が設けられている。
第3図(b)は光源11および21の発光周期を示した
図で、図に示すように光源11と21とが交互に点灯す
るように制御されている。まず時刻1.では光源11が
発光し、干渉フィルタ12によって一定の波長に制限さ
れ、さらに投光レンズ13によって集光されたのち偏向
ビームスプリッタ14に入光する。
なお光源11および21が単色光を発光する光源である
場合には、干渉フィルタ12および22は不要となる。
ここで光源11がランダム偏光または円偏光の偏光特性
を持っていれば、P偏光成分の光とS偏光成分の光の光
量比はほぼ1対]となる。S偏光成分の光18は集光器
15に入光し、光路19を経て光電変換素子]6に入り
、電気信号に変換されて出力される。この時の出力電圧
をElとする。
他方P偏光成分の光17は媒体30に放射され、減衰を
受けて投受光器20内の集光器25に入光し、光路29
を経て光電変換素子26に入り電気信号に変換されて出
力される。この時の出力型3 圧をE2とする。
ついで、第3図(b)に示すように時刻t2では投受光
器20の光源21が発光する9光源21からの光は図中
に点線で示すように、光源11からの光と対称な光路を
たどり、光電変#l!素子2Gおよび16で電気信号に
変換されて出力される。
それぞれの出力電圧をEs、E4とする。以後。
時刻t、  、t、’・・・・・・のように継続的に繰
り返し発光する。
第2図に示すような構成例において、投光器lと受光器
5との間に存在する媒体4の透過率は。
τ (τ≦1)とする。媒体4が存在せず(τ=1)ま
たレンズ3および6の汚れがない場合(da=d6 =
1)の出力電圧はEである、投光器1と受光器5との間
に透過率τの媒体4が存在し、レンズ3および6の汚れ
が存在しない場合(d3=d、=1)、出力電圧E’ 
=E・τとなり以下に示す(1)式から透過率τが測定
される。
E’  /E=τ        ・・・・・・ (1
)4− レンズ3および6に汚れが存在する場合(d3、cL 
<1)その出力電圧はE’ =E・τ・d3・d、とな
り、以下の(2)式が得られる。
E’ /E=τ・d3 ・d6・・・(2)そこで(3
)式に示すように(1)式と(2)式との差が誤差とな
る。
τ−τ・d3 ・d6=(1−d、・d、) τ・・・
・・ (3) 第3図(a)に示す測定装置において、投受光器10と
投受光器20との間に存在する媒体30の透過率をτ 
(τ〈1)とし、偏光ビームスプリッタ14および24
、集光器15および25の媒体30に対向している面の
汚れをそれぞれd14、d24およびd16、d2sと
する。まず投受光器10と投受光器20との間に媒体3
0が存在せず(τ=1)、また偏光ビームスプリンタ1
4および24、集光器15および25の面に汚れが存在
しない場合(d 14= d x4= d +s= d
 zs= 1 ) 、出力電圧E + ” E x =
 E 3 = E 4となるように設定すると、以下の
(4)式が得られる。
(5)式を用いて以下の(6)式の演算を行なE2 ・
E 4  / E I  ・E、=1  ・・・ (4
)なお、ここで出力電圧を等しくなるように設定するた
めには、後述する図示しない増幅器の利得を調整するこ
とにより実現できる。
即ち、(4)式は透過率が1. O0%であることを示
している。
次に投受光器】0と投受光器20との間に透過率τの媒
体30が存在し、また偏光ビームスプリッタ】4および
24.集光器15および25の汚れがしない場合(d 
14= d 114= d +s= d ws= 1 
)、電圧出力E、およびE3は、投受光器内部の光路を
経て得られた出力であり、媒体30の減衰を受けていな
いから、それぞれの出力電圧E。
E2  +E!′およびE、′は、以下の(5)式%式
% (5) うことにより、透過率τを得る。
tE2 ′ ・ E4  ’  /Ex  ’  ・ 
E3 ′ =で  ・・・ (6)さらに偏光ビームス
プリッタ14および24゜集光器15および25に汚れ
が存在する場合(d14.d24、d rs、 d z
b< 1 )には出力電圧は以下の(7)式で表わされ
る。
El′=E、・d14・d15 E2′=E2・d14・dZ&・τ ・・・(7)E3
’=E3 ・d24・do E4 ’ =E4 ・d24・di5・τついで(7)
式を用いて以下の(8)式の演算を行い透過率τを得る
(8)式は(6)式と同じ結果を示しており、これは透
過率τの測定において偏光ビームスプリッタや集光器に
汚れが存在してもその影響を受けないことを示している
7− [発明が解決しようとする課題] しかし以上説明した従来の測定方法では、高濃度の媒体
を測定する場合透過光が微小とになり。
出力電圧は低レベルとなる。そこで装置の分解能を高め
なければならない。これを実現するためには、S/N比
を損ねる事無くダイナミックレンジを低レベル領域へ拡
大する必要があるが、それには技術的な困難が伴い設計
上の限界も存在するという問題がある。
また媒体が高濃度になれば当然汚れも増加するため、第
2図に示すような従来の構成では測定が困難となる。
そこで本発明は低レベル領域でのダイナミックレンジを
拡大し、高濃度の媒体であっても誤差無く透過率の測定
を行うことの出来る光透過率測定装置の測定レンジ拡大
方法を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 本発明は、光源からの光をP偏光成分とS偏向成分とに
直交分離して出射する偏向ビームスプリ8 ツタと、自己の光源からのS偏向成分と対向する相手の
投光器からの直交して入射するP偏向成分とを光電変換
素子へ導びく同一の光路上に集光する集光器とを具備し
てなる1対の投受光器を対向配置し、前記光源から前記
偏向スプリッタに至る光路又は前記集光器から前記光電
変換素子に至る光路に1/N減衰フィルタを挿入および
取除き可能に配置し、まず、この1/N減衰フィルタを
挿入した状態で互いの投受光器の出力値が初期設定値と
なるよう前記光源の光量調整を行ない、ついで、前記1
/N減衰フィルタを取除いて1対の投受光器間に存在す
る媒体に照射する光量をN倍に増倍し拡大レンジにより
前記媒体の光透過率の測定を行なうようにしたものであ
る。
[作用] 本発明では、17N減衰フィルタを挿入して出力値を初
期設定値に合わせ、ついでこの減衰フィルタを除去した
のち媒体に照射される光をN倍にして透過率の測定を行
う。したがって透過率の測定範囲が高濃度領域において
拡大され、かつ拡大率だけ測定光量を増加させるため、
SlN比に変化がない。
[実施例] 以下本発明の一実施例を図面に基づいて詳細に説明する
第1回は、本発明の詳細な説明するための光透過型測定
装置のブロック構成図を示したものである。
第3図(a)に示す構成部分と同一部分には同一符号を
付しその詳細構成は説明を省略する。
本実施例の場合には第3図(a)に示す構成に17N減
衰フィルタ31および41.ズームレンズ32および4
2が付加されている。さらに光源の即動回路33および
43、受光増幅器35および45が付加される。なお1
/N減衰フィルタ31および41は自由に光路に挿入ま
たは取り除くことが出来る構成となっている。
次に拡大レンジを形成する方法について説明する。この
際、媒体は存在せず(τ=1)、またレンズの汚れも存
在しないものとする( d 14= d 114= d
 Is= d 2g= 1 )  。
さらに17N減衰フィルタ31および41は取り除いた
場合について考える。なお図中に新たに追加されている
ズームレンズ32および42は、後述するように投光ビ
ーム径を可変するために用いられるもので、第3図tこ
示す投光レンズ13および23と等価に設定すれば(4
)式の条件を満足する。また偏光子34および44も後
述する目的のために設けたものであるが、この設定中は
取り除いて考える。この状態で出力電圧E、、E2E3
及びE4を設定する。これを初期設定値とする。
次に投受光器10の17N減衰フィルタ31を光路に挿
入する。そして1/N減衰フィルタ31によって光17
の光量が1/Nに減少しているため出力電圧E、を初期
設定値になるように光源1」からの光景を増加させる。
このようにすれば、光17に出射される光量は変わらな
い。なお光源1】からの光量を増加させる方法について
は後述する。
11− このようにして光景設定を行った後、1/N減衰フィル
タ31を光路から取り除けば光17の光量はN倍となる
。ただし、光路1qの光量もN倍となっているから出力
電圧Elは1/N減衰フィルタ31を除去したのち初期
設定値に設定する。
その結果(9)式が得られる。
Er ’ =E+ E、’=N−E、      ・・・(9)投受光器2
0側についても1./N減衰フィルタ41を光路に挿入
および除去することにより、同様な手順で光27の光量
調整を行い(10)式を得る。
Es””E。
E4 ’  =N−E4      ・・・ (10)
以上の結果(4)式は(11)式となる。
、E、′ ・ E4 ’/E+’  ・ T’:、  
’  =N  ・・・ (11)このような設定を行っ
た後、透過率τ(τ≦1)の媒体30の測定を行う。た
だし、(9)式のEx’の最大値をE2、(10)式の
E4’の12 最大値をE、に限定する。その結果(12)式が得られ
る。
E、’ =E。
E2’ =N ” Ex  ・τ/N=E、  ・τ 
・・・(12)E、’ =E3 E、’=N−E、  ・τ/N=E4  ・τ以」二の
結果から下記の(13)式を得る。
E、l  ・E4 ’ /E+ ’  ・E3′=τ 
・・・(13)ここで(13)式は(8)式と同じであ
るが。
媒体30の透過率τ/Nかでとして測定されるところが
異なっている。すなわち測定範囲の最大値が1/Nとな
り、高濃度領域に限定されるが、真の透過率で/Nが見
掛上でとして測定されるためN倍に拡大される。しかも
光17および18の光量はN倍となっているためS/N
比が低下することはない。
次に、前述した説明中にあった光17および27の光量
の増加方法について説明する。
第4図は第1の方法を説明するための図で、ズームレン
ズ32または42によりこれを行う場合を示している。
第4図(11)のレンズ50の焦点距離51をf、とし
、光源11または21によって形成される2次光源52
の直径を11とする。
この2次光源52が相手側の受光面に投映されるが、こ
の投映面53の光ビームは直径LIの円とする。
ここで投映面53は第1図の実施例に対応して考えれば
集光器15または25の表面の位置に形成されなければ
ならない。2次光源52からレンズ50までの距離をa
l、レンズ50から投映面53までの距離をblとする
と、(14)式と、(]5)式とが得られる。
]、 / a + + 1 / b x ” 1 / 
f +    ”’ (1,4)L+ =b+  ・]
++/a+     ++ (1,5)レンズ等の光減
衰を無視すれば2次光源52の全光量をQとし、投映面
53の単位面積当たりの光量を91として(15)式の
関係から(16)式を得る。
q + = Q/ L + =(a1/b、・J、)2 ・Q ・・・(16)第4
図(b)の場合には焦点距離61がf、となるレンズ6
0を使用している。2次光源62は第4図(、)の例と
同様のものを用いる。すなわち直径12 = 1. +
 、全光量Qとなる。投光レンズ60から投映面63ま
での距離b2は装置の運用上の必要性から定まるため、
投光レンズ50から投光面53までのi踵す、l と同
じでなければならない。その時の投映面63における光
ビームの直径をL2とする。また2次光源62からレン
ズ60までの距離を82とすると、(17)式と(18
)式とが得られる。
1 / a 2 +1 / b + = 1 / f 
2  − (17)Lx ”b+  ’ 1+ /ax
     ・” (18)ここで投映面63の単位面積
当りの光量を92とすると(18)式を用いて(19)
式を得る。
qt=Q/L2 =<at /b+  ・]−++) 2・Q  ・= 
(1,9)投映面63と53の単位面積当りの光量比は
(19)式と(16)式との比により求まる。
’Jx /(11= (a2/a+ ) 2− (20
) 5− すなわちa2>a、であるからqz > q+となる。
ここで受光面積は一定であるから、第4図(b)の例で
は(a)の例と比較して有効光量が増加していることに
なる。なお光18または28は極めて短距離であり、ビ
ーム径に関係なく全光量が光電変換器16または26に
入光する。
次に光源の光量を増加させて光路の光量を増加させる第
2の方法を説明する。
第5図は光源として用いられる発光ダイオードの駆動回
路の代表的な構成例を示したもので、制御人カフ1によ
って発光ダイオード72をオン・オフ制御する。発光ダ
イオード72は駆動電流によって光量が変化するため、
この駆動電流を可変するために可変抵抗器VR73を設
けてあり、この設定により発光光量を増加させる。
この場合、光17および27と同時に光18および28
の光量も増加する。そこで光路19および29に前述し
た偏光子34および44を挿入する。光路19には光1
8と光27からの光とが時間差をもって進入する。光1
8はS偏光の偏光時 6− 性を持ち、また光27がP偏光の偏光特性を持つから、
偏光子34を回転して光18と光27との比が偏光子3
4を通過した後、1:Nとなるように調整を行う。光2
9に挿入した偏光子44についても同様の操作を行い光
28と光17との光の比を1:Nに調整する。
さらに他の光量増大方法は、光18と光27に時間差が
あることを利用してそれぞれの増幅器35の利得をにN
にする方法である。
第6図はこのような目的に用いられる増幅器のする増幅
器45はタイミング信号80のT1およびT2によって
制御されている。このタイミング信号80は第3図(b
)に示す光源11および21の発光タイミングと一致し
ている。すなわち時刻し、ではタイミング信号80のT
、がアナログスイッチ64および72をオンする。
この時投受光器10の1/Nフィルタ31が光路に挿入
されているとする。すると光17の信号は増幅器45の
入カフ0に入っているため、可変抵抗器71を初期設定
のまま不変として前述した光源11の光量調整を行い、
出カフ5の出力電圧をE2とする。
次に1/N減衰フィルタ31を光路より除去する。する
と出カフ5の出力電圧はE2’ =NE。
どなる。ついで1/Nフィルタ31を光路より取り除い
た状態で増幅器35の入力に入っている光路18からの
信号を、出力信号65によりその出力電圧がE+どなる
ように可変抵抗器63で調整する。時刻L2ではタイミ
ング信号80のT2がアナログスイッチ62および74
をオンにする。
まず投受光器20の1/N減哀フィルタ41を挿入した
状態で光源21の光量を調整して増幅器35の出力電圧
をE4とし、その後光路より17N減衰フィルタ41を
除去する。すると出力電圧はE4 ’ =NE4となる
。さらに光路28の信号を受けている増幅器45の出力
電圧がE、となるように可変抵抗器73を調整する。
なお以上の実施例においては光源11または21と偏光
ビームスプリッタ14または24との間に1/N減衰フ
ィルタ3Jをおよび41を挿入した。しかし集光器]5
または25と光電変換素子16または26との間に挿入
するようにしても殆ど同様な手順によりN倍の拡大レン
ジを形成することが出来る。
[発明の効果J 以上実施例に基づいて詳細に説明したように、本発明に
よれば例えば10倍の拡大レンジにするために、媒体に
照射する測定光の光量を10倍とするように拡大レンジ
の拡大率だけ測定光量を増加させ、しかも出力電圧の範
囲(ダイナミックレンジ)は不変とした。したがって透
過率の測定範囲が高濃度領域において拡大されるが、S
/N比に変化がなく高濃度領域における測定精度が拡大
レンジの拡大率だけ向上するという効果が期待できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を説明するための光透過率測
定装置の概略構成を示すブロック図、第19− 2図は従来の光透過率測定方法を説明するためのブロッ
ク図、第3図(8)は従来のさらに詳細な測定装置の構
成を示すブロック図、第3図(b)は第3図(a)に示
す装置に用いられる光源の駆動タイミングを表すタイミ
ングチャート、第4図は本発明による光路の光量を増加
させるための一方法を説明するための図、第5図は光源
の光景を増大させるための増幅器の構成を示す回路図、
第6図は光路の光量を増加させるために増viimの利
得を調整するために用いられる増幅器の回路構成を示す
回路図である。 2 〇− 10,20・・・・・・投受光器、11.21・・・・
・・光源、15.25・・・・・・集光器、16.26
・・・・・・光電変換素子、30・・・・・・媒体、3
1,41・・・・・・1/N減衰フィルタ、32.42
・・・・・ズームレンズ、33.43・・・・・・光源
の駆動回路、34.44・・・・・・偏光子535.4
5・・・・・・受光増幅器。 ≧−妙四≧モ4 免≧Y快p(ぐミ穐 製対毫  べ暫N 丘

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 光源からの光をP偏光成分とS偏向成分とに直交分離し
    て出射する偏向ビームスプリッタと、自己の光源からの
    S偏向成分と対向する相手の投光器からの直交して入射
    するP偏向成分とを光電変換素子へ導びく同一の光路上
    に集光する集光器とを具備してなる1対の投受光器を対
    向配置し、前記光源から前記偏向スプリッタに至る光路
    又は前記集光器から前記光電変換素子に至る光路に1/
    N(Nは正の数)減衰フィルタを挿入および取除き可能
    に配置し、 まず、この1/N減衰フィルタを挿入した状態で互いの
    投受光器の出力値が初期設定値となるよう前記光源の光
    量調整を行ない、 ついで、前記1/N減衰フィルタを取除いて1対の投受
    光器間に存在する媒体に照射する光量をN倍に増倍し拡
    大レンジにより前記媒体の光透過率の測定を行なうこと
    を特徴とする光透過率測定装置の測定レンジ拡大方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011232129A (ja) * 2010-04-27 2011-11-17 Seiko Epson Corp 光測定装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5026386U (ja) * 1973-07-02 1975-03-26
JPS604114U (ja) * 1983-06-21 1985-01-12 神田橋 貞夫 建物の屋根内張り構造
JPS60165537A (ja) * 1984-02-09 1985-08-28 Oki Electric Ind Co Ltd 光透過率測定装置の信号検出方式

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5026386U (ja) * 1973-07-02 1975-03-26
JPS604114U (ja) * 1983-06-21 1985-01-12 神田橋 貞夫 建物の屋根内張り構造
JPS60165537A (ja) * 1984-02-09 1985-08-28 Oki Electric Ind Co Ltd 光透過率測定装置の信号検出方式

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011232129A (ja) * 2010-04-27 2011-11-17 Seiko Epson Corp 光測定装置

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