DE879607C - Vorrichtung zur Durchsichtigkeits- oder Undurchsichtigkeitsmessung, insbesondere im infraroten Licht, mit Spektrophotometer - Google Patents

Vorrichtung zur Durchsichtigkeits- oder Undurchsichtigkeitsmessung, insbesondere im infraroten Licht, mit Spektrophotometer

Info

Publication number
DE879607C
DE879607C DEP30366A DEP0030366A DE879607C DE 879607 C DE879607 C DE 879607C DE P30366 A DEP30366 A DE P30366A DE P0030366 A DEP0030366 A DE P0030366A DE 879607 C DE879607 C DE 879607C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
comparison
capacitors
measuring
voltage
radiation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DEP30366A
Other languages
English (en)
Inventor
Karl Luft
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Office National dEtudes et de Recherches Aerospatiales ONERA
Original Assignee
Office National dEtudes et de Recherches Aerospatiales ONERA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Office National dEtudes et de Recherches Aerospatiales ONERA filed Critical Office National dEtudes et de Recherches Aerospatiales ONERA
Application granted granted Critical
Publication of DE879607C publication Critical patent/DE879607C/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/42Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Description

  • Vorrichtung zur Durchsichtigkeits- oder Undurchsichtigkeitsmessung, insbesondere im infraroten Licht, mit Spektrophotometer Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zur DurchsichtigLeits- oder Undurchsichtigkeitsmessung, insbesondere im infraroten Licht, mit Spektrophotometer.
  • Vorrichtungen dieser Art sind an sich bekannt.
  • Man hat auch schon vorgeschlagen, bei solchen Vorrichtungen das lichtempfindliche Element des Spektrophotometers einer periodisch wechselnden Belichtung auszusetzen, so daß dieses Element einmal durch eine Vergleichsstrahlung belichtet wurde, d. h. eine Strahlung, die nicht durch den Durchgang durch die zu messende Substanz geschwächt worden ist, und ein andermal durch eine Strahlung belichtet wurde, die vorher durch die Substanz hindurchgegangen war, deren Transparenz oder Undurchsichtigkeit bestimmt werden sollte. Bei den bekannten Vorrichtungen hat man auch schon durch die derart erhaltenen Impulse Kondensatoren aufgeladen. Diese Kondensatoren hatten die Aufgabe, die Elementarimpulse zu integrieren und dann bei ihrer Entladung ein Strommeßinstrument zu steuern. Der so gemessene Strom war ein Mittelwert, der der Differenz zwischen der Meßstrahlung und der Vergleichsstrahluug entsprach.
  • Derartige Meßvorrichtungen sind nur geeignet, wenn es sich um das Messen von sichtbaren Strahlungen mittels Photozellen handelt. Dagegen sind derartige Meßvorrichtungen unbrauchbar, wenn es sich um die Messung der Durchsichtigkeit oder Undurchsichtigkeit für infrarote Lichtstrahlen handelt, bei denen das strahlenempfindliche Element im allgemeinen ein wärmeempfindliches Element ist. Bei solchen Messungen spielt die Trägheit des strahlen empfindlichen Elements eine erhebliche Rolle. Wenn man die bekannten Einrichtungen auf die Messung im infraroten Licht anwenden wollte, würde es notwendig sein, den aufeinanderfolgenden Beleuchtungs- und Verdunklungsperioden eine Dauer zu geben, die länger ist als die Dauer der durch die Trägheit des Strahlenempfängers bedingten Verzögerungsperiode. Man würde dann zu so niedrigen Modulationsfrequenzen kommen, daß sich sehr große Schwierigkeiten für die Verstärkung dieser Frequenzen ergeben würden. Um die genannten Nachteile zu beheben, werden erfindungsgemäß nur die Scheitelspannungen der den Vergleichs- und Meßstrahlungen entsprechenden Impulse zur Aufladung der Kondensatoren benutzt. Es hat sich herausgestellt, daß hiermit Messungen im infraroten Licht absolut einwandfrei durchführbar sind.
  • Die Erfindung ist in der Beschreibung in den Zeichnungen an Hand von Ausführungsbeispielen näher erläutert.
  • Fig. I zeigt schematisch einen der Erfindung entsprechend eingerichteten Spektrophotometer; Fig. 2 zeigt das als drehbare Scheibe ausgebildete Steuerglied für die periodische Belichtung des Spektrophotometers; Fig. 3 und 4 sind zwei Schaubilder zur Erläuterung der Wirkungsweise des Erfindungsgegenstandes; Fig. 5 zeigt im vergrößerten Maßstabe die erfindungsgemäß ausgebildete Vorrichtung zur Zerlegung der modulierten, von dem Spektrophotometer gelieferten Spannung zur Zerlegung dieser Spannung und zur Verstärkung und Ausnutzung der durch die Zerlegung gewonnenen Impulse.
  • Wie die Fig. I und 2 zeigen, werden die von einer infraroten Lichtquelle I ausgesandten - Strahlen, die in zwei verschiedene Richtungen gehen (Pfeile 2 und 3), von zwei Spiegeln 4 und 5 reflektiert, um sich unter einem Winkel von go" in einem Punkt 6 zu treffen.
  • Die Meßstrahlen in Richtung 2, die vom Spiegel 4 reflektiert werden, gehen vor Ankunft im Schnittpunkt 6 durch die Substanz S, deren Undurchsichtigkeit bestimmt werden soll, und werden daher zum Teil absorbiert, während die Vergleichsstrahlen in Richtung 3, die vom Spiegel 5 reflektiert werden,~ ungeschwächt am Schnittpunkt 6 ankommen.
  • Der Punkt 6 befindet sich in der Ebene einer rotierenden Kreisscheibe 7, die den genannten Winkel von go" in zwei gleiche Teile schneidet und beispielsweise durch einen Elektromotor 8 mittels einer nicht dargestellten Untersetzung angetrieben wird. Diese Scheibe besitzt vier Sektoren von je goo. Zwei dieser Sektoren werden von Spiegeln a- gebildet, die die Vergleichsstrahlen um go" reflektieren. Ein dritter Sektor c ist geschwärzt, während der vierte Sektor d einen Ausschnitt darstellt oder auch aus einem durchsichtigen Stoff besteht, der die Meßstrahlen 2 frei passieren läßt.
  • Die Vergleichsstrahlen und Meßstrahlen fallen auf die Eingangsspalte g eines Monochrometers 10 von bekannter Bauart, z. B. eines Littrow-Monochrometers, der ein Photo- oder Thermoelement II enthält, beispielsweise eine thermoelektrische Zelle, die nacheinander von den in verschiedener Wellenlänge auf die Eingangsspalte g fallenden Strahlen erregt wird.
  • Man sieht, daß die in Fig. 2 dargestellte Scheibe 7 von vorerwähntei Bauart folgenden Belichtungszyklus steuert: Einwirkung der Vergleichsstrahlen, Dunkelheit, Einwirkung der Vergleichsstrahlen, Einw wirkung der Meßstrahlen; dieser wird verwendet, wenn man die Undurchsichtigkeit der Prüfsubstanz messen will.
  • Die Modulation der aus Erregung des Elements II gewonnenen Spannung ist in der Kurve Fig. 3 dargestellt, in der die vier aufeinanderfolgenden Perioden durch die Ziffern I, II, III, IV bezeichnet sind.
  • Wenn es sich um eine Messung der Durchsichtigkeit eines Prüfkörpers handelt, ist es zweckmäßig, den folgenden Zyklus anzuwenden: Einwirkung der Vergleichsstrahlen, Dunkelheit, Einwirkung der Meßstrahlen, Dunkelheit.
  • Man erhält dann die Kurve Fig. 4, in welcher die vier Perioden durch die Ziffern 1', II', III', IV' bezeichnet sind.
  • Die so modulierte Spannung wird in der durch Fig. I dargestellten Anordnung zunächst durch den Verstärker 12 verstärkt und dann in zwei Teilspannungsmodulationen M1 und M2 zerlegt. Die Modulation M1 ist die Modulation des Vergleichsimpulses, während die Modulation M2 dem Meßimpuls entspricht.
  • Die aus der Zerlegung gewonnenen Teilspannungen werden gleichgerichtet, und die Scheitelspannungen der gleichgerichteten Impulse dienen zur Aufladung von zwei Kondensatoren.
  • Hierzu bedient man sich am besten eines Stromwenders I3, den man durch die rotierende Scheibe 7 in geeigneter Form steuern kann, z. B. durch eine photoelektrische Zelle oder am besten durch eine mechanische Vorrichtung.
  • Die mit der Scheibe 7 verbundene Stromwendereinrichtung kann die in Fig. 5 dargestellte Form haben. Danach wird sie von einer Trommel 14 gebildet, auf deren zylindrischer Oberfläche ein Festkontaktring I5 angebracht ist, der sich parallel zur Trommelachse in einer Längszunge 16 von schwachperipherischer Ausdehnung fortsetzt.
  • Eine Bürste I7 ist mit einer der Ausgangsklemmen des Verstärkers 12 verbunden und in dauerndem Kontakt mit dem Ring 15, während zwei Bürsten 18 und I9, die die Trommel auf- diametral entgegengesetzten Linien berühren, mit der Zunge I6 für einen kurzen Augenblick wechselnden Kontakt haben, wenn sich die Trommel 14 mit der Scheibe 7 dreht. Die Bürste I8 ist mit einer der Elektroden eines Kondensators 20 verbunden, die andere Bürste 19 mit einer der Elektroden eines zweiten Kondensators 2I, während die übrigen Elektroden dieser beiden Kondensatoren mit der anderen Ausgangsklemme des Verstärkers I2 verbunden sind.
  • Die Zunge I6 und die Bürsten r8 und 19 müssen zur Scheibe 7 so eingestellt sein, daß die Kondensatoren mit dem Ausgang des Verstärkers gerade in dem Augenblick verbunden werden, wo die Meß- und Vergleichsimpulse ihre Maximalwerte erreichen.
  • Durch die Stromwendereinrichtung erreicht man zu gleicher Zeit die gewünschte Zerlegung in einen der Teilspannungsmodulation 1112 entsprechenden Meß- impuls und in einen der Teilspannungsmodulation M1 entsprechenden Vergleichsimpuls (s. Fig. 4), die Gleichrichtung dieser Impulse und die Aufladung der beiden Kondensatoren 20, 21 zu der in Fig. 3 bzw. durch die Pfeile tl und t2 dargestellten Scheitelspannung. Die Aufladung und Entladung der Kondensatoren 20 und 21 muß natürlich in solchen Zeitspannen verlaufen, daß ihr Wert der Scheitelspannung der betrachteten Impulse entspricht. Und die Ladung der Kondensatoren muß, wenigstens annähernd, zwischen zwei aufeinanderfolgenden Ladeimpulsen konstant gehalten werden.
  • Wenn die Anfangsmodulation so verläuft, wie es in Fig. 3 dargestellt ist, so entspricht die Ladung eines der Kondensatoren der Differenz zwischen Meß- und Vergleichsimpulsen, während die Ladung des anderen Kondensators dem absoluten Wert des Vergleichsimpulses entspricht.
  • Um die Beziehungen zwischen diesen beiden Ladungen kenntlich zu machen, kann man verschieden vorgehen. Nach einer vorteilhaften, in Fig. I schematisch dargestellten Durchführungsart benutzt man die Vergleichsspannung, die zur Ladung eines der Kondensatoren 20 und 21 gedient hat, nach Verstärkung in einem Verstärker 22 für die Regulierung des Verstärkers 12. Diese Regulierung entspricht dem sog.
  • Fading und wird so ausgeführt, daß die Vergleichsspannung am Ausgang des Verstärkers I2 konstant bleibt, ganz gleich, wie groß der Vergleichsimpuls ist, der auf das Photo- oder Thermoelement- einwirkt und im allgemeinen sehr veränderlich ist, je nach der Wellenlänge des Lichtes, welches im Monochrometer das Element II erregt.
  • Die Meßspannung, die den anderen Kondensator geladen hat, bestimmt man übrigens auf die gleiche Weise mit einem Meßinstrument 23, nachdem man sie durch einen Verstärker 24 verstärkt hat. Verglichen mit der Regulierung des Verstärkers 12 durch die Vergleichsspannung zeigt das Meßinstrument 23 unmittelbar die Beziehung zwischen den beiden Spannungen an und ist daher ein Maß für die Undurchsichtigkeit der Prüfsubstanz S.
  • Nach einer anderen vorteilhaften Durchführungsweise leitet man die Ladungen der beiden Kondensatoren 20 und 21 nach Verstärkung auf ein Instrument zur Beziehungsmessung, das beispielsweise zwei Kreuzspulen 25 und 26 (Fig. 5) besitzt und den Instrumenten zur Temperaturmessung entspricht.
  • In diesem Fall kann es ebenfalls interessant sein, gleichzeitig noch den Verstärker 12 durch die Vergleichsspannung zu regeln (s. Leiter 27 der Fig. 5), und das besonders, wenn die Vergleichsimpulse in weiten Grenzen schwanken.
  • Fig. 5 zeigt eine Schaltung der letzten Art, außerdem gewisse Einzelschaltungen zwischen den Kondensatoren 20, 21 und den Verstärkern 22, 24, die man zweckmäßigerweise auch dann verwendet, wenn die Beziehung zwischen den beiden Vergleichs- und Meßspannungen durch Regulierung des Verstärkers 12 allein angezeigt wird, wie das in Fig. I dargestellt ist.
  • Wie aus Fig. 5 hervorgeht, ist jeder der Kondensatoren 20 und 2I mit dem Eingang seines entsprechenden Verstärkers durch Kondensatoren 28, 29 mit periodisch veränderlicher Kapazität, Ladungswiderstände 30 und 3I und Ausgleichswiderstände 32 und 33 verbunden. Die Kondensatoren 28, 29 dienen der Umwandlung der Gleichspannung der Kondensatoren 20 und 21 in eine modulierte Wechselspannung die von den Verstärkern 22 und 24 verstärkt wird.
  • Daher muß die Hilfsfrequenz der variablen Kapazität der Kondensatoren 28, 29 sehr viel größer sein als die Modulationsfrequenz aus der Drehung der Scheibe 7, die dem Doppel der Umdrehungszahlen dieser Scheibe entspricht. Wenn z. B. diese Umdrehungszahl sechs und folglich die Modulationsfrequenz zwölf ist, so muß die Nebenfrequenz, mit der die Kapazität der Kondensatoren 28 und 29 periodisch verändert werden soll, etwa I000 betragen.
  • Um die Kapazitätsänderung der Kondensatoren 28, 29 zu erreichen, kann man z. B. einer der Elektroden dieser Kondensatoren die Form einer Membran geben und diese zwei Membranen beider Kondensatoren mit Hilfe einer dritten gemeinsamen Membran periodischen Druckschwankungen unterwerfen. Um zu verhindern, daß die Kondensatoren 28 und 29 nicht auf die Ladung der Kondensatoren 20, 21 reagieren, müssen sie eine weit geringere Kapazität als diese besitzen.
  • Wenn der Kondensator 21 mit einer Scheitelspannung gemäß dem Meßimpuls geladen ist, so ist der Kondensator 29 gleichfalls in dieser Höhe durch die Widerstände 3I und 33 geladen. Wenn der Widerstand 3I größer ist als der Widerstand des Kondensators 29 gegen Wechselstrom mit der vorgesehenen Nebenfrequenz, so bekommt man an den Enden des Widerstandes 31 infolge der periodischen Wechselkapazität eine Wechselspannung mit der Amplitude d V = C V (V = Ladungsspannung).
  • Diese Wechselspannung wird mit Hilfe des Verstärkers 24 verstärkt, gleichgerichtet und filtriert. Der gleichgerichtete Strom geht durch den Widerstand oder die Spule 25 des Meßinstrumentes und durch den Ausgleichswiderstand 33. Der Spannungsabfall im Widerstand 33 wird so gesteuert, daß er gegen die Ladung des Kondensators 21 wirkt. Wenn die Verstärkung 24 groß genug ist, erhält man einen vollkommenen Ausgleich, d. h. der Spannungsabfall im Widerstand 25 entspricht völlig der Ladung des Kondensators 21, d. h. dem Meßimpuls.
  • Die gleichen Überlegungen gelten für den Spannungsabfall in dem zweiten Widerstand oder der zweiten Spule 26 des Beziehungsmeßinstrumentes. Dieser Spannungsabfall entspricht der Ladung des Kondensators 20 oder dem Vergleichsimpuls.
  • Da die der vorliegenden Erfindung gemäße Methode keine Nullmethode ist, umfaßt der gesuchte Absorptions- oder Transparenzkoeffizient wegen des Verstärkers 12 nicht lineare Glieder. Die der Erfindung gemäße Methode bietet jedoch den großen Vorteil, keine Vorrichtung zur Lichtabschwächung zu benötigen, die bei den auf optischem Ausgleich der beiden Lichtbündel beruhenden Nullmethoden unerläßlich ist.
  • Da eine mit polarisiertem Licht exakt bestimmte Lichtabschwächung im infraroten Bereich wegen der Absorption der benutzten Substanz unmöglich ist, wäre es unerläßlich, Filter zu verwenden, deren Linearität sehr schwer herzustellen ist. Außerdem würde die Verwendung von beweglichen Filtern die Schnelligkeit der Messungen unangenehm beeinträchtigen.
  • Es versteht sich von selbst, daß die Erfindung sich keineswegs auf die beschriebenen Ausführungsbeispiele beschränkt, ebensowenig auf die Verwendung der benutzten Teile. Sie umfaßt im Gegenteil alle im Rahmen des Erfindungsgedankens liegenden Möglichkeiten.

Claims (5)

  1. PATENTANsPRÜcHE: 1. Vorrichtung zur Durchsichtigkeits- oder Undurchsichtigkeitsmessung, insbesondere mit Hilfe infraroten Lichts, mit Spektrophotometer, dessen strahlenempfindliches Element mittels eines beweglichen Steuergliedes, beispielsweise einer drehenden Scheibe, einem periodischen Belichtungszyklus ausgesetzt wird, welcher hintereinander eine Belichtungsperiode mittels Strahlen, die durch die zu untersuchende Substanz hindurchgegangen sind (Meßstrahlen), ferner eine Belichtungsperiode mittels ungeschwächter Strahlen (Vergleichsstrahlen), ferner eine Verdunklungsperiode und schließlich eine vierte Periode umfaßt, in der sich eine der drei vorangegangenen Perioden wiederholt, wobei die durch den Belichtungszyldus modulierte Spannung des strahlenempfindlichen Elements in einen Vergleichsimpuls, dessen Amplitude der Intensität der Vergleichsstrahlen entspricht, und in einen Meßimpuls zerlegt wird, dessen Amplitude der Intensität der Meßstrahlen oder der Amplitude der Differenz der beiden Strahlen entspricht, dadurch gekennzeichnet, daß das bewegliche Steuerglied (7) auch noch eine Umschalte- und Gleichrichtevorrichtung (I4 bis I9) steuert, die zwei Kbndensatoren (2Q, 2I) auf die Scheitelspannungen der gleichgerichteten Vergleichs- und Meßimpulse auflädt, und daß die Ladespannungen dieser Kondensatoren nach ihrer Verstärkung eine Vorrichtung zum Anzeigen des Verhältnisses der Amplituden der beiden Impulse betätigen.
  2. 2. Vorrichtung nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß die Ladespannung des einen der beiden Kondensatoren (zo, 21), welche dem Vergleichsimpuls entspricht, zur Regelung des Verstärkers (I2) dient, der seinerseits zur Verstärkung der modulierten Anfangsspannung dient, wobei die Regelung derart erfolgt, daß die Spannung der Vergleichsimpulse, die sich aus der Zerlegung der modulierten und verstärkten Anfangssp annung ergeben, im wesentlichen konstant bleibt und daß die Ladespannung des anderen Kondensators durch ein Meßinstrument angezeigt wird, das auf diese Weise unmittelbar das Verhältnis der beiden durch die Zerlegung der Anfangsspannung erhaltenen Impulse anzeigt.
  3. 3. Vorrichtung nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß die Ladespannungen der beiden Kondensatoren (20, 2I) auf einen Verhältnismesser, beispielsweise ein Drehspulinstrument, übertragen werden.
  4. 4. Vorrichtung nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß jeder der beiden Kondensatoren (20, 21), die auf die Scheitelspannungen der durch die Zerlegung der modulierten Anfangsspannung erhaltenen Impulse aufgeladen werden, an den Eingang eines Sonderverstäilcers (22, 24) angeschlossen ist und daß zwischen jedem Kondensator und seinem Verstärker ein weiterer Kondensator (28 bzw. 29) mit periodisch veränderlicher Kapazität eingeschaltet ist, wobei die Frequenz dieser Kapazitätsänderung wesentlich größer ist als die Frequenz der Modulation der Anfangsspannung.
  5. 5. Vorrichtung nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß das als Drehscheibe ausgebildete Steuerglied (7) durch - den Schnittpunkt der von einer gemeinsamen Strahlenquelle (I) in zwei verschiedene Richtungen ausgesandten und durch Spiegel (4, 5) reflektierten Strahlenbündel (2, 3) hindurchgeht, von denen das eine die Vergleichsstrahlung und das andere die Meßstrahlung ist, wobei die Steuerscheibe (7) den go" betragenden Winkel der sich schneidenden beiden Strahlungen halbiert, wobei zwei Quadranten (a) der Steuerscheibe (7) Spiegel aufweisen, welche die Vergleichsstrahlen durch Reflexion der Eintrittsöffnung (g) eines Monochrometers (IO) zulenken, während der dritte Quadrant (c) geschwärzt, d. h. undurchsichtig und nicht reflektierend ist, und der vierte Quadrant (d) beispielsweise durch Ausschneiden durchsichtig ist, um die Meßstrahlung ungehindert auf den Eintrittsspalt des Monochwmeters fallen zu lassen.
    Angezogene Druckschriften: Deutsche Patentschrift Nr. 636 170.
DEP30366A 1948-08-24 1949-01-01 Vorrichtung zur Durchsichtigkeits- oder Undurchsichtigkeitsmessung, insbesondere im infraroten Licht, mit Spektrophotometer Expired DE879607C (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR879607X 1948-08-24

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE879607C true DE879607C (de) 1953-07-16

Family

ID=9361893

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DEP30366A Expired DE879607C (de) 1948-08-24 1949-01-01 Vorrichtung zur Durchsichtigkeits- oder Undurchsichtigkeitsmessung, insbesondere im infraroten Licht, mit Spektrophotometer

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE879607C (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1278756B (de) * 1962-10-01 1968-09-26 Beckman Instruments Inc Spektralphotometer

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE636170C (de) * 1932-12-30 1936-10-05 Julius Pintsch Akt Ges Verfahren zur Messung, zum Vergleich und zur Fernanzeige von Lichtstroemen

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE636170C (de) * 1932-12-30 1936-10-05 Julius Pintsch Akt Ges Verfahren zur Messung, zum Vergleich und zur Fernanzeige von Lichtstroemen

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1278756B (de) * 1962-10-01 1968-09-26 Beckman Instruments Inc Spektralphotometer

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2816541C2 (de) Vorrichtung zur Bestimmung der Konzentration einer Substanz in einer Probe
DE2739585A1 (de) Spektrophotometer
DE2350004B2 (de) Vorrichtung zum Messen des Anteils einer Komponente eines strahlungsdurchlässigen Stoffgemisches
WO1986002159A1 (en) Measurement arrangement for analysing electromagnetic radiation
DE3937141A1 (de) Nichtdispersiver infrarot-gasanalysator zur gleichzeitigen messung der konzentration mehrerer komponenten einer gasprobe
DE1939034B1 (de) Photometer zum Durchfuehren von Messungen bei unterschiedlichen Wellenlaengen
DE2300213B2 (de) Gerät zur Messung der Strahlungsdosis von ultravioletter Strahlung
DE2853458A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung der helligkeit von mahlprodukten einer muehle, insbesondere von mehl
DE1472207B2 (de) Vorrichtung zur Messung des zirkulären Dichroismus
DE1964388A1 (de) Fotoelektrische Messvorrichtung
CH378060A (de) Polarimeter
DE879607C (de) Vorrichtung zur Durchsichtigkeits- oder Undurchsichtigkeitsmessung, insbesondere im infraroten Licht, mit Spektrophotometer
DE1048045B (de) Glanzmesser
EP0123672A2 (de) Verfahren zur Bestimmung der Massen von absorbierenden Anteilen einer Probe und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE1598467B1 (de) Geraet zur beruehrungslosen messung der feuchte oder der konzentration anderer substanzen in bewegten messguthaben
EP0555508B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur simultanen Bestimmung der Konzentrationen von Molekülverbindungen in Gasen und Flüssigkeiten
CH396461A (de) Vorrichtung zum Analysieren einer Röntgen-Sekundärstrahlung
CH375918A (de) Registrierende Messanordnung, die nach einer Nullmethode mit selbsttätigem Abgleich arbeitet
AT238970B (de) Verfahren und Einrichtung zur Ermittlung des Fremdstoffgehaltes in einem Trägermaterial
DE7401468U (de) Geraet zum abtasten einer gegenstandskontur
DE1290358B (de) Optisches Interferometer
DE1295886B (de) Spektralphotometer
DE3633916A1 (de) Verfahren zur selektiven messung der konzentrationen von ir- bis uv-strahlung absorbierenden gasfoermigen und/oder fluessigen substanzen in gasen und/oder fluessigkeiten und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens
DE1547240C (de) Trubungsmesser fur Gase
DE2402680C3 (de) Zweistrahl-Strahlungsenergieanalysator, insbesondere Spektralfotometer