JPH0378245A - Ｉｃパッケージ - Google Patents

Ｉｃパッケージ

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Publication number
JPH0378245A
JPH0378245A JP21522389A JP21522389A JPH0378245A JP H0378245 A JPH0378245 A JP H0378245A JP 21522389 A JP21522389 A JP 21522389A JP 21522389 A JP21522389 A JP 21522389A JP H0378245 A JPH0378245 A JP H0378245A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead
contact
package
contact part
socket
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP21522389A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshishige Hayashi
林　利重
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP21522389A priority Critical patent/JPH0378245A/ja
Publication of JPH0378245A publication Critical patent/JPH0378245A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805—Shape
    • H01L2224/4809—Loop shape
    • H01L2224/48091—Arched
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481—Disposition
    • H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item

Landscapes

  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は半導体のＩＣパッケージのコンタクト構造に
関するものである。
〔従来の技術〕
第３図は従来のＩＣパッケージの構造を示す部分断面斜
視図、第４図は第３図の断面側面図を示す。図において
、（１）はＩＣのチップ、（２）はチップ（１）にリー
ドを接続するための金線、（３）はチップ（１）をダイ
パッドに接着させるダイボンド材、（４）はダイパッド
、（７）はモールド樹脂、（８）はリードである。
次に動作について説明する。
従来のＩＣパッケージはダイパッド（４）上のチップ（
１）の電極と、外部に出ているリード（８）を金線（２
）でワイヤボンディングし、それらをモールド樹脂（７
）によってモールドしている。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来のＩＣパッケージは以上のように構成されていたの
で、アセンブリ後の検査工程、移動時、基板実装時等に
ＩＣのリードの曲りや接触不良が発生し易いなどの問題
点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、ＩＣのリード曲りを減らすことを目的とする
。
［課題を解決するための手段］ この発明に係るＩＣパッケージは外部にリードを出すこ
となく、リードの代わりとなる凹状のコンタクト部を設
けたものである。
〔作用〕
この発明におけるＩＣパッケージは凹状のコンタクト部
を設け、ソケットやプリント基板を凸状にして接触させ
る。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第１図において、（１）はチップ、（２）はチップ（１
）とインナーリードを接続する金線、（３）はチップ（
１）をグイパッド上に接着させる為のダイボンド材、（
４）はダイパッド、（５）はインナーリード、（６）は
外部のソケットや端子との接触部であるコンタクト部、
（７）はモールド樹脂である。第２図は第１図の断面側
面図を示す。
次に動作について説明する。この実施例のＩＣの動作は
従来のものと同様に外部との信号のやりとりはリードの
代わりとなる凹状のコンタクト部（６）を通じて行なう
。従って、ソケットやプリント基板は凹状のコンタクト
部と接触可能な凸状のものにすることになる。
なお、上記実施例では、ＱＦＰタイプのＩＣパッケージ
の場合を示したが一他のタイプのＩＣパッケージについ
ても適用可能で同様の効果を奏する。
〔発明の効果〕
以上のようにこの発明によれば、リードの代わりに凹状
のコンタクト部としたので、リードの曲りなどを減少で
き、また、リードが外部に出ていない分だけ一実装密度
の向上が図れるなどの効果がある。
【図面の簡単な説明】
第１図はこの発明の一実施例を示すＩＣパッケージの部
分断面斜視図−第２図は第１図の側断面図−第３図は従
来のＩＣパッケージの部分断面斜視図、第４図は第３図
の側断面図である。 図において、（１）はチップ、（２）は金線、（３）は
ダイポンド材、（４）はダイパッド、（５）はインナー
リード−（６）はコンタクト部、（７）はモールド樹脂
を示す。 なお−図中、同一符号は同一、または相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ＩＣパッケージ内に凹状のコンタクト部を設けたことを
    特徴とするＩＣパッケージ。
JP21522389A 1989-08-21 1989-08-21 Ｉｃパッケージ Pending JPH0378245A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21522389A JPH0378245A (ja) 1989-08-21 1989-08-21 Ｉｃパッケージ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21522389A JPH0378245A (ja) 1989-08-21 1989-08-21 Ｉｃパッケージ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0378245A true JPH0378245A (ja) 1991-04-03

Family

ID=16668744

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21522389A Pending JPH0378245A (ja) 1989-08-21 1989-08-21 Ｉｃパッケージ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0378245A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008309743A (ja) * 2007-06-18 2008-12-25 Asahi Sunac Corp 粘度測定装置、粘度測定方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008309743A (ja) * 2007-06-18 2008-12-25 Asahi Sunac Corp 粘度測定装置、粘度測定方法

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