JPH0360252B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は焙焼器のタイマ装置に係り、設定され
た焙焼時間が焙焼室の温度に応じて調整するとと
もに周囲温度に応じて焙焼時間を調整するものに
関する。

〔従来の技術〕

従来の焙焼器のタイマ装置は、例えば実公昭45
−28984号公報に記載されているように電源とヒ
ータとの間に接続されたスイツチのオン動作によ
り印加されコンデンサおよび抵抗からなる時定数
回路と、前記時定数回路のコンデンサの充電によ
り端子電圧がダイオードのブレークオーバー電圧
を越えると作動するSCRスイツチング素子と、
このスイツチング素子のオン時に前記スイツチを
オフ状態とするリレーとを具備し、前記時定数回
路には抵抗分として焙焼室の温度変化に応じて抵
抗が変化するサーミスタを接続した構成が知られ
ている。そしてこの構成では最初の焙焼に際して
スイツチのオン動作でヒータに通電されるととも
に時定数回路のコンデンサに充電が開始され、こ
のコンデンサの充電で端子電圧がダイオードのフ
レークオーバー電圧を越えるとスイツチング素子
がオン動作し、リレーが動作とて前記スイツチを
オフと、ヒータへの通電を遮断し、次ぎの焙焼に
際して再びスイツチをオン動作すると、ヒータと
時定数回路に前述と同様に通電される。そしてこ
の場合、前回の焙焼でサーミスタは焙焼室の余熱
に応じて抵抗が低下しており、コンデンサの端子
電圧の上昇が前回の時間より速くリレーを作動さ
せ、焙焼が均一にできるようになつている。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上記従来の焙焼室のタイマ装置では、焙焼室の
周囲温度が一定であれば問題がないが、焙焼器が
使用される周囲温度は例えば５℃乃至35℃に変化
するため、サーミスタはこの周囲温度に影響さ
れ、コンデンサの充電時間が周囲温度に応じて変
化し、焙焼時間が設定時間に対し変化する問題が
あつた。

本発明は上記問題点に鑑みなされたもので、設
定された焙焼時間を焙焼室の余熱温度と外気の温
度の変化に応じて補正できるようにして均一の焙
焼ができる焙焼器のタイマ装置を提供するもので
ある。

〔問題点を解決するための手段〕

第１番目の発明の焙焼器のタイマ装置は、電源
とヒータとの間に接続されたスイツチと、このス
イツチのオン動作により印加されたコンデンサお
よび抵抗からなる時定数回路と、前記スイツチの
オン動作時にオン状態となり前記時定数回路のコ
ンデンサの設定電圧充電時にオフ状態となるスイ
ツチング回路と、このスイツチング回路のオン時
に前記スイツチをオン状態に保持し前記スイツチ
ング回路のオフ時にスイツチをオフさせるリレー
とを具備し、前記時定数回路には抵抗分として焙
焼室の温度変化に応じて低が変化する温度補償素
子を接続し、前記スイツチング回路のスイツチン
グ素子検出レベル設定回路の周囲温度の変化に応
じて抵抗が変化する温度補償素子を設けたことを
特徴とするものである。

第２番目の発明の焙焼器のタイマ装置は、前記
スイツチング回路のスイツチング素子はPUTと
トランジスタとで構成し、このPUTのゲートに
挿入したスイツチング素子検出レベル設定回路の
温度補償素子と並列に常温におけるこの温度補償
素子の抵抗値より大きい抵抗素子を接続したこと
を特徴とするものである。

第３番目の発明の焙焼器のタイマ装置は、前記
時定数回路の温度補償素子と並列に常温における
この温度補償素子の抵抗値より大きい抵抗素子を
接続したことを特徴とするものである。

第４番目の焙焼器のタイマ装置は、前記スイツ
チング回路のスイツチング素子はPUTとトラン
ジスタとで構成し、このPUTのゲートに挿入し
たスイツチング素子検出レベル設定回路の温度補
償素子と並列に常温におけるこの温度補償素子の
抵抗値より大きい抵抗素子を接続するとともに前
記時定数回路の温度補償素子と並列に常温におけ
るこの温度補償素子の抵抗値より大きい抵抗素子
を接続したことを特徴とするものである。

〔作用〕

本発明の焙焼器のタイマ装置は、スイツチのオ
ン動作で、ヒータに通電が開始されるとともに時
定数回路に通電される。この時定数回路の通電で
コンデンサに抵抗と温度補償素子に抵抗分に応じ
て充電される。また一方のスイツチング回路もオ
ン動作となり、リレーにがスイツチのオン状態を
保持する。そしてヒータへの通電による焙焼の進
行に従つて時定数回路のコンデンサの充電も進行
し、コンデンサの端子電圧が、スイツチング回路
の検出レベル設定回路にて設定されているPUT
のゲート側より高くなると、PUTのアノード、
カソード間が導通し、スイツチング回路はオフ動
作となり、リレーによりスイツチはオフ動作とな
り、ヒータの通電が遮断され、焙焼は終了する。
そして次ぎの焙焼も同様にスイツチのオン動作で
行なわれるが、焙焼室は前回の焙焼による余熱で
温度が上昇されているため、温度補償素子の抵抗
値も変化されており、時定数回路のコンデンサへ
の充電時間が前回より短縮され、スイツチング回
路は前回より速くオフ動作してリレーによつてス
イツチをオフ動作させて焙焼は終了し、前回と均
一の焙焼が行なわれる。またスイツチング回路の
レベル検出回の温度補償素子によつて外気温度に
応じてPUTのアノード、カソード間の導通レベ
ルが調整され、周囲温度による焙焼のばらつきを
補正し、周囲の温度に関係なく均一に焙焼され
る。

さらに時定数回路の温度補償素子と並列に接続
した高抵抗の抵抗素子にて初回の焙焼と次回の焙
焼との極端な焙焼時間の時間差が生じないように
調整される。さらにスイツチング回路の検出レベ
ル設定回路の温度補償素子と並列に接続した高抵
抗の抵抗素子により低温時の極端な動作電圧の低
下を調整する。

〔実施例〕

本発明の一実施例の構成は第１図について説明
する。

１は交流電源で、この交流電源１の両端子間に
はヒータ回路２が接続されている。この交流電源
１とヒータ回路２との間にはスイツチ３が接続さ
れ、このスイツチ３は直列に接続された第１の接
点３ａと第２の接点３ｂとを有している。またヒ
ータ回路２は図示しない焙焼室の上部に設けられ
た上部ヒータ４と下部に設けられた下部ヒータ５
とを有し、この両ヒータ４，５には切換えスイツ
チ６が接続され、この切換えスイツチ６の第１の
接点７は両ヒータ４，５を直列に接続する弱焙焼
と、第２のヒータ５を短絡する上火焙焼とに切換
え、第２の接点８は上部ヒータ４を短絡し、第１
の接点７の下部ヒータ５の短絡により両ヒータ
４，５を並列に接続して強焙焼に切換えるように
なつている。

また前記スイツチ３の第１および第２の接点３
ａ，３ｂとの接続点には直流定電圧電源回路１０
が接続され、この定電圧電源回路１０は抵抗１
１、並列接続のブリータ抵抗１２，１３，１４、
コンデンサ１５、抵抗１６、ダイオード１７と直
列回路と、前記ブリーダ抵抗１２，１３，１４と
コンデンサ１５とに並列接続のコンデンサ１８と
にて構成されている。また前記定電圧電源回路１
０には並列にネオンランプなどの通電表示素子２
２が接続されている。

また２３は時定数回路で、前記定電圧電源回路
１０のブルーダ抵抗１２，１３，１４とコンデン
サ１５との間に接続されている。この時定数回路
２３は抵抗２４、この時定数回路２３の抵抗分と
なる温度補償素子としての負特性のサーミタス２
５、可変抵抗２６およびコンデンサ２７の直列回
路にて構成されている。またこのサーミスタ２５
にはこのサーミスタ２５の常温時の抵抗値より大
きい抵抗値の抵抗素子２８が並列に接続されてい
る。このサーミスタ２５は焙焼室の温度変化に追
従して抵抗値が変化される位置に配置する。

また前記時定数回路２３と並列にリレー２９の
電磁コイル３０とスイツチング回路３１のNPN
形トランジスタ３２が接続されている。また前記
電磁コイル３０と並列にダイオード３３が接続さ
れている。

また前記リレー２９の電磁コイル３０とトラン
ジスタ３２の直列回路と並列にスイツチング回路
３１と検出レベル設定回路３４が接続されてい
る。この検出レベル設定回路３４は抵抗３５、温
度補償素子としても負特性サーミスタ３６、基準
電圧を形成する可変抵抗３７、抵抗３８およびバ
イアス抵抗３９が直列に接続されている。このサ
ーミスタ３６は外気温度に追従して抵抗値が変化
される位置に配置する。さらにこのサーミスタ３
６にはサーミスタ３６の常温時の抵抗値より大き
い抵抗値を有する抵抗素子４０が並列に接続され
ている。

さらに前記スイツチング回路３１は前時定数回
路２３のコンデンサ２７と並列に接続した抵抗４
１とPUT（プログラマブル ユニジヤンクシヨン
トランジスタ）４２が並列に接続されている。
このPUT４２のアノードは抵抗４１を介して前
記時定数回路２３のコンデンサ２７の陽極側に接
続され、ゲートは前記検出レベル設定回路３４の
サーミスタ３６と可変抵抗３７との接続点に接続
され、さらにこのPUT４２のゲートとカソード
の間には基準電圧が加えられ、またこの基準電圧
を形成する抵抗３８とバイアス抵抗３９との接続
点に前記前記トランジスタ３２のベースが接続さ
れている。

また前記スイツチング回路３１のトランジスタ
３２のベースとエミツタとの間に取消スイツチ４
３が接続され、この取消スイツチ４３はオン動作
でスイツチング回路３１のトランジスタ３２をオ
フ動作させ、リレー２７の励磁コイル３０を非励
磁にする。

さらに前記スイツチ３と並列にタイマスイツチ
４４が接続され、このタイマスイツチ４４は比較
的長い時間の焙焼を使用するもので、電子タイマ
制御と別に機械的タイマにて構成される。

また前記スイツチ３の接点３ａ，３ｂは前記リ
レー２７の電磁コイル３０の励磁でオン状態に保
持され、電磁コイル３０の非励磁でオフ動作され
るようになつている。

また前記時定数回路２３の可変抵抗２６は抵抗
値を高くすることによりコンデンサ２７の充電時
間が長くなる。

次に第２図について説明すると、焙焼器本体４
５の前面パネル４６にはスイツチ３をオン動作さ
せる押しボタン４７、時定数回路２３の可変抵抗
２６の抵抗値を調整する焙焼時間調整摘み４８、
取消スイツチ４３をオン動作させる押しボタン４
９、通電表示素子２２の点灯を確認する表示部５
０が設けられ、また焙焼器本体４５の焙焼室５１
に隣接する一端側のスイツチ機構室５２の上部に
時定数回路２３のサーミスタ２５が配設され、下
部にスイツチング回路３１の検出レベル設定回路
３４のサーミスタ３６が配設され、さらに一端端
面にヒータ切換スイツチ６の操作摘み５３が設け
られている。

次にこの実施例の作用を説明する。

パンなどを電子タイマにて焙焼するときには、
押しボタン４７の操作でスイツチ３をオン動作さ
せると、接点３ａ，３ｂが閉成されてヒータ回路
２に通電され、ヒータ回路２は切換えスイツチ８
にて設定された状態例えば両ヒータ４，５が直列
または並列に接続されて通電される。

またスイツチ３の接点３ａの閉成で、定電圧電
源回路１０がオン動作され、時定数回路２３とス
イツチング回路３１の検出レベル設定回路３４に
通電され、時定数回路２３は、固定抵抗２４、サ
ーミスタ２５、可変抵抗２６からなる抵抗分とコ
ンデンサ２７の閉回路にてこのコンデンサ２７に
充電される。そしてスイツチング回路３１の
PUT４２のゲートには検出レベル設定回路３４
の抵抗分割回路にて分圧された一定電圧が掛つて
いるが、ゲート電圧は時定数回路２３のコンデン
サ２７の両端電圧より低く、トランジスタ３２の
ベース電流が流れ、リレー２９の電磁コイル３０
に通電され、電磁コイル３０が励磁され、スイツ
チ３のオン動作が保持される。

そして時定数回路２３は可変抵抗２６の抵抗値
が一定の場合サーミスタ２５の抵抗値に応じてコ
ンデンサ２７に充電され、このコンデンサ２７の
両端電圧がPUT４２のゲート電圧より高くなる
と、PUT４２のアノードーカソード間ご導通し、
コンデンサ２７は抵抗４１を介して放電し、トラ
ンジスタ３２のベース電圧が低下し、このトラン
ジスタ３２は非導通となり、リレー２９の電磁コ
イル３０は非励磁となり、スイツチ３はオフ動作
となり、接点３ａ，３ｂは開放され、ヒータ回路
２への通電が遮断され、焙焼が終了する。また同
時に通電表示素子２２も消灯される。

次いで引続きスイツチ３のオン操作で焙焼を行
なうと、前述のように焙焼が行なわれるが、焙焼
室５１の前回の焙焼による余熱温度で時定数回路
２３のシーミスタ２５の抵抗値が下がり、このコ
ンデンサ２７の充電時間が前回より短くなり、
PUT４２の導通時間も短時間となり、スイツチ
ング回路３１はリレー２９を前回より短時間でオ
フ動作させ、焙焼は終了する。

このような焙焼室５１の温度が余熱で時定数回
路２３のサーミスタ２５の抵抗値は低下され、第
３図に示す時定数回路２３のコンデンサ２７の充
電特性のようにように常温（20℃）のPUT４２
の検出レベルでは初回の焙焼時間T₁に対し次回
の焙焼時間T₂となり、次回の焙焼時間はT₃短縮
される。

またスイツチング回路３１の検出レベル設定回
路３４に挿入されたサーミスタ３６は周囲温度の
変化により抵抗値が変化し、スイツチング回路３
１の設定レベルが変化されてPUT４２は周囲温
度に応じたゲート電圧が得られる。すなわち第３
図に示すように時定数回路２３のコンデンサ２７
の充電電圧特性は常温（20℃）のときに対し、低
温（５℃）では緩やかな変化となる特性となり、
高温（35℃）では急激な変化となる特性となり、
低温のときには初回の焙焼時間T₄および次回の
焙焼時間T₅が長すぎ、高温のときには初回の焙
焼時間T₆および次回の焙焼時間T₇が短すぎるが、
検出レベル設定回路３４のサーミスタ４２により
スイツチング回路３１の検出レベルを高温時には
上げ、低温時には検出レベルを下げることによ
り、周囲温度に関係なく、略均一の焙焼ができ
る。

また時定数回路２３の負特性サーミスタ２５の
温度変化に対する抵抗値の変化が大きく、初回の
焙焼時間T₁に対し、次回の焙焼時間T₂の時間差
が大きいが、サーミスタ２５に並列にこのサーミ
スタ２５の常温時の抵抗値に対し高抵抗の抵抗素
子２８を接続することにより、初回の焙焼時間
T₁と次回の焙焼時間T₂との時間差T₃を小さくす
ることができる。

さらに第４図に示すようにスイツチング回路３
１の検出レベル設定回路３４の負特性シーミスタ
３６の温度特性は低温時には極端に抵抗値が高く
なり、PUT４２の動作電圧が下がりすぎるが、
このサーミスタ３６に並列にこのサーミスタ３６
が常温時における抵抗値より高抵抗の抵抗素子４
０を接続したので、第５図に示すように時定数回
路２３の抵抗分のサーミスタ３６の抵抗特性ａが
この抵抗素子４０により抵抗特性ｂに補正され、
低温時の焙焼時間が短くなることがないように補
正される。

また焙焼時間の調整は時定数回路２３の可変抵
抗２６の調整で行なうとともにスイツチング回路
３１のPUT４２に掛る基準電圧の調整は可変抵
抗３７にて行なう。

また焙焼の途中で焙焼を中断するときには、取
消スイツチ４３をオン動作させると、スイツチン
グ回路３１のトランジスタ３２のベース電圧が低
下し、トランジスタ３２は非導通となり、リレー
２９の電磁コイル３０は非励磁となり、スイツチ
３はオフ動作となり、ヒータ回路２への通電が中
断され、焙焼は終了する。

なお電子制御によらない比較的長時間の焙焼に
際しては、タイマスイツチ４４により設定時間ヒ
ータ回路２に通電する。

また前記実施例ではスイツチング回路３１の検
出レベル設定回路３４の温度補償素子として負特
性のサーミスタ３６を用いたが、スイツチング回
路３１のPUT３６のゲートーカソード間に接続
するときには正特性サーミスタを用いる。また時
定数回路２３の温度補償素子として負特性のサー
ミスタ２５を用いたが接続位置によつて正特性の
サーミスタを用いることもできる。

〔発明の効果〕

本発明によれば、時定数回路には抵抗分として
焙焼室の温度変化に応じて抵抗が変化する温度補
償素子を接続し、スイツチング回路のスイツチン
グ素子検出レベル設定回路に周囲温度の変化に応
じて抵抗が変化する温度補償素子を設けたので、
焙焼時間は焙焼室の焼熱温度に応じて初回焙焼時
間対して次回焙焼時間を自動的に調整できるとと
もにこの焙焼時間は周囲温度にて調整されるた
め、周囲温度に応じて補正されて確実に均一の焙
焼ができるものである。

また本発明によれば、スイツチング回路のスイ
ツチング素子はPUTとトランジスタとで構成し、
このPUTのゲートに挿入したスイツチング素子
検出レベル設定回路の温度補償素子と並列に常温
におけるこの温度補償素子の抵抗値より大きい抵
抗素子を接続したので、温度補償素子の温度特性
を補正して低温時における温度補償素子の急激の
抵抗変化を補正して検出レベル設定回路の動作電
圧を補正し、低温時の焙焼も均一にできるもので
ある。

さらに本発明によれば、時定数回路の温度補償
素子と並列に常温におけるこの温度補償素子の抵
抗値より大きい抵抗素子を接続したので、初回の
焙焼時間と次回の焙焼時間の時間差を補正してよ
り均一の焙焼ができるものである。

また本発明によれば、温度補正素子の温度特性
を補正して低温時における温度補償素子の急激の
抵抗変化を補正して検出レベル設定回路の動作電
圧を補正するとともに初回の焙焼時間と次回の焙
焼時間と時間差を補正してより均一の焙焼ができ
るものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す焙焼器のタイ
マ装置の回路図、第２図は同上焙焼器の斜視図、
第３図は同上時定数回路のコンデンサの充電特性
図、第４図は同上スイツチング回路のサーミスタ
の温度特性図、第５図は同上サーミスタの補正特
性図である。 １……電源、４，５……ヒータ、２３……時定
数回路、２５，３６……温度補償素子としてのサ
ーミスタ、２７……コンデンサ、２８，４０……
抵抗、２９……リレー、３１……スイツチング回
路、３２……トランジスタ、３４……検出レベル
設定回路、４２……PUT。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 電源とヒータとの間に接続されたスイツチ
   と、このスイツチのオン動作により印加されコン
   デンサおよび抵抗からなる時定数回路と、前記ス
   イツチのオン動作時にオン状態となり前記時定数
   回路のコンデンサの設定電圧充電時にオフ状態と
   なるスイツチング回路と、このスイツチング回路
   のオン時に前記スイツチをオン状態に保持し前記
   スイツチング回路のオフ時にスイツチをオフさせ
   るリレーとを具備し、 前記時定数回路には抵抗分として焙焼室の温度
   変化に応じて抵抗が変化する温度補償素子を接続
   し、 前記スイツチング回路のスイツチング素子検出
   レベル設定回路に周囲温度の変化に応じて抵抗が
   変化する温度補償素子を設けたことを特徴とする
   焙焼器のタイマ装置。 ２ 電源とヒータとの間に接続されたスイツチ
   と、このスイツチのオン動作により印加されコン
   デンサおよび抵抗からなる時定数回路と、前記ス
   イツチのオン動作時にオン状態となり前記時定数
   回路のコンデンサの設定電圧充電時にオフ状態と
   なるスイツチング回路と、このスイツチング回路
   のオン時に前記スイツチをオン状態に保持し前記
   スイツチング回路のオフ時にスイツチをオフさせ
   るリレーとを具備し、 前記時定数回路には抵抗分として焙焼室の温度
   変化に応じて抵抗が変化する温度補償素子を接続
   し、 前記スイツチング回路のスイツチング素子検出
   レベル設定回路に周囲温度の変化に応じて抵抗が
   変化する温度補償素子を設け、 前記スイツチング回路のスイツチング素子は
   PUTとトランジスタとで構成し、このPUTのゲ
   ートに挿入したスイツチング素子検出レベル設定
   回路の温度補償素子と並列に常温におけるこの温
   度補償素子の抵抗値より大きい抵抗素子を接続し
   たことを特徴とする焙焼器のタイマ装置。 ３ 電源とヒータとの間に接続されたスイツチ
   と、このスイツチのオン動作により印加されコン
   デンサおよび抵抗からなる時定数回路と、前記ス
   イツチのオン動作時にオン状態となり前記時定数
   回路のコンデンサの設定電圧充電時にオフ状態と
   なるスイツチング回路と、このスイツチング回路
   のオン時に前記スイツチをオン状態に保持し前記
   スイツチング回路のオフ時にスイツチをオフさせ
   るリレーとを具備し、 前記時定数回路には抵抗分として焙焼室の温度
   変化に応じて抵抗が変化する温度補償素子を接続
   し、 前記スイツチング回路のスイツチング素子検出
   レベル設定回路に周囲温度の変化に応じて抵抗が
   変化する温度補償素子を設け、 前記時定数回路の温度補償素子と並列に常温に
   おけるこの温度補償素子の抵抗値より大きい抵抗
   素子を接続したことを特徴とする焙焼器のタイマ
   装置。 ４ 電源とヒータとの間に接続されたスイツチ
   と、このスイツチのオン動作により印加されコン
   デンサおよび抵抗からなる時定数回路と、前記ス
   イツチのオン動作時にオン状態となり前記時定数
   回路のコンデンサの設定電圧充電時にオフ状態と
   なるスイツチング回路と、このスイツチング回路
   のオン時に前記スイツチをオン状態に保持し前記
   スイツチング回路のオフ時にスイツチをオフさせ
   るリレーとを具備し、 前記時定数回路には抵抗分として焙焼室の温度
   変化に応じて抵抗が変化する温度補償素子を接続
   し、 前記スイツチング回路のスイツチング素子検出
   レベル設定回路に周囲温度の変化に応じて抵抗が
   変化する温度補償素子を設け、 前記スイツチング回路のスイツチング素子は
   PUTとトランジスタとで構成し、このPUTのゲ
   ートに挿入したスイツチング素子検出レベル設定
   回路の温度補償素子と並列に常温におけるこの温
   度補償素子の抵抗値より大きい抵抗素子を接続す
   るとともに前記時定数回路の温度補償素子と並列
   に常温におけるこの温度補償素子の抵抗値より大
   きい抵抗素子を接続したことを特徴とする焙焼器
   のタイマ装置。