JPH035943B2 - - Google Patents
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- JPH035943B2 JPH035943B2 JP58035589A JP3558983A JPH035943B2 JP H035943 B2 JPH035943 B2 JP H035943B2 JP 58035589 A JP58035589 A JP 58035589A JP 3558983 A JP3558983 A JP 3558983A JP H035943 B2 JPH035943 B2 JP H035943B2
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- Japan
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- displacement
- circuit
- calculation
- sampling
- displacement vector
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- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 43
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 18
- 241001422033 Thestylus Species 0.000 claims description 10
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 7
- 239000000700 radioactive tracer Substances 0.000 claims description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 2
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23Q—DETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
- B23Q35/00—Control systems or devices for copying directly from a pattern or a master model; Devices for use in copying manually
- B23Q35/04—Control systems or devices for copying directly from a pattern or a master model; Devices for use in copying manually using a feeler or the like travelling along the outline of the pattern, model or drawing; Feelers, patterns, or models therefor
- B23Q35/08—Means for transforming movement of the feeler or the like into feed movement of tool or work
- B23Q35/12—Means for transforming movement of the feeler or the like into feed movement of tool or work involving electrical means
- B23Q35/121—Means for transforming movement of the feeler or the like into feed movement of tool or work involving electrical means using mechanical sensing
- B23Q35/123—Means for transforming movement of the feeler or the like into feed movement of tool or work involving electrical means using mechanical sensing the feeler varying the impedance in a circuit
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Machine Tool Copy Controls (AREA)
- Numerical Control (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明はモデル表面を追跡するトレーサヘツド
からの変位信号に基づいて倣い制御を行なう倣い
制御装置の改良に関し、更に詳細にはコーナ部等
のモデル形状の急変点に於けるカツタの喰込みを
減少させることができる倣い制御装置に関するも
のである。
からの変位信号に基づいて倣い制御を行なう倣い
制御装置の改良に関し、更に詳細にはコーナ部等
のモデル形状の急変点に於けるカツタの喰込みを
減少させることができる倣い制御装置に関するも
のである。
従来技術と問題点
倣い加工に於いては、コーナ部等のモデル形状
の急変点を他の部分と同一速度で倣つたのでは、
カツタの喰込みが生じ、加工精度が悪化する。そ
こで、従来は絶縁性のモデルの形状急変点近傍に
電位線をはり、金属製のスタイラスと電位線とが
接触して閉回路が形成された時、減速制御を行な
うことにより、モデル形状の急変点に於ける加工
精度の悪化を防止するようにしている。
の急変点を他の部分と同一速度で倣つたのでは、
カツタの喰込みが生じ、加工精度が悪化する。そ
こで、従来は絶縁性のモデルの形状急変点近傍に
電位線をはり、金属製のスタイラスと電位線とが
接触して閉回路が形成された時、減速制御を行な
うことにより、モデル形状の急変点に於ける加工
精度の悪化を防止するようにしている。
しかし、上述した従来例はモデルに電位線をは
る必要がある為、次のような欠点があつた。
る必要がある為、次のような欠点があつた。
(1) 電位線に厚さがある為、電位線がはられてい
る部分を正確に倣うことができない。
る部分を正確に倣うことができない。
(2) 電位線をはることにより、モデルを疵つける
惧れがある。
惧れがある。
(3) 接触不良により、正確な減速制御を行なうこ
とができない惧れがある。
とができない惧れがある。
また、この他にも、メモリに減速領域を示すデ
ータを記憶させておき、該データとX,Y,Z軸
方向の位置検出器の演算結果とに基づいて減速制
御を行なうと言うことも提案されているが、異な
る形状のモデルを加工する毎に、メモリに新たな
減速領域を示すデータを記憶させなければなら
ず、操作が面倒なものとなる欠点があつた。
ータを記憶させておき、該データとX,Y,Z軸
方向の位置検出器の演算結果とに基づいて減速制
御を行なうと言うことも提案されているが、異な
る形状のモデルを加工する毎に、メモリに新たな
減速領域を示すデータを記憶させなければなら
ず、操作が面倒なものとなる欠点があつた。
発明の目的
本発明は前述の如き欠点を改善したものであ
り、その目的はモデル形状の急変点に於いて容易
に減速制御を実行できるようにすることにある。
以下実施例について詳細に説明する。
り、その目的はモデル形状の急変点に於いて容易
に減速制御を実行できるようにすることにある。
以下実施例について詳細に説明する。
発明の実施例
第1図は本発明の実施例のブロツク線図であ
り、1はスタイラス、2はトレーサヘツド、3は
変位合成回路、4は割出回路、5は加算器、6,
7は速度成分演算回路、8は分配回路、9はゲー
ト回路、10X〜10Zは増幅器、11X〜11
ZはそれぞれワークとモデルとをX,Y,Z軸方
向に相対的に移動させモータ、12,12X〜1
2Zはサンプリング回路、13,13X〜13Z
は遅延回路、14,14X〜14Zは乗算器、1
5は加算器、16は除算器、17は演算回路、1
8は比較器、19は基準レベル発生器である。
り、1はスタイラス、2はトレーサヘツド、3は
変位合成回路、4は割出回路、5は加算器、6,
7は速度成分演算回路、8は分配回路、9はゲー
ト回路、10X〜10Zは増幅器、11X〜11
ZはそれぞれワークとモデルとをX,Y,Z軸方
向に相対的に移動させモータ、12,12X〜1
2Zはサンプリング回路、13,13X〜13Z
は遅延回路、14,14X〜14Zは乗算器、1
5は加算器、16は除算器、17は演算回路、1
8は比較器、19は基準レベル発生器である。
モデルにスタイラス1が接触してモータによる
送りが行なわれ、スタイラス1の変位に応じた変
位信号εX,εY,εZがトレーサヘツド2から出力さ
れる。この変位信号εX,εY,εZに基づいて変位合
成回路3では合成変位信号ε=√2 X+2 Y+2 Zを作
成し、割出回路4では変位方向信号sinα,cosα
を作成する。合成変位信号εは加算器5に加えら
れて基準変位信号ε0との差Δεが求められ、速度
演算回路6,7に於いて法線方向速度VN、接線
方向速度VTが求められ、分配回路8に於いて変
位方向信号sinα,cosαに基づいて方向成分の指
令速度信号を作成し、ゲート回路9で選択された
増幅器に方向成分の指令速度信号が加えられ、そ
の増幅出力によつてモータが駆動され、カツタ
(図示せず)とスタイラス1との一体的な送りが
行なわれる。尚、上述の如き動作は良く知られて
いるものであるので、更に詳細な説明は省略す
る。
送りが行なわれ、スタイラス1の変位に応じた変
位信号εX,εY,εZがトレーサヘツド2から出力さ
れる。この変位信号εX,εY,εZに基づいて変位合
成回路3では合成変位信号ε=√2 X+2 Y+2 Zを作
成し、割出回路4では変位方向信号sinα,cosα
を作成する。合成変位信号εは加算器5に加えら
れて基準変位信号ε0との差Δεが求められ、速度
演算回路6,7に於いて法線方向速度VN、接線
方向速度VTが求められ、分配回路8に於いて変
位方向信号sinα,cosαに基づいて方向成分の指
令速度信号を作成し、ゲート回路9で選択された
増幅器に方向成分の指令速度信号が加えられ、そ
の増幅出力によつてモータが駆動され、カツタ
(図示せず)とスタイラス1との一体的な送りが
行なわれる。尚、上述の如き動作は良く知られて
いるものであるので、更に詳細な説明は省略す
る。
サンプリング回路12,12X〜12Zは、一
定時間t毎に同一タイミングで、それぞれ合成変
位信号ε及びX,Y,Z軸方向の変位信号εX,
εY,εZをサンプリングし、サンプル値を遅延回路
13,13X〜13Z及び乗算回路14,14X
〜14Zに加え、遅延回路13,13X〜13Z
はそれぞれサンプリング回路12,12X〜12
Zからのサンプル値を1サンプリング時間(時間
t)だけ遅延させ乗算器14,14X〜14Zに
加えるものである。従つて、乗算器14は合成変
位信号εの今回のサンプル値εNと前回のサンプル
値εN-1との乗算を行ない、乗算器14X〜14Z
はそれぞれX,Y,Z軸方向の変位信号εX,εY,
εZの今回のサンプル値εXN,εYN,εZNと前回のサン
プル値εX(N-1),εY(N-1),εZ(N-1)との乗算を行なう
こ
とになる。加算器15は次式1に示す演算を行な
い、乗算器14X〜14Zの乗算結果をそれぞれ
加算する。
定時間t毎に同一タイミングで、それぞれ合成変
位信号ε及びX,Y,Z軸方向の変位信号εX,
εY,εZをサンプリングし、サンプル値を遅延回路
13,13X〜13Z及び乗算回路14,14X
〜14Zに加え、遅延回路13,13X〜13Z
はそれぞれサンプリング回路12,12X〜12
Zからのサンプル値を1サンプリング時間(時間
t)だけ遅延させ乗算器14,14X〜14Zに
加えるものである。従つて、乗算器14は合成変
位信号εの今回のサンプル値εNと前回のサンプル
値εN-1との乗算を行ない、乗算器14X〜14Z
はそれぞれX,Y,Z軸方向の変位信号εX,εY,
εZの今回のサンプル値εXN,εYN,εZNと前回のサン
プル値εX(N-1),εY(N-1),εZ(N-1)との乗算を行なう
こ
とになる。加算器15は次式1に示す演算を行な
い、乗算器14X〜14Zの乗算結果をそれぞれ
加算する。
εXN・εX(N-1)
+εYN・εY(N-1)+εZN・εZ(N-1) …(1)
除算器16は式(1)に示した加算器15の加算結
果と乗算器14の乗算結果とに基づいて次式(2)に
示す演算を行ない、除算結果を演算回路17に加
える。
果と乗算器14の乗算結果とに基づいて次式(2)に
示す演算を行ない、除算結果を演算回路17に加
える。
εXN・εX(N-1)+εYN・εY(N-1)+εZN・εZ(N-1)/
εN・εN-1…(2) ところで、今回のサンプリング時に於けるスタ
イラス1の変位ベクトル及び前回のサンプリング
時に於けるスタイラス1の変位ベクトルがそれぞ
れ第2図に示すようにε→N,ε→N-1であるとする
と、サンプリング回路12から出力される今回の
合成変位のサンプル値εNは変位ベクトルε→Nの大
きさ(|εN|)に対応し、遅延回路13から出力
される前回の合成変位のサンプル値ε→N-1は変位
ベクトルε→N-1の大きさ(|ε→N-1|)に対応する
ことになる。また、サンプリング回路12X〜1
2Zから出力される今回のサンプル値εXN,εYN,
εZNはそれぞれ変位ベクトルε→NのX,Y,Z成分
に対応し、遅延回路13X〜13Yから出力され
る前回のサンプル値ε→X(N-1),εY(N-1),εZ(N-1)は
そ
れぞれ変位ベクトルε→N-1のX,Y,Z成分に対
応したものとなる。従つて、変位ベクトルε→Nと
変位ベクトルε→N-1との内積は次式(3)で表わすこ
とができる。
εN・εN-1…(2) ところで、今回のサンプリング時に於けるスタ
イラス1の変位ベクトル及び前回のサンプリング
時に於けるスタイラス1の変位ベクトルがそれぞ
れ第2図に示すようにε→N,ε→N-1であるとする
と、サンプリング回路12から出力される今回の
合成変位のサンプル値εNは変位ベクトルε→Nの大
きさ(|εN|)に対応し、遅延回路13から出力
される前回の合成変位のサンプル値ε→N-1は変位
ベクトルε→N-1の大きさ(|ε→N-1|)に対応する
ことになる。また、サンプリング回路12X〜1
2Zから出力される今回のサンプル値εXN,εYN,
εZNはそれぞれ変位ベクトルε→NのX,Y,Z成分
に対応し、遅延回路13X〜13Yから出力され
る前回のサンプル値ε→X(N-1),εY(N-1),εZ(N-1)は
そ
れぞれ変位ベクトルε→N-1のX,Y,Z成分に対
応したものとなる。従つて、変位ベクトルε→Nと
変位ベクトルε→N-1との内積は次式(3)で表わすこ
とができる。
ε→N・ε→N-1=εN・εN-1・cosθ
=εXN・εX(N-1)+εYN・εY(N-1)+εZN・εZ(N-
1)…(3) 但し、θは変位ベクトルε→Nと変位ベクトルε→N
−1との成す角である。
1)…(3) 但し、θは変位ベクトルε→Nと変位ベクトルε→N
−1との成す角である。
また、式(3)を変形することにより次式(4)を得る
ことができる。
ことができる。
cosθ=εXN・εX(N-1)+εYN・εY(N-1)+εZN・εZ(N
-1)/εN・εN-1 …(4) 従つて、式(2),(4)を比較して判るように、除算
器16の除算結果は変位ベクトルε→Nと変位ベク
トルε→N-1との成す角の余弦cosθを示すことにな
る。
-1)/εN・εN-1 …(4) 従つて、式(2),(4)を比較して判るように、除算
器16の除算結果は変位ベクトルε→Nと変位ベク
トルε→N-1との成す角の余弦cosθを示すことにな
る。
演算回路17は式(2)に示した除算器16の除算
結果に基づいて次式(5)に示す演算を行ない、変位
ベクトルε→Nと変位ベクトルε→Nとの成す角θを求
める。
結果に基づいて次式(5)に示す演算を行ない、変位
ベクトルε→Nと変位ベクトルε→Nとの成す角θを求
める。
θ=cos-1=(εXN・εX(N-1)+εYN・εY
(N-1)+εZN・εZ(N-1)/εN・εN-1)……(5) 比較器18は演算回路17の演算結果と基準レ
ベル発生器19からの基準レベルとを比較し、演
算回路17の演算結果の方が大きい場合、減速指
令信号aを“1”とし、送り速度を減速させるも
のである。即ち、今回のサンプリング時に於ける
スタイラス1の変位ベクトルε→Nと前回のサンプ
リング時に於けるスタイラス1の変位ベクトルε→
N−1との成す角θが一定値以上となつた場合、モ
デル形状の急変点であると判断して減速指令信号
aを“1”とし、送り速度を減速させるものであ
る。
(N-1)+εZN・εZ(N-1)/εN・εN-1)……(5) 比較器18は演算回路17の演算結果と基準レ
ベル発生器19からの基準レベルとを比較し、演
算回路17の演算結果の方が大きい場合、減速指
令信号aを“1”とし、送り速度を減速させるも
のである。即ち、今回のサンプリング時に於ける
スタイラス1の変位ベクトルε→Nと前回のサンプ
リング時に於けるスタイラス1の変位ベクトルε→
N−1との成す角θが一定値以上となつた場合、モ
デル形状の急変点であると判断して減速指令信号
aを“1”とし、送り速度を減速させるものであ
る。
尚、実施例に於いては演算回路17の演算結果
に基づいて、送り速度を減速させるか否かを制御
するようにしたが、演算結果の単位時間当りの変
化量に基づいて、減速制御を行なうか否かを制御
するようにしても良いことは勿論である。
に基づいて、送り速度を減速させるか否かを制御
するようにしたが、演算結果の単位時間当りの変
化量に基づいて、減速制御を行なうか否かを制御
するようにしても良いことは勿論である。
発明の効果
以上説明したように、本発明はX,Y,Z軸方
向の変位信号及び合成変位信号をそれぞれサンプ
リングするサンプリング回路、該サンプリング回
路のサンプル値に基づいて前回のサンプリング時
に於けるスタイラスの変位ベクトルと今回のサン
プリング時に於けるスタイラスの変位ベクトルと
の成す角を演算する遅延回路13,13X〜13
Z、乗算器14,14X〜14Z、加算器15、
除算器16、演算回路17等から成る演算手段、
該演算手段の演算結果に基づいて送り速度を減速
させるか否かを制御する比較器18、基準レベル
発生器19等から成る制御手段を備えているもの
であるから、コーナ部等のモデル形状急変点に於
いて減速制御を容易に行なうことができる利点が
ある。
向の変位信号及び合成変位信号をそれぞれサンプ
リングするサンプリング回路、該サンプリング回
路のサンプル値に基づいて前回のサンプリング時
に於けるスタイラスの変位ベクトルと今回のサン
プリング時に於けるスタイラスの変位ベクトルと
の成す角を演算する遅延回路13,13X〜13
Z、乗算器14,14X〜14Z、加算器15、
除算器16、演算回路17等から成る演算手段、
該演算手段の演算結果に基づいて送り速度を減速
させるか否かを制御する比較器18、基準レベル
発生器19等から成る制御手段を備えているもの
であるから、コーナ部等のモデル形状急変点に於
いて減速制御を容易に行なうことができる利点が
ある。
第1図は本発明の実施例のブロツク線図、第2
図はスタイラスの変位方向を示すベクトル図であ
る。 1はスタイラス、2はトレーサヘツド、3は変
位合成回路、4は割出回路、5,15は加算器、
6,7は速度成分演算回路、8は分配回路、9は
ゲート回路、10X〜10Zは増幅器、11X〜
11Zはモータ、12,12X〜12Zはサンプ
リング回路、13,13X〜13Zは遅延回路、
14,14X〜14Zは乗算器、16は除算器、
17は演算回路、18は比較器、19は基準レベ
ル発生器である。
図はスタイラスの変位方向を示すベクトル図であ
る。 1はスタイラス、2はトレーサヘツド、3は変
位合成回路、4は割出回路、5,15は加算器、
6,7は速度成分演算回路、8は分配回路、9は
ゲート回路、10X〜10Zは増幅器、11X〜
11Zはモータ、12,12X〜12Zはサンプ
リング回路、13,13X〜13Zは遅延回路、
14,14X〜14Zは乗算器、16は除算器、
17は演算回路、18は比較器、19は基準レベ
ル発生器である。
Claims (1)
- 1 モデル表面を追跡するトレーサヘツドから出
力されるX,Y,Z軸方向の変位信号εX,εY,εZ
に基づいて倣い制御を行なう倣い制御装置に於い
て、前記変位信号εX,εY,εZ及び合成変位信号√
ε2 X+ε2 Y+ε2 Zをそれぞれ一定時間毎にサンプリング
するサンプリング回路、該サンプリング回路の今
回のサンプリング値と前回のサンプル値とに基づ
いて、今回のサンプリング時に於けるスタイラス
の変位ベクトルと前回のサンプリング時に於ける
スタイラスの変位ベクトルとの成す角を演算する
演算手段、及び該演算手段の演算結果に基づいて
前記トレーサヘツドとワークとの相対的な送り速
度を減速させるか否かを制御する制御手段を備え
たことを特徴とする倣い制御装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58035589A JPS59161252A (ja) | 1983-03-04 | 1983-03-04 | 倣い制御装置 |
DE8484900891T DE3478796D1 (en) | 1983-03-04 | 1984-02-28 | Apparatus for controlling profiling |
US06/673,747 US4646225A (en) | 1983-03-04 | 1984-02-28 | Adaptive feed rate controller for tracer head |
EP84900891A EP0139011B1 (en) | 1983-03-04 | 1984-02-28 | Apparatus for controlling profiling |
PCT/JP1984/000072 WO1984003466A1 (en) | 1983-03-04 | 1984-02-28 | Apparatus for controlling profiling |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58035589A JPS59161252A (ja) | 1983-03-04 | 1983-03-04 | 倣い制御装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59161252A JPS59161252A (ja) | 1984-09-12 |
JPH035943B2 true JPH035943B2 (ja) | 1991-01-28 |
Family
ID=12445969
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58035589A Granted JPS59161252A (ja) | 1983-03-04 | 1983-03-04 | 倣い制御装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4646225A (ja) |
EP (1) | EP0139011B1 (ja) |
JP (1) | JPS59161252A (ja) |
DE (1) | DE3478796D1 (ja) |
WO (1) | WO1984003466A1 (ja) |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61100350A (ja) * | 1984-10-18 | 1986-05-19 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 倣い制御装置 |
JPS61241039A (ja) * | 1985-04-16 | 1986-10-27 | Nippei Toyama Corp | クランプ確認装置 |
JPS6224947A (ja) * | 1985-07-22 | 1987-02-02 | Fanuc Ltd | ならい制御装置 |
CH668210A5 (de) * | 1985-09-12 | 1988-12-15 | Starrfraesmaschinen Ag | Verfahren und kopiereinrichtung zur digitalen steuerung einer werkzeugmaschine. |
JPH01115549A (ja) * | 1987-10-30 | 1989-05-08 | Fanuc Ltd | 倣い制御方式 |
JP2752379B2 (ja) * | 1988-07-08 | 1998-05-18 | ファナック株式会社 | デジタイジング方法 |
JPH0830973B2 (ja) * | 1989-01-26 | 1996-03-27 | オ−クマ株式会社 | 数値制御装置における工具送り速度補正方法及びその装置 |
US5115509A (en) * | 1989-02-14 | 1992-05-19 | Honeywell Inc. | System for predetermining numerical value as a result of non-linear accumulation of detent signal rotational rates of a selector switch with preestablished sampling time periods |
US5283509A (en) * | 1989-04-12 | 1994-02-01 | Fanuc Ltd. | Tracing control system |
JPH0355148A (ja) * | 1989-07-25 | 1991-03-08 | Fanuc Ltd | ならい制御方法 |
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