JPH0352043Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0352043Y2 JPH0352043Y2 JP16006581U JP16006581U JPH0352043Y2 JP H0352043 Y2 JPH0352043 Y2 JP H0352043Y2 JP 16006581 U JP16006581 U JP 16006581U JP 16006581 U JP16006581 U JP 16006581U JP H0352043 Y2 JPH0352043 Y2 JP H0352043Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- converter
- output
- terminal
- signal
- circuit block
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は出力調整付デイジタル−アナログ
(D/A)コンバータを内蔵する集積回路に関す
る。
(D/A)コンバータを内蔵する集積回路に関す
る。
従来の電流ミラー型D/Aコンバータは電流出
力調整端子をもつていたが、ピン数の制限よりそ
の端子を集積回路の端子にすることはできなかつ
た。そのため出力調整ができないという欠点があ
つた。また集積回路のピン数を多くしてもよい
が、その場合は例えば28ピンのパツケージにギ
リギリいつぱいにおさまるところが1ピン増加す
る事によつて29ピンとなつてしまい、標準のパ
ツケージに入れるためには40ピンという大型の
パツケージを使用しなければならない。これによ
つてパツケージのピン数が28ピンから40ピン
へ大きくなるとコストが大きく上昇するという欠
点があつた。
力調整端子をもつていたが、ピン数の制限よりそ
の端子を集積回路の端子にすることはできなかつ
た。そのため出力調整ができないという欠点があ
つた。また集積回路のピン数を多くしてもよい
が、その場合は例えば28ピンのパツケージにギ
リギリいつぱいにおさまるところが1ピン増加す
る事によつて29ピンとなつてしまい、標準のパ
ツケージに入れるためには40ピンという大型の
パツケージを使用しなければならない。これによ
つてパツケージのピン数が28ピンから40ピン
へ大きくなるとコストが大きく上昇するという欠
点があつた。
本考案は上記の欠点を排除するもので、集積回
路のパツケージのピン数を増加させずにD/Aコ
ンバータの最大出力の出力調整を可能にすること
を目的とするものである。
路のパツケージのピン数を増加させずにD/Aコ
ンバータの最大出力の出力調整を可能にすること
を目的とするものである。
本考案は最大出力の出力調整用端子を集積回路
をテストするために設けてあるテスト端子と共用
させることによつてピン数の増加なしで最大出力
の可変をすることができる集積回路をローコスト
で提供できる。上記端子にはテスト信号受信回路
が接続され、同回路は上記端子に電源電圧を越え
る電圧が印加されたことを検出して内部をテスト
モードとする。上記端子には、さらに、電源電圧
を越えない調整信号に応答してD/Aコンバータ
の最大出力を調整する手段も接続されている。第
1図は本考案の一実施例で、1は出力調整端子兼
用テスト端子、2は電源VDDレべルより高いレべ
ルであるところにスレツシユホールドを持つテス
ト信号受信用入力バツフア、3はIC9のD/A
コンバータ以外のブロツク、4は電流ミラー型の
両極性D/Aコンバータ、5は電流ミラー型の両
極性D/Aコンバータのレフアレンス電流を可変
する抵抗、6と7はD/Aコンバータの出力端
子、8は3からのD/Aコンバータへの出力信
号、9はD/Aコンバータを含むIC,10は
D/Aコンバータの負荷である。電源の一端の
VDDより可変抵抗5を通して電流ミラー型のD/
Aコンバータ4に流れる電流iがD/Aコンバー
タ4の基準電流となり、電流ミラー型D/Aコン
バータ4の出力電流はほぼiに比例する。従つて
可変抵抗5を変化させることによつてD/Aコン
バータ4の出力電流は変化するので負荷10に対
して出力調整ができる。
をテストするために設けてあるテスト端子と共用
させることによつてピン数の増加なしで最大出力
の可変をすることができる集積回路をローコスト
で提供できる。上記端子にはテスト信号受信回路
が接続され、同回路は上記端子に電源電圧を越え
る電圧が印加されたことを検出して内部をテスト
モードとする。上記端子には、さらに、電源電圧
を越えない調整信号に応答してD/Aコンバータ
の最大出力を調整する手段も接続されている。第
1図は本考案の一実施例で、1は出力調整端子兼
用テスト端子、2は電源VDDレべルより高いレべ
ルであるところにスレツシユホールドを持つテス
ト信号受信用入力バツフア、3はIC9のD/A
コンバータ以外のブロツク、4は電流ミラー型の
両極性D/Aコンバータ、5は電流ミラー型の両
極性D/Aコンバータのレフアレンス電流を可変
する抵抗、6と7はD/Aコンバータの出力端
子、8は3からのD/Aコンバータへの出力信
号、9はD/Aコンバータを含むIC,10は
D/Aコンバータの負荷である。電源の一端の
VDDより可変抵抗5を通して電流ミラー型のD/
Aコンバータ4に流れる電流iがD/Aコンバー
タ4の基準電流となり、電流ミラー型D/Aコン
バータ4の出力電流はほぼiに比例する。従つて
可変抵抗5を変化させることによつてD/Aコン
バータ4の出力電流は変化するので負荷10に対
して出力調整ができる。
第2図のaは端子1の電圧波形を示し、第2図
のbは入力バツフア2の出力を示す。実装モード
では、可変抵抗5を0Ωにしても1の電圧はVDDレ
ベルまでしか上がらないので入力バツフア2の出
力信号はアクテイブにはならない。IC9をテス
トモードでは可変抵抗5を切り離なし、端子1に
対してVDDよりも大きい電圧を印加することによ
つて入力バツフア2の出力がアクテイブとなり、
テスト状態となり、ブロツク3をテストするモー
ドとなる。よつて本考案によつてピンの数を増加
させずにD/Aコンバータの出力を可変させる事
ができるという大きな利点がある。D/Aコンバ
ータが単極性出力の場合はD/Aコンバータ出力
端子は1個でよい。
のbは入力バツフア2の出力を示す。実装モード
では、可変抵抗5を0Ωにしても1の電圧はVDDレ
ベルまでしか上がらないので入力バツフア2の出
力信号はアクテイブにはならない。IC9をテス
トモードでは可変抵抗5を切り離なし、端子1に
対してVDDよりも大きい電圧を印加することによ
つて入力バツフア2の出力がアクテイブとなり、
テスト状態となり、ブロツク3をテストするモー
ドとなる。よつて本考案によつてピンの数を増加
させずにD/Aコンバータの出力を可変させる事
ができるという大きな利点がある。D/Aコンバ
ータが単極性出力の場合はD/Aコンバータ出力
端子は1個でよい。
第1図は本考案の一実施例を示す図、第2図は
第1図の動作を説明する図である。 1……出力調整端子兼用のテスト端子、2……
テスト信号受信用入力バツフア、3……D/Aコ
ンバータ以外のブロツク、4……電流ミラー型両
極性D/Aコンバータ、5……可変抵抗、6,7
……D/Aコンバータ出力端子、8……D/Aコ
ンバータのデータ入力信号、9……D/Aコンバ
ータを含むIC、10……D/Aコンバータの負
荷。
第1図の動作を説明する図である。 1……出力調整端子兼用のテスト端子、2……
テスト信号受信用入力バツフア、3……D/Aコ
ンバータ以外のブロツク、4……電流ミラー型両
極性D/Aコンバータ、5……可変抵抗、6,7
……D/Aコンバータ出力端子、8……D/Aコ
ンバータのデータ入力信号、9……D/Aコンバ
ータを含むIC、10……D/Aコンバータの負
荷。
Claims (1)
- 最大出力調整機能を有するD/Aコンバータと
このD/Aコンバータへのデータ入力信号を生成
する機能を含む回路ブロツクとを有する集積回路
において、前記D/Aコンバータへの出力調整信
号を入力する端子と前記回路ブロツクをテストモ
ードにする信号を入力する端子とを共通端子と
し、電源電圧レベルより高いレべルの電圧が前記
共通端子に印加された時のみアクテイブとなり前
記回路ブロツクをテストモードにする出力信号を
発生する入力バツフアを介して前記共通端子と前
記回路ブロツクとを接続し、前記共通端子へ入力
される前記出力調整信号は電源電圧が可変抵抗を
介しあたえられるものであり、前記可変抵抗によ
つて調整された出力信号が前記D/Aコンバータ
から出力されるようにしたことを特徴とする集積
回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16006581U JPS5866642U (ja) | 1981-10-27 | 1981-10-27 | 集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16006581U JPS5866642U (ja) | 1981-10-27 | 1981-10-27 | 集積回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5866642U JPS5866642U (ja) | 1983-05-06 |
JPH0352043Y2 true JPH0352043Y2 (ja) | 1991-11-11 |
Family
ID=29952495
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16006581U Granted JPS5866642U (ja) | 1981-10-27 | 1981-10-27 | 集積回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5866642U (ja) |
-
1981
- 1981-10-27 JP JP16006581U patent/JPS5866642U/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5866642U (ja) | 1983-05-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0352043Y2 (ja) | ||
US4081696A (en) | Current squaring circuit | |
JPH0287810A (ja) | 差動増幅回路 | |
JP2794786B2 (ja) | デジタル―アナログ変換回路 | |
JPS632888Y2 (ja) | ||
JPS5850768A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
US4340865A (en) | Electric amplifier circuits that respond to an input signal of either polarity to produce an output signal having a polarity corresponding to that of the input signal | |
JP2908123B2 (ja) | 半導体装置 | |
JPS6118457Y2 (ja) | ||
JP2728430B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
JPH079106Y2 (ja) | I/oスイッチ回路 | |
JPH04440Y2 (ja) | ||
JPH0139014Y2 (ja) | ||
JPH0117334B2 (ja) | ||
JPS5950656A (ja) | 電流供給回路 | |
JPS63288507A (ja) | 振幅制限増幅回路 | |
JPS60134506A (ja) | 差動増幅器 | |
JPS5812420A (ja) | フリツプフロツプ | |
JPH04172820A (ja) | 差動回路 | |
JPS61224446A (ja) | 半導体集積回路 | |
JPH05103460A (ja) | 半導体集積回路 | |
JPH05110365A (ja) | 定電流パルス発生回路 | |
JPH0618303B2 (ja) | 電流制限回路 | |
JPS63101766A (ja) | 電圧比較回路 | |
JPS61144916A (ja) | 半導体回路装置 |