JPH0341920B2 - - Google Patents

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JPH0341920B2
JPH0341920B2 JP60123560A JP12356085A JPH0341920B2 JP H0341920 B2 JPH0341920 B2 JP H0341920B2 JP 60123560 A JP60123560 A JP 60123560A JP 12356085 A JP12356085 A JP 12356085A JP H0341920 B2 JPH0341920 B2 JP H0341920B2
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JP
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memory circuit
potential point
mos transistor
power supply
reset
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
    • H03K3/356Bistable circuits
    • H03K3/356086Bistable circuits with additional means for controlling the main nodes
    • H03K3/356095Bistable circuits with additional means for controlling the main nodes with synchronous operation
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    • H03K3/356Bistable circuits
    • H03K3/356017Bistable circuits using additional transistors in the input circuit
    • H03K3/356052Bistable circuits using additional transistors in the input circuit using pass gates
    • H03K3/35606Bistable circuits using additional transistors in the input circuit using pass gates with synchronous operation

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  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明はリセツトあるいはセツト付記憶回路
を有した半導体集積回路に関するものである。
〔従来の技術〕
第5図はこの種従来のリセツトあるいはセツト
付記憶回路であり。図において1は内部回路(図
示せず)からのデータを伝達するデータ入力信号
線、2はデータを内部回路あるいは外部回路(図
示せず)へ伝達するデータ出力信号線、3はセツ
トあるいはリセツトの制御データを伝達するリセ
ツトあるいはセツト入力信号線、4はこれらデー
タ入力信号線、データ出力信号線及びリセツトあ
るいはセツト入力信号線にそれぞれ接続される入
力端、出力端及びリセツトあるいはセツト入力端
を有する記憶回路で、ラツチ回路あるいはフリツ
プフロツプ回路等の論理値「1」及び「0」を記
憶内容とする記憶回路である。
次に、この様に構成されたリセツトあるいはセ
ツト付記憶回路の動作について説明する。記憶回
路4の通常動作時には、データ入力信号線1に伝
達されたデータが入力端4aに入力され、この入
力されたデータに応じて記憶回路4の出力端4b
からデータが出力され、データ出力信号線2にデ
ータが伝達される。
そして、この記憶回路4の記憶内容がリセツト
あるいはセツトされる場合には、リセツトあるい
はセツト入力信号線3にリセツトあるいはセツト
の制御データが現われ、リセツトあるいはセツト
入力端4cに入力されて記憶回路4の記憶内容が
リセツトあるいはセツトされるものである。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかるに、上記の様に構成されたリセツトある
いはセツト付記憶回路にあつては、記憶回路4の
記憶内容をリセツトあるいはセツトするために、
リセツトあるいはセツト入力信号線3を集積回路
内に布線する必要があるとともにリセツトあるい
はセツトの制御データを入力するための専用のピ
ンを必要とし、高集積化の阻害要因となつていた
ものである。
この発明は上記した点に鑑みてなされたもので
あり、リセツトあるいはセツトのための専用の信
号線及びピンを必要としないリセツトあるいはセ
ツト付記憶回路を得ることを目的とするものであ
る。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明に係るリセツトあるいはセツト付記憶
回路を有した半導体集積回路は、一方の主電極が
記憶回路の入力端に接続されるとともに、他方の
主電極あるいはゲート電極の少なくとも一方が、
記憶回路が接続される電源電位点に接続され、記
憶回路が通常動作時の電源電位点の電位よりも高
いしきい値電圧を有するMOSトランジスタを設
けたものである。
〔作用〕
この発明においては、MOSトランジスタが記
憶回路が接続されている電源電位点の通常時の電
位より高いしきい値を有しているので、通常時は
非導通状態になつており、何ら記憶回路に影響を
及ぼさず、電源電位点の電位を通常時の電位より
高くすると、導通状態になつて記憶回路の入力端
をプルダウンあるいはプルアツプして、記憶回路
の記憶内容をリセツトあるいはセツトさせるもの
である。
なお、MOSトランジスタ5の基板は接地電位
点6に接続されている。
〔実施例〕
以下にこの発明の一実施例を第1図に基づいて
説明すると、図において5は記憶回路4の入力端
4aと接地電位点6との間に接続されるとともに
ゲート電極が記憶回路4が接続される電源電位点
7に接続され、基板が接地電位点6に接続される
Nチヤンネル型MOSトランジスタで、記憶回路
4が通常動作時の電源電位点7の電位よりも高い
しきい値電圧を有するものである。
次に、この様に構成されたリセツト付記憶回路
の動作について説明する。記憶回路4の通常動作
時には、電源電位点7に通常電位、例えば5V、
が供給される。
この時、MOSトランジスタ5のしきい値が上
記通常電位以上であるため非導通状態にあり、デ
ータ入力信号線1及び記憶回路4の入力端4aに
は何ら影響を及ぼさない。
従つて、データ入力信号線1に伝達されたデー
タが入力端4aに入力され、この入力されたデー
タに応じて記憶回路4の出力端4bからデータが
伝達される。
そして、この記憶回路4をリセツトする場合に
は電源電位点7の電位を上記通常電位より高い電
位、つまりMOSトランジスタ5のしきい値電圧
より高い電位にすると、MOSトランジスタ5は
導通状態になり、記憶回路4の入力端4aの電位
が接地電位点6の電位にプルダウンされるため記
憶回路4の記憶内容がリセツト、つまり記憶内容
が論理的に「0」にされる。
この様に構成されたセツト付記憶回路にあつて
は、記憶回路4を駆動する電位を供給する電源電
位点7の電位を通常動作時の電位より高くするだ
けで、記憶回路4のリセツトが行なわれるもので
あるから、リセツト信号を伝達するためのリセツ
ト入力信号線を布線する必要がなく、かつリセツ
ト専用のピンをも必要としないものである。
第2図はこの発明の他の実施例を示すものであ
り、通常電位より高いしきい値を有するNチヤン
ネル型MOSトランジスタ5を、電源電位点7と
記憶回路4の入力端4aとの間に接続し、ゲート
電極を電源電位点7に接続して、記憶回路4の入
力端4aにセツト信号を入力させるようにしたも
のである。なお、MOSトランジスタ5の基板は
接地電位点6に接続されている。
この様に構成されたものにあつても、記憶回路
4の通常動作時にはMOSトランジスタ5が非導
通状態になつて、何ら影響を与えず、記憶回路4
をセツトする場合には、電源電位点7の電位を通
常電位より高くすることにより、MOSトランジ
スタ5が導通状態となつて記憶回路4の入力端4
aの電位を電源電位点7の電位にプルアツプさせ
るため、記憶回路4の記憶内容をセツト、つまり
記憶内容が論理的に「1」にされる。
第3図はこの発明のさらに他の実施例を示すも
のであり、通常電位より高いしきい値を有するN
チヤンネル型MOSトランジスタ5の一方の主電
極が記憶回路4のリセツト入力端子4cに接続さ
れているとともに負荷抵抗8を介して電源電位点
7に接続され、他方の主電極が接地電位点6に接
続され、ゲート電極が電源電位点7に接続され、
基板が電源電位点7に接続されているものであ
る。
なお、MOSトランジスタ5の基板は接地電位
点6に接続されている。
この様に構成されたものにあつても、記憶回路
4の通常動作時にはMOSトランジスタ5が非導
通状態になつて記憶回路4のリセツト入力端子4
cは電源電位点7の電位にプルアツプされている
ため、このMOSトランジスタ5は何ら影響を与
えず、記憶回路4をリセツトする場合には、電源
電位点7の電位を通常電位より高くすることによ
り、MOSトランジスタ5が導通状態となつて、
記憶回路4のリセツト入力端4aの電位を接地電
位点6の電位にプルダウンさせるため、記憶回路
4の記憶内容をリセツトする。
第4図はこの発明のさらに他の実施例を示すも
のであり、通常電位より高いしきい値を有するP
チヤンネル型MOSトランジスタ9を、電源電位
点7と記憶回路4の入力端4aとの間に接続し、
ゲート電極を接地電位点6に接続して、記憶回路
4の入力端4aにセツト信号を入力させるように
したものである。なお、MOSトランジスタ9の
基板は電源電位点7に接続されている。
この様に構成されたものにあつても、記憶回路
4の通常動作時にはMOSトランジスタ9非導通
状態になつて何ら影響を与えず、記憶回路4をセ
ツトする場合には、電源電位点7の電位を通常電
位より高くすることにより、MOSトランジスタ
9が導通状態となつて記憶回路4の入力端4aの
電位を電源電位点7の電位にプルアツプさせるた
め、記憶回路4の記憶内容をセツトされる。
〔発明の効果〕
この発明は以上述べたように、記憶回路の入力
端に一方の主電極が接続されるとともに、他方の
主電極あるいはゲート電極の少なくとも一方が、
記憶回路が接続される電源電位点に接続され、記
憶回路が通常動作時の電源電位点の電位より高い
しきい値電圧を有するMOSトランジスタを設け
て、このMOSトランジスタを電源電位点に通常
電位より高い電位を供給することによつて導通状
態となすようにして記憶回路をリセツトあるいは
セツトさせるようにしたため、記憶回路をリセツ
トあるいはセツトするための配線及びピンが不要
になるという効果を有するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示すブロツク
図、第2図、第3図、第4図はそれぞれこの発明
の他の実施例を示すブロツク図、第5図は従来の
リセツトあるいはセツト付記憶回路を示すブロツ
ク図である。 図において4は記憶回路、5はNチヤンネル
MOSトランジスタ、7は電源電位点、9はPチ
ヤンネルMOSトランジスタ、なお、各図中同一
符号は同一又は相当部分を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 記憶回路、この記憶回路の入力端に一方の主
    電極が接続されるとともに他方の主電極あるいは
    ゲート電極の少なくとも一方が上記記憶回路が接
    続される電源電位点に接続され、上記記憶回路が
    通常動作時の上記電源電位点の電位よりも高いし
    きい値電圧を有するMOSトランジスタを備えた
    リセツトあるいはセツト付記憶回路を有した半導
    体集積回路。 2 MOSトランジスタはNチヤンネル型MOSト
    ランジスタであり、その一方の主電極がデータ入
    力信号線が接続される記憶回路の入力端に接続さ
    れるとともに他方の主電極が接地電位点に接続さ
    れ、ゲート電極が電源電位点に接続されることを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載のリセツト
    付記憶回路を有した半導体集積回路。 3 MOSトランジスタはNチヤンネル型MOSト
    ランジスタであり、その一方の主電極がデータ入
    力信号線が接続される記憶回路の入力端に接続さ
    れるとともに他方の主電極及びゲート電極が電源
    電位点に接続されることを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載のセツト付記憶回路を有した半導
    体集積回路。 4 MOSトランジスタはNチヤンネルMOSトラ
    ンジスタであり、その一方の主電極が記憶回路の
    リセツトあるいは入力端に接続されるとともに電
    源電位点に接続され、他方の主電極が接地電位点
    に接続され、ゲート電極が電源電位点に接続され
    ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
    リセツトあるいはセツト付記憶回路を有した半導
    体集積回路。 5 MOSトランジスタはPチヤンネルトランジ
    スタであり、その一方の主電極がデータ入力信号
    線が接続される記憶回路の入力端に接続されると
    ともに他方の主電極が電源電位点に接続され、ゲ
    ート電極が接地電位点に接続されることを特徴と
    する特許請求の範囲第1項記載のセツト付記憶回
    路を有した半導体集積回路。
JP60123560A 1985-06-06 1985-06-06 リセツトあるいはセツト付記憶回路を有した半導体集積回路 Granted JPS61283092A (ja)

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Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2607955B1 (fr) * 1986-12-05 1989-02-10 Eurotechnique Sa Dispositif d'autosynchronisation des circuits de sortie d'une memoire
JP2549109B2 (ja) * 1987-03-26 1996-10-30 株式会社東芝 半導体回路
JP2621176B2 (ja) * 1987-05-14 1997-06-18 ソニー株式会社 ワンチツプマイクロコンピユータ
JPH077901B2 (ja) * 1988-02-29 1995-01-30 沖電気工業株式会社 フリップフロップ回路
FR2628878B1 (fr) * 1988-03-18 1990-08-17 Radiotechnique Compelec Cellule de memorisation adressable, registre a decalage et memoire comportant de telles cellules
DE3829760A1 (de) * 1988-09-01 1990-03-15 Siemens Ag Taktflankengesteuertes register
JPH0468714A (ja) * 1990-07-04 1992-03-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体集積回路装置
JPH05144273A (ja) * 1991-11-18 1993-06-11 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置
US5373466A (en) * 1992-03-25 1994-12-13 Harris Corporation Flash-clear of ram array using partial reset mechanism
US5280203A (en) * 1992-05-15 1994-01-18 Altera Corporation Look-ahead asynchronous register set/reset in programmable logic device
JPH0729372A (ja) * 1993-07-08 1995-01-31 Nec Ic Microcomput Syst Ltd マルチポート・ランダム・アクセス・メモリ
US5467038A (en) * 1994-02-15 1995-11-14 Hewlett-Packard Company Quick resolving latch
US5805014A (en) * 1996-03-01 1998-09-08 Compaq Computer Corporation System having active pull-down circuit and method
US5764564A (en) * 1997-03-11 1998-06-09 Xilinx, Inc. Write-assisted memory cell and method of operating same
US6128215A (en) 1997-08-19 2000-10-03 Altera Corporation Static random access memory circuits
KR100297715B1 (ko) * 1998-09-01 2001-08-07 윤종용 출력버퍼제어회로및출력제어신호발생방법
US7433224B1 (en) * 2000-01-04 2008-10-07 Advanced Micro Devices, Inc. System and method for forcing an SRAM into a known state during power-up
US6519177B1 (en) * 2001-12-10 2003-02-11 Ami Semiconductor, Inc. Circuits and methods for initializing memory cells
US11695393B2 (en) * 2021-01-29 2023-07-04 Qualcomm Incorporated True single phase clock (TSPC) based latch array

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3753011A (en) * 1972-03-13 1973-08-14 Intel Corp Power supply settable bi-stable circuit
US4255785A (en) * 1978-09-25 1981-03-10 Motorola, Inc. Microprocessor having instruction fetch and execution overlap
US4380055A (en) * 1980-12-24 1983-04-12 Mostek Corporation Static RAM memory cell
JPS5845695A (ja) * 1981-09-10 1983-03-16 Nec Corp 絶縁ゲ−ト型記憶回路
US4460978A (en) * 1981-11-19 1984-07-17 Mostek Corporation Nonvolatile static random access memory cell
FR2517142A1 (fr) * 1981-11-20 1983-05-27 Efcis Bascule bistable a stockage non volatil et a repositionnement statique
FR2517143A1 (fr) * 1981-11-20 1983-05-27 Efcis Bascule bistable a stockage non volatil et a repositionnement dynamique
US4441168A (en) * 1982-01-13 1984-04-03 Sperry Corporation Storage logic/array (SLA) circuit
US4484310A (en) * 1982-03-29 1984-11-20 Texas Instruments Incorporated Static noninverting memory cell for one propagation delay memory circuits
DE3330026A1 (de) * 1983-08-19 1985-02-28 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Integrierte rs-flipflop-schaltung
JPS60151898A (ja) * 1984-01-18 1985-08-09 Nec Corp 不揮発性ランダムアクセスメモリセル

Also Published As

Publication number Publication date
FR2583202A1 (fr) 1986-12-12
US4777623A (en) 1988-10-11
FR2583202B1 (fr) 1991-09-27
DE3618572C2 (ja) 1989-03-02
DE3618572A1 (de) 1986-12-11
JPS61283092A (ja) 1986-12-13

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