JP2549109B2 - 半導体回路 - Google Patents

半導体回路

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Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は半導体回路に関し、特に2つの出力安定状
態を有する半導体回路に関する。
(従来の技術) 2つの出力安定状態を有する半導体回路としては種々
の構成のものが知られているが、その一つとして例えば
第6図に示すような回路がある。この回路は、2個のイ
ンバータI1、I2により構成されるラッチ部と、各ゲート
にセット信号およびリセット信号がそれぞれ供給される
N型MOSトランジスタQ1およびQ2とを備えたR−Sフリ
ップフロップ回路である。
第7図にこのフリップフロップ回路の動作特性を示
す。この図において、曲線L1はQ出力端子の電位を入力
とし出力端子の電位を出力と見た場合のインバータI1
の入出力特性であり、曲線L2はQ出力端子の電位を入力
とし出力端子の電位を出力と見た場合のインバータI2
の入出力特性である。これらの曲線L1とL2との交点a、
bおよびcがそれぞれこのフリップフロップ回路の安定
点となる。交点aは出力端子が論理“0"レベル(0V)
でQ出力端子が“1"レベル(電源電圧VCC)となる状態
であり、交点Cは出力端子が論理“1"レベル(VCC)
でQ出力端子が“0"レベル(0V)となる状態であるが、
交点は出力端子、Q出力端子共に論理的に不定の状態
である。この交点bの電圧値は、フリップフロップ回路
のしきい値電圧(例えば、VCC/2)の値と等しい。この
ように、フリップフロップ回路においては、論理的に不
定の状態が安定点(交点b)として存在する。
したがって、リセット信号が“0"レベルの状態で第8
図(A)に示すような1“1"レベルのセット信号がトラ
ンジスタQ1のゲートに供給される場合には、第8図
(B)に示すようにQ出力端子の電位は“1"レベルとな
るが、ノイズ等の影響で第8図(C)および(E)に示
すような“1"レベルにまで達しない電位がトランジスタ
Q1のゲートに供給された場合には、Q出力端子の電位は
それぞれ第8図(D)および(F)に示すような論理的
に不定の状態になることがある。
すなわち、第6図のフリップフロップのQ出力が論理
“0"(0V)に安定している状態で、論理“1"のセット信
号が入力されると、トランジスタQ1がオンし、その時に
論理“1"(VCC)になっているインバータI1の入力(
出力)が論理“0"方向に引き下げられ始める。これによ
り、インバータI1の入力(出力)が、このフリップフ
ロップのしきい値電圧(VCC/2)よりも低くなると、フ
リップフロップ回路の安定状態が反転され、Q出力が論
理“1"(VCC)、出力が論理“0"(0V)となる。しか
し、もし入力される論理“1"のセット信号の電圧値が十
分ではなく、トランジスタQ1の電流駆動能力ではインバ
ータI1の入力(出力)をフリップフロップのしきい値
電圧であるVCC/2よりも低い値にまで引き下げられなか
った場合には、インバータI1の出力(Q出力)はVCC/2
に安定してしまうことがある。
つまり、第7図に示すフリップフロップの入出力特性
において、交点cから交点aまでへの遷移(論理反転)
が引き起こされず、フリップフロップ回路のQ出力は、
電圧上昇の途中で交点bにとどまってしまうことがあ
る。その理由は、交点bはフリップフロップの安定点の
1つとして存在しているからである。
フリップフロップ回路の後段に接続されている回路の
しきい値電圧がVCC/2の場合には、フリップフロップ回
路のQ出力が交点b(VCC/2)になったときに、その後
段の回路の出力の論理が反転されてしまい、それがノイ
ズとして外部に出力されることになる。
このように、ノイズ等の影響によりQ出力端子の電位
が論理的に不定の状態になってしまった場合には、フリ
ップフロップの後段に設けられる回路の期待しない変動
が生じてこの回路の誤動作を招くことがある。
同様の問題が、Q出力端子が論理1から論理0に変化
する場合においても発生する。
すなわち、第6図のフリップフロップのQ出力が論理
“1"(VCC)に安定している状態で、論理“1"のリセッ
ト信号が入力されると、トランジスタQ2がオンし、その
時に論理“1"(VCC)になっているインバータI2の入力
(Q出力)が論理0方向に引き下げられ始める。これに
より、インバータI2の入力(Q出力)がVCC/2よりも低
くなると、フリップフロップ回路の安定状態が反転さ
れ、出力が論理“1"(VCC)、Q出力が論理“0"(0
V)となる。
しかし、もし入力される論理“1"のリセット信号の電
圧値が十分ではなく、トランジスタQ2の電流駆動能力で
はインバーI2の入力(Q出力)をフリップフロップの回
路しきい値電圧であるVCC/2よりも低い値にまで引き下
げられなかった場合には、インバータI1の出力(Q出
力)はVCC/2に安定してしまうことがある。
つまり、第7図に示すフリップフロップの入出力特性
において、交点aから交点cにまでへの遷移(論理反
転)が引き起こされず、フリップフロップ回路のQ出力
は、電圧低下の途中で交点bにとどまってしまうことが
ある。その理由は、前述したように、交点bはフリップ
フロップの安定点の1つとして存在しているからであ
る。
フリップフロップ回路の後段に接続されている回路の
しきい値電圧がVCC/2の場合には、フリップフロップ回
路のQ出力が交点b(VCC/2)になったときに、その後
段の回路の出力の論理が反転されてしまい、それがノイ
ズとして外部に出力されることになる。
また、仮にフリップフロップ回路の後段に通常の構成
のシュミットトリガ回路を接続したとしても、フリップ
フロップのQ出力がVCC/2に安定してしまった時に発生
する前述の問題を解消することはできない。
すなわち、シュミットトリガ回路はヒステリシス特性
を有することが知られているが、通常、半導体回路にお
いては、シュミットトリガ回路をフリップフロップの後
段に接続した場合には、そのシュミットトリガ回路は、
フリップフロップを構成するトランジスタと同一特性の
トランジスタを用いて構成されるのが普通であり、この
場合には、シュミットトリガ回路の立上がり時のしきい
値電圧は例えばVCC/2+0.3V程度となるが、立下がり時
のしきい値電圧はVCC/2となる。
この場合、フリップフロップのQ出力が論理“1"(VC
C)からVCC/2に遷移すると、シュミットトリガ回路の出
力も誤って反転してしまい、誤動作が生じることにな
る。
(発明が解決しようとする問題点) この発明は上記のような点に鑑みなされたもので、従
来では、たとえフリップフロップの後段にシュミットト
リガ回路を接続したとしても、ノイズ等の影響でフリッ
プフロップの出力が論理的に不定の状態に安定してしま
うと、これによってシュミットトリガ回路の出力の論理
が反転されることがあった点を改善し、ノイズ等の影響
を受けても次段に設けられる回路にはその影響を伝達す
ることがないようにフリップフロップとシュミットトリ
ガ回路のしきい値電圧関係を設定し、信頼性の高い半導
体回路を提供することを目的とする。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) この発明による半導体回路にあっては、第1の値の回
路しきい値電圧を有し、その第1の値の回路しきい値電
圧と実質的に同一値で、且つ論理的に不定の安定点を持
つ双安定回路と、この双安定回路の出力端子に入力端子
が接続され、前記第1の値よりも低い第2の回路しきい
値電圧および前記第1の値よりも高い第3の回路しきい
値電圧を有し、前記双安定回路からの出力電位に応じた
電位を出力するシュミットトリガ回路とを具備し、前記
シュミットトリガ回路は、前記シュミットトリガ回路の
回路しきい値電圧が前記双安定回路からの出力電位の立
下がり時には前記第2の回路しきい値電圧、前記双安定
回路からの出力電位の立上がり時には前記第3の回路し
きい値電圧に設定されるように構成されていることを特
徴とする。
したがって、ノイズ等の影響で前記双安定回路の出力
が論理“1"レベルから下降して、その“1"レベルと“0"
レベルとの間の論理的に不定の状態すなわちこの双安定
回路のしきい値電圧に安定される場合、および双安定回
路の出力が論理“0"レベルから上昇して、その双安定回
路のしきい値電圧に安定される場合のどちらにおいて
も、前記シュミットトリガ回路の出力はその電位には影
響されずに前の出力状態を保持するので信頼性の高い出
力を得ることが可能となる。
(実施例) 以下、図面を参照してこの発明の実施例を説明する。
第1図にこの発明の一実施例に係わる半導体回路を示
す。この回路は、インバータI1とI2により構成されるラ
ッチ部と、このラッチ部をセットまたはリセットするた
めのN型MOSトランジスタQ1およびQ2とによってR−S
フリップフロップ回路を構成している点は第6図の従来
の回路と同様であるが、そのフリップフロップ回路のQ
出力端子にシュミットトリガ回路を設けて、このシュミ
ットトリガ回路からの出力電位Voutを出力信号として取
出す構成である。
この場合、フリップフロップ回路の回路しきい値電圧
Vth1と、シュミットトリガ回路の入力信号が立下がる際
のしきい値電圧Vth2と、その立上りにおけるしきい値電
圧Vth3との関係は、 Vth2<Vth1<Vth3 となるように設定する。
このシュミットトリガ回路は、電源電位Vcc端子と接
地電位Vss端子との間にP型MOSトランジスタQ11と、N
型MOSトランジスタQ12およびQ13を直列接続し、これら
のトランジスタQ11、Q12およびQ13の各ゲートをQ出力
端子に共通接続すると共に、トランジスタQ11、Q12の接
続点をインバータI3を介して出力端子Voutに接続し、さ
らにトランジスタQ12のドレインおよびソースに別のN
型MOSトランジスタQ14のドレインおよびソースをそれぞ
れ相互接続して、このトランジスタQ14のゲートをイン
バータI3の出力によって制御することによりヒステリシ
ス特性を得る構成である。
次に、第2図を参照してこの半導体回路の動作を説明
する。
リセット信号が“0"レベルの状態で第2図(A)に示
すような“1"レベルのセット信号がトランジスタQ1のゲ
ートに供給される場合には、Q出力端子の電位が“1"レ
ベルとなるので、シュミットトリガ回路の出力電位Vout
は第2図(B)のように“1"レベルとなる。また、第2
図(C)および(E)のようにセット信号の電位が“1"
レベルにまで達しない場合には、その期間において端子
Qの電位は前述したように論理的に不定の状態になるこ
とがある。この時のQ出力端子の電位は、フリップフロ
ップ回路のしきい値電圧Vth1にほぼ等しい。このしきい
値電圧Vth1は、入力の立上りにおけるシュミットトリガ
回路のしきい値電圧Vth3よりも低いため、シュミットト
リガ回路はQ出力端子の電位が不定状態の際にはその電
位による影響を受けずに前の出力電位を保持した状態、
すなわち第2図(D)および(F)に示すように“0"レ
ベルが維持される。
また、セット信号が“0"レベルの状態で“1"レベルに
まで達しない信号がリセット信号として供給された場合
には、Q出力端子の電位は“1"レベルから低下してフリ
ップフロップ回路のしきい値電圧Vth1に止まることがあ
るが、入力の立下がりにおけるシュミットトリガ回路の
しきい値電圧Vth2はVth1よりも低く設定されているの
で、シュミットトリガ回路はその不定状態の電位に影響
されることなく前の出力状態を維持する。
したがって、この半導体回路にあっては、セット入力
端子となるトランジスタQ1のゲート、またはリセット入
力端子となるトランジスタQ2のゲートのフリップフロッ
プ回路を不定状態にするようなノイズが入力されても、
そのノイズに影響されてシュミットトリガ回路の出力電
位が変化されることはない。
第3図および第4図はそれぞれこの発明の他の実施例
に係わる半導体回路を示すもので、第3図の回路は2個
のノアゲート11および12でR−Sフリップフロップ回路
を構成した例であり、第4図は2個のナンドゲート13お
よび14でR−Sフリップフロップ回路を構成した例であ
る。これらの半導体回路にあっても、フリップフロップ
回路の回路しきい値電圧Vth1と、シュミットトリガ回路
の入力の立下がりにおけるしきい値電圧Vth2と、その立
上がりにおけるしきい値電圧Vth3とを、 Vth2<Vth1<Vth3 の関係に設定すれば、第1図の回路と同様の効果が得ら
れる。
第5図はシュミットトリガ回路の他の例を示すもので
ある。このシュミットトリガ回路は、電源電位Vcc端子
と出力端子T2との間にP型MOSトランジスタQ22を負荷と
して挿入すると共に、各々のゲートが入力端子T1に共通
接続されるN型MOSトランジスタQ23およびQ24を出力端
子T2と接地電位Vss端子との間に直列接続し、出力端子T
2の電位によって導通制御されるN型MOSトランジスタQ2
5によってその直列接続点の電位を変化させてヒステリ
シス特性を得る構成である。
このような構成のシュミットトリガ回路を用いても、
前述したようなしきい値電圧の関係を満たすならば同様
の効果を得ることができる。
尚、上記実施例ではR−Sフリップフロップ回路を用
いた場合のみ説明したが、本発明はJ−Kフリップフロ
ップや、Tフリップフロップ等の回路にも適用すること
ができる。
[発明の効果] 以上のようにこの発明によれば、シュミットトリガ回
路の立下がり時のしきい値電圧をフリップフロップのし
きい値電圧よりも低く設定し、またシュミットトリガ回
路の立上り時のしきい値電圧をフリップフロップのしき
い値電圧よりも高く設定したので、フリップフロップ回
路の出力がその立上がりおよび立下がりのどちらかにお
いて論理的に不定になる場合でも、その不定状態には影
響されず前の出力状態を保持できるので、ノイズの影響
を除去し次段の回路の誤動作を防ぐことができるように
なり、信頼性の高い半導体回路が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例に係わる半導体回路を説明
する回路図、第2図は第1図の半導体回路の動作を説明
する図、第3図および第4図はそれぞれこの発明の他の
実施例に係わる半導体回路を説明する回路図、第5図は
前記半導体回路に設けられるシュミットトリガ回路の他
の例を説明する回路図、第6図は従来の半導体回路を説
明する回路図、第7図および第8図はそれぞれ第6図に
示した半導体回路の動作を説明するための図である。 I1〜I3……インバータ、Q1,Q2,Q12〜Q14……N型MOSト
ランジスタ、Q11……P型MOSトランジスタ。

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】第1の値の回路しきい値電圧を有し、その
    第1の値の回路しきい値電圧と実質的に同一値で、且つ
    論理的に不定の安定点を持つ双安定回路と、 この双安定回路の出力端子に入力端子が接続され、前記
    第1の値よりも低い第2の回路しきい値電圧および前記
    第1の値よりも高い第3の回路しきい値電圧を有し、前
    記双安定回路からの出力電位に応じた電位を出力するシ
    ュミットトリガ回路とを具備し、 前記シュミットトリガ回路は、前記シュミットトリガ回
    路の回路しきい値電圧が前記双安定回路からの出力電位
    の立下がり時には前記第2の回路しきい値電圧、前記双
    安定回路からの出力電位の立上がり時には前記第3の回
    路しきい値電圧に設定されるように構成されていること
    を特徴とする半導体回路。
  2. 【請求項2】前記双安定回路はセット入力端子とリセッ
    ト入力端子とを有するR−Sフリップフロップ回路であ
    る特許請求の範囲第1項記載の半導体回路。
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