JPH0334184B2 - - Google Patents

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JPH0334184B2
JPH0334184B2 JP2071985A JP2071985A JPH0334184B2 JP H0334184 B2 JPH0334184 B2 JP H0334184B2 JP 2071985 A JP2071985 A JP 2071985A JP 2071985 A JP2071985 A JP 2071985A JP H0334184 B2 JPH0334184 B2 JP H0334184B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
scanning
circuit
electron beam
sample
Prior art date
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Expired
Application number
JP2071985A
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English (en)
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JPS61181051A (ja
Inventor
Hiroshi Uchiumi
Takashi Ito
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Nihon Denshi KK
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Publication date
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Publication of JPS61181051A publication Critical patent/JPS61181051A/ja
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【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は陰極線管等に試料の走査像に重畳して
マークを表示し、このマークを分析しようとする
像上の位置に移動した後、スポツトモードに切換
えて電子線をマークに対応した試料上の位置に照
射して試料を分析する電子線装置に関する。
[従来の技術] 第3図は従来の装置を説明するためのもので、
図中1は水平走査信号発生回路であり、この回路
1よりの水平走査信号は第1の切換回路2の端子
aを介して倍率切換回路3に供給されていると共
に、増幅器4を介して陰極線管5の水平走査コイ
ル5xに供給されている。倍率設定回路6よりの
信号に基づいて倍率切換回路3により所定の増幅
率で増幅された走査信号は、増幅器7を介してX
方向偏向コイル8xに送られている。9は細く絞
られた電子線を表わしており、電子線9は偏向コ
イル8xによつて偏向され試料10上に照射され
る。11は電子線9の照射によつて試料10より
発生した二次電子を検出するための二次電子検出
器であり、二次電子検出器11よりの信号は増幅
器12、加算回路13を介して陰極線管5のグリ
ツド5Gに送られている。14は試料10より発
生したX線を検出するためのX線検出器であり、
X線検出器14よりの信号は信号処理回路15を
介して記録計16に送られている。17は水平方
向用可変直流信号発生回路であり、回路17より
の可変直流信号は増幅器18を介して第1の切換
回路2の端子bに送られていると共に、第2の切
換回路19の端子aを介して比較器20に送られ
ている。この比較器20の他方の入力端には前記
水平走査信号発生回路1よりの走査信号も送られ
ている。比較器20の出力信号は加算回路13に
送られている。21は第1,第2の切換回路2,
19に切換信号を送るためのモード切換回路であ
り、22は走査速度を設定するための設定信号を
前記水平走査信号発生回路1に送るための走査速
度設定回路である。尚、図示していないが、垂直
走査信号発生回路や垂直方向用の可変直流信号発
生回路も水平方向と全く対称的に備えられてい
る。
次にこのような従来装置の動作を説明するが、
垂直方向に対しても全く同様のため、水平方向に
ついてのみ説明する。
まず、モード設定回路21を操作して、第1,
第2の切換回路が端子a側に接続されるようにし
た後、走査速度設定回路22を操作して走査速度
を低速走査に設定する。その結果、水平走査信号
発生回路1より第4図aの実線イで示す如き水平
走査信号が発生する。この水平走査信号は増幅器
4を介して陰極線管5の水平走査コイル5xに供
給され、第4図aの点線ロで示す如き信号として
水平走査コイル5xを流れる。一方この水平走査
信号は第4図aの一点鎖線ハで示す如き信号とし
て偏向コイル8xを流れ、その結果、電子線9が
試料10上を走査し、その際の検出器11よりの
信号が陰極線管5に送られるため、陰極線管5に
は第5図aに示すような試料像が表示される。そ
こで、直流信号発生回路17を操作して第4図a
においてRで示す如き直流信号を発生させれば、
比較器20より第4図bに示す如き一致パルスが
発生し、加算回路13を介してグリツド5gに送
られるため、陰極線管5の画面には第5図bにお
いてPで示す如き分析点を示す輝点が試料像に重
畳して表示される。そこで、モード設定回路21
を操作して、モードをスポツトモードに切換えれ
ば、第1,第2の切換回路2,19がb端子側に
接続され、直流信号発生回路17よりの信号が偏
向コイル8xに送られると共に陰極線管5の水平
走査コイル5xに送られ、陰極線管画面上にスポ
ツト照射点を示す第5図dに示す如き輝点P′が表
示されると共に、P′に対応した試料10上の点に
電子線9が固定して照射される。そこで、この電
子線の照射に基づいて試料10より発生した特性
X線をX線検出器14により検出し、その検出信
号を信号処理回路15により処理し、その処理信
号に基づいてX線スペクトルを記録計16に表示
すれば、輝点Pに対応した分析点のX線分析結果
を得ることができる。
[発明が解決しようとする問題点] しかしながら、分析点を設定するための段階に
おいて、走査速度設定回路を操作して、走査速度
を高速の例えばSfに切換えると、水平走査信号発
生回路1より発生する水平走査信号が第4図cの
実線イで示すように変化するが、陰極線管5の偏
向コイル5xに流れる電流が同図において点線ロ
に示すように変化するのに対して偏向コイル8x
に流れる走査信号は同図において一点鎖線ハで示
すように変化し、両者の間にVf分のレベル差が
生じる。これは、偏向コイル5xには増幅器4の
みを介して走査信号が供給されるのに対して、偏
向コイル8xには倍率切換回路3や増幅器7等の
多くの回路を介して走査信号が供給されるため、
走査信号の周波数が高くなるに伴い、両経路の時
間遅れの差が顕著になるためである。尚、第4図
においてAは非ブランキング期間を示している。
その結果、陰極線管5の画面に表示される像は第
5図cに示すようにVfに対応しただけ平行移動
し、輝点Pが最初に設定した試料上の位置を示さ
なくなる。
本発明は、このような従来の欠点を解決し、走
査速度を高速に切換えても試料像が移動せず、同
一の分析点を正確に表示することのできる電子線
を装置を提供することを目的としている。
[問題点を解決するための手段] このような目的を達成するため、本発明は細く
絞られた電子線を偏向するための偏向コイルと、
該電子線を試料上において走査するための走査信
号を発生する走査信号発生回路と、該走査信号発
生回路を制御し走査速度を切換えるための手段
と、該走査信号に基づいて走査され該電子線の走
査に基づく検出信号の供給に基づいて試料像を表
示するための陰極線管と、電子線を試料上の点に
固定して照射するための可変直流信号を発生する
直流信号発生手段と、該直流信号発生手段よりの
信号に基づいて該直流信号に対応した該表示手段
の画面位置に該試料像に重畳してマークを表示す
る手段と、該偏向コイルに該走査信号と該直流信
号を切換えて供給する手段とを備えた装置におい
て、走査速度を速くした際に該偏向コイル側に送
られる走査信号の直流レベルを自動的に補正する
手段を具備することを特徴としている。
[実施例] 以下、図面に基づき本発明の実施例を詳述す
る。
第1図は本発明の一実施例を示すもので、第1
図においては、第3図と同一の構成要素に対して
は同一番号を付している。第1図において、23
は補正信号発生回路であり、この補正信号発生回
路23には走査速度設定回路22より走査速度S
を表わす信号が供給されている。補正信号発生回
路23は走査速度Sを表わす信号に基づいてその
絶対値が走査速度Sの関数として単調に増加する
負の直流補正信号V(S)を発生する。走査速度
として前記Sfが選択された場合には、この補正信
号は丁度−Vfに一致するようになつている。こ
の補正信号発生回路23よりの補正信号は加算回
路24に送られている。従来と異なり、第1の切
換回路2よりの信号は直接倍率切換回路3に送ら
れず、この加算回路24を介して倍率切換回路3
に送られている。
このような構成において、モード設定回路21
よりの信号に基づいて第1,第2の切換回路2,
19をa端子に接続して走査像モードを設定した
後、直流信号発生回路17を操作して、陰極線管
5の画面に第5図bに示すように分析点を示す輝
度Pを試料像と重畳表示する。そこで、走査速度
設定回路22を操作して走査速度を高速のSfに切
換えると、補正信号発生回路23より発生する補
正信号V(S)は第2図aに示すように−Vfとな
るため、加算回路24を介して倍率切換回路3に
送られる走査信号は第2図bにおいて実線イで示
すのから実線イ′で示すものに変化する。その結
果、偏向コイル8xと陰極線管5の偏向コイル5
xに流れる走査信号は第2図bの二点鎖線ニで示
す如きものとなり、両コイルを流れる走査信号の
位相差は解消される。そのため、走査速度を変化
させても像の移動は生ぜず、最初に設定した分析
点のうえに輝点Pを引き続いて表示できる。
本発明は、上述した実施例に限定されることな
く幾多の変形が可能である。
例えば、上述した実施例においては、走査速度
に応じてレベルの変化する補正信号を発生させる
ようにしたが、走査速度が速い時のみ像の移動が
顕著になるため、走査速度が一定基準値より速く
なつた際のみ、一定レベルの補正信号を走査信号
に加算するようにしても良い。
又、上述した実施例においては、分析位置を示
すためのマークとして輝点を表示するようにした
が、輝点に限らずクロスマーク等でも良い。
[発明の効果] 上述した説明から明らかなように、本発明にお
いては走査速度を速くした際に、試料を走査する
偏向コイル側に送られる走査信号の直流レベルを
自動的に補正するようにしているため、陰極線管
の走査に対する試料上の走査の位相遅れが解消で
き、分析点を示すマークを走査速度の切換えにか
かわらず、試料像の同一位置に表示できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すための図、第
2図は第1図に示した一実施例装置の動作を説明
するための信号波形を示すための図、第3図は従
来装置を説明するための図、第4図は従来装置の
動作を説明するための信号波形を示すための図、
第5図は従来の欠点を説明するための図である。 1:水平走査信号発生回路、2,19:切換回
路、3:倍率切換回路、4,7,12,18:増
幅器、5:陰極線管、6:倍率設定回路、8x:
偏向コイル、9:電子線、10:試料、11:二
次電子検出器、13,24:加算回路、14:X
線検出器、15:信号処理回路、16:記録計、
17:直流信号発生回路、20:比較器、21:
モード設定回路、22:走査速度設定回路、2
3:補正信号発生回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 細く絞られた電子線を偏向するための偏向コ
    イルと、該電子線を試料上において走査するため
    の走査信号を発生する走査信号発生回路と、該走
    査信号発生回路を制御し走査速度を切換えるため
    の手段と、該走査信号に基づいて走査され該電子
    線の走査に基づく検出信号の供給に基づいて試料
    像を表示するための陰極線管と、電子線を試料上
    の点に固定して照射するための可変直流信号を発
    生する直流信号発生手段と、該直流信号発生手段
    よりの信号に基づいて該直流信号に対応した該表
    示手段の画面位置に該試料像に重畳してマークを
    表示する手段と、該偏向コイルに該走査信号と該
    直流信号を切換えて供給する手段とを備えた装置
    において、走査速度を速くした際に該偏向コイル
    側に送られる走査信号の直流レベルを自動的に補
    正する手段を具備することを特徴とする電子線装
    置。
JP2071985A 1985-02-05 1985-02-05 電子線装置 Granted JPS61181051A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0393140A (ja) * 1989-09-05 1991-04-18 Jeol Ltd 走査電子顕微鏡像と光学顕微鏡像の対応装置
JP2536034Y2 (ja) * 1991-07-05 1997-05-21 東レ株式会社 排紙集積装置

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JPS61181051A (ja) 1986-08-13

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